真空蒸发镀膜蒸镀精品PPT课件
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真空蒸发(蒸发镀膜)PPT幻灯片课件
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在100℃时,水的饱和蒸气压增大到101324.72Pa
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第一节 真空蒸发原理
蒸发温度
规定物质在饱和蒸气压为10-2Torr时的温度 饱和蒸气压与温度的关系曲线对于薄膜制作技术有重要 意义,它可以帮助我们合理选择蒸发材料和确定蒸发条件。9
第一节 真空蒸发原理
3. 蒸发速率
根据气体分子运动论,在气体压力为P时,单位时间 内碰撞单位面积器壁上的分子数量,即碰撞分子流量(通
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第二节 蒸发源的蒸发特性及膜厚分布
★ 点蒸发源
能够从各个方向 蒸发等量材料的微小 球状蒸发源称为点蒸 发源(点源)。
dm m d 4
m
4Байду номын сангаас
cos
r2
dS2
dm t dS2
dS1 dS2 cos
dS1 r 2 d
d
dS2 cos
r2
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电子束加热原理
• 可聚焦的电子束,能局部加温元素源,因不加热其它部 分而避免污染 • 高能量电子束能使高熔点元素达到足够高温以产生适量 的蒸气压
电子的动能和电功率:
m 9.11028 g
1 m2 e U
2 e 1.61019C
5.93105 U (m/s)
Q 0.24Wt
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电子束蒸发源的优点:
• 电子束的束流密度高,能获得远比电阻加热源更大的能 量密度。
• 被蒸发材料置于水冷坩埚内,避免了容器材料的蒸发, 以及容器材料与蒸发材料的反应,提高了薄膜的纯度。
• 热量直接加到蒸镀材料表面,热效率高,热传导和热辐 射损失小。
电子束蒸发源的缺点:
镀膜技术PVD-PPT幻灯片课件
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Hale Waihona Puke 最早出现的金属沉积工艺钨W(Tm=3380℃) 钽Ta(Tm=2980℃) 钼Mo(Tm=2630℃)
6
蒸发装置的选择和运用很重要
热效率:热传导和热辐射对薄膜制备是不利的 (必须使坩埚或电极冷却)
For example, 在1500°C下蒸发Al: 选用合适的蒸发源, 所需能量为2.4kW.h/kg; 用电阻丝蒸发,所需能量为7-20kW.h/kg; 用TiB2电阻加热蒸发, 所需能量为50-100kW.h/kg;
溅射:常用的物理气相沉积方法。
溅射 RF磁控溅射 DC磁控溅射 离子束溅射 —反应溅射,活性气体,生长化合物薄膜。
分子束外延:MBE,超高真空,缓慢蒸发过程,多蒸发源,生长外延的单晶薄 膜。(ALE, MLE)
1
PVD的概念:在真空度较高的环境下,通过加热或高能
粒子轰击的方法使源材料逸出沉积物质粒子(可以是原子、 分子或离子),这些粒子在基片上沉积形成薄膜的技术。 其技术关键在于:如何将源材料转变为气相粒子(而非CVD 的化学反应)!
② 单个入射离子轰击出的产物粒子数与入射离子的能量/质量都有关;
均可用弹性碰撞理论解释!
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③ 溅射产物粒子的平均速度 >> 蒸发出的粒子。
溅射镀膜的基本物理过程:
溅射镀膜何以实现?
气体放电 等离子体 带电离子 电场作用 离子加速 高能离子 撞击靶材 溅射 发射靶材原子 飞向基板 形成 沉积 获得薄膜!
