材料测试技术往年考题及答案
材料分析测试技术复习题 附答案
材料分析测试技术复习题【第一至第六章】1.X射线的波粒二象性波动性表现为：－以波动的形式传播，具有一定的频率和波长－波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象粒子性突出表现为：－在与物质相互作用和交换能量的时候－X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成，粒子流称为光子－当X射线与物质相互作用时，光子只能整个被原子或电子吸收或散射2.连续x射线谱的特点，连续谱的短波限定义：波长在一定范围连续分布的X射线，I和λ构成连续X射线谱λ∞，波•当管压很低（小于20KV 时），由某一短波限λ0开始直到波长无穷大长连续分布•随管压增高，X射线强度增高，连续谱峰值所对应的波长（1.5 λ0处)向短波端移动•λ0 正比于1/V, 与靶元素无关•强度I：由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定（粒子性观点描述）•单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小，与A2成正比（波动性观点描述）短波限:对X射线管施加不同电压时，在X射线的强度I 随波长λ变化的关系曲线中，在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0，称为短波限。
3.连续x射线谱产生机理【a】.经典电动力学概念解释：一个高速运动电子到达靶面时，因突然减速产生很大的负加速度，负加速度引起周围电磁场的急剧变化，产生电磁波，且具有不同波长，形成连续X射线谱。
【b】.量子理论解释：* 电子与靶经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hυi的光子序列，形成连续谱* 存在ev=hυmax，υmax=hc/ λ0, λ0为短波限，从而推出λ0＝1.24/ V （nm) （V为电子通过两极时的电压降，与管压有关）。
* 一般ev≥h υ,在极限情况下，极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子4.特征x射线谱的特点对于一定元素的靶，当管压小于某一限度时，只激发连续谱，管压增高，射线谱曲线只向短波方向移动，总强度增高，本质上无变化。
材料测试技术试题
第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说，和无线电波、可见光、γ射线一样，也是一种。
2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即、、。
3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是、、。
4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是、、、、、、。
6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、、。
7、特征X射线产生的根本原因是。
8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。
9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。
10、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：和11、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为。
12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、，其中和应用较为普遍。
13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。
15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成为。
二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算(只做带下划线部分)1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检2、简述特征X-射线谱的特点。
3、推导布拉格公式，画出示意图。
4、定性物相分析的注意事项？5、回答X射线连续光谱产生的机理。
6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。
7、简述连续X射线谱的特征8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9. 测角仪的调整要求？10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用？11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则？电子显微分析部分（第2、3、4章）一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的、和。
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案一、选择题（每题2分，共20分）1. 下列哪一项不是材料现代测试分析方法？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 光学显微镜（OM）C. 质谱仪（MS）D. 能谱仪（EDS）2. 在材料现代测试分析中，哪种技术可以用于测量材料的晶体结构？A. X射线衍射（XRD）B. 原子力显微镜（AFM）C. 扫描隧道显微镜（STM）D. 透射电子显微镜（TEM）3. 下列哪种测试方法主要用于分析材料的表面形貌？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 透射电子显微镜（TEM）C. 原子力显微镜（AFM）D. 光学显微镜（OM）4. 在材料现代测试分析中，哪种技术可以用于测量材料的磁性？A. 振动样品磁强计（VSM）B. 核磁共振（NMR）C. 红外光谱（IR）D. 紫外可见光谱（UV-Vis）5. 下列哪种测试方法可以同时提供材料表面形貌和成分信息？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 原子力显微镜（AFM）C. 能谱仪（EDS）D. 质谱仪（MS）二、填空题（每题2分，共20分）1. 扫描电子显微镜（SEM）是一种利用_____________来扫描样品表面，并通过_____________来获取样品信息的测试方法。
2. 透射电子显微镜（TEM）是一种利用_____________穿过样品，并通过_____________来观察样品内部结构的测试方法。
3. 原子力显微镜（AFM）是一种利用_____________与样品表面相互作用，并通过_____________来获取表面形貌和力学性质的测试方法。
4. 能谱仪（EDS）是一种利用_____________与样品相互作用，并通过_____________来分析样品成分的测试方法。
5. 振动样品磁强计（VSM）是一种利用_____________来测量样品磁性的测试方法。
三、简答题（每题10分，共30分）1. 请简要介绍扫描电子显微镜（SEM）的工作原理及其在材料测试中的应用。
材料科学：材料分析测试技术考试卷及答案(最新版).doc
材料科学：材料分析测试技术考试卷及答案（最新版） 考试时间：120分钟 考试总分：100分遵守考场纪律，维护知识尊严，杜绝违纪行为，确保考试结果公正。
1、问答题 简述X 射线产生的基本条件。
