[信息与通信]通信原理实验AMIHDB3CMI码型变换波形图
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实验步骤：
1. 将KX01拔去，使CMI编码输入数据悬空（全0码）。测 量TPX05，输出数据为01码，说明具有丰富的时钟信息。 2. 测量CMI译码输出数据是否与发端一致。 3. 观测译码同步信号。
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CMI码编码规则测试
7位m序列
15位m序列
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1码状态记忆测量
7位m序列，1码是00/11编码，而0码 不编码跟在1码后保持1码的状态
7. 抗连0码性能测试
CMI码编码规则测试
实验步骤：
1. 观测TPX01和TPX05，用TPX01同步，分析编码 输出数据是否与编码理论一致。 2.将KX02设置在1_2位置，重复上一步骤测量。
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1码状态记忆测量
实验步骤：
1. 观测TPX01和1码状态记忆输出TPX03，用TPX01 同步，根据观测结果，分析是否符合相互关系。
第四部分 码型变换技术
实验一 AMI/HDB3码型变换实验 实验二 CMI码型变换实验
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实验一 AMI/HDB3码型变换实验
实验目的：
1.了解二进制单极性码变换为 AMI/HDB3码的编码规则
2.熟悉HDB3码的基本特征； 3.熟悉HDB3码的编译码器工作
原理和实现方法； 4.根据测量和分析结果，画出电
15位m序列，1码是00/11编码，而0码 不编码跟在1码后保持1码的状态
返回
CMI码解码波形测试
7位m序列，输入数据与解码数据除时延外一一对应
返回
CMI码编码加错波形观测
加错时的译码输出数据与不加错时不同
返回
CMI码检错功能测试
KX01放在Dt时，TPX06与TPY05
KX01设置在M位置，TPY05无错指示
1码单极性时钟能量丰富 长连0，AMI失步，无时钟能量
15位m序列双极性时钟能量小
1码双极性时钟能量小
长连0，AMI失步，无时钟能量
返回
AMI译码位定时恢复测量
单极性收发时钟同步
双极性收发时钟不同步。可以通 过采用HDB3或加扰码解决。
返回
HDB3码变换规则验证
7位m序列HDB3编码
15位m序列HDB3编码
全1码HDB3编码
全0码HDB3编码 返回
HDB3码译码和时延测量
15位m序列，时延自己观察
7位m序列，时延自己观察
返回
HDB3编码信号中同步时钟分量定 性观测
15位m序列单极性时钟能量丰富
1码单极性时钟能量丰富
0码单极性时钟能量丰富
15位m序列双极性时钟能量小
1码双极性时钟能量小
0码双极性时钟能量小
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AMI编码信号中同步时钟分量定 性观测
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在 HDB3位置。 2. 将KD02设置在2_3位置，测量TPP01波形；然后将KD02设置在 1_2位置，观测TPP01波形。 3. 将KD02设置在2_3位置，重复上述测试步骤。 4. 使输入数据为全“0”码（方法见1），重复上述测试步骤。
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HDB3译码位定时恢复测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2（或2_3）位置，KP02 设置在HDB3位置。 2. 先将KD02设置在2_3位置，测量点TPD02和TPD06波形，02和 TPD06波形。 3. 将KD02设置回2_3位置，再将跳线开关KD01拨 除，使输入数据为全1码或全0码（方法见1）。重复上述测试步骤。
返回
返回
HDB3码变换规则验证
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KD02设置在2_3位置，KD03设置在HDB3 位置。 2. 将KX02设置在2_3位置，观测TPD01和TPD05波形及TPD08波 形，用TPD01同步。 3. 将KX02设置在1_2位置，重复上述测试步骤。 4. 使输入数据端口悬空产生全1码（方法同1），重复上述测试步 骤。 5. 使输入数据为全0码（方法同1），重复上述测试步骤。
AMI码编码规则验证
实验步骤：
1. KD01设置在M位置、KD02设置在2_3位置、KD03设置在AMI位置（右 端）。 2. 将KX02设置在2_3位置，观测TPD01和TPD05波形及TPD08波形，用 TPD01同步。 3. 将KX02设置在1_2位置，重复上述测试步骤。 4. 将KD01拨除，将示波器探头从TPD01测试点移去，使输入数据端口悬 空产生全1码。重复上述测试步骤。 5. 将KD01拨除，用一短路线一端接地，另一端十分小心地插入测试孔 TPD01，使输入数据为全0码（或采用将示波器探头接入TPD01测试点上， 使数据端口不悬空，则输入数据亦为全0码）。重复上述测试步骤。
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HDB3译码位定时恢复测量
双极性时，收时钟与发时钟不同步
单极性时，收发时钟同步
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实验二 CMI码型变换实验
实验目的：
1.掌握CMI码的编码规则 2. 熟悉CMI编译码系统的
特性
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实验内容：
