纳米三坐标测量仪(轮廓仪、形貌仪)
sensofar量测结果
sensofar量测结果
sensofar光学轮廓仪作为一台具有高性能的3D 测量设备,超越了现有的一切光学轮廓仪。sensofar 光学轮廓仪结合了三大技术——共聚焦(适用于高斜率表面)、干涉(有高的垂直分辨率)和多焦面叠加(在短短几秒内测量形貌特征),将三大技术集于一体,且不用任何运动部件。
共聚焦
共聚焦轮廓仪能测量从较光滑到非常粗糙的表面,空间采样精细至0.10 μm,是关键尺寸测量的理想选择。高数值孔径(0.95)和高放大倍率(150X)的物镜可用于测量局部斜率超过70°的光滑表面以及斜率高达86°的粗糙表面。sensofar的共聚焦算法能实现纳米级的垂直方向重复性。
干涉
白光干涉(VSI)能测量从光滑到适度粗糙的表面,可在所有数值孔径下实现纳米级的垂直分辨率。因此,S neox 能使用所有可用的放大倍率在不影响高度分辨率的情况下显示三维形貌特征。
相位差干涉(PSI)能测量非常光滑和连续的表面,可在所有数值孔径下实现纳米级的垂直分辨率。用极小的放大倍率
(2.5X)能在不影响高度分辨度的情况下采集较大的视场范围。
多焦面叠加
多焦面叠加是设计用于测量大面积粗糙表面的光学技术。sensofar 采用该方法专门用于补足放大倍率较低的共聚焦测量。该技术的亮点包括高斜率表面(高达86°)、快的测量速度(mm/s)和较大的垂直扫描范围。这些特性的结合十分适用于工具加工的应用。
美国NANOVEA公司的三维非接触式表面形貌仪
美国NANOVEA公司的三维非接触式表面形貌仪
一、 产品简介
美国NANOVEA公司是一家全球公认的在微纳米尺度上的光学表面轮廓测量技术的领导者,生产的三维非接触式表面形貌仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进表面轮廓测量设备,采用目前国际最前端的白光轴向色差原理(性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪)对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维表面形貌、关键尺寸测量、磨损面积、磨损体积、粗糙度等参数的测量。
二、产品分类
该公司的三维非接触式表面形貌仪主要有4款:JR25、PS50、ST400与HS1000(区别见技术参数):
JR25便携式三维表面轮廓仪:
野外操作或不可拆卸部件的理想选择
·便携式表面形貌仪
·结构紧凑,性价比高
·替代探针式轮廓仪和干涉式轮廓仪
·应用范围广
·测量范围:25mm×25mm
PS50表面轮廓仪:
科研单位与资金不足企业的最佳选择
·性价比高
·结构紧凑
·替代探针式轮廓仪和干涉式轮廓仪
·应用范围广
·测量范围:50mm×50mm
ST400表面轮廓仪:
·应用范围广
·适合大样品的测试
·测量范围:150mm×150mm
·360
O旋转工作台
·带彩色摄像机(测量前可自动识别特征区域)
HS1000表面轮廓仪:
·适用于高速超快自动测量场合
·超高的扫描速度(可达1m/s,数据采集频率可达
31KHz,最高可达324KHz)
·能保证超高平整度和稳定性(花岗石平台)
三、测量原理简介:
Nanovea 公司的三维非接触式表面形貌测量仪采用的是国际最前端的白光轴向色差技术技术实现先进的高分辨率的三维图像扫描与表面形貌测量。
表面轮廓仪(HS1000
HS1000表面轮廓仪(美国NANOVEA
产品介绍:
HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪,最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。
·适用于高速超快自动测量场合
·超高的扫描速度(可达1m/s,数据采集频率可达31KHz,最高可达324KHz)·能保证超高平整度和稳定性(花岗石平台)
产品图片:
产品特性:
1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
5,不受样品反射率的影响
6,不受环境光的影响
7,测量简单,样品无需特殊处理
8,Z方向,测量范围大:为27mm
主要技术参数:
1,扫描范围:400mm×600mm(最大可选600mm*600mm)
2,扫描步长:5nm