本题答案： 2、问答题 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关系？ 本题答案： 3、单项选择题 洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ ）A 、晶粒大小对衍射强度的影响 B 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C 、衍射线位置对衍射强度的影响 D 、试样形状对衍射强度的影响 本题答案： 4、问答题 你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成了聚乙炔？ 本题答案： 5、问答题 说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理。
姓名：________________ 班级：________________ 学号：________________ --------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案：6、问答题什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”？本题答案：7、问答题你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成为聚乙炔？本题答案：8、问答题球差、像散和色差是怎样造成的？如何减小这些像差？哪些是可消除的像差？本题答案：9、问答题假定需要衍射分析的区域属于未知相，但根据样品的条件可以分析其为可能的几种结构之一，试根据你的理解给出衍射图标定的一般步骤。
本题答案：10、问答题试述X射线衍射单物相定性基本原理及其分析步骤？本题答案：11、单项选择题由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（）A、球差B、像散C、色差D、背散本题答案：12、问答题试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
材料类专业试题及答案
材料类专业试题及答案试题一：材料的分类和特性问题1：请列举三种常见的金属材料，并简述它们的特性。
答案：金属材料主要包括铁、铜和铝。
铁具有较高的强度和硬度，常用于制造机械零件和建筑结构。
铜具有良好的导电性和导热性，常用于电气设备和热交换器。
铝则因其轻质和良好的耐腐蚀性而被广泛应用于航空航天和交通运输领域。
问题2：请解释什么是复合材料，并给出一个应用实例。
答案：复合材料是由两种或两种以上不同性质的材料组合而成，这些材料在宏观上保持各自的特性，通过复合作用，使复合材料具有优于单一材料的综合性功能。
例如，碳纤维增强塑料（CFRP）就是一种复合材料，它结合了碳纤维的高强度和轻质特性以及塑料的可塑性和耐腐蚀性，广泛应用于航空航天、汽车制造和体育器材等领域。
试题二：材料的力学性能测试问题1：简述拉伸试验的目的和主要测试参数。
答案：拉伸试验的目的是评估材料的力学性能，包括其弹性、塑性、断裂等特性。
主要测试参数包括屈服强度、抗拉强度、延伸率和断面收缩率。
问题2：简述硬度测试的重要性及其常用的测试方法。
答案：硬度测试是评估材料表面硬度的一种方法，对于预测材料的耐磨性、抗划伤性和加工性能具有重要意义。
常用的硬度测试方法有布氏硬度测试、洛氏硬度测试和维氏硬度测试。
试题三：材料的热处理工艺问题1：解释什么是退火，并说明其对金属材料性能的影响。
答案：退火是一种热处理工艺，通过将金属材料加热到一定温度并保持一段时间，然后缓慢冷却，以消除材料内部的应力，改善其塑性和韧性。
退火可以降低材料的硬度，提高其延展性，从而改善加工性能。
问题2：简述淬火和回火工艺的区别及其对材料性能的影响。
答案：淬火是将金属材料加热到其临界温度以上，然后迅速冷却，以获得马氏体等硬而脆的微观结构，从而提高材料的硬度和强度。
回火则是在淬火之后，将材料加热到较低的温度并保持一段时间，然后冷却，以减少淬火引起的内应力，改善材料的韧性和塑性。
淬火和回火通常结合使用，以获得所需的材料性能。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。
在工程竣工验收前，应对工程档案进展( C )，验收合格后，须出具工程档案认可文件。
A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前，图纸排后B、图纸排前，文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料，图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下，打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护：构造部位由监理和施工各方共同选定，同一强度等级不宜少于10组，且不应少于( A )组。
A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。
A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制，进展( C )。
A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。
A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类，对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。
材料分析报告测试技术习题及问题详解
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和 X 射线。
2. X 射线与物质相互作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。
3. 经过厚度为H 的物质后，X 射线的强度为 。
4. X 射线的本质既是 也是 ，具有 性。
5. 短波长的X 射线称 ，常用于 ；长波长的X 射线称 ，常用于 。
习题1. X 射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2. 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射；（2）用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射；（3）用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？4. X 射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5. 产生X 射线需具备什么条件？6. Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7. 计算当管电压为50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
《材料分析测试技术》课程试卷答案
一、选择题:（8分/每题1分）1。
当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A. 光电子；B. 二次荧光；C。
俄歇电子；D。
（A+C）2。
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0。
194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。
A。
三条; B 。
四条；C. 五条；D. 六条.3。
.最常用的X射线衍射方法是（B )。
A。
劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D。
德拜法。
4. 。
测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析,常用方法是（C )。
A。
外标法；B。
内标法；C。
直接比较法；D。
K值法。
5。
可以提高TEM的衬度的光栏是（B )。
A。
第二聚光镜光栏；B。
物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是( D）。
A。
六方结构；B。
立方结构；C。
四方结构；D. A或B。
7。
将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）.A。
