FPGA联机测试方法的研究与实现

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FPGA系统内部逻辑在线测试技术研究

FPGA系统内部逻辑在线测试技术研究
to u t n o h s g fS g aT p I t h o c ee me h d a d se s o e F GA. h e u t o h x e i n h ws r d ci ft e u a e o in l a I o t e c n r t t o n tp ft P o h T e r s l ft e e p rme ts o t a h e to P A y a p ia in o i n T p I f au e o v n e to e a in a d h e l t e o ma c . h t ets fF G b p l t fS g a a I e tr sc n e in p r t n J h r a — i p r r n e t c o l o g me f Ke r s e e d d lg c a a y e ; o — ie d b g i g lgc a ay e y wo d : mb d e o i n l z r n l e u gn ; o i n ls n
1 引 言
随着 F G 向低 成 本 、 功 耗 、 性 能方 向发 展 , I PA 低 高 其 / O引
2 Sg aTa I原 理 in l pI

S nla 嵌 入 逻 辑 分 析 仪 是 专 门用 于 Q a. 设 计 i a pI g T I ur sI t I u 软 件 中 的 第 二 代 系 统 级 调试 工 具 。 于 嵌 入 式 逻 辑 分 析 仪 内 对
t s f ih i tg ain r t P e so g n e r t a eF GA, e c p u e a d a ay i fi tr a i n l n F GA i i o tn . s ito u e h S h o t a t r n n lsso e n l g a si P s mp r t ti n r d c d t e U — h n s a I

FPGA测试研究

FPGA测试研究
总第 2 1 5 期
计 算 机 与数 字工 程
Co u e mp tr& Dii lEn iern gt gn e ig a
Vo . 8 No 9 13 .
1 2O
2 1 年第 9期 00
F GA 测 试 研 究 P
孙 国强 曲 芳 王
无锡剑 24Fra bibliotek8 ) 1 0 3
在复 杂的 F G 测 试 中实 现 困难 , P A 特别 是 针 对 用
户级 的测试就 更是难 以实 现 。

收 稿 日期 :00年 5 3 t修 回 日期 :0 0年 6 2 21 月 OE, 21 月 8日 作 者 简 介 : 国强 , , 程 师 , 究 方 向 :T 孙 男 工 研 J AG扫 描 测 试 以及 基 于 AT E测 试 平 台 的芯 片 测 试 开 发 。
本 文 主要 针 对 F GA 的用 户 级 ATE( t— P Auo
mai T s E up n) 1 进行 简要 分析 , 实现 t et q imet;试 c ?  ̄ ] 对
过 程 的部 分关 键 之 处 提 出 自己的见 解 。从 可 实 现 性 和资 源 测 试 覆 盖 率 两 方 面 均 衡 考 虑 , F G 对 P A 内部 部分 资源 的测试 方法进 行 简要介 绍 , 测试 的 主 要 目的是使 得 F G 芯 片 在用 户 采 购后 得 到适 当 P A
1 引言
随着 集成 电路 技术 的发 展 , P F GA( il P o F ed r — ga rmma l GaeAra ) 件得 到 广 泛应 用 。F — be t ry 器 P G 的 出现 不 仅 大 大 缩 短 了 电子 系 统 设 计 的 周 期 A 和产 品 的上 市 时 间 , 且 降低 了 设 计 成 本 。随 着 而 F GA芯 片规模 的逐 渐 扩 大 和 芯 片结 构 的 日益 复 P 杂, 其密度 及复 杂 性也 在 急速 增 长 , 来 越 多 的 系 越

一种新型的自动化FPGA互连测试算法

一种新型的自动化FPGA互连测试算法
S wi t c h Ma t r i x ( S M) DOI : 1 0 . 3 9 6 9  ̄ . i s s n . 1 0 0 0 — 3 4 2 8 . 2 0 1 3 . 0 2 . 0 5 2
1 概述
现场可编程门阵列( F i e l d P r o g r a m ma b l e G a t e A r r a y , F P G A ) 是一种可以快速、反复配置功能的芯片 ,已被越
第3 9卷 第 2期
、 , o l - 3 9
N o. 2




程 Βιβλιοθήκη 2 0 1 3年 2月 F e b r u a r y 2 0 1 3
Co mp ut e r En g i ne e r i ng
・ 工程 应 用技 术 与实现 ・

