ch05材料分析测试方法作业答案

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材料分析测试方法课后答案

材料分析测试方法课后答案

第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案

第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和 X 射线。

2. X 射线与物质相互作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。

3. 经过厚度为H 的物质后,X 射线的强度为 。

4. X 射线的本质既是 也是 ,具有 性。

5. 短波长的X 射线称 ,常用于 ;长波长的X 射线称 ,常用于 。 习题

1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

材料分析测试技术习题及答案

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第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.C u;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

材料分析测试技术习题及答案

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第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

材料现代分析测试方法习题答案

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材料现代分析测试方法习

题答案

Revised by BETTY on December 25,2020

现代材料检测技术试题及答案

第一章

1. X 射线学有几个分支每个分支的研究对象是什么

2.

3. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

4. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、

“发射谱”、“吸收谱” 5.

6. X 射线的本质是什么它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在用哪些物理量描述它

7. 产生X 射线需具备什么条件?

8. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 9.

10.计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波

限和光子的最大动能。

11.特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它

的K 系特征X 射线波长 12.

13.连续谱是怎样产生的?其短波限V

eV hc 3

1024.1⨯=

=λ与某物质的吸收限k

k k

V eV hc 3

1024.1⨯=

=λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位) 14.

15.Ⅹ射线与物质有哪些相互作用规律如何对x 射线分析有何影响反冲电子、光电子和俄歇

电子有何不同

16.试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱的

短波限和光子的最大能量是多少? 17.

材料分析方法部分课后习题答案解析

材料分析方法部分课后习题答案解析

第一章X 射线物理学基础

2、若X 射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV 时,容许的最大电流是多少?

答:1.5KW/35KV=0.043A。

4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。

答:因X 光管是Cu 靶,故选择Ni 为滤片材料。查表得:μ m α=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t

6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?

答:eVk=hc/λ

Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)

λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)

其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34

e为电子电荷,等于1.602×10-19c

故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。

7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应

答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。

⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案

第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.C u;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

材料分析测试技术习题及答案

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第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

射线透射学;射线衍射学;射线光谱学;D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 X射线和 X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案
线条
/(*)
HKL
P
f
F2
Φ
PF2Φ
强度
归一化
1
2
3
4
第三章
5、选择题
1.最常用的X射线衍射方法是( )。
A. 劳厄法;B. 粉末多法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。
2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )。
A. 正装法;B. 反装法;C. 偏装法;D. A+B。
3.德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为( )。
三、填空题
1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、
、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称
,常用于。
习题
1.X射线学有几个分支每个分支的研究对象是什么
HKL 532 620 443 541
611 540
621
θ.角
7.根据上题所给数据用柯亨法计算点阵参数至四位有效数字。
8.用背射平板相机测定某种钨粉的点阵参数。从底片上量得钨的400衍射环直径2Lw=毫米,用氮化钠为标准样,其640衍射环直径2LNaCl=毫米。若此二衍射环均系由CuKαl辐射引起,试求精确到四位数字的钨粉的点阵参数值。

材料分析测试技术习题及答案

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第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

材料分析测试技术习题及答案

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第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.C u;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

材料分析测试方法部分课后习题答案

材料分析测试方法部分课后习题答案

第一章X 射线物理学基础

2、若X 射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV 时,容许的最大电流是多少?

答:1.5KW/35KV=0.043A。

4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。

答:因X 光管是Cu 靶,故选择Ni 为滤片材料。查表得:μ m α=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t

6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?

答:eVk=hc/λ

Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)

λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)

其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34

e为电子电荷,等于1.602×10-19c

故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。

7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应

答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。

⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

材料分析测试方法部分课后习题答案

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第一章X 射线物理学基础

2、若X 射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV 时,容许的最大电流是多少?

答:1.5KW/35KV=0.043A。

4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。

答:因X 光管是Cu 靶,故选择Ni 为滤片材料。查表得:μ m α=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t

6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?

答:eVk=hc/λ

Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)

λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)

其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34

e为电子电荷,等于1.602×10-19c

故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。

7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应

答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。

⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

ch05材料分析测试方法作业答案

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第五章 X 射线衍射分析原理

一、教材习题

5-2 “一束X 射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能

产生衍射”,此种说法是否正确?