明场像;B. 暗场像；C. 中心暗场像;D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。
A. 背散射电子；B. 二次电子;C。
吸收电子；D。
透射电子。
一、判断题：(8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态.（√)2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
( ×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
（√）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
（×)7.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。
材料分析测试技术习题与答案
第一章一、选择题1. 用来进行晶体结构分析的X 射线学分支是（）A.X 射线透射学；B.X 射线衍射学；C.X 射线光谱学；D. 其它2. M 层电子回迁到K 层后，多余的能量放出的特征X 射线称（）A.Kα；B. K β；C. K γ；D. L α 。
3. 当 X 射线发生装置是Cu 靶，滤波片应选（）A． Cu； B. Fe； C. Ni ； D. Mo 。
4.当电子把所有能量都转换为X 射线时，该X 射线波长称（）A.短波限λ 0；B. 激发限λ k；C. 吸收限；D. 特征 X 射线5. 当 X 射线将某物质原子的K 层电子打出去后，L 层电子回迁K 层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （ A+C）二、正误题1.随 X 射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2.激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3.经滤波后的 X 射线是相对的单色光。
（）4.产生特征 X 射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和X 射线。
2. X 射线与物质相互作用可以产生、 、、、、 、、。
3. 经过厚度为 H 的物质后， X 射线的强度为。
4. X 射线的本质既是 也是 ，具有性。
5. 短波长的 X 射线称，常用于；长波长的 X 射线称，常用于。
习题1. X 射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2. 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（ 1）用 CuK α X 射线激发 CuK α 荧光辐射； （ 2）用 CuK β X 射线激发 CuK α 荧光辐射；（ 3）用 CuK α X 射线激发 CuL α 荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？4. X 射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5. 产生 X 射线需具备什么条件？6. Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7. 计算当管电压为 50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
材料测试分析技术真题试卷
材料测试分析技术真题试卷一、选择题（每题2分，共20分）1. 材料的硬度测试中，布氏硬度测试使用的是：A. 钢球B. 金刚石锥C. 金刚石球D. 钢锥2. 下列哪项不是材料的机械性能测试？A. 拉伸测试B. 压缩测试C. 热膨胀测试D. 冲击测试3. X射线衍射分析主要用来研究材料的：A. 微观结构B. 化学成分C. 表面形貌D. 热稳定性4. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是：A. 分辨率高B. 可进行元素分析C. 样品制备简单D. 所有以上选项5. 热重分析（TGA）主要用于：A. 测量材料的密度B. 测量材料的热稳定性C. 测量材料的导热性D. 测量材料的热膨胀系数二、填空题（每空2分，共20分）6. 材料的弹性模量是指材料在_________作用下，应力与应变的比值。
7. 材料的疲劳测试通常采用_________循环加载方式。
8. 材料的断裂韧性通常用_________表示，其单位是MPa·m^{1/2}。
9. 差示扫描量热法（DSC）可以用来测量材料的_________和相变温度。
10. 原子力显微镜（AFM）利用探针与样品表面之间的_________来获取表面形貌信息。
三、简答题（每题10分，共30分）11. 简述材料的冲击测试的基本原理及其在材料性能评价中的意义。
12. 描述透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）的主要区别。
13. 解释差示热分析（DTA）与差示扫描量热法（DSC）的异同点。
四、计算题（每题15分，共30分）14. 某材料的拉伸测试结果如下：原始截面积A0=50mm²，最大载荷Fmax=5000N。
试计算该材料的抗拉强度σb。
15. 假设你正在分析一种合金的热重分析（TGA）曲线，曲线显示在600℃时质量损失了5%。
如果初始质量为100g，请计算在600℃时的质量损失量。
五、论述题（共30分）16. 论述材料的微观结构分析技术在新材料开发中的重要性，并举例说明。
材料分析测试技术课程试卷答案
一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子旳K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多出能量将另一种L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体旳晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。
A. 三条；B .四条；C. 五条；D. 六条。
3. .最常用旳X射线衍射措施是（B）。
A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。
4. .测定钢中旳奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用措施是（C ）。
A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。
5. 可以提高TEM旳衬度旳光栏是（B ）。
A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其他光栏。
6. 假如单晶体衍射把戏是正六边形，那么晶体构造是（D）。
A. 六方构造；B. 立方构造；C. 四方构造；D. A或B。
7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。
A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。
8. 仅仅反应固体样品表面形貌信息旳物理信号是（B）。
A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸取电子；D.透射电子。
一、判断题：（8分/每题1分）1.产生特性X射线旳前提是原子内层电子被打出核外，原子处在激发状态。
（√）2.倒易矢量能唯一地代表对应旳正空间晶面。
（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受辨别率，缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相旳含量有什么成分。
（×）5.有效放大倍数与仪器可以抵达旳放大倍数不同样，前者取决于仪器辨别率和人眼辨别率，后者仅仅是仪器旳制造水平。
（√）6.电子衍射和X射线衍射同样必须严格符合布拉格方程。
材料分析测试技术》试卷(答案)
《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。