文章缩号:1 0 o 0 _3 4 2 8 ( 2 o l 3 ) 0 2 — _ 0 2 5 _ _ 0 4 文献标识码: A
a r c h i t e c t u r e s . T h i s p a p e r p r o p o s e s a n a l g o r i t h m b a s e d o n i mp r o v e d d e p t h — i f r s t s e a r c h . Ea c h p r o g r a mma b l e i n t e r c o n n e c t i n g p o i n t i s e q u a l l y t r e a t e d . Af t e r a g r a p h r e p r e s e n t a t i o n o f i n t e r c o n n e c t s i s g o t , a we i g h t p a r a me t e r f o r e a c h e d g e i s s e t a n d t h e e d g e wi t h t h e mi n i mu m we i g h t i s p i c k e d t o b e p a r t o f a t e s t n e t , t h e r e b y t e s t i n g o p e n f a u l t s a n d s h o r t f a u l t s o f i n t e r c o n n e c t s . E x p e r i me n t a l r e s u l t s s h o w t h a t t h e p r o p o s e d a l g o r i t h m c a n b e u t i l i z e d t o c o v e r s p e c i a l i n t e r c o n n e c t s o f F P GA rc a h i t e c t u r e s a n d e x h i b i t s h i g h a u t o ma t i o n .

基于FPGA的软硬件协同测试的设计与实现

基于FPGA的软硬件协同测试的设计与实现

很难正确定位 , 也给产品的开发带来 了困难 。普通 的示波器或逻辑分析仪采样通道 和存储 空 间都很 小, 对运行结果的采集和分析都不方便。因此 , 测试
1 系统框架的设计
1 1 软 硬件协 同测 试 的原 理 .
软硬件协同测试是指利用 P C机模拟输入 、 输
收稿 日期 :0 60 —5 2 0 -10 作者简介 : 于 源 (9 0一 , , 1 8 ) 女 硕士研究生 , 研究方 向为 集成 电路设计 , 视频编解码 ,aoy_ u un 6.o l crln y y a @1 3 cn ;
过程 中输入、 出设备 的选用, 输 往往会造 成成本增
加、 测试困难、 开发周期延长等问题。
响到产品竞争力 。传 统的测试过程 中, 设计者 需要 为待测设备 ( U ) D T 准备各种输入 、 输出设备, 来满 足待测设备的工作条件 。输入设备虽然能够为待测 设备提供实际的工作环境 , 但不易受人为控制, 我们 无法保证数据 的全 面性 , 易造成测试 中的欠 缺。 容
me t n ,wh l i lt n b o t r l c s o c i . I iw ft i iu to i smu ai y s fwa ewi o tt o mu h tme n ve o h sst ain,a meh d lg f e o l t o oo y o
HW/ W otsigi po oe ,w i ae ul d atg fP Srsucsa dhrwae Ssed S c- t s rpsd hc tk sflav naeo C’ eo re n ad r’ pe. e n h
FP GA t ie Oa c mpiht ec n r l n u cin a d t sa l h ahg - p e e l i iie t n l i u i z dt c o l h o tol g f n t n e t bi ih s e dr a- mebdr ci a s l s i o O s t o

FPGA测试方法和流程探讨

FPGA测试方法和流程探讨

图 1 F P G A 开 发 流 程
R T L级 ( R e g i s t e r T r a n s f e r L e v e l , 寄存器传输 级 ) 描述 , 该过程 编 码人员通过编写 HD L代 码来 得 以实 现 , 目前主 流使 用 V H D L 和V e r i l o g两种语言 。该过程还要根据 F P G A的应用要求 , 以约 束文件 的形式来指 明布局布线过程 中的约束条件 。 逻辑综合 : 使用综合工具将编码实现所得 到的 R T L级描 述 转化成最基本的与 、 或、 非门, R A M, 触发器 等基 本逻 辑单元 组 成的逻辑连接 , 形成 F P G A的门级 逻辑 网表 文件 。 布局布 线 : 根据所 选 F P G A芯片 的型 号 , 将 逻辑综 合过 程 输出的逻辑适配 到具体 的 F P G A芯 片上 。其 实现 过程 是按 照 编码实现阶段生成的约束条件要求 , 将 逻辑单元 合理地进行 布 局, 适 配到 F P G A内部的 固有硬 件结 构上 , 然 后根 据 布局 的拓 扑结构 , 利用 F P G A内部 的各种 连线 资源 , 合 理正 确地 连接 各 个逻辑单元 。在该过程加入了器件位置 信息 以及延 迟信息 , 形 成逻辑 网表文件和标准时延文件 相结合 的 F P G A 门级 描述 , 并 输 出用于烧写 目标 F P G A 芯片 的位 流文件 。由 于生成 了基 于 目标 F P G A的时延文件 , 该 阶段生成 的逻辑 网表文件 比综合 阶 段输 出的逻辑网表文件更为接近实际工作情况 。 烧写 : 将布局布线生成 的位 流文件 固化到 F P G A芯片 中对 F P G A进行配置 , 使其能够正确实现用户需求 , 其 最终形式为 数 字电路硬件。

