磁头寻轨过程对气膜承载力的影响

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ｂｆａｄｔｅａｒｂａｉｇｆｒｅｕｄｅｈｏｌｃｉｅｅｆｃａｉｌｖｌｃｔｄｈｒｓｕｉｔｉｕｏｎｎｈｉｅｒｎｏｃｎｒｔｅｃｌｅｔｆｅｔｏｆｒｄａｅｏｉａｒｉｖｙｎｓｅａｇｅｗａｎｓｉｔｄｄｒｎｅｋｎｏｅｓｋｗｎｌｓｉｖｅｔｅｕｇｓｅｉｇｐｒｃｓ．Ｕｓｎｈｌ — ｒｄｍｅｏｈｅｇｓｌｂｃｔｏｇａｉｉｇｔｅｍｕｔｇｔｄ，ｔａｕｒａｉｎｉｉｈｉＲｅｎｌｓｅａｉｎｗａｓｌｅｙｏｄｑｕｔｏｓｏｖｄ．Ｔｈｅｓｅｎｒｃｓｗａｉｌｔｄ．Ｔｈｅｒｓｌｈｗｓｈａｈｒｅｋｇｐｏｅｓｉｓｓｍｕａｅｅｕｔｏｔｔｔｅａｓｉ
Ｋｅｙｗｏｒｓ：ｈａｉｋｓｔｍ；ｓｉｅ；ｓｅｎｌｃｔｄｅｄｄｓｙｓｅｌｒｅｋｇｖｅｏｉｄｉｙ；ｓｗｎｌｋｅａｇｅ
近年来计算机技术迅猛发展，为计算机主要作
数据存储设备的硬盘相应地向大容量、转速、高体积小和安全性高的方向发展．据Ｗａａｅｓａｉｇ根ｌｃｐｃｎｌ
维普资讯
第３７卷第５期
２００７年９月
东南大学学报（自然科学版）
ＪＵＡＬＦＳＵＨＥＳＩＥＳＴ（ｔｒｌｃｅｃｄｔｎＯＲＮＯＯＴＡＴＵＮＶＲＩＹＮａａＳｉｅＥｉｏ）ｕｎｉ
值的改变对磁头压强的分布和气膜承载力的影响．用多重网格法求解修正的气体润滑雷诺方采
程，对磁头径向速度对气膜承载力的影响进行了分析，后对磁头的寻轨过程进行了模拟．拟最模
结果表明：气膜承载力对磁头径向速度非常敏感；角效应使得气膜承载力减小；头寻轨时，斜磁气膜承载力在内轨道和外轨道均有明显波动，导致头盘碰撞几率增大．关键词：磁头磁盘系统；头滑块；轨速度；角磁寻斜
中图分类号：Ｈ１７２Ｔ１．文献标识码：Ａ文章编号：１０００（０７０－８３４０１— ５５２０）５０５－０
Ｅｆｅｔｏｌｅｒｃｅｋｎｒｃｓｎａｒｂａｉｇｆｒｅｆｃｆｓｉｒｔａｋｓｅｉｇｐｏｅｓｏｉｅｒｎｏｃｄ
为磁头的飞高，头绕长度方向的转角为侧倾角，磁绕宽度方向的转角为俯仰角．飞高、侧倾角、仰角俯
是描述磁头飞行姿态的３个重要参数．
侧
ｌｓ方程，ｏｓ当磁头传感器与盘片之间的距离减小时，磁盘存储密度按指数规律增加－．究表明ｌ］研２当磁盘存储密度达１６Ｇｂｍｍ１Ｔｉ），．／（Ｗｎ时磁
Ａｂｓｒｔ：Ｎｅｔｖｅｓｒｉｏｓｉｅｓｓｌｃｅｓｔｉｕａｉｇｍｏｅ．ＴｈｒｎｓｏｍａｉｎｏｆｔａｃｇａｉｅｐｒｓｕｅＰｃｌｄｒｗａｅｅｔｄａｈｅｓｍｌｔｄ１ｎｅｔａｆｒｔｏ
ＷａｇＢｉｉＷａｇＹｕｕｎＣｅｎｅｎｅｌｅｎｊａｈｎＹｕｆｉ
（ｃｏｌｆＭｅｈｎｃｌｎｉｅｒｇ，ｏｒｅｎｖｒｉ，Ｎｎｉｇ２８Ｃｈｎ）ＳｈｏｏｃａｉａＥｇｎｅｉＳｕｓｔｉｅｓｙａｊ１９，ｉａｎＵｔｎ１１
ＶＯ１３Ｎｏ．．７５Ｓｅｔ２０７ｐ．０
磁头寻轨过程对气膜承载力的影响
王蓓蕾王玉娟陈云飞
（东南大学机械工程学院，南京２１８）１１９
摘要：以负压Ｐｃｉｏ磁头作为物理模型，拟了磁头在磁盘半径方向寻轨时，头径向速度、角模磁斜
ｂａｉｇｆｒｅｉｅｙｓｎｉｖｅｔｈａａｅｏｉｙａｄｔｋｗｎｌｃｅｓｓｔｅｆｒｅａｌ．ＴｈｅｒｎｏｃＳｖｒｅｓｔｏｔｅｒｄｉｌｖｌｃｔｎｈｅｓｅａｇｅｄｅｒａｅｏｃｏｔｉｈｅａｒｂａｉｇｆｒｅｆｕｃｕｔｓａＯｈｔｅｏｔｒａｄｉｎｅｉｍｅｅｉｅｒｎｏｃｌｔａｅｔｂｔｕｅｈｎｎｒｄａｔｒｗｈｉｈｒｓｔｎａｎｒａｅｏｒｂａｃｅｕｌｓｉｎｉｃｅｓｆｐｏ — ｂｉｔｆｔｅｈａｓｏｔｃ．ｌｙｏｅｄｄｉｋｃｎａｔｉｈ