2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。
3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。
4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。
5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。
7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
二、选择题：（8分，每题一分）1. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。
a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。
2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。
a．Co ；b. Ni ；c. Fe。
3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c ）。
a．哈氏无机数值索引；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。
4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。
a．第二聚光镜光阑；b. 物镜光阑；c. 选区光阑。
5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。
a．球差；b. 像散；c. 色差。
6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。
a．高阶劳厄斑点；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。
7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。
a．背散射电子；b.俄歇电子；c. 特征X射线。
8. 中心暗场像的成像操作方法是（c）。
a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
三、问答题：（24分，每题8分）1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一个最佳厚度（t =2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功能？在材料科学中有什么应用？四、证明题：20分1.证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。
现代材料检测技术期末考试卷与答案
现代材料检测技术期末考试卷与答案一、选择题（每题2分，共20分）1. 材料检测技术的目的是什么？A. 确定材料的化学成分B. 确定材料的物理性质C. 确定材料的力学性能D. 确定材料的生产工艺答案：B2. 以下哪种检测方法属于无损检测？A. 拉伸试验B. 硬度试验C. 超声波检测D. 金相试验答案：C3. 材料检测中，哪种试验主要用于测定材料的弹性模量？A. 拉伸试验B. 压缩试验C. 弯曲试验D. 冲击试验答案：C4. 哪种试验可以检测材料的硬度？A. 拉伸试验B. 压缩试验C. 弯曲试验D. 硬度试验答案：D5. 金相显微镜观察材料的主要目的是什么？A. 确定材料的化学成分B. 观察材料的晶体结构C. 确定材料的物理性质D. 确定材料的生产工艺答案：B二、填空题（每题2分，共20分）1. 材料检测技术主要包括________、________、________、________和________等方法。
答案：拉伸试验、压缩试验、弯曲试验、冲击试验、金相试验2. 无损检测方法主要包括________、________、________和________等。
答案：超声波检测、射线检测、磁粉检测、渗透检测3. 材料的________、________和________是衡量材料力学性能的主要指标。
答案：强度、韧性、硬度4. 金相试验主要用于观察材料的________、________和________等。
答案：晶体结构、晶粒大小、相结构5. 材料检测报告应包括检测________、________、________、________、________和________等内容。
答案：方法、结果、结论、数据、图表、参考文献三、简答题（每题10分，共30分）1. 请简述材料检测技术在工程领域的应用。
答案：材料检测技术在工程领域中具有重要作用，可以确保材料的质量、安全及可靠性。
在工程设计、制造、验收、维护和更新等各个阶段，通过材料检测技术可以得到关于材料性能的准确数据，为工程决策提供依据。
材料分析测试技术试题及答案
金材02级《材料分析测试技术》课程试卷答案一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。
A. 三条；B .四条；C. 五条；D. 六条。
3. .最常用的X射线衍射方法是（B）。
A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。
4. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C ）。
A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。
5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。
A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D）。
A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。
7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。
A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。
A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。
二、判断题：（8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（√）2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
（×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
（√）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
材料分析测试技术试题及答案
金材02级《材料分析测试技术》课程试卷答案一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。
A. 三条；B .四条；C. 五条；D. 六条。
3. .最常用的X射线衍射方法是（B）。
A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。
4. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C ）。
A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。
5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。
A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D）。
A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。
7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。
A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。