一种用于FPGA连线资源测试的配置方法

一种用于FPGA连线资源测试的配置方法
t i o n a 1 .To t h e p r o b l e m t h a t HDL- b a s e d c o n f i g u r a t i o n c a n n o t a c h i e v e c o n t r o l l a b i l i t y o f t h e r e s o u r c e s t o b e t e s t e d ,a XD l 』 I b a s e d c o n f i g u r a t i o n i s p r o p o s e d .Th e s t r u c t u r e o f i n t e r c o n n e c t r e s o u r c e s o f Xi l i n x S p a r t a n - 3 FP GA a n d t h e i r d e s c r i p t i o n U — s i n g XDL a r e s t u d i e d .Ac c o r d i n g t O t h e s t r u c t u r e o f t h e i n t e r c o n n e c t r e s o u r c e s ,a BI S T s t r u c t u r e i s b u i l t t o i mp l e me n t t h e
t h e f a u l t s O c c u r o n i n t e r c o n n e c t r e s o u r c e s .FP GA n e e d s t o b e c o n f i g u r e d a s s p e c i f i e d c i r c u i t s b e f o r e b e i n g t e s t e d a n d c o n v e n —

FPGA配置芯片测试方法的研究与实现

FPGA配置芯片测试方法的研究与实现

片EC P 2的 边 界 扫 描 测 试 , } 了具 体 测 试 过 程 , 合 I E 14 . 给 } J 符 E E 19 1边 界 扫 捕 规 范 , 具 有 J G 接 口 的元 器 件 测 试 提 供 了 为 TA
依据 。
关键词
边 界4 .
o h i uth vn TAG n efc . ft ecr i a ig J c itra e
K y W o d b u d r — c n,c nf u a in d vc 。I E1 4 .1 e rs o n a y sa o i r t e ie EE l 9 g o Cls m b r TM 9 a s Nu e 3
( h eo d Ac d my o hn r s a eS i c n n u t o p rt n 2 1I si t , e ig 1 0 5 ) T eS c n a e f iaAeo p c c n e d Id sr C r o ai 0 n t ue B in 0 8 4 C e a y o t j
t s s l we e a s ft e B u d r c n B u d r c n i s i b e f r t s i g o a g - c l n e r t ic i e t i o r b c u eo h o n a y s a . o n a y s a ut l o e tn fl r es a e i t g a e cr u t s a .Th s p p r i a e i to u e h o c p n a d t e c a a t rs is o u d r c n a d s d e h p r a h o PGA o f u a in d v c . n r d c st e c n e to n h h r c e itc fB n a y s a n t is t e a p o c f F i o u c n i r to e ie g Th n mp e n s t eBo n a y s a e to o f u a i n d v c C2 b s d o 3 0 y t m n i e h e alo h e ,i lme t h u d r - c n t s f n i r to e ie EP a e n V9 0 0 s se a d g v s t e d t i ft e c g

