细数四探针测电阻与万用表测电阻的区别

细数四探针测电阻与万用表测电阻的区别
在平时的工作中，工程师常常使用万用表测电阻或进行电流、电压的测试，与此同时，还有一种办法是比较常用到的，那就是四探针测电阻法。

那幺，万用表测电阻与四探针测电阻法究竟有哪些不同之处？他们的测量原理又是什幺呢？在今天的文章中，小编将会为大家进行简要的总结和分析。

 首先我们来看一下四探针测电阻的操作模式和测量原理。

这种测电阻技术的实际操作方式如下图所示。

 四探针测电阻操作示意图
 从图1中可以看到，这种测电阻方式与万用表测电阻的方法有很大的不同之处。

当图中的1、2、3、4共四根根金属探针排成直线时，将会以一定的压力压在半导体材料上，在1、4两处探针间通过电流I，则2、3探针间产生电位差V。

此时，所测材料的电阻率为：
 在该公式中，参数C为探针系数，其具体数值由探针几何位置决定。

当试样电阻率分布均匀，试样尺寸满足半无限大条件时，则该公式将变形为：
 这个公式就是四探针测电阻与万用表测电阻的本质区别所在了。

从上文中这一经过变形的计算公式里可以看到，参数S1、S2、S3分别代表的是探针1与2、2与3、3与4之间的间距。

这里有一个问题需要我们注意，那就是探头系数由制造厂对探针间距进行测定后确定，并提供给用户。

每个探头都有自己的系数，参数C的数值可以约等于6.28±0.05，其计算单位为cm。

当。