答:不正确。(根据劳埃一维方程,一个原子列形成的衍射线构成一系列共顶同轴的衍射圆锥,不仅镜面反射方向上才有可能产生衍射。)

5-3 辨析概念:X 射线散射、衍射与反射。

答:X 射线散射:X 射线与物质作用(主要是电子)时,传播方向发生改变的现象。

X 射线衍射:晶体中某方向散射X 射线干涉一致加强的结果,即衍射。 X 射线反射:晶体中各原子面产生的反射方向上的相干散射。与可见光的反射不同,是“选择反射”。

在材料的衍射分析工作中,“反射”与“衍射”通常作为同义词使用。

5-4 某斜方晶体晶胞含有两个同类原子,坐标位置分别为:(43,43,1)和(4

1,41,2

1),该晶体属何种布拉菲点阵?写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F 2值。

答:根据题意,可画出二个同类原子的位置,如下图所示:

如果将原子(1/4,1/4,1/2)移动到原点(0,0,0),则另一原子(3/4,3/4,1)的坐标变为(1/2,1/2,1/2),因此该晶体属布拉菲点阵中的斜方体心点阵。

对于体心点阵:

])1(1[)()2/2/2/(2)0(2L K H L K H i i f fe fe F ++++-+=+=ππ

∴ ⎩⎨⎧=++=++=奇数时

,当偶数时;当L K H 0,2L K H f F ⎩⎨⎧=++=++=奇数时,当偶数时;当L K H L K H f 0,4F 22

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案

第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

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第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()

A.Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()

A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()

A.短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)

A.光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

二、正误题

1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()

2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()

3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()

4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()

三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、

、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称

,常用于。

习题

1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?

(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;

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第五章 X 射线衍射分析原理

一、教材习题

5-2 “一束X 射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能

产生衍射”,此种说法是否正确?

答:不正确。(根据劳埃一维方程,一个原子列形成的衍射线构成一系列共顶同轴的衍射圆锥,不仅镜面反射方向上才有可能产生衍射。) 5-3 辨析概念:X 射线散射、衍射与反射。

答:X 射线散射:X 射线与物质作用(主要是电子)时,传播方向发生改变的现象。

X 射线衍射:晶体中某方向散射X 射线干涉一致加强的结果,即衍射。 X 射线反射:晶体中各原子面产生的反射方向上的相干散射。与可见光的反射不同,是“选择反射”。

在材料的衍射分析工作中,“反射”与“衍射”通常作为同义词使用。 5-4 某斜方晶体晶胞含有两个同类原子,坐标位置分别为:(

43,43,1)和(4

1

,41,2

1

),该晶体属何种布拉菲点阵?写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F 2值。

答:根据题意,可画出二个同类原子的位置,如下图所示:

如果将原子(1/4,1/4,1/2)移动到原点(0,0,0),则另一原子(3/4,3/4,1)的坐标变为(1/2,1/2,1/2),因此该晶体属布拉菲点阵中的斜方体心点阵。

对于体心点阵:

])1(1[)()2/2/2/(2)0(2L K H L K H i i f fe fe F ++++-+=+=ππ

⎩⎨⎧=++=++=奇数时

,当偶数时;

当L K H 0,2L K H f F

⎩⎨

⎧=++=++=奇数时

,当偶数时;

当L K H L K H f 0,4F 22

或直接用两个原子的坐标计算:

()()()()()()()3

31112()2()4444211111122()222442

111

2()

4421

(2)2

11111111i h k l i h k l i h k l i h k l i h k l h k l i h k l h k l h k l F f e e f e e f e

f e

f ππππππ++++⎛⎫++++ ⎪

⎝⎭++++++++++⎛⎫=+ ⎪

⎝⎭⎡⎤=+⎢⎥⎢⎥⎣⎦

⎡⎤=+-⎣⎦

⎡⎤

=+-⎣⎦

⎡⎤=+-±⎣⎦

所以 F 2=f 2[1+(-1)(h +k +l )]2

因此,(100)和(221),h +k +l =奇数,|F |2=0;(110)、(211),h +k +l =偶数,|F |2=4f 2。 5-7 金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为:(0,0,0)、