fpga实验的流程

fpga实验的流程

FPGA实验的流程包括以下步骤:
1. 方案论证、系统设计和FPGA芯片选择等准备工作。

2. 将设计的系统或电路硬件描述语言表示出来,输入至EDA工具中。

3. 将高级抽象层次的描述转换成较低层次的描述,即综合。

4. 综合后仿真,用于检查综合结果与原设计是否一致。

在仿真时,把综合生成的标准延时文件反标注到综合仿真模型中,可估计门延时带来的影响。

5. 将从何生成的逻辑网表配置到具体的FPGA芯片上,实现过程是将逻辑网表配置到具体的FPGA芯片上,布局布线是其中关键步骤。

6. 时序仿真与验证,也称为后仿真,是指将布局布线的延时信息反标注到设计网表中来检测有无时序违规。

时序仿真包含的延迟信息最准确,能较好地反映芯片的实际工作情况。

7. 板级仿真与验证,主要应用于高速电路设计中,对高速心态的信号完整性、电磁干扰等特性进行分析。

以上步骤仅供参考,具体操作可能会因实验需求和条件而有所不同。

在进行FPGA实验时,建议遵循相关的实验规范和安全操作规程,确保实验的顺利进行和结果的可靠性。

FPGA测试技术及ATE实现

FPGA测试技术及ATE实现
Pormmal G t A ry 器 件 已 经 成 为 当 今 世 界 上 最 富 吸 rga be ae ra )
万化 , 他们都 有一个共 同之 处 , 即在广义上 具有 掩膜编程 门阵 列 的通用结构 : 由逻辑功 能块排成 阵列组成 , 由可编程 的互 并 联 资 源 连 接 这 些 逻 辑 功 能 块 来 实 现 不 同 的设 计 。典 型 的
4 ( )6 —7 7 6 : 56 .
Ab ta t W i h P sr c : t te F GA ie n o lxt n ra ig te e ti ey i o tn.h s p p r d sr e e sr cu e o e h sz a d c mpe i ice sn ,h ts s v r mp ra t i a e ec b s t t tr f t y T i h u h
rmeest t g o eA tma cT s S s m( T ) pat a apoc o e F G api t no etd ts i po ie . a tr e i n t uo t et y t A E . rci l p rah frt P A p l ai -r ne et s rvdd sn h i e A c h c o i Ke r s i d Po rmma l G t A ry F GA) m l—eet n lgc cl C B)ts; tmai T s S s m( T ) y wod :Fe rga l be ae r (P a ; ut dtc o o i el L ; tAuo t et yt A E i i ( e c e
S RAM — a e F GA r fl s a d F bsd P p o e n PGA e t g i t si meh d o n t o s t Xi n S p ra 3 e e c i f r e a l , sn t e mu t d tc l x’ s a tn s r s h p, o x mp e u i g h i i l — ee - i

FPGA软件测试技术研究

FPGA软件测试技术研究
GAN Lu , LI ’ Ka i , HUANG Zh o n g
( C h e n g d u G u o x i n a n I n f o r m a t i o n I n d u s t r y B a s e C o . , L t d , C h e n g d u S i c h u a n 6 1 0 0 4 1 , C h i n a )
第5 O卷 第 8期
2 0 1 7年 8月
通信技术
Co mmu n i c a t i o n s T e c h n o l o g y
V o 1 . 5 O No . 8
Au g . 201 7
d o i : 1 0 . 3 9 6 9 / j . i s s n . 1 0 0 2 - 0 8 0 2 . 2 0 1 7 . 0 8 . 0 5 0
t e c h n o l o g y c o u l d c e r t a i n l y i mp r o v e o f t h e q u a l i t y a n d r e l i a b i l i t y o f P F G A p r o d u c t s .
仿真测试平台的通常采用verilogvhdl或者systemverilog以行为描述方式模拟fpga外围芯片的功能接口时序目前的fpga验证发展趋势是采用面向对象的硬件设计和验证的语言systemverilog来搭建基于事务的层次化的测试平台利用其约束随机激励生成机制产生满足要求的大量测试向量能够较好支持断言验证和测试覆盖率分析
理 与检 测 的 重要 手段 ,并 且 开展 了大量 研 究。针 对 F P G A 开发 流 程 的特 点 ,提 出了一套 与 之相 适 应盼 F P G A软 件 测 试 流 程 ,并 根 据 F P GA软 件 开 发 的 不 同阶段 成 果 ,讨 论 了不 同测 试 方 法的 选取

FPGA软件验证及测试

FPGA软件验证及测试

FPGA软件验证及测试摘要:目前在军工领域FPGA软件的应用越来越广泛,为了提高软件质量,本文根据FPGA软件的特点,对FPGA软件的测试模型和测试方法进行了分析。

本文指出FPGA软件开发过程中应进行整体规划并有效实施,FPGA软件测试中的各项活动应与其设计开发过程各个阶段的活动相对应,应尽可能将各阶段产生的缺陷在该阶段发现和消除,不断提高FPGA软件的开发效率和可靠性,最终提高FPGA软件产品质量,提升顾客满意度。

关键字:现场可编程门阵列 FPGA软件验证1 引言FPGA(现场可编程门阵列)正向高密度、低成本、低功耗、高性能的方向发展,为满足日益复杂的数字化系统设计要求,FPGA的密度及复杂性也在急速增长,越来越多的系统或子系统功能在FPGA内部实现,其先进的功能和高集成度使FPGA成为极具吸引力的解决方案。