3,扫描速度:1m/s
4,Z方向测量范围:27mm
4,Z方向测量分辨率:2nm
产品应用:
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发
三坐标测量机的介绍及应用领域
三坐标测量机的介绍及应用领域
三坐标测量机(Coordinate Measuring Machine,简称CMM)是一种
精密测量工具,它利用电子传感器和计算机技术,能够测量出物体各个位
置的坐标,并实现对各种尺寸、形状和位置精度的测量。
三坐标测量机主要由三个坐标轴、测量头、测量软件和计算机系统组成。它的工作原理是通过测量头的移动和定位,来测量物体上的点坐标,
并将所测得的数据转化为三维坐标系内的测量结果。三坐标测量机精度高、可重复性好,能够测量出物体的形状、尺寸、位置精度等多个参数,广泛
应用于各个行业。
1.制造业:三坐标测量机可用于各种工件的质量检测、尺寸测量、表
面形状检测等。在汽车、航空、航天、机械等制造业中,三坐标测量机被
广泛应用于产品研发、生产过程中的质量控制,以及维修和维护过程中的
精度检测。
2.电子业:在电子产业中,三坐标测量机可用于PCB板的尺寸测量、
焊接质量检测、组件的形状测量等。它能够帮助生产商确保电子器件的准
确精度和符合设计要求。
3.医疗器械:三坐标测量机可用于医疗器械的尺寸检测、表面光洁度
评估、零件的装配精度检测等。它在医疗器械的设计、生产和质量控制过
程中起到了重要的作用。
4.船舶工程:三坐标测量机可用于船舶工程中的船体建模、尺寸测量、异形零件与装配件的测量等。它能提供精确的数据支持,确保船舶工程的
质量和安全。
5.航空航天业:在航空航天业中,三坐标测量机可用于飞机部件的复
杂曲面测量、形状偏差分析等。它帮助制造商确保飞机组件精度达到要求,提高航空器的安全性。
6.运动器械:三坐标测量机在运动器械行业中可用于测量设备的尺寸、角度精度、平整度等。它对于保证运动器材的性能和安全起到了关键作用。
表面形貌测量利器——SuperView W1光学3D表面轮廓仪
表面形貌测量利器——SuperView W1光学3D表面轮廓仪Super View W1光学3d表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密z向扫描模块、3d建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3d图像,通过系统软件对器件表面3d图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2d、3d参数,从而实现器件表面形貌3d测量的光学检测仪器。
Super View W1光学3d表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3c电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、mems器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据iso/asme/eur/gbt四大国内外标准共计300余种2d、3d参数作为评价标准。
Super View W1光学3d表面轮廓仪显著特性:
1.高精度、高重复性
1)采用光学干涉技术、精密z向扫描模块和优异的3d重建算法组成测量系统,保证测量精度高;
2)独特的隔振系统,能够有效隔离频率2hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得极高的测量重复性。
2.一体化操作的测量分析软件
1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能;2)可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程;
半导体轮廓仪原理
半导体轮廓仪原理
一、引言
半导体轮廓仪是一种非接触式的三维表面形貌测量仪器,广泛应用于半导体制造、微电子加工、精密机械加工等领域。本文将详细介绍半导体轮廓仪的原理。
二、半导体轮廓仪的构成
半导体轮廓仪主要由激光系统、扫描系统、控制系统和数据处理系统组成。其中,激光系统用于发射激光束,扫描系统用于控制激光束在被测物体表面进行扫描,控制系统用于控制整个测量过程,数据处理系统用于对采集到的数据进行处理和分析。
