X射线荧光分析 全反射.ppt

载射 临 为 体， 界 的从 角 度 受而 ， 左 以 激减 在 右 掠 发少 被 ） 射 光了 测 。 角 也透 物 由 入 就射 表 于 射 相光 面 入 （ 应线 将 射 既 减的 发 角 入 弱进 生 小 射 了入 全 于 角 ，反 仅
• TXRF 0`1
TXRF 的 改 进
全反射X射线荧光仪器
一种应用较早，且至今仍广泛应用的多元素分析 技术。
• 曾经成功的解决了：矿石中Nb和Ta,Zr和Hf及单个稀土 元素（REE）的测定问题；地质与无机材料分析中工作 量最大，最繁重，最耗时的主次量组分快速全分析的难 题；以及高精度，海量素分析技术，如电 感耦合等离子体光谱(ICP-AEC)、电感耦合等离子 体质谱(ICP-MS)和仪器中子活化分析(INAA)相比，
X
• Total—Reflection X—Ray Fluorescence Analysis
射 线全 荧反 光 分射 析
X射线 荧光基础
• 光谱机理
• 在光电吸收过程中，原子 内某些电子吸收了特定能 量后被逐出，在轨道中形 成空穴。 • 此时，其外层轨道电子会 发生跃迁来填补这些空穴。 • 跃迁电子产生的空穴再由 外一层电子通过跃迁填 补。。。 • 如此继续，直至自由电子 进入轨道为止
堡 （第 制 一 造年 台 并在 商 获德 ）品 得国 由 多阿 项伦于 仪 专斯 器 利 。 • TXRF EXTRA Rich.Seifert&Co. 1980
•
300
色反 仪 色 绝 量但光 目 散射 器 散 望 在能谱 前 这 谱装 仅 仪 有 快量仪 ， 样 仪置 绝 器 速色为 大 的 ，只 望 ， 增散波 多 仪 目适 有 而 加光长 数 器 前用 能 台 。谱色 在 大于 量 波 全仪散 射 运 约能 色 长 世的型 线 行 有量 全 散 界数， 荧 。
•
。 有的 其 以 该 相特 中 谱 应征 的 的 射 的， 峰 形 线 元表 ， 式 可 素明 即 记 被 样谱录探 品线下测 中原来， 含子。并 X
•
受能 每 激量 一 原的 次 子释 的 的放 跃 二， 迁 次从 都 而伴 射形 随 线成 有 。
•
X
• 在当今众多的元素分析技术中,X射线荧光技术是
参考文献: «X射线荧光光谱分析» 作者:吉昂 陶光仪 卓尚军 罗立 强 科学出版社 «全反射X射线荧光分析» 作者:(德)赖因霍尔德·克洛肯凯 帕 原子能出版社
15000
3000
X
TXRF仪器 结构简图
电源
X射线管
样品室 多道分析器
滤波器 或单色器
探测器
• 按照国际理论 与应用 化学联(IUPAC)的定义， TXRF是一种微量分析 （Microanalysis） 方法，而且总是需要 将样品进行一定的预 处理制备成溶液、悬 浊液、细粉或 薄片， 而一般原样很少能直 接分析。
XRF最明显的缺点就是灵敏度低、取样量大。
• 由于常规XRF的入 射束一般采用大于 40度的入射角，不 仅样品会产生二次 X射线，载体材料 也会受到激发从而 在记录谱上产生峰， 对测量形成干扰。
• 场现 局 降米 波 通 强。 部 。或 场 射常 度在 相 然毫 强 线， 的这 关 而米 度 束激 概些 振 ，厚 在 作发 率场 荡 在的 真 为荧 被中 的 固 空 传光 激的 驻 体 中 播是 发原 波 样 是 波用 ，子 或 中品 常 来厘 产以 损 ，中 数 完米 生正 耗 原呈 ， 成宽 荧比 波 级指 而 。的 光于 场 束数 在 假原 。波 出 以下 微 定级 TXRF X