但是随着FPGA应用领域的扩展以及重要性和复杂程度的提高,其可靠性的问题变得越来越突出,FPGA设计代码的质量对整个FPGA系统的性能稳定可靠至关重要。

目前在武器装备领域很多FPGA产品的软件验证和研制过程控制滞后于其应用增长的速度,测试不充分和过程管理不严格已成为FPGA软件发展的瓶颈。

本文针对现阶段FPGA软件的发展状况,提出了针对军用FPGA软件的测试方法及测试类型。

2 FPGA软件验证2.1 验证过程V模型软件测试过程中,经典模型是Paul Rook在20世纪80年代后期提出了V模型,旨在改进软件开发的效率和效果。

V模型中左边每个开发活动都与右边的测试活动相对应,图中的箭头代表了时间方向。

V模型主要传递了如下信息:需求、功能、设计和编码的开发活动随时间而进行,而相应的测试活动即针对需求、功能、设计和编码的测试,其开展的次序则正好相反。

V模型揭示了软件测试活动分层和分阶段的本质特征,但该模型也存在一定的局限性,容易让人形成“测试是开发之后的一个阶段”、“测试的对象是程序”等的误解,实际应用中容易导致需求阶段隐藏的错误一直到最后验收测试时才被发现,造成软件维护难度大、成本高等问题。

基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术研究

基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术研究

基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术研究随着FPGA技术的快速发展,FPGA在数字电路设计中扮演着越来越重要的角色。

然而,由于FPGA的可编程性和复杂性,常常需要针对其进行验证,以确保其设计符合要求。

基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术正是为了解决这一问题而提出的一种方法。

UVM(Universal Verification Methodology)是一种基于SystemVerilog的验证方法学,为数字电路的验证提供了一套规范和方法。

它通过使用事务级的建模和约束驱动的随机测试,可以有效地提高验证效率和覆盖率。

在使用UVM进行FPGA验证时,需要针对FPGA的特性进行一定的扩展和适配。

FPGA软硬件联合仿真验证技术的基本原理是将FPGA的硬件模型和软件模型在同一个仿真环境中进行联合仿真。

具体而言,首先需要将FPGA的硬件设计用HDL语言(如VHDL或Verilog)编写出硬件模型。

然后,使用UVM方法学,根据FPGA的特性对硬件模型进行扩展和适配,以实现在UVM环境下的仿真验证。

在基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术中,通常需要解决以下几个关键问题:首先是硬件模型的编写和适配。

由于FPGA的复杂性和可编程性,编写硬件模型的难度较大。

同时,需要根据UVM的规范对硬件模型进行适配,以满足UVM环境的要求。

其次是软件模型的生成和加载。

在FPGA的验证中,通常使用软件模型来验证FPGA的控制和配置功能。

因此,需要生成软件模型,并将其加载到FPGA上进行联合仿真。

最后是验证环境的搭建和仿真的运行。

在基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术中,需要搭建验证环境,包括各种事务级的建模和约束驱动的随机测试。

然后,在仿真中运行这些测试,以验证FPGA的功能和性能。

总之,基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术是一种有效的FPGA 验证方法,可以提高验证效率和覆盖率。

但是,由于FPGA的可编程性和复杂性,使用该技术进行验证仍然存在一定的挑战。

一种FPGA互连结构性能评估系统的设计与实现的开题报告

一种FPGA互连结构性能评估系统的设计与实现的开题报告

一种FPGA互连结构性能评估系统的设计与实现的开题报告1.选题背景现代电子系统中复杂的信号处理和计算要求高性能的计算机硬件支持。

近年来,FPGA(Field-Programmable Gate Array)作为可重构硬件的一种,已经在许多应用领域取得了广泛的应用。

FPGA具有灵活的可编程能力和高并行的计算性能,因此被广泛地应用于诸如数字信号处理、图像处理、网络通信等领域。

在这些应用中,FPGA的互连结构对性能有着重要的影响。

因此,对FPGA的互连结构性能评估成为了一个重要的课题。

目前,已有一些成熟的FPGA互连结构的性能评估工具,如ISE、Quartus和Vivado等,但这些工具不能满足所有应用场景的要求,因此需要一个定制化的评估系统。

2.研究目的和意义本项目旨在设计和实现一种FPGA互连结构性能评估系统,通过该系统能够:(1)定制化不同场景的评估需求;(2)准确评估FPGA互连结构的性能;(3)实现重构和优化FPGA互连结构。

通过本项目的实验研究和结果分析,可以对FPGA互连结构优化提供重要的参考。

3.研究内容和方法本项目的主要研究内容包括以下几个方面:(1)评估场景的设计:不同的场景需要不同的评估指标,需要根据评估需求设计相应的评估场景。

(2)实现评估算法:根据评估场景,选择合适的评估算法,包括传统的路由算法、缓存算法和多核算法等。

(3)实现评估系统:实现基于GUI或命令行方式的评估系统,可以进行不同场景的性能评估和结果展示。

(4)实验和结果分析:使用不同的实验数据,进行评估和结果分析,分析不同参数的影响和优化方案。

主要的研究方法包括理论分析、仿真实验和实验证明。

4.预期成果本项目预期的主要成果包括:(1)FPGA互连结构性能评估系统的设计和实现;(2)不同评估场景下的性能测试数据和结果;(3)FPGA互连结构的优化方案。