所以可蒸发材料受到限制; 蒸发率低; 加热速度不高,蒸发时待蒸发材料如为合金或化合物,
则有可能分解或蒸发速率不同,造成薄膜成分偏离蒸发物 材料成分。
高温时,钽和金形成合金,铝、铁、镍、 钴等与钨、钼、钽等形成合金
真空蒸发镀膜蒸镀
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2. 残余气体对制膜旳影响
(1)残余气体旳蒸发速率Ng: N g 3.5131022
g Pg
M gTg
(13)
(2)到达基片旳气体分子与蒸气分子之比(面源):
N g Pg Nd P
MT
r 2
Pg K
M gTg Acos cos P
(14) ( g)
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(2)电子束加热蒸发源 电子束集中轰击膜料旳一部分而进行加热旳措施。
图8.2.5 电子束加热蒸发源
电子束加热蒸发源由: 阴极、加速电极、阳极 (膜料)构成。
还有高频加热蒸发源、 激光蒸发源等。
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优点:
(1)能够直接对蒸发材料加热; (2)装蒸发料旳容器能够是冷旳或者用水冷却,从而 可防止
点e
4 r
cos 2
m cos 4 r 2
(7)
小型平面蒸发源: m cos cos t r 2
令: cos cos h / r h /
h2 x2 ,
在x=0处:cos=cos=1
m
∴ t0 4 h2 (点源) (9)
m
t0 h2
(8) (面源) (10)
(1/cm2·s)
(5)
小型圆平面源:
Nd
AN e
cos r 2
cos
(1/cm2·s)
(6)
β、θ为蒸气入射方向分别与蒸刊 登面和接受表面法向旳夹角 。
图8.2.3 、角旳意义
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(4)蒸发制膜旳厚度
∵τ时间内,蒸发材料旳总量:m =ANe,密度:
第6章 真空蒸镀PPT课件
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缺点: 费用高
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24
蒸发源的蒸发特性
镀料熔化后,若有沿蒸发源上扩展的倾向时,两者是浸润的。 反之,若在蒸发源上有凝聚而接近于形成球形的倾向时,是 不浸润的。
浸润-面蒸发源 不浸润-点蒸发源
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蒸发源的蒸发特性
点蒸发源与面蒸发源
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蒸发源的蒸发特性
点蒸发源与面蒸发源
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蒸发源
➢电子束蒸发源:结构型式
• e 型枪优点:
1)电子束偏转270度,避免了正离子对膜的影响。 2)吸收极使二次电子对基板的轰击减少。 3)结构上采用了内藏式阴极,既防止极间放电,又避免
了灯丝污染。 4)可通过调节磁场改变电子束的轰击位置。
• e 型枪缺点:设备成本高
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蒸发源
➢高频感应蒸发源
• 其突出的优点是能生长极薄的单晶膜层,且能够精确控制 膜厚、组分和掺杂。
• 适于制作微波、光电和多层结构器件。
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化合物膜的蒸镀
➢分子束外延 分子束外延设备
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36
化合物膜的蒸镀
➢分子束外延
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37
化合物膜的蒸镀
➢分子束外延
特点: • MBE可以严格控制薄膜生长过程和生长速率。 • MBE是一个超高真空的物理淀积过程,利用快门可对生长和中
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38
习题
1. 简述真空蒸镀制备薄膜的过程。 2. 点电阻蒸发源的材料要求有哪些?常用的电
阻蒸发源材料有哪几种? 3. 何为分子束外延?请简述分子束外延的特点。
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39
➢反应蒸发法
许多化合物在高温蒸发过程中 会产生分解,例如直接蒸发 A12O3、TiO2等都会产生失氧, 为此宜采用反应蒸发。
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蒸发源的蒸发特性
镀料熔化后,若有沿蒸发源上扩展的倾向时,两者是浸润的。 反之,若在蒸发源上有凝聚而接近于形成球形的倾向时,是 不浸润的。
浸润-面蒸发源 不浸润-点蒸发源
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蒸发源的蒸发特性
点蒸发源与面蒸发源
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蒸发源的蒸发特性
点蒸发源与面蒸发源
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蒸发源
➢电子束蒸发源:结构型式
• e 型枪优点:
1)电子束偏转270度,避免了正离子对膜的影响。 2)吸收极使二次电子对基板的轰击减少。 3)结构上采用了内藏式阴极,既防止极间放电,又避免
了灯丝污染。 4)可通过调节磁场改变电子束的轰击位置。
• e 型枪缺点:设备成本高
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蒸发源
➢高频感应蒸发源