三、激光束的发射与接收
在测量过程中,激光器会发出一束单色激光,并经过凸透镜聚焦后照射到被测物体表面上。被照射到的表面反射回来的激光经过凸透镜再次聚焦到探测器上。
四、相位差测量原理
当被照射到表面反射回来的激光与未经过表面反射的激光叠加时,由于在表面反射时发生了相位差,导致两束光的相位不同。这种差异可以通过干涉仪进行测量。
五、干涉仪原理
干涉仪是一种利用光波干涉原理进行测量的仪器。它由半透镜、反射镜和分束器组成。其中,半透镜用于将激光束分成两份,一份照射到被测物体表面上,另一份则通过反射镜直接照射到探测器上。当被照射到表面反射回来的激光与未经过表面反射的激光叠加时,在探测器上形成一系列明暗相间的条纹。
六、相位移动原理
在实际应用中,为了使得明暗条纹更加清晰,通常会采用相移法进行测量。即通过改变半透镜与分束器之间的距离来使得两份激光束之间产生一个已知大小的相位差。这样,在探测器上形成的明暗条纹就会随着距离改变而移动。
七、三维表面形貌测量原理
通过对明暗条纹的分析,可以得到被测物体表面的高度信息。在扫描过程中,激光束会不断地在被测物体表面进行扫描,从而获取整个被测物体表面的高度信息。通过对这些数据进行处理和分析,可以得到被测物体的三维表面形貌。
三坐标测量仪的相关组成及应用介绍
三坐标测量仪的相关组成及应用介绍三坐标测量仪是一种高精度的测量设备,广泛应用于制造业中,主要用于测量工件的三维尺寸和形状。它通过运用数学、物理学和计算机科学的原理,能够精确地测量工件的长度、宽度、高度以及曲率、直线度和平面度等形状信息。
1.测量结构:三坐标测量仪具有一个稳定的测量结构,通常由一个铸件或者机械组件构成。该结构用来支撑测量工作台、Z轴及悬臂臂等主要测量部件,并以此为基准进行测量。
2.传感器:三坐标测量仪采用高精度的传感器用来测量工件的尺寸和形状。常见的传感器包括光学传感器、激光传感器和触发式测头等。这些传感器能够通过扫描或接触等方式获取工件的三维坐标信息。
3.测量工作台:测量工件需要放置在测量工作台上进行测量。测量工作台通常具有三个坐标轴,可通过手动或自动控制来移动工件。这样可以使测量仪在三个方向上进行移动和定位。
4.控制系统:三坐标测量仪的控制系统用来控制测量过程中的针对不同工件的测量程序和参数设置。通过控制系统,用户可以选择不同的测量方法和测量精度,并进行数据处理和结果分析。
1.制造业:三坐标测量仪在制造业中广泛应用于产品的质量控制和尺寸验证。它能够测量各种类型的工件,如零部件、模具和机械设备等,并为产品的装配和质量检验提供准确的数据支持。
2.航空航天:航空航天行业对产品的尺寸和形状要求非常严格。三坐标测量仪可以测量复杂的航空零部件,如涡轮叶片、机翼和舱壁等。它可以帮助检测产品的精度和质量,并为制造过程提供正确的数据指导。
3.汽车工业:汽车行业要求零部件的尺寸和形状具有高度的一致性和
3D轮廓仪应用
3D轮廓仪的应用(2)
Nano View系列为LCD(液晶显示器),IC Package(芯片封装),Engineering Surfaces (工程表面),Biuld-up PCB(积层板),MEMS(微机电系统),IC基板等领域提供纳米级别精度的量测。应用领域举例如下:
1、PDP测量
PDP是Plasma Display Panel(等离子显示板)的省略词,是前面和背面玻璃及之间被隔断密封的玻璃之间注入Ne+Ar, Ne+Xe 等气体后,正负电极输入电压,从而产生Ne光的电子显示装置。界壁(Barrier Rib) : Panel的Cell电气、光学、物理分割的隔离壁。
PDP结构示意图
例如MgO保护膜段差检测,,BR(Barrier Rib) 测量,电极测量。
二维图像三维图像
ITO (导电玻璃)段差: ITO是在钠钙基或硅硼基基片玻璃的基础上,利用溅射、蒸发等多种方法镀上一层氧化铟锡膜加工制作成的。根据高度决定电阻值不同,所以管理高度时使用。
二维图像三维图像
印刷电路
印刷电子元件是根据现有印刷方式和印刷技术来制作电路或电子元件。在此根据测量印刷的Pattern来管理电子元件的电荷量。PET薄膜上印刷的电极层(Ag)的幅度及高度测量::为了解高度对电荷量的关系。
二维图像三维图像