21,21,0)、(21,0,21)、(0,21,21)、(41,41,41)、(43,43,41

)、(43,41,43)、(41,43,4

3),原子散射因子为f a ,求其系统消光规律(F 2

最简表达式),并据此说明结构消光的概念。

答:金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为:(0,0,0)、(1/2,1/2,0)、(1/2,0,1/2)、(0,1/2,1/2)、(1/4,1/4,1/4)、(3/4,3/4,1/4)、(3/4,1/4,3/4)、(1/4,3/4,3/4),可以看成一个面心立方点阵和沿体对角线平移(1/4,1/4,1/4)的另一个面心立方点阵叠加而成的。

金刚石的结构

()11124442

1i h k l f f i

h k l f F F F e

F e ππ⎛⎫++ ⎪

⎝⎭

++=+⎡⎤=+⎢⎥

⎣⎦

或者直接计算,可得到同样的结果:

()()()111111202020200022222211133131313322224444444444441i h k l i h k l i h k l i h k l a i h k l i h k l i h k l i h k l i h k i h l i k a e e e e F f e e e e e e e f πππππππππππ⎛⎫⎛⎫⎛

⎫++++++ ⎪

⎪ ⎪++⎝⎭⎝⎭⎝

⎭⎛⎫⎛⎫⎛⎫⎛⎫++++++++ ⎪ ⎪ ⎪ ⎪

⎝⎭⎝⎭⎝⎭⎝⎭++⎡⎤+++⎢⎥

=⎢

⎥⎢⎥++++⎣⎦

+++=()()()()1112444111244411l i h k l i h k i h l i k l i h k l f e e e e F e πππππ+⎛⎫++ ⎪+++⎝⎭⎛⎫

++ ⎪⎝⎭⎧⎫+⎪⎪

⎨⎬⎡⎤⎪⎪+++⎣⎦⎩

⎭⎡⎤=+⎢⎥

⎢⎥⎣⎦

其中,F f 表示一个面心立方晶胞的反射振幅:

]1[)()()(l k i l h i k h i a f e e e f F ++++++=πππ

1)当hkl 为奇偶混合时,由于F f =0,所以,|F |2=0。

2)当hkl 全为奇数时,F f =4f a ,h +k +l =2n +1,其中n 为任意整数,则有

()

()()

()()

()

()2

11cos

sin 2

2

1cos

21sin 212

2

1sin

212

11i

h k l n

e h k l i h k l n i n i n i

ππ

π

π

π

π

+++=++++++=++++=++=+-

因此,F =4f a (1±i ),

2

2*2

32)11(16)1(4)1(4a a a a f f i f i f F F F =+=⨯±=⨯=

3)当hkl 全为偶数,而且h +k +l =4n 时,

F =4f a (1+e 2in )=4f a ×2=8f a

|F |2=64f a 2

4)当hkl 全为偶数,但h +k +l ≠4n ,则h +k +l =2(2n +1)

F =4f a [1+e

i (2n +1)

]=4f a (1+e 2i ×e i )=4f a (1-1)=0

|F |2=0

可见,在金刚石结构中,除了面心点阵消光外,还存在由于螺旋和滑移两类微观对称要素引起的结构消光。

5-8 “衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小,而与晶胞中的原子位

置无关;衍射线的强度则仅取决于晶胞中原子位置,而与晶胞形状及大小无关”,此种说法是否正确? 答:不正确。

[对于同一晶体,在同一实验条件下,根据X 射线衍射的方向理论,衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小,而与晶胞中的原子位置无关,但实验条件不同,如入射X 射线的波长

不同,则衍射线在空间的方位不同,样品吸收也会

使衍射线的位置也发生变化。根据X 射线衍射的强度理论,衍射线的强度与晶胞中原子位置有关,与晶胞形状及大小无关,但衍射线的强度并不仅仅取决于晶胞中原子位置。影响衍射线强度的因素除晶胞中的原子位置外,还有样品的原子种类(不同原子的散射因子和吸收因子不同)、产生衍射的晶面的数量(多重性因子)、实验温度(温度因子)、实验仪器、入射线X 射线的波长(与靶有关)和强

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