• 其突出的优点是能生长极薄的单晶膜层,且能够精确控制 膜厚、组分和掺杂。
• 适于制作微波、光电和多层结构器件。
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化合物膜的蒸镀
➢分子束外延 分子束外延设备
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化合物膜的蒸镀
➢分子束外延
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化合物膜的蒸镀
➢分子束外延
特点: • MBE可以严格控制薄膜生长过程和生长速率。 • MBE是一个超高真空的物理淀积过程,利用快门可对生长和中
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习题
1. 简述真空蒸镀制备薄膜的过程。 2. 点电阻蒸发源的材料要求有哪些?常用的电
阻蒸发源材料有哪几种? 3. 何为分子束外延?请简述分子束外延的特点。
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39
➢反应蒸发法
许多化合物在高温蒸发过程中 会产生分解,例如直接蒸发 A12O3、TiO2等都会产生失氧, 为此宜采用反应蒸发。
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其他领域
如生物医学、能源 等。
02
真空蒸发镀膜设备
蒸发源
蒸发源是真空蒸发镀膜设 备中的核心部件,其作用 是将待镀膜材料加热至熔 融状态,并产生蒸气。
蒸发源的种类包括电阻加 热型、电子束加热型和激 光加热型等。
蒸发源的材料通常选用高 熔点、高纯度的材料,以 确保稳定的蒸发和良好的 薄膜质量。
真空室
冷却系统通常包括水冷、风冷 等类型,根据不同部件的需求 进行选择。
冷却系统的设计需要充分考虑 设备的整体布局和散热需求, 以确保良好的冷却效果。
控制系统
控制系统是真空蒸发镀膜设备的 指挥中心,其作用是控制设备的
运行和工艺参数的调节。
控制系统通常包括电源控制、温 度控制、压力控制、蒸发速率控
制等部分。
真空室是真空蒸发镀膜设备的主体部分,其作 用是提供高真空环境,使待镀膜材料能够顺利 蒸发并凝结在基材表面形成薄膜。
真空室的构造通常包括壁面、观察窗、进出口 、密封圈等部分。
真空室的材料一般选用不锈钢、铜等耐腐蚀、 耐高温的材料。
冷却系统
冷却系统的目的是为了防止高 温对设备其他部件造成损害, 同时也可以提高设备的稳定性 和使用寿命。
05
真空蒸发镀膜优缺点
优点
高沉积速率
真空蒸发镀膜具有较高的沉积速率,可以 在短时间内完成大面积的镀膜。
低成本
由于其工艺简单,设备成本和维护成本相 对较低,适合大规模生产。
适用于多种材料
真空蒸发镀膜可以应用于多种材料,如金 属、陶瓷等,具有较广的适用范围。
高附着力
镀层与基材之间具有较强的附着力,不易 脱落。
缺点
薄膜质量受限制
由于蒸发源的温度和蒸发物质的性质,某 些高质量薄膜可能难以制备。
真空镀膜技术PPT课件
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2021
24
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25
薄膜厚度的测量
石英晶体振荡器法 广泛应用于薄膜淀积过程中厚度的实时测量,主要应
用于淀积速度,厚度的监测,还可以反过来(与电子技术 结合)控制物质蒸发或溅射的速率,从而实现对于淀积过 程的自动控制。
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四、薄膜材料
a) 增透膜
b) 反光膜
c) 分光膜
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d) 滤光膜
轰击膜料表面使动能变为热能,对其加温,使其熔化或升华。
电子枪对薄膜性能的影响 1、对膜层的影响: (1)蒸气分子的动能较大,膜层较热蒸发的更致密牢固; (2)二次电子的影响:使膜层结构粗糙,散射增加; 2、对光谱性能的影响
电子枪对光谱的影响主要是焦斑的形状、位臵、大小在成膜的影响。 特别是高精度的膜系,和大规模生产的成品率要求电子枪的焦斑要稳定。
e) 偏振膜
f) 保护膜
g) 电热膜
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镀膜工艺
主要工艺因素 (1)基板处理:包括抛光、清洁、离子轰击 (2)制备参数:包括基板温度、蒸发速率、真空度 (3)蒸汽入射角; (4)老化处理。
薄膜主要性质: (1)光学性质:包括折射率、各项异性、吸收、散射、光学 稳定性等 (2)机械性质:包括硬度、附着力、应力 (3)抗激光损伤。
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4
平均自由程
气体分子之间相邻两次碰撞的距离,其统计平均值为平均自 由程。 l=1/(√2πς2n)=kT /(√2πς2P)
PVD所需真空度的基本确定原则是“气体分子的平均自由程大 于蒸发源到被镀件之间的距离”。
d=25cm,P<=2.7×E-3Pa d=50cm,P<=1.3×E-3Pa d=90cm,P<=7.4×E-4Pa 可见对于大的真空室,真空度的要求更高。
真空蒸发镀膜蒸镀共43页
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39、勿问成功的秘诀为何,且尽全力做你应该做的事吧。——美华纳
40、学而不思则罔,思而不学则殆。——孔子
真空蒸发镀蒸镀
56、极端的法规,就是极端的不公。 ——西 塞罗 57、法律一旦成为人们的需要,人们 就不再 配享受 自由了 。—— 毕达哥 拉斯 58、法律规定的惩罚不是为了私人的 利益, 而是为 了公共 的利益 ;一部 分靠有 害的强 制,一 部分靠 榜样的 效力。 ——格 老秀斯 59、假如没有法律他们会更快乐的话 ,那么 法律作 为一件 无用之 物自己 就会消 灭。— —洛克
60、人民的幸福是至高无个的法。— —西塞 罗
谢谢!
