一种测量微小差分电容的检测电路[发明专利]

专利名称：一种测量微小差分电容的检测电路专利类型：发明专利
发明人：房建成,宋星,盛蔚,马艳武,乙冉冉,万双爱申请号：CN200810112292.2
申请日：20080522
公开号：CN101285859A
公开日：
20081015
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：一种测量微小差分电容的检测电路，包括选频电路、锁相环跟踪电路、逻辑门电路和低通滤波电路；其中，选频电路和锁相环跟踪电路组成谐振单元，该谐振单元的谐振频率由待测差分电容的大小决定。

由差分电容构成的两组谐振单元在后端逻辑门电路和低通滤波电路的作用下可以实现正比于差分电容大小的频率输出。

本发明检测精度和输出线性度高，温漂小，抗干扰能力强；电路结构简单，便于工程化和集成电路制作。

本发明适用于医疗器械、安防探测、惯性器件、流体特性测量领域中基于微小差分电容敏感机理的测量。

申请人：北京航空航天大学
地址：100083 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
代理机构：北京科迪生专利代理有限责任公司
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