利用喷嘴印刷形成pattern 是显示器及半导体制造的现有技术之一。喷嘴喷射的Dot 的模样及大小,是决定印刷pattern 幅度及厚度的重要因素。对于排线制作,形成最佳形态的Dot 是形成pattern 是必要因素,因此用于测量管理。 Dot 的幅度、高度、体积的测量
高精度智能三维轮廓测量仪
器 , 具有 性 能稳 定 、 积小 、 格低 的特点 。 随着 生 它 体 价 但
产 与 技 术 的 发 展 , 精 加 - 微 电 子 、 MS技 术 的 兴 超 V、 ME 起 , 物 体 表 面 质量 、 观形 貌 的检 测 要 求 越 来越 高 。 对 微 新 的 国家标 准 或 国 际标 准 , 以及 正 在 实 施 的 “ 品 几 何 产 量 国 际 标 准 体 系 ( S ”要 求 真 实 充 分 反 映 表 面 的 形 GP ) 貌 、 确 的 三维 几 何 特 征 、 面功 能 特 征 及 频 谱 分 析 准 表 等 , 就 要 求 测 量 仪 器 及 评 定 方 法 有 质 的 改 进 。 为 目 这 作 视 仪 器 ,J 干 涉 显 微 镜 所 测 数 据 过 于 简 单 , 差 大 , 6A 误 效率低 , 已不 能 适 应 国家 标 准 及 国 际 标 准 的 要 求 , 因此 , 我 们 以 6 A 干 涉 显 微 镜 的 光 学 系 统 为 基 础 , 以 CC J 配 D 摄像 头 、 动工 作 台 以及 强 大 的 测 控及 数 据 处 理 软件 微
仪 器可用于 多种材料 、 多种形状 的轮廓 测量 , 只需几秒钟 即可完成一个取样表 面的二维和三维 自动测 量与评定。 出了对 给 标 准样板 的测 量结果 , 实验表 明仪 器总测量误差 小于5 。 % 关键词 : 干涉显微镜 三维轮廓测量 白光扫描干涉术 文献标识码 : B 文章 编号 :0 0— 9 8 2 0 )6—0 6 0 10 4 9 (0 6 0 0 7— 2 系 统 的工 作 原 理 是 扫 描 白光 干 涉 表 面 形 貌 测量
3d轮廓仪原理
3d轮廓仪原理
3D轮廓仪是一种常用于非接触式检测的三维形貌测量设备,原理是基于光线三角测量原理和相位移位原理。
它主要由投影仪,相机和相应的软件组成。其中,投影仪会将白光分成多束并投射在待测物体表面上,形成一个具有编码条纹的图像。而相机则用于收集被测物体上形成的这些编码条纹。当物体有微小的形变或移动时,编码条纹发生相对位移。
根据相位移位原理,从编码条纹的位移量可以计算出物体表面像素点处的高度信息,进而得到待测物体的三维表面数据。这样,通过全方位拍摄待测物体,就可以获得该物体在三维空间中的完整轮廓,并生成对应的三维模型。
特别需要注意的是,由于编码条纹的形成是基于光学原理,因此在非黑暗环境下可能会受到环境光和反射光的影响,导致测量误差或数据失真。因此,在使用3D轮廓仪时需要尽可能地避免这些外界光干扰。
三坐标简介
03
保养建议
根据机器的使用情况,提出相应 的保养建议,包括定期检查、更
换部件、调整参数等。
02
维修流程
根据故障原因,按照规定的流程 进行维修,确保维修质量和安全
性。
04
预防性维护
为了预防机器故障,应定期进行 预防性维护,包括检查电路、更
换滤网、清理散热器等。
CHAPTER 05
三坐标测量机的选型和应用案例分 析
测量操作
按照测量软件的说明书进行操作,进行扫描 、测量、记录数据等操作。
测量数据处理及结果
数据处理
对采集到的数据进行处理,如计算几何尺寸、形 位公差等。
结果输出
将处理后的数据以图表或报告的形式输出,便于 分析和评估。
数据存储
将测量数据存储在指定的文件夹或数据库中,方 便后续查询和使用。
CHAPTER 04
非接触式三坐标测量机
非接触式测量机通过激光、光学等非接触方式进行测量,其特点是测量速度快、不会对被测零件造成损伤,但受 环境影响较大。
三坐标测量机的特点
高精度
三坐标测量机的测量精度非常高,可 以满足各种复杂零件的测量需求。
高效率
三坐标测量机的测量速度非常快,可 以大大提高生产效率。
智能化
现代的三坐标测量机一般都配备了智 能化操作系统,可以实现自动测量、 自动记录、自动分析等功能。
三坐标测量仪厂家-三坐标测量仪器厂家【品牌大全】
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内容来源网络,由深圳机械展收集整理!
更多三坐标测量仪器展览展示,就在深圳机械展的测量展区!