36、自己的鞋子,自己知道紧在哪里。——西班牙
37、我们唯一不会改正的缺点是软弱。——拉罗什福科
xiexie! 38、我这个人走得很慢,但是我从不后退。——亚伯拉罕·林肯
《真空蒸发镀膜法》课件
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供气系统
包括气体源、气体流量计、阀门等, 用于提供反应气体和控制气体流量。
蒸发源材料
金属蒸发源
如金、银、铜等,用于制备金属薄膜。
半导体蒸发源
如硅、锗等,用于制备半导体薄膜。
氧化物蒸发源
如氧化锌、氧化钛等,用于制备陶瓷薄膜。
其他蒸发源
如塑料、染料等,用于制备特殊用途的薄膜 。
基片材料
玻璃基片
常用于制备光学薄膜和建筑薄膜。
结果分析
数据对比分析
将实验数据与理论值进行对比,分析误差产生的原因。
实验误差分析
对实验过程中可能产生的误差进行了分析,如温度波动、气体不纯 等。
数据分析方法
采用了合适的统计分析方法,如平均值、方差等,对实验数据进行 了处理。
结果讨论与优化建议
结果讨论
对实验结果进行了深入讨论,分 析了影响镀膜质量的因素,如蒸 发源材料、基片温度等。
原理
在真空环境中,通过加热蒸发源,使 膜料气化,然后通过控制蒸发速率和 基材温度,使气态的膜料在基材表面 凝结形成致密的薄膜。
发展历程
01
02
03
04
19世纪末期
真空蒸发镀膜技术的概念开始 出现。
20世纪初期
实验性的真空蒸发镀膜设备被 研制出来。
1930年代
工业规模的真空蒸发镀膜技术 开始应用于生产。
《真空蒸发镀膜法》ppt课件
目录
CONTENTS
• 真空蒸发镀膜法简介 • 真空蒸发镀膜法设备与材料 • 真空蒸发镀膜法工艺流程 • 真空蒸发镀膜法实验操作 • 真空蒸发镀膜法实验结果与讨论 • 结论与展望
01 真空蒸发镀膜法简介
CHAPTER
定义与原理
真空蒸镀概述-PPT精选文档
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但其它金属也可通过蒸发沉积。
3
真空蒸镀原理
4
真空蒸发镀膜的三种基本过程: (1)热蒸发过程 (2)气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运,即这 些粒子在环境气氛中的飞行过程。 (3)蒸发原子或分子在基片表面上的淀积过程,即是蒸气凝聚、 成核、核生长、形成连续薄膜。 真空蒸镀的优缺点: 优点:是设备比较简单、操作容易;制成的薄膜纯 度高、质 量好,厚度可较准确控制;成膜速率快、效率高;薄膜的 生长机理比较单纯。 缺点:不容易获得结晶结构的薄膜,所形成薄膜在基 板上的附 着力较小,工艺重复性不够好等。
如果,积分堆积量(质量)为m,蒸镀膜的密度为 ρ ,基片上的蒸镀面积为A,则膜厚可由下式确定
m t A
(2) 电学方法 (a) 电阻法
原理:电阻值与电阻体的形状有关 由于金属导电膜的阻值随膜厚的增加而下降,所以用电 阻法可对金属膜的淀积厚度进行监控,以制备性能符合要 求的金属薄膜。
t
R
2、膜厚的测量方法
介绍以下几种方法 (1)称重法:微量天平法、石英晶体振荡法 (2)电学方法:电阻法、电容法、电离式监控 计法 (3)光学方法:光吸收法、光干涉法、等厚干 涉条纹法 (4)触针法:差动变压器法、阻抗放大法、压 电元件法
称重法:微量天平法 原理:是将微量天平设置在真空室内,把蒸镀的基片 吊在天平横梁的一端,测出随薄膜的淀积而产生的天 平倾斜,进而求出薄膜的积分堆积量,然后换算为膜 厚。
5
真空蒸发镀膜时保证真空条件的必要性: 三个过程都必须在空气非常稀薄的真空环境中进行, 否则将发生以下情况: 1.蒸发物原子或分子将与大量空气分子碰撞,使膜层 受到严重污染,甚至形成氧化物; 2. 蒸发源被加热氧化烧毁; 3.由于空气分子的碰撞阻挡,难以形成均匀连续的薄 膜。
