面阵列像素探测器及辐射探测系统[实用新型专利]

专利名称：面阵列像素探测器及辐射探测系统专利类型：实用新型专利
发明人：张岚,顾铁,刘柱,王伟
申请号：CN201820164734.7
申请日：20180131
公开号：CN207867042U
公开日：
20180914
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本实用新型提供一种面阵列像素探测器及辐射探测系统，包括：位于探测介质的第一表面的像素阵列阳极；位于探测介质的第二表面的阴极，阴极包括若干阴极电极块，各阴极电极块相互独立。

本实用新型中同时到达阴极面不同位置的光子，会从连接不同分区的阴极电极块读出信号，达到了正确区分同时到达的光子信号的目的；同时通过系统自我计算判断实现高、中、低，各种强度辐射场灵活应用的方式，提高了探测系统的应用范围和灵活处理能力；能够让系统操作人员在不需要额外配置的情况下，简便直接的使用同一种探测系统设备，得到不同辐射场强度情况下准确的测量结果，为后续的环境处理处置提供最快速有效的依据。

申请人：奕瑞新材料科技(太仓)有限公司
地址：215434 江苏省苏州市太仓港经济技术开发区北环路行政服务中心十楼
国籍：CN
代理机构：上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人：余明伟
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