1. CMI码编码规则测试 2. 1码状态记忆测量 3. CMI码解码波形测试 4. CMI码编码加错波形观 测 5. CMI码检错功能测试 6. CMI译码同步观测
返回
AMI译码位定时恢复测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在 HDB3位置 2. 先将KD02设置在2_3位置，测量TPD02和TPD06波形，用 TPD02同步。再将KD02设置在1_2位置，观测TPD02和TPD06波 形。 3. 将KD02设置回2_3位置，再将KD01拨除，使输入数据为全1码 或全0码（方法见1）。重复上述测试步骤。 思考：为什么在实际传输系统中使用HDB3码？用其他方法行吗（如 扰码）？
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AMI码译码和时延测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置；KP02设置在HDB3
位置
2. 观测TPD01和TPD07，用TPD01同步。问：AMI编
码和译码的的数据时延是多少？
3. 将KX02设置在2_3位置，重复上译步骤测量，问：此时AMI编码 和译码的的数据时延是多少？
2. 将KX02设置在2_3位置，重复上述测量。
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CMI码解码波形测试
实验步骤：
观测TPX01和TPY07，用TPX01同步。验证CMI 译码器能否正常译码，两者波形除时延外应一一对应
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CMI码编码加错波形观测
实验步骤：
KX03设置在E_EN位置，观测TPX06和 TPX05的波形，用TPX06做同步。画下有错码时的 输出编码数据，并分析接收端CMI译码器可否检测 出。
路关键部位的波形；
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实验内容：
1. AMI码编码规则验证 2. AMI码译码和时延测量 3. AMI编码信号中同步时钟分
量定性观测
4. AMI译码位定时恢复测量 5. HDB3码变换规则验证 6. HDB3码译码和时延测量 7. HDB3编码信号中同步时钟
分量定性观测
8. HDB3译码位定时恢复测量
返回
HDB3编码信号中同步时钟分量定 性观测
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在HDB3位 置。 2. 将KD02设置在2_3位置，测量TPP01波形；然后将KD02设置在1_2位 置，观测TPP01波形变化。思考：HDB3编码信号转换为双极性码和单极 性码中那一种码型时钟分量丰富。 3.将KD02设置在2_3位置，使输入数据为全“1”码，重复上述测试步骤 4. 使输入数据为全“0”码，重复上述测试步骤。 分析总结：HDB3码与AMI码有何不一样的结果？
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AMI码编码规则验证
7位m序列单极性
15位m序列单极性
1码单双极性
7位m序列双极性
15位m序列双极性
0码单双极性
返回
AMI码译码和时延测量
15位m序列输出与输入，时延请自 己测量
7位m序列输出与输入，时延不太 能肯定，因其是短周期
返回
AMI编码信号中同步时钟分量定 性观测
15位m序列单极性时钟能量丰富
返回
CMI码检错功能测试
实验步骤：
首先将KX01设置在Dt位置，KX03设置在E_EN位置。 1. 测量TPX06和TPY05波形。 2. 将KX01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，重复（1）试验。观 测测量结果有何变化。 3. 关机5秒钟后再开机，重复（2）试验。认真观测测试结果有何变化 （注：可以重复多测试几次——关机后再开机）。 思考：为什么有时检测错码检测点输出波形与加错指示波形不一致？
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HDB3码译码和时延测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在HDB3位 置。
2. 观测TPD01和TPD07波形，用TPD01同步。问：HDB3编码和译码的 的数据时延是多少？
3.将KX02设置在2_3位置，重复上译步骤测量。问：此时HDB3编码和 译码的的数据时延是多少，为什么？
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CMI译码同步观测
实验步骤：
CMI译码器是否同步可以通过检测错码检测电路输出反映出。 从当CMI译码器未同步时，错码将连续的检测出。观测时，将 KX01设置在Dt位置，KX04设置在2_3位置。 1. 测量TPY05波形。 2. KX04设置在1_2位置，检测错码检测点波形应立刻同步。
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抗连0码性能测试
注释：关机5秒后再开机，译码模块错误 指示点TPY05可能出现以上三种可能的 指示情况。
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CMI译码同步观测
KX04设置在2-3时，失步
KX04设置在1-2时，同步
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抗连0码性能测试
0码的HDB3编码数据信号
0码的译码输出数据与发端一致
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第五部分 数字复接技术