《真空蒸发》PPT课件
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等离子体增强CVD (PECVD);金属有机源 CVD(MOCVD) ➢ 技术特点:薄膜质量高,致密,可控性好,
❖ 其它成膜技术:液相外延(LPE),电沉积,溶胶 凝胶(sol-gel),自组装,spin-coating,化学 浴沉积(CBD)等。
❖ 新的薄膜制备技术: ➢ 以蒸发沉积为基础发展出了电子束蒸发沉积、分子束
directional, cosnq,
~ 2 J/脉冲, 脉冲频率 ~ 30 Hz ArF (193 nm) KrF (248 nm) XeCl (308 nm)
窗口材料:MgF2, sapphire, CaF2, UV-grade quartz
光被材料吸收
T
热传导:
温度分布:
x
蒸发速率:
优点: 瞬时加热,具有闪烁蒸发的特点;能保 持源料组分;污染少;难熔金属;易实 现同时或顺序多源蒸发。 缺点: 昂贵;膜厚不易控制(单个脉冲就可沉积 数百纳米);容易有粒子飞溅;蒸发量少; 不适合工业生产;
到基体表面的镀膜方法;
➢ 通常是固体或熔融源; ➢ 在气相或衬底表面没有化学反应; ➢ 代表性技术:蒸发镀膜、溅射镀膜; ➢ 技术特点:真空度高、沉积温度低、设备相对
比较简单。薄膜质量差,可控度小、表面容易 不均匀。
❖ 化学气相沉积(CVD) ➢ 化学气相沉积: 沉积过程中发生化学反应,薄膜
与原料的化合状态不一样。 ➢ 代表性技术:低压CVD(LPCVD), 常压CVD APCVD,
Oblique and edge views of a tetragonal square spiral structure
Scott R. Kennedy, et al
Nano Letters Between the 4th and 5th bands, very robust to disorder. 15%,
❖ 其它成膜技术:液相外延(LPE),电沉积,溶胶 凝胶(sol-gel),自组装,spin-coating,化学 浴沉积(CBD)等。
❖ 新的薄膜制备技术: ➢ 以蒸发沉积为基础发展出了电子束蒸发沉积、分子束
directional, cosnq,
~ 2 J/脉冲, 脉冲频率 ~ 30 Hz ArF (193 nm) KrF (248 nm) XeCl (308 nm)
窗口材料:MgF2, sapphire, CaF2, UV-grade quartz
光被材料吸收
T
热传导:
温度分布:
x
蒸发速率:
优点: 瞬时加热,具有闪烁蒸发的特点;能保 持源料组分;污染少;难熔金属;易实 现同时或顺序多源蒸发。 缺点: 昂贵;膜厚不易控制(单个脉冲就可沉积 数百纳米);容易有粒子飞溅;蒸发量少; 不适合工业生产;
到基体表面的镀膜方法;
➢ 通常是固体或熔融源; ➢ 在气相或衬底表面没有化学反应; ➢ 代表性技术:蒸发镀膜、溅射镀膜; ➢ 技术特点:真空度高、沉积温度低、设备相对
比较简单。薄膜质量差,可控度小、表面容易 不均匀。
❖ 化学气相沉积(CVD) ➢ 化学气相沉积: 沉积过程中发生化学反应,薄膜
与原料的化合状态不一样。 ➢ 代表性技术:低压CVD(LPCVD), 常压CVD APCVD,
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第三章真空蒸发镀膜-55页PPT资料
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h2
3
)2
1
3
1
(
b h
)
2
2
④常用计算——以 点源正对固定圆基片的蒸发为例