三坐标测量机,又叫三次元。三坐标测量厂家、三坐标测量仪器厂家,三坐标测量品牌很多,网上找,但部分(如测量杆,测量头及光栅尺)很多都是进口的,生产三坐标的厂家有德国蔡司,海克斯康、捷克博测量技术等。
测量仪器的概念其内容包括:精度、误差、测量标准器材、长度测量、角度测量、形状测量、传统光学仪器。在精密测量上的应用等等。
生活、生产都要用到测量仪器,测绘工作离不开各种测量仪器,测量仪器行业覆盖食品安全、环境保护、石油化工、电子电器、药物研发、4G无线通信技术、航空航天等产业等领域,成为近年来发展快的仪器仪表电子行业之一。
三坐标测量厂家,三坐标测量仪器厂家,三坐标测量仪品牌
1 海克斯康HEXAGON(海克斯康测量技术(青岛)有限公司)
2 雷顿Leader(从事三坐标测量机等精密测量设备研发生产与技术服务的中美合资企业,青岛雷顿数控测量设备有限公司)
3 温泽Wenzel(德国温泽集团旗下分公司,计量解决方案制造商之一,跨国公司,温泽测量仪器(上海)有限公司)
4 卡尔蔡司(始创于1890年德国,光学仪器制造企业之一,蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司)
5 三丰Mitutoyo(于1934年日本,跨国公司,致力于各种精密测量仪器研发生产销售的企业,三丰精密量仪(天津)有限公司)
6 东京精密Accretech(始创于1949年日本,致力于个性领域的精密机械仪器研发、生产的企业,东精精密设备(上海)有限公司)
美国NANOVEA公司的三维非接触式表面形貌仪资料
•根据准共聚焦原理,探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光,从而得到这个点距离透镜的垂直距离。
•这个点为点光源与传感器所在的直线的中垂线与样品的交点。
•再通过点扫描的方式以S路径获得物体的三维表面形貌特征。
4、关键尺寸分析:磨损的深度,空洞的半径,磨损面积,磨损体积等参数;
5、利用计算机远程控制;
6、具有光谱、分形与自相关功能;
7、多种格式的图像与数据输出。
七、技术参数
1.工作台技术参数:参数
X-Y轴自动移动范围Z轴自动移动范围X-Y轴向分辨率
ST400 150mm 60mm 0.1μm
PS50 50mm 30mm 0.1μm 10mm/s
二、产品分类
该公司的三维非接触式表面形貌仪主要有4款:JR25、PS50、ST400与HS1000(区别见技术参数):
JR25便携式三维表面轮廓仪:
野外操作或不可拆卸部件的理想选择
·便携式表面形貌仪
·结构紧凑,性价比高
·替代探针式轮廓仪和干涉式轮廓仪
·应用范围广
·测量范围:25mm×25mm
PS50表面轮廓仪:
•最后将采集的数据交给专业的三维处理软件进行各种表面参数的分析。•软件能够自动获取用户关心的表面形貌参数。
三坐标测量仪什么牌子好
三坐标测量仪什么牌子好?
三坐标测量仪十大品牌
随着现代制造业不断发展,企业对机械制造产品的精密度要求越来越高,用于工业检测、质量控制等领域的三坐标测量仪在汽车、航空航天及国防等众多行业得到广泛应用。越来越多的机械加工企业开始关注三坐标测量这项重要工序。三坐标测量仪三轴均有气源制动开关及微动装置,可实现单轴的精密传动;数据采集系统采用高性能手动三坐标专用系统,可靠性好。今天,小编精选了十个全球知名的三坐标测量仪器品牌,看看他们是如何完成精密测量。
一、ZEISS蔡司始于1846年德国,是全球领先的光学、精密工程及电子观测制造商,在光学及光电子学领域处于领先地位的全球性国际化公司。1973年蔡司就已经成功制造世界上第一台CNC三坐标测量机-UMM500。同时蔡司不断开发新技术与推出新产品,到现在为止已拥有多个国际专利。在中高端市场,每年销售额占全球市场占有量的三分之一。蔡司测量机在航空、航天、汽车、电子、机械与塑料等多个行业中得到广泛的使用。
二、HEXAGON海克斯康创建于1975年瑞士,其测头技术在机床工具行业享有盛名。海克斯康测量技术主要包括两个部分:“大尺寸计量”,主要包括山体测量、城市测绘、道路干线、隧道桥梁、以及其它建筑工程的的测量。“小尺寸计量”,关注更加精密的尺寸测量任务,面向制造业提供的各种产品,包括汽车、航空航天、机床、军工、加工制造以及日用消费品。
三、Mitutoyo三丰日本著名测量仪品牌,全球测量方案和测量设备专业提供商,专注于测量方案和测量设备的全球性公司,在整个量具行业独占鳌头。主要产品包括:量具行业的各个项目,包括:千分尺、卡尺、深度尺、内径千分尺、千分表、杠杆千分表、高度尺、微分头、量块、线性测微器、光栅尺、粗糙度仪、轮廓测量仪、显微镜、硬度计、三坐标测量机等。
美国zeta泽塔公司三维立体显微镜轮廓仪资料
光学镜头自动识别传感器:当用
