CPK计算公式

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CPK计算公式
1、可在Excel中的“STDEV”中自动计算所取样数据的标准 差(6δ ),再计算出规格公差(T)=规格上线-规格下线, 规格中心值(U)=(规格上线+规格下线)/2,X表示平均值。 CPK=CP*(1-︱Ca︱) CP=T/6δ Ca=(X-U)/(T/2) CPK主要主要表现为生产过程中制程能力指数的强弱 Ca 制程的准确度 CP 制程的精密度
样本n
2
1.880
3
1.023
4
0.729
5
0.577
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0.483
7
0.419
8
0.373
9
0.373
10
0.308
A2 d2 D4上
1.128
3.267 -------
1.693
2.574 ---
2.059
2.282 ---
2.326
2.114 ---
2.534
2.004 ---
2.704
1.924 0.076
Alan.liu
2.847
1.864 0.136
2.970
1.816 0.184
3.078
1.777 0.223
D3下
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Alan.liu
Cpk应用讲议
CPK计算公式
1. Cpk的中文定义为:制程能力指数 2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|), Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋 势),Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因 素,还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下 限 (USL,LSL),才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差 (σ ), 再计算出规格公差(T) =规格上限-规格上限 规格中心值(u)=(规格上限+规格下限)/2;
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CPK计算公式
A、上控制线UCL=X(平均值)+AR(平均值) 公式 中A是随机抽样数n大小而变的系数,可由下表可查。 B、中心线CL=X(平均值) C、下控制线CL=X(平均值)-AR(平均值) 对于R控制图中下控制线中的系数取值时,当样本中n小于6 时,DL无值,下控制线不考虑。
Alan.liu
CPK计算公式
公式一: CPK=CP*(1-︱Ca︱) Ca= ︱x平均值-规格中心值︱/一半公差 CP=公差/6倍标准偏差 公式二:CPK=MIN(CPU、CPL) CPU=规格上限-平均值/3倍标准偏差 CPL=平均值-规格下限/3倍标准偏差 X-R控制图原理 均值、极差控制图主要是求得一组的平均值与本组数据中 最大值与最小值差 。 均值=是一组数据相加之和/样本数n 极差=一组数据中最大值-最小值 如何计算上下控制界限和中心值
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CPK计算公式
8. 依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) , 计算出制程准确度:Ca值 9. 依据公式:Cp =T/6 σ , 计算出制程精密度:Cp值 10. 依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) , 计算出制程能力指数: Cpk值 11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数 做相应对策) A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 > Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好,状态稳定,但应 尽力提升为A+级 B 级 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般,制程因素稍有变 异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多,必须提升其 能力 D 级 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差,应考虑重新整 改设计制程
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