膜厚最大绝对偏差:t0 tmin 相对偏差:1— t r
平均膜厚:t
1
R 2
tdA
A
膜材利用率:
R2 t
m
膜厚分布均方差: D 1
2
t t dA
P39,表3-2: 常用材料的熔化温度及蒸汽压达到1 Pa 时 的蒸发温度,
铬等材料先蒸发,后熔化
② 温度条件:使饱和蒸汽压Pv达到1Pa 的蒸发温度T
材料蒸汽压Pv与温度的关系:克—克方程
式,可以推算温度T
简化为(3—5)式:logPv AB T
P41,(3—3)
③ 蒸发速率: 按余弦定律
达到热阴极弧光放电程度。
工作中气压较高,能够产生足够多的电子. HCD枪电子束蒸发, 空心阴极离子镀 P60 图3—15
4)感应加热式蒸发源
①原理:高频电源——感应圈高频电流、电场— —高频交变磁场——坩埚、膜材中感应涡流
——涡流焦耳热——膜材热能 结构:
P57图3—13
②特点:功率大;蒸发速率大;蒸发源温度(蒸 发速率)稳定;一次装料多;适合连续工作
3.1 真空蒸发镀膜原理 Principle of Vacuum Evaporative Coating
1) 原理、结构与特点
principle, structure, characteristics
真空蒸发镀膜原理图
真空室 Coating chamber 蒸发源 Evaporation Sources 加 热 器 heater 蒸 发 舟 boat
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1)Pg越小,Ng/Nd小,污染小; Nd较大, Ng/Nd小,污染小;
2) 大,cos 小,污染大;远离中心处的膜片薄,污染大,膜生长速率 低,质量不好;
3)膜质还与蒸发材料和残存气体的性质、膜结构、基片温度以及基片 自身的污染有关;
4)净化处理:对真空系统——烘烤;对基片——加热去污。
3. 蒸镀分馏问题
图8.2. 4 各种电阻加热蒸发源
螺旋丝状加热器要求熔融的蒸发料能 够浸润螺丝或者有足够的表面张力以 防止掉落,它的优点是可以从各个方 向发射蒸气。 箔舟状加热器的优点是可蒸发不浸润 加热器的材料,效率较高(相当于小 型平面蒸发源),缺点是只能向上蒸 发。
(2)电子束加热蒸发源 电子束集中轰击膜料的一部分而进行加热的方法。
Na与系统的几何形状、源与基片的相对位置、蒸发速率有关
设:a. 忽略碰撞,直线运动; b. A r
点源,球面发射:
Na
ANe cos 4r 2
(1/cm2·s)
(5)
小型圆平面源:
Nd
AN e
cos r 2
cos
(1/cm2·s)
(6)
β、θ为蒸气入射方向分别与蒸发 表面和接收表面法向的夹角 。
Ne
1 4
n
P 3.5131022
2mkT
P (1/cm2·s) (3) MT
成立条件:S<几个cm2,且P<1Pa 质量蒸发速率G:
——单位时间内,从单位面积上蒸发的质量。
G
CmN e
C
M N0
Ne
5.833102 P M
(g/cm2·s)
/T
(4)
② 凝结速Na:
——蒸发源对基片单位面积的沉积速率。
缺点:
(1)装置复杂; (2)只适合于蒸发单元元素; (3)残余气体分子和蒸发材料的蒸气会部分被电子束电离。
5. 真空蒸镀工艺
(1)蒸镀合金膜
会产生分馏,对策——连续加料,调节熔池成分
例如:镀A4B1 膜,已知:PA0 : PB0 100 : 1
控制镀料成分:A1B25,
保证:PA : PB 100 : 25 4 : 1
图8.2.3 、角的意义
(4)蒸发制膜的厚度
∵τ时间内,蒸发材料的总量:m =ANe,密度:
∴ 膜厚:
点蒸发源:
t
N a
AN e
4 r
cos
2
m cos 4 r 2
(7)
小型平面蒸发源: m cos cos t r 2
令: cos cos h / r h /