5.研究进度安排2022年4月-6月:熟练掌握FPGA互连结构的基本原理和路由算法、缓存算法和多核算法等评估算法。

FPGA的结构测试方法研究与设计的开题报告

FPGA的结构测试方法研究与设计的开题报告

FPGA的结构测试方法研究与设计的开题报告一、选题背景与意义随着数字电路设计的不断发展,可编程逻辑器件(FPGA)被广泛应用于各种数字电路设计中。

FPGA的可重构性和灵活性使其成为了广泛使用的工具,在计算机、通信、控制等领域都有着广泛的应用。

但是,对于FPGA,结构测试是一个必不可少的过程。

结构测试是指在设计完成之后对FPGA进行一系列的测试,以验证设计是否符合设计规格书的要求。

如果设计存在缺陷,结构测试可以及早发现并纠正缺陷,确保设计的正确性,提高FPGA的可靠性和稳定性。

因此,FPGA的结构测试是数字电路设计过程中不可或缺的一个环节。

二、研究目标与内容本文主要研究FPGA的结构测试方法,并设计一种有效的结构测试方案。

具体的研究目标和内容如下:1. 研究FPGA的结构测试方法,包括边界扫描、路径扫描和有限状态机测试等方法。

2. 分析FPGA的内部结构和工作原理,找出可能存在的故障类型和故障区域。

3. 根据故障类型和故障区域设计一套有效的结构测试方案,包括测试模式的生成、故障覆盖率的评估和测试的结果分析等。

4. 在FPGA开发板上实现所设计的结构测试方案,并进行实验验证,评估方案的有效性和可靠性。

三、研究方法和技术路线本文采用以下方法和技术路线:1. 文献综述:对FPGA的结构测试方法进行综述,包括边界扫描、路径扫描和有限状态机测试等方法。

2. FPGA内部结构分析:通过对FPGA的内部结构和工作原理的分析,找出可能存在的故障类型和故障区域。

3. 测试模式的生成:根据故障类型和故障区域设计一套有效的测试模式的生成算法,以实现对故障的覆盖。

4. 故障覆盖率的评估:设计一套有效的故障覆盖率评估算法,以评估设计的测试方案的覆盖率。

5. 测试实现和分析:在FPGA开发板上实现所设计的结构测试方案,并进行实验验证,评估所设计方案的有效性和可靠性。

四、预期成果本文的预期成果如下:1. 对FPGA的结构测试方法进行全面的研究和综述,包括边界扫描、路径扫描和有限状态机测试等方法。

FPGA布线结构研究和设计工具软件的实现、优化与验证的开题报告

FPGA布线结构研究和设计工具软件的实现、优化与验证的开题报告

FPGA布线结构研究和设计工具软件的实现、优化与验证的开题报告一、研究背景和意义随着信息技术的迅猛发展,现代电子产品不断地进步和改进,功能越来越强大,体积越来越小,速度越来越快。