实验一 帧成形及其传输实验 实验二 帧同步提取系统实验
1. 将KX01拔去，使CMI编码输入数据悬空（全0码）。测 量TPX05，输出数据为01码，说明具有丰富的时钟信息。 2. 测量CMI译码输出数据是否与发端一致。 3. 观测译码同步信号。
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CMI码编码规则测试
7位m序列
15位m序列
返回
1码状态记忆测量
7位m序列，1码是00/11编码，而0码 不编码跟在1码后保持1码的状态
7. 抗连0码性能测试
CMI码编码规则测试
实验步骤：
1. 观测TPX01和TPX05，用TPX01同步，分析编码 输出数据是否与编码理论一致。 2.将KX02设置在1_2位置，重复上一步骤测量。
返回
1码状态记忆测量
实验步骤：
1. 观测TPX01和1码状态记忆输出TPX03，用TPX01 同步，根据观测结果，分析是否符合相互关系。
第四部分 码型变换技术
实验一 AMI/HDB3码型变换实验 实验二 CMI码型变换实验
返回
实验一 AMI/HDB3码型变换实验
实验目的：
1.了解二进制单极性码变换为 AMI/HDB3码的编码规则
2.熟悉HDB3码的基本特征； 3.熟悉HDB3码的编译码器工作
原理和实现方法； 4.根据测量和分析结果，画出电
15位m序列，1码是00/11编码，而0码 不编码跟在1码后保持1码的状态
返回
CMI码解码波形测试
7位m序列，输入数据与解码数据除时延外一一对应
返回
CMI码编码加错波形观测
加错时的译码输出数据与不加错时不同
返回
CMI码检错功能测试
KX01放在Dt时，TPX06与TPY05
KX01设置在M位置，TPY05无错指示
1码单极性时钟能量丰富 长连0，AMI失步，无时钟能量
15位m序列双极性时钟能量小
1码双极性时钟能量小
长连0，AMI失步，无时钟能量
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AMI译码位定时恢复测量
单极性收发时钟同步
双极性收发时钟不同步。可以通 过采用HDB3或加扰码解决。
返回
HDB3码变换规则验证
7位m序列HDB3编码
15位m序列HDB3编码
全1码HDB3编码
全0码HDB3编码 返回
HDB3码译码和时延测量
15位m序列，时延自己观察
7位m序列，时延自己观察
返回
HDB3编码信号中同步时钟分量定 性观测
15位m序列单极性时钟能量丰富
1码单极性时钟能量丰富
0码单极性时钟能量丰富
15位m序列双极性时钟能量小
1码双极性时钟能量小
0码双极性时钟能量小
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AMI编码信号中同步时钟分量定 性观测
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在 HDB3位置。 2. 将KD02设置在2_3位置，测量TPP01波形；然后将KD02设置在 1_2位置，观测TPP01波形。 3. 将KD02设置在2_3位置，重复上述测试步骤。 4. 使输入数据为全“0”码（方法见1），重复上述测试步骤。
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HDB3译码位定时恢复测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2（或2_3）位置，KP02 设置在HDB3位置。 2. 先将KD02设置在2_3位置，测量点TPD02和TPD06波形，02和 TPD06波形。 3. 将KD02设置回2_3位置，再将跳线开关KD01拨 除，使输入数据为全1码或全0码（方法见1）。重复上述测试步骤。
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返回
HDB3码变换规则验证
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KD02设置在2_3位置，KD03设置在HDB3 位置。 2. 将KX02设置在2_3位置，观测TPD01和TPD05波形及TPD08波 形，用TPD01同步。 3. 将KX02设置在1_2位置，重复上述测试步骤。 4. 使输入数据端口悬空产生全1码（方法同1），重复上述测试步 骤。 5. 使输入数据为全0码（方法同1），重复上述测试步骤。
AMI码编码规则验证
实验步骤：
1. KD01设置在M位置、KD02设置在2_3位置、KD03设置在AMI位置（右 端）。 2. 将KX02设置在2_3位置，观测TPD01和TPD05波形及TPD08波形，用 TPD01同步。 3. 将KX02设置在1_2位置，重复上述测试步骤。 4. 将KD01拨除，将示波器探头从TPD01测试点移去，使输入数据端口悬 空产生全1码。重复上述测试步骤。 5. 将KD01拨除，用一短路线一端接地，另一端十分小心地插入测试孔 TPD01，使输入数据为全0码（或采用将示波器探头接入TPD01测试点上， 使数据端口不悬空，则输入数据亦为全0码）。重复上述测试步骤。
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HDB3译码位定时恢复测量
双极性时，收时钟与发时钟不同步
单极性时，收发时钟同步
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实验二 CMI码型变换实验
实验目的：
1.掌握CMI码的编码规则 2. 熟悉CMI编译码系统的
特性
返回
实验内容：
1. CMI码编码规则测试 2. 1码状态记忆测量 3. CMI码解码波形测试 4. CMI码编码加错波形观 测 5. CMI码检错功能测试 6. CMI译码同步观测
返回