h2 x2 ,
在x=0处:cos=cos=1
由于各组分的饱和蒸气压不同,因而蒸发速率不同,造成 沉积膜的成分与母体不同(分馏),薄膜本身成分也随厚 度而变化(分层)。
合金在蒸发时会发生分馏
设:物质含A,B成分,MA、MB,PA、PB, 则由(3)式,得 :
N A C A PA M B
(14)
N B CB PB M A
改进工艺:
1)选择基片温度,使之有利于凝聚而不是分凝;
§8.2 物理汽相沉积(PVD)
物理气相沉积
—— Physical Vapor Deposition 缩写为: PVD; 通常用于沉积薄膜和涂层 沉积膜层厚度:10-1nm~mm; 一类应用极为广泛的成膜技术,从装饰涂层到 各种功能薄膜,涉及化工、核工程、微电子以 及它们的相关工业工程。 蒸发沉积(蒸镀)、溅射沉积(溅射)和等。
t0可以测量,x↗,t↘
2. 残存气体对制膜的影响
(1)残存气体的蒸发速率Ng: N g 3.5131022
g Pg
M gTg
(13)
(2)到达基片的气体分子与蒸气分子之比(面源):
N g Pg Nd P
MT
r 2
Pg K
M gTg Acos cos P
(14) ( g)
讨论:减小污染的途径
一、真空蒸发镀膜(蒸镀)
蒸镀——利用真空泵将淀积室抽成“真空”,然后用高熔点
材料制成的蒸发源将淀积材料加热、蒸发、淀积于基片上。
特点: (1)操作方便,沉积参数易于控制; (2)制膜纯度高,可用于薄膜性质研究; (3)可在电镜监测下进行镀膜,可对薄
膜生长过程和生长机理进行研究。 (4)膜沉积速率快,还可多块同时蒸镀; (5下分别淀积,但控制困难;
3)氧化物,可采用反应蒸镀法,引入活性气体。
4. 蒸发源类型
(1)电阻加热蒸发源
▪ 选择原则:在所需蒸发温度下不软化,饱和蒸气压小,不发生反应;
▪ 一般采用高熔点金属如钨、钽、钼等材质,常作成螺旋丝状或箔舟状,如图 8.2.4所示。
▪ 特点:结构简单,造价低,使用广泛;存在污染,也不能蒸镀高Tm材料。
A4B1膜料成分
若:一次性加料,A消耗快;
∴ 连续加料,保证熔池料为 A1B25, 从而膜料成分为A4B1;
m
∴ t0 4 h2 (点源) (9)
m
t0
h2
(8) (面源) (10)
(9) 代入(7),可得 :
t
m cos 4r 2
m
4h2
h2 r2
cos
t0
h3 r3
沉积膜相对厚度分布 :
t [1 ( x / h)2 ]3/ 2 t0
t [1 ( x / h)2 ]2 t0
(点源) (11) (面源) (12)
度不高。
图8.2.1 蒸镀装置示意图
1.衬底加热器;2.衬底;3. 原料;4.料舟
1. 物理基础 (1)物理阶段:
① (淀积材料的)升华:S→V; ② 输运:蒸发源→基片上; ③ 沉积: V→S ; ④ 重新排列:淀积粒子在基片上重新排列或键合
蒸发淀积——不平衡过程;
恒定条件——高质量膜。
(2)封闭体系内的P—T关系:
图8.2.5 电子束加热蒸发源
电子束加热蒸发源由: 阴极、加速电极、阳极 (膜料)组成。
还有高频加热蒸发源、 激光蒸发源等。
优点:
(1)可以直接对蒸发材料加热; (2)装蒸发料的容器可以是冷的或者用水冷却,从而 可避免
材料与容器的反应和容器材料的蒸发;
(3)可蒸发高熔点材料,例如:钨(Tm=3380℃)、钼 (Tm=2610℃)和钽(Tm=3000℃)等耐热金属材料。
dP Lv dT TV
(1)
∵ ∴
积分:
V
V汽
V固、
液
V汽
1 P
RT,
dP dT
PLV RT 2
ln p A LV 1 RT
(2)
图8.2.2 几种材料的蒸气压——温度曲线
(3)蒸发速率和凝结速率
① 蒸发速率Ne:
——热平衡条件下,单位时间内,从蒸发源每单位 面积上射出的平均原子数。