户变 换显微镜镜头时,该传感器可自 动探 测镜头的放大倍率并及时调整软 件里 的相关参数,从而避免操作员在 采集数据时不小心而造成的操作失误。
高动态范围成像: 当同一视场里出现反射率迥异
的区域时,图像采集系统会自动调节一系列参数 以确保低反射区不太暗,高反射区不出现像素饱和。
1/3英寸 CCD 相机,0.5x耦合镜 2/3英寸 CCD 相机,0.35x耦合镜 3 静态重复性和精确度是基于对 VLSI 8 微米标准台阶高度的测量 (使用100X/0.9NA 物镜)
数码相机 耦合镜 Z 轴驱动 核心光学组件
XY 载物台
控 控制电路 与传动装置 与
产ຫໍສະໝຸດ Baidu尺寸 产
显 显微镜 : 510 x 610 x 530mm 计算机 计 : 381 x 457 x 102mm 显示器 显 : 510 x 127 x 407mm 总重量 总 : 68 kg 太阳能栅线轮廓 多点扫描
Zeta 200是集多种测量手段于一身的高级表面测量系统。它功能配备齐全,使用方便,是三维测量系统 中性能价格比最优的选择。Zeta 200能够自动采集样品上多点的工艺参数,如台阶高度、体积、尺寸及 粗糙度等,为您提供监管及优化生产流程所需的数据。
Zeta 200 特色功能
多点测量
用户可按其所需设置每片样品 上的采样点数——少许几点往 往适用于快速检测,多点则可 用于详细分析。
3D光学轮廓仪
廓仪
Sensofar S系列
感受3D
最新的S系列
3D光学轮廓仪,为
您展现全新的3D立
体形貌
全新设计的3D光学轮廓仪 S neox颠覆传
统, 将共聚焦、干涉和多焦面叠加技术融
合于一身,测量头内无运动部件。
S neox,将三种技术都做到
最好
2
融合3种测量方式于一体D体验
共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。 它比光学显微镜有更高的横向分辨率,可达0.09µm。利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时,共聚焦在光滑表面测量斜率达70°(粗糙表面达86°)。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。相位差干涉 相位差干
涉是一种亚纳米级精度的
用于测量光滑表面高度形
貌的技术。它的优势在于
任何放大倍数都可以保证
亚纳米级的纵向分辨率。
使用2.5倍的镜头就能实现
超高纵向分辨率的大视场
测量。
白光干涉白光干涉是
一种纳米级测量精度的用
于测量各种表面高度形貌
的技术。它的优势在于任
何放大倍数都可以保证纳
米级的纵向分辨率。
多焦面叠加技术是用来测
量非常粗糙的表面形貌。
根据Sensofar在共聚焦和干
涉技术融合应用方面的丰
富经验,特别设计了此功
能来补足低倍共聚焦测量
的需要。该技术的最大亮点
是快速 (mm/s)、扫描范围大
和支援斜率大(最大86°)。
此功能对工件和模具测量
特别有用。
干涉多焦面叠加
共聚焦
无运动部件的共聚焦
3
80
160240320400480560400425450475500525550575600625650675700725
Dichroic Blue Filter
Blue LED Green LED Red LED
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3D NanoFinger 的针尖架可装不同微探针。针尖的种类多样,从尖锐的线针尖(针尖尖端半径可 达 50nm 的)到球型头各异,用户可根据检测目的和应用范围不同进行选择。
通常细线状针尖可以深入到大深宽比微结构的内部,以纳米精度测量表面的粗糙度、轮廓、尺 寸甚至整个区域的 3D 图像。而具有确定直径的球头主要用来测量样品的尺寸。
球形探头测量样品孔径及结果
- 3D Nanofinger 4 -
z 用户可以根据需要灵活设置测量方法,可以进行大面积精确测量,也可以先进行大面积低精测
量,然后对特定感兴趣的区域进行高精测量,以节省时间。 z 整个过程非接触的,间距可以保持在可以设定为几个纳米。适合各种固态样品测量,对材料性
质没有特别要求和限制。 z 布局灵活,根据用户测试要求组成合适的系统。平台可以任意组合,探头也以改变安装方向。
3. 测量孔的直径
普通轮廓仪是沿着坐标方向进行扫描。3D Nanofinger 则与此不同,它可以沿一个路径测量。例 如根据样品的情况,沿着其内部或外部轮廓进行测量,这样可以测一些比较复杂的样品及其细部。 样品是一个标准金属块,上面的孔径已用某种计量仪器进行了标定。
- 3D Nanofinger 6 -
下图所示为两种典型针尖的电镜图像:
细线状针尖,尖端半径 25nm。
尖端弯曲的针尖,可以测量侧壁。