在现代电子产品设计中,可编程逻辑器件(FPGA)已经成为一种不可或缺的组成部分。

FPGA是一种可编程逻辑设备,也是一种半定制电路,其主要功能是可在用户自己的逻辑电路完成数据处理和控制流操作。

FPGA思想为逻辑设计的简单易操作、多创意、高性能等特点所具有,成为了逻辑设计领域中的重要技术。

然而,FPGA的应用面和需求量的提高,也给FPGA设计工具软件的优化和升级提出了更高的要求。

FPGA的布线结构是决定FPGA性能的重要因素。

因此,对FPGA布线结构进行研究,以重点解决布线中的关键问题,具有重要意义。

二、研究目标本文旨在对FPGA布线结构进行深入研究,优化和升级FPGA布线设计工具的实现过程,从而提高FPGA的性能和应用范围。

具体目标如下:1.研究FPGA布线方法,探讨布线结构对FPGA性能的影响。

2.设计实现一种FPGA布线设计工具软件,使其具有较高的可靠性和协调性。

3.对现有FPGA布线设计工具软件进行改进和优化,提高FPGA的性能。

4.对优化后的FPGA布线设计工具进行验证和可行性研究,各项性能指标满足工业标准。

三、研究内容和方法1.研究FPGA布线方法和结构,分析FPGA布线对电路性能的影响和优化方案。

研究方法主要采用理论研究和仿真研究。

2.设计实现一种FPGA布线设计工具软件。

主要采用软件开发的方法,根据电路设计所需的功能和要求,实现FPGA布线设计工具。

3.对现有FPGA布线设计工具软件进行改进和优化,提高FPGA的性能。

对比分析各种FPGA布线设计工具软件,实现算法和数据优化等方法,提高FPGA的性能和运行效率。

4.对优化后的FPGA布线设计工具进行验证和可行性研究。

对FPGA设计中性能、稳定性、可靠性等重要指标进行全面测试。

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Reg is
自动配置
Status 0400
Interr upt P in 自动配置
PCI 总线的控制交易分为读写两种操作, 每种
操作含有六种状态: idle, dev _resp, object _w ait1, object_wait 2, object_dat a, st op_resp。idle 是系统
3) Base Address Reg ist er 域: 指示此 PCI 设备
按 I/ O 方式还是内存方式进行读写以及需要的地 址空间大小;
4) Int er rupt L ine 和 Int er rupt Pin 域: 分别指 明了设备使用的断号和中断引脚。
在对配置空间的访问中, 用 AD[ 7 2] 寻址一
3 FPG A 联机测试硬件平台的关键 技术
3. 1 整体设计方案 图 2 是 FP GA 联机测试验证开发平台的结构
图。主要由 PCI 接口、两款 Xilinx 公司的 Spart an 3 系列 FP GA 芯 片和两款 F IFO 芯片实 现 F PGA 的联机测试功能。其中 F PGA1 实现 PCI 控制器 功能和数据处理功能, F IFO 芯片完成数据的缓存, 被测试的逻辑电路下载到 F PGA2 中。另外, 板上 还设计有 SDRAM、RS 232 串口、8 个 L ED 显示、4 个按键以及扩展测试接口资源。扩展测试接口具 有双重功能, 一方面可以作为扩展接口, 具有 40 位 的扩展接口 功能, 还有 时钟和电源接 口与子板相 连; 另一方面它与 SDRAM 的接口共用, 可以作为 SDRAM 的测试口, 通过逻辑分析仪来观测物理验
关键词 FP GA 联机测试 突发传输 中图分类号 T P399
Resear ch and Realizat io n of the FPGA T est ing M et hod wit h Online PC
L iu W ei F ang X iangy an Han W ei
( W uhan D ig ita l Engine er ing I nstit ute, Wuhan 430074)
Key words F PG A, o nline testing , bur st tr ansm issio n Class Number T P399
1 引言
FP GA 可以方便地更新逻辑结果, 完成对系统 和设备的升级, 以便迅速适应市场的变化, 被日益 广泛地应用于电子产品中。随着 F PGA 的设计速 度、尺寸和复杂度明显增长, 使得整个设计流程中 的验证和调试成为当前 F PGA 系统的关键部分。
PCI 测试平台已成为当前访问的目标设备, 并自动
进入 o bject _ w ait 1 状态, 插入等待周期, 一直等到
数据处理 控制模 块完成 读写交 易才进 入 object _
配置空间设置、PCI 总线的交易控制、地址译码与 解码、命令译码等。
配置空间[ 2] 大小为 256 字节, 前 64 字节必需,
记录了 PCI 设备的基本信息, 比较重要的有: 1) VendorID、DeviceID 和 Class Code 域: 分别
表示设备的生产厂商、设备编号和类型;
2) Com mand 和 Stat us 域: 分别给出了对 PCI 设备的控制命令和当前状态;
根据上述原理可知, FPGA 联机测试的工作过 程是: 首先将测试输入激励波形转换为十六进制的 数据文件, 通过 PCI 总线传输到 FPGA 联机测试平 台的存储器中。数据处理模块依次读取输入数据, 生成被 测试 FPGA 的激励 信号, 同时 控制被测 试 FPGA 输出信号的采样、缓存。然后向 PCI 申请存 储读操作, 将输出数据保存到 PC 机硬盘上。这样, FPGA 物理验证的激励产生、存储和输出信号的存 储、显示、分析都在工作 P C 机上完成, 整个 FPGA 联机测试平台好像一个 IP 核, 完成与实际工作环境 一样的电路测试工作。因此, 在 FPGA 的物理验证 中不再需要逻辑分析仪, 减少测试成本, 并引入分页 机制解决大数据量测试的存储问题。