8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。
A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。
二、判断题：（8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（√）2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
（×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
（√）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
《材料分析测试技术》课程试卷答案
一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生(D）。
A. 光电子；B. 二次荧光;C. 俄歇电子；D. (A+C）2。
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B )衍射线. A。
三条；B 。
四条; C. 五条；D。
六条.3。
最常用的X射线衍射方法是（B）。
A. 劳厄法；B。
粉末多晶法；C。
周转晶体法；D. 德拜法。
4. 。
测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是(C ）。
A。
外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D。
K值法.5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。
A. 第二聚光镜光栏；B。
物镜光栏;C. 选区光栏；D. 其它光栏。
6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D )。
A. 六方结构；B。
立方结构；C。
四方结构；D. A或B。
7。
.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C ).A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。
8。
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。
A。
背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。
一、判断题：(8分/每题1分)1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（√)2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面.（√）3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。
（×）4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
（×）5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平.( √）6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
（×）7.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。
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一、名词解释
1.特征X射线：高速运动的电子被阳极靶阻止时，伴随电子动能的消失与转化，会产生X射线。
对特定的阳极靶，当管电压超过某一临界值时，在某几个特定波长的地方，X射线强度突然显著增大，这些波长反映了靶材的特征，因此成为特征X射线。
2.结构消光：在复杂晶胞中，各项原子占据不同的位置，其散射波的振幅和相位各不相同，晶胞中所有原子散射的合成振幅不等于各原子散射振幅的简单加和。
利用结构因子F米表征晶胞内原子位置、种类及原子个数对衍射强度的影响。
对满足布拉格方程的某些晶面，由于结构的原因而使衍射消失。
这种由于结构的原因造成衍射消失的现象，称为结构消光。
3.磁转角：电子束在镜筒中是按螺旋线轨迹前进的，衍射斑点到物镜的一次成像之间有一段距离，电子通过这段距离的时候会转过一定的角度，这就是磁转角。
4.像散：透镜磁场的这种非旋转性对称，会使他在不同方向上的聚焦能力产生差别，结果使物象点通过透镜后，不能在像平面上聚焦成一点形成像散。
二、简答题
1、电子束射入固体样品表面会激发那些物理信号？有哪些特点和用途？
（1）背散射电子。
背散射电子是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。
其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
背散射电子的产生范围深，由于背散射电子的产能随原子序数的增加而增加，所以，利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性的进行成分分析。
（2）二次电子。
二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。
二次电子来自表面50-500的区域，能量为0-50eV。
他对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。
（3）吸收电子。
入射电子进入样晶后，经过多次非弹性弹射，能量损失殆尽（假设样品有足够厚度，无透射电子产生），最后被样晶吸收。
若在样品和地之间接入一个高灵敏度的电流表，就可以测的样品对地的信号。
若把吸收电子的信号作为调制图像的信号，则其衬度与二次电子像和背散射电子像的反差是互补的。
（4）透射电子。
如果样品厚度小于入射电子的有效穿透深度，那就会有相应数量的入射电子能够穿过薄样品而成为透射电子。
样品下方检测到的透射电子信号中，除了有能量与入射电子相当的弹性散射电子外，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子，其中有些特征能量损失△E
的非弹性散射电子和分析区域的成分有关，因此，可以用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。
（5）特征X射线。
特征X射线是原子的内层电子收到激发以后，在能级跃迁过程中被释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。
如果用X 射线探测器测到了样品微区中有某一特征波长，就可以判定该区中存在相应元素。
（6）俄歇电子。
如果原子内层电子能级跃迁中释放出来的能量△E不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种电子叫做俄歇电子。
俄歇电子是由试样表面极有限的几个原子层发出的，这说明俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。
2、德拜相机法和X射线衍射法机理不同点？
前者是所有符合布拉格条件的晶面一次全部在底片上的衍射线。
而后者仅是平行于样品表面的晶面散射的结果。
3、为什么要保持θ-2θ连动？
根据布拉格方程2dsinθ=λ,当产生衍射时，入射线和衍射线夹角始终保持2θ。
在测定晶体结构时，入射线保持不动，样品台以一定速度旋转，为了保证满足衍射条件，即记数管应始终保持与入射线的夹角2θ，即必须使记数管和样品台θ-2θ连动。
三、计算题
已知利用CuKa辐射（λ=0.1542）照射Ag(Fcc)样品，测得第一衍射峰位置2θ=38°，试求Ag的点阵常数a0.
根据布拉格方程2dsin19°=λ，所以d=λ/2sin19°=0.1542/2/0.3256=0.2365
由于fcc晶体，当hkl奇偶混杂时，F=0.所以第一衍射峰位置应对应的晶面为<111>，所以Ag的点阵常数a=d*sqrt(h²+k²+l²)=0.2365*sqrt(3)=0.4096。