- 3D Nanofinger 2 -
部分典型的针尖如下表所示:
编号 1 2 3 4 5 7 8 14 15 17 12 16 9 11 13 6 10
针尖形状 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 平头针 尖锐(<~500nm) 尖锐(<~500nm) 球径 d=0.12mm 球径 d=0.3mm 球径 d=0.3mm
综上所示,不难看出 3D Nanofinger 具有很多优点: z 纳米精度测量,而且是三维方向都可保持统一的精度。 z 测量量程跨越纳米到厘米级。 z 用户可以设定测量路径,这样就能沿着样品形状进行测量。适合复杂轮廓测试。 z 配合多种不同功能的探针,可以完成一般轮廓仪无法进行的结构测量。特别是结构内部。
结果
3D Nanofinger
共焦显微镜
光学色散测量设备
沟槽的宽度
250µm
250µm
沟槽的角度
71°
71°
仪器缺点不足 针尖形状度测量结果有影响。需 无法测量沟槽结构 测量错误
要很好的标定和校准。
共焦显微镜结果,它无法测量沟槽深度方向信息。
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光学色散方法的探头扫描图像,测量结果是错误的。
3D Nanofinger 测孔的图片
原参考值 5,001.200µm
3D NanoFinger 测量值 5,001.564µm
测量结果
差值 0.364µm
4.表面粗糙度的测量 Ra 和 Rz:
样品是 Talor Hobson 带的基准样品。根据国家标准。
原参考值
3D NanoFinger 测量值 差值
d=0.3mm
d=0.3mm
描述 直针 直针 直针 直针 直针 直针 直针 直针 直针 直针 弯针 弯针 测杆上装球头 测杆上装球头 测杆上装球头 柱状头 柱状头
其他参数 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.38mm 细线直径 d=0.125mm 细线直径 d=0.08mm d=0.125mm,钩子<1mm,长~9mm d=0.125mm,钩子<1mm,长~9mm 测杆 L~1.5mm d=0.07mm 测杆 L~4mm d=0.2mm 测杆 L~2mm d=0.2mm 不锈钢管 不锈钢管
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下图显示的是用 3D Nanofinger 测量一条已标定为 90°的 V 型槽。
经测量两条线形成的夹角为: f1(x)= -1.00499*X + 3595842.866803 f2(x)= 0.994323*X + 4632506.155209 测量角度为:90.022°
3D NanoFinger 测量值 40,000.129μm 40,000.059μm 18,000.133μm
差值 0.049μm -0.021μm 0.133
结论:3D NanoFinger 测量值更精确。3 个方向的精度都是纳米级,精度统一。
2. 角度测量 该样品为德国国家标准学院 PTB 的基准样品。
用途 表面扫描 表面扫描 表面扫描 表面扫描 表面扫描 表面扫描 表面扫描 表面扫描 表面扫描 只用来进行深度测量 表面的直角扫描 表面直角扫描 轮廓测量(内、外) 轮廓测量(内、外) 轮廓测量(内、外) 轮廓测量(外) 轮廓测量(外)
典型型号:
系统布局灵活以满足用户需要。不同的平台安装方法配合各类台架及辅助设备构成检测设备。 最简单的系统为通用型测试平台,如图 1 所示。其他的纳米模块可以方便的安装到平台上,以 进一步扩展功能。也可以如图 2 那样安装在大理石桥架上,并配备 100X100mm2 的高精平台,用来 测量更大的样品或一批样品。该系统分辨率 50nm。
6.极高精度的 3D 形貌图
如前面介绍,3Dnanofinger 三方向运动和测量精度保持一致。可以沿着一条设定的路径测量。 可以测量孔径或样品内部尺寸,外部尺寸(例如轴承上的沟槽) 下图为 CNC 钻床和磨床上使用的刀具刃部的三维图像。
这张图片再次证明了该设备的强大功能。没有一种坐标测量设备或轮廓仪可以提供如此标准的 3D 图像:纳米精度测量从微米到毫米、甚至厘米级尺寸的物体。
左图清晰、直观地显示了整个测 量过程。
z 探针以出发点为测量原点,接近 样品
z 当到达预设定的高度停止。记录 坐标位置
z 系统自动退针到预定高度停止。 z 根据设定的测量规则横向移动到
下一测量点,开始测量。
整个过程由计算机控制完成。
图中 Contact 的意思是到达预先设 定的高度,而非接触到样品表面。整 个过程中样品、针尖保持在几个纳米 的间距(一般为 5nm),为非接触测量。