Abstract T he paper pr esents the F PG A testing me thod with o nline PC, in a llusion to the pr oblem and disadvantag e that tr aditional FPG A testing metho d has ex isted. T he F PG A testing h ardw are platfo r m is plugge d int o a personal desktop computer, wh ich tr ansmits data w ith the PC by PCI inte rf ace. T he te sting application sof twa re that installe d in PC con tr o ls the sam pled da ta sto rag e in the pr oce ss of F PG A physical testing , and imple ments the playback and a na ly sis o n w av es by embedded third par ty simulatio n so ftw are . So the testing m ethod reduce s te sting co st and so lv es the que stion of ma ss da ta test ing.
的缺省状态, 表示总线当前空闲。通常 PCI 控制器
处在 idle 状态时, 要检测来自 PCI 总线的信号, 如 果访问本 PCI 测 试平台则 自动进入 dev _resp 状 态; P CI 控 制器在 dev _ resp 状态 时, 如果检 测到
IRDY 信号有效则驱动 DEVSEL 为低 电平, 表示
FPGA 联 机验 证 环 境是
一个 软 硬 件结
合的开发平台。
其原理如图 1。 整个 平 台 包括
图 1 F PGA 联机测试原理图
三个功能模块: 1) 仿真、验
证环境模块。该模块提供测试激励数据, 测试结果
的存储、显示、分析。因此, 必须包括一个使用简单
而功能完备的 人机交换界面, 完成测试 参数的输
第 37 卷( 2009) 第 7 期
计算机与数字工程
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证的输出 波形, 同时与 联机测 试方 案中 P C 机的 SDRAM 的物理验证波形进行比较。
图 2 FP GA 联机测试验证开发平台的硬件结构图
3. 2 PCI 控制器 IP 核的实现 该模块完 成 PCI 协 议的功 能, 主要包 括 PCI
2 FPGA 联机测试的原理
利用 F PGA 技术实现 IP 核开发的过程中, 工 程师面临的最大问题是物理验证。FP GA 联机测 试平台开发的目的就是把 F PGA 的物理验证移植 到 PC 机上实现, 不再需要借助逻辑分析仪。本平
台将 F PGA 的物理验证数据利用高频 时钟采样, 通过 P CI 接口和 PC 机进行传输, 最终在 P C 机上 还原波形。这样, 在一个 IP 核的开发过程中, 从设 计思想到板级验证的整个流程, 都可以在 P C 机上 完成。
3) 数据的处理控制模块。由于 F PGA 的运行 频率高于 PCI 的运行频率, 测试的输入激励数据和 输出结果在 P CI 传输前必须先缓存。因此, 该模块 的功能主要完成激励数据和测试输出数据的缓存, 根据输入数据在线生成测试激励信号, 测试激励与 被测 IP 接口的对应, 根据输出信号采样生成输出 数据。
4) 对于高频系统, 现有的 数字电路 测试工具 ( 如逻辑分析仪等) 无法 同时存储长时 间的数据。 较 新 型 的 逻 辑 分 析 仪, 如 T ekt ronix 公 司 的 T L A700 系列, 也仅能存储 2ms 内的测试数据。
为了能够发挥 F PGA 处理速度快的优势同时 克服其测试上存在的缺陷, 本文提出了一种 F PGA 联机测试平台的设计方案。该平台硬件模块带有 PCI 接口, 在配置驱动程序和应用程序以后, 通过 控制模块将测试结果实时存储到 PC 主机, 从而解 决了大数据、长时间测试困难的问题。
入, 激励数据的处理, 测试结果的获取以及与第三
方仿真工具软件的调用等。该模块的工具软件运
行在工作 P C 机上。
2) P CI 控制器模块。该模块完成测试数据的 传输。主要有两种类型的操作: IO 读写操作和存 储器读写操作。IO 读写操作的功能是写入测试配 置参数和读取测试过程中的状态寄存器, 通过状态 寄存器了解测试过程的中间状态, 并根据当前状态 发送下一步操作命令。存储器写操作完成测试激 励数据的写 入, 存储器 读操作完成测 试结果的读 取,
在 FPGA 设计中, 完成代码编写、功能仿真、逻 辑综合和布局布线以后, 为验证设计的正确性与可 靠性, 必须将布局布线后的物理网表下载到 FPGA 中, 进行物理验证[ 1] 。其传统的验证过程如下:
1) 开发出 F PGA 的测试平台;
2) 将通过时序仿真的物理网表下载到 F PGA 中;
3) 编写测试激励; 4) 将所需激励变成数据文件存储到 FP GA 的 内部 RAM 中; 5) 使用逻辑分析仪针对 FP GA 的输出信号进 行采样分析。 该方法主要缺点是: 1) 测试成本过高。一台逻辑分析仪一般在 10 万元以上。 2) 当 F PGA 输出信号与逻辑分析仪相联时会 影响信号的稳定性。同时, 输出信号过多时很难对
个双字 DWORD。在本设计中, 配置空间设置如表 1 所示。
表 1 配置空 间设置( 均为十六进制)
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