AMI译码位定时恢复测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在 HDB3位置 2. 先将KD02设置在2_3位置，测量TPD02和TPD06波形，用 TPD02同步。再将KD02设置在1_2位置，观测TPD02和TPD06波 形。 3. 将KD02设置回2_3位置，再将KD01拨除，使输入数据为全1码 或全0码（方法见1）。重复上述测试步骤。 思考：为什么在实际传输系统中使用HDB3码？用其他方法行吗（如 扰码）？
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AMI码译码和时延测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置；KP02设置在HDB3
位置
2. 观测TPD01和TPD07，用TPD01同步。问：AMI编
码和译码的的数据时延是多少？
3. 将KX02设置在2_3位置，重复上译步骤测量，问：此时AMI编码 和译码的的数据时延是多少？
2. 将KX02设置在2_3位置，重复上述测量。
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CMI码解码波形测试
实验步骤：
观测TPX01和TPY07，用TPX01同步。验证CMI 译码器能否正常译码，两者波形除时延外应一一对应
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CMI码编码加错波形观测
实验步骤：
KX03设置在E_EN位置，观测TPX06和 TPX05的波形，用TPX06做同步。画下有错码时的 输出编码数据，并分析接收端CMI译码器可否检测 出。
路关键部位的波形；
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实验内容：
1. AMI码编码规则验证 2. AMI码译码和时延测量 3. AMI编码信号中同步时钟分
量定性观测
4. AMI译码位定时恢复测量 5. HDB3码变换规则验证 6. HDB3码译码和时延测量 7. HDB3编码信号中同步时钟
分量定性观测
8. HDB3译码位定时恢复测量
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HDB3编码信号中同步时钟分量定 性观测
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在HDB3位 置。 2. 将KD02设置在2_3位置，测量TPP01波形；然后将KD02设置在1_2位 置，观测TPP01波形变化。思考：HDB3编码信号转换为双极性码和单极 性码中那一种码型时钟分量丰富。 3.将KD02设置在2_3位置，使输入数据为全“1”码，重复上述测试步骤 4. 使输入数据为全“0”码，重复上述测试步骤。 分析总结：HDB3码与AMI码有何不一样的结果？
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AMI码编码规则验证
7位m序列单极性
15位m序列单极性
1码单双极性
7位m序列双极性
15位m序列双极性
0码单双极性
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AMI码译码和时延测量
15位m序列输出与输入，时延请自 己测量
7位m序列输出与输入，时延不太 能肯定，因其是短周期
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AMI编码信号中同步时钟分量定 性观测
15位m序列单极性时钟能量丰富
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CMI码检错功能测试
实验步骤：
首先将KX01设置在Dt位置，KX03设置在E_EN位置。 1. 测量TPX06和TPY05波形。 2. 将KX01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，重复（1）试验。观 测测量结果有何变化。 3. 关机5秒钟后再开机，重复（2）试验。认真观测测试结果有何变化 （注：可以重复多测试几次——关机后再开机）。 思考：为什么有时检测错码检测点输出波形与加错指示波形不一致？
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HDB3码译码和时延测量
实验步骤：
1. 将KD01设置在M位置，KX02设置在1_2位置，KP02设置在HDB3位 置。
2. 观测TPD01和TPD07波形，用TPD01同步。问：HDB3编码和译码的 的数据时延是多少？
3.将KX02设置在2_3位置，重复上译步骤测量。问：此时HDB3编码和 译码的的数据时延是多少，为什么？
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CMI译码同步观测
实验步骤：
CMI译码器是否同步可以通过检测错码检测电路输出反映出。 从当CMI译码器未同步时，错码将连续的检测出。观测时，将 KX01设置在Dt位置，KX04设置在2_3位置。 1. 测量TPY05波形。 2. KX04设置在1_2位置，检测错码检测点波形应立刻同步。
返回
抗连0码性能测试
注释：关机5秒后再开机，译码模块错误 指示点TPY05可能出现以上三种可能的 指示情况。
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CMI译码同步观测
KX04设置在2-3时，失步
KX04设置在1-2时，同步
返回
抗连0码性能测试
0码的HDB3编码数据信号
0码的译码输出数据与发端一致
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第五部分 数字复接技术
实验一 帧成形及其传输实验 实验二 帧同步提取系统实验