3D Nanofinger 中国代理: 北京汇德信科技有限公司 地址:北京市海淀区五道口华清嘉园 7 号商务会馆 706 室(100083) 电话:010-82867920/21/22 传真:010-82867919 电子邮件:contact@germantech.com.cn 网址:Http://www.germantech.com.cn
系统的数据处理能力非常强, 可得到多种参数,包括形貌、粗糙 度、坐标尺寸等。同时,系统有自 动控制能力,可以和超精密微加 工、微组装系统组合,例如为微加 工系统提供在线检测,以随时控制 加工质量。
量程为 50X50X20mm3 的系统,带有热补偿的大理石台架。 下图显示了探头安装的两种方式:垂直或水平安装
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ຫໍສະໝຸດ Baidu
用户自己可以对参数调整,如设定测量路径。
可以测量多种参量如尺寸、粗糙度等。
有可选接口,可与微加工设备集成。
垂直方向:10 或 20mm
技术特点:
与下为 3D Nanofinger 与常见微纳米测量设备和三坐标的比较:
台阶仪
光学轮廓仪
坐标测量仪
测量精度
纳米级
Z 向纳米级
微米级
XY 向微米
量程
毫米级
通常微米级
Ra
6,010 nm
5,882 nm
-128 nm
Rz
23,700 nm
23,218 nm
-482 nm
5.在狭窄的结构中进行扫描测量
以下测量的是玻璃光导上的 V 型沟槽。下图为整个 V 型沟槽阵列的总览。
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单个 V 型沟槽的扫描图像
该沟槽 3D 形貌图
目前还没有其他一种测量方法可以测量这种深沟槽结构。以下为其他两种光学方法的测量结果。
该设备的除涵盖一般轮廓、形貌测量设备的功能外,最突出的特点是可以进行三维高精度坐标 测量,这是其他设备无法做到的。与普通的三坐标测量相比,该设备的测量精度、分辨率要高出几 个数量级。
系统组成与测量原理:
整个 3D Nanofinger 系统由台 架、控制系统、探头、针尖组成。
系统控制单元控制探头沿样 品表面移动,以测量形貌、粗糙度、 尺寸。操作者可根据需要设定参 数,如探头移动的步长,选择、制 定自己的测试模式,以使测量长 度、速度、路径、分辨率达到最优 化。
如果和微加工设备组合,可以实现在线测量。
应用实例:
说明:以下的实例中使用的样品都是用户的标准样,根据国家标准。 实例中的测量值为实验值,不作为验收标准。
1. 量快的外形尺寸测量 样品是一个金属块,之前用某种计量仪器检测过,已知精确尺寸。
X 方向结果 Y 方向结果 Z 方向结果
原参考值 40,000.080μm 40,000.080μm 18,000.000μm
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Nanofinger 探头是完成测量工作 的主要部件,其核心为一个 MEMS 器 件。通过它准确测量针尖和样品间的 距离,分辨精度 0.5nm。当二者间距小 于 10nm 时,MEMS 器件监测到针尖 上信号的变化,从而感知样品的接近。 系统随时记录这种信号的变化,并根 据此前预设的信号/高度参数标定高度 值。
厘米级
小于 1mm
可到米
粗糙度测量 可以
可以
不行
尺寸测量
仅一个方向
XYZ 可测
3D 形貌测量 通常不行
可以
通常不行
探头尺寸
0.2~1 微米
0.2~1 微米
测量自由度
只能沿扫描线测 无法进行复杂尺寸测 5 个自由度
量,无法测复杂样 量
可以测量复杂样品尺
品
寸
3D Nanofinger 三方向都是纳米级 精度一致 可以到厘米级 甚至分米 可以 XYZ 可测 可以 0.05 微米 5 个自由度 可以测量复杂样品 尺寸
纳米三坐标测量仪(轮廓仪、形貌仪)
德国 Klocke 公司的 Nanofinger 是一种兼具原子量级分辨率和厘米级线性行程的纳米定位与测 量系统,系统测量范围大,且具有极高的空间三维精度。可在 50mm x 50mm x20mm 的空间范围内 实现分辨率 1nm 的三維坐标测量,跨越 8 个数量级。
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系统基本参数与功能:
指标适合各种型号的坐标轮廓综合测量系统 z 量程(量程可以选择)
水平方向:10-50mm, 可以升级为 350mm 量程 z 移动分辨率:1nm;探针的分辨精度:0.5nm z 扫描路径可以自由定义,所有的坐标轴都是统一的 z 探针的种类多,从<100nm 的探针到球形测试头 z 控制软件提供探头的自动校准和样品逼近功能。