《X线头影测量学》课件
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X线头影测量分析 (1)
Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
MP－SN angle：与下颌平面角类似
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头影测量分析方法很多 针对不同种族、人群研究课题的各测量项目均依
据不同的分析内容而定。
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华西医科大学头影测量分析法
头影测量 项目
头影测量分析表
Specificity Adults成人 不同个体 Female 女Male男
测量内容
ANS-Me下面高
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测量内容
U1－PP距
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测量内容
U6－PP距
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测量内容
L1－ MP distanse
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测量内容
L6－ MP distanse
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X线头影测量分析
Cephalometrics Analysis
口腔正畸学实验教程-头影测量
口腔正畸学实验教程
实验七、八 X线头影测量（6学时）
[目的和要求]
初步了解常用标志点的定位，常用的平面及测量项目的组成和意义。
[实验内容]
⒈示教X头影测量的常用标志点，常用平面及常用测量项目。
⒉学生在X线头颅侧位片上进行常用标志点，平面描迹，测量常用的角、线距等项目。
[实验用品] “口腔正畸学”教科书、头颅侧位片、硫酸描图纸、硬质铅笔、橡皮、三角尺、量角器、X线看片灯等。
[方法与步骤]
⒈第一实验阶段
⑴描图示教：
指导教师在X线头颅定位侧位片上，进行常用标志点、平面、测量项目的描迹。
⑵学生描图：
1）将硫酸描图纸固定在X线头颅定位侧位片上，且置于观片灯上。
2）用铅笔描出以下点、线：
蝶鞍中心点（S）：蝶鞍影像的中心。
鼻根点（N）：鼻额缝的最前点。
耳点（P）：外耳道之最上点。
颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘之中点。
Bolton(Bo)：翼上颌裂轮廓之最下点。
眶点（O）：眶下缘之最低点。
翼上颌裂点（Ptm）翼上颌裂轮廓之最下点。
前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖。
后鼻棘（PNS）：硬腭后部骨棘之尖。
上齿槽座点（A）：前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点。
上齿槽缘点（SPr）：上齿槽突之最前下点。
上中切牙点（VI）：上中切牙切缘之最前点。
髁顶点（Co）：髁突的最上点。
关节点（Ar）：颅底下缘与下颌角的后下点。
下颌角点（Go）：下颌角的后下点。
下齿槽座点（B）：下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点。
下齿槽缘点（Id）：下齿槽突之最前上点。
下齿牙点（Li）：下中切牙缘之最前点。
颏前点（Po）：颏部之最突点。
颏下点（Me）：颏部之最下点。
《X线头影测量学》课件
结果处理
整理实验数据，进行统计分析，得出实验 结论。
X线拍摄
按照标准要求拍摄头颅X线片，确保曝光 适当、图像清晰。
测量分析
使用测量工具对X线片进行测量和分析， 记录数据。
图像导入
将X线片导入头影测量分析软件中，进行 数字化处理。
实验注意事项
安全防护
确保实验对象和操作人员的安全，采取必要的防护措 施。
技术进步
随着数字化技术的发展，X线头影测量学在图像获取、处 理和分析方面取得了显著进步，提高了测量精度和可靠性 。
X线头影测量学的未来发展
技术融合
随着医学影像技术的发展，X线头 影测量学将与CT、MRI等影像技 术进一步融合，实现多模态影像 数据的联合分析，提高诊断和治 疗的精准度。
人工智能应用
人工智能技术在X线头影测量学中 的应用将逐渐普及，通过深度学 习和图像识别等技术，实现自动 化测量和分析，提高工作效率。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
X线头影测量分析方法
头影测量分析方法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法
主要测量由眼耳平面、下 颌平面、下中切牙长轴所组 成的代表面部形态结构的颌 面三角形的三角。
4)SND角：前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角 。代表上中切牙的倾斜度和 突度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
McNamara分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法
主要测量由眼耳平面、下 颌平面、下中切牙长轴所组 成的代表面部形态结构的颌 面三角形的三角。
4)SND角：前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角 。代表上中切牙的倾斜度和 突度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
McNamara分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
X 线头影测量学
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
华 西口腔
备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
X 线头影测量常用平 面
华 西口腔
基准平面
是头影测量中相 对稳定的平面 .
华 西口腔
基准平面
前颅底平面 SN 眶耳平面 FH Bolton 平面
华 西口腔
前颅底平面 SN
由 S 点和 N 点的连 线构成。由于 S 点 和 N 点均位于正中矢 状平面上，易于定位 ，且在生长 发 育中相 对 稳 定，故常作为 面 部结 构对 颅 底关系的 定位平面，以研究上 下颌 骨及牙齿 的位置 变 化、研究生长 发 育 等。
• 审美平面（ E 线） Pn-Pg’ •S 线 •Z 角
华 西口腔
(1) Ricketts 审美平面（ E 线）
• 侧面软组织鼻尖点 和颏前点连线，
• 评价上下唇突度 • 上下唇与 E 线的间
华 西口腔
华 西口腔
备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
X 线头影测量常用平 面
华 西口腔
基准平面
是头影测量中相 对稳定的平面 .
华 西口腔
基准平面
前颅底平面 SN 眶耳平面 FH Bolton 平面
华 西口腔
前颅底平面 SN
由 S 点和 N 点的连 线构成。由于 S 点 和 N 点均位于正中矢 状平面上，易于定位 ，且在生长 发 育中相 对 稳 定，故常作为 面 部结 构对 颅 底关系的 定位平面，以研究上 下颌 骨及牙齿 的位置 变 化、研究生长 发 育 等。
• 审美平面（ E 线） Pn-Pg’ •S 线 •Z 角
华 西口腔
(1) Ricketts 审美平面（ E 线）
• 侧面软组织鼻尖点 和颏前点连线，
• 评价上下唇突度 • 上下唇与 E 线的间
《X线头影测量学》课件
工程检测
探索如何使用X线头影技术进 行工程检测，比如构件末端预 应力钢筋位置识别、竖井孔内 构筑物结构检测等。
材料研究
通过测量材料的X线头影，了 解材料中的微观结构、组织构 造、缺陷分布等信息，并探究 材料本身的物理化学性质。
展望
本章将为大家展望X线头影测量学未来的发展前景与新趋势。了解可能出现的 新技术、新应用，并思考该领域带来的影响和挑战。相信未来，X线头影测量 学定能取得更加卓越的成就。
结语
通过本课件，相信大家对X线头影测量学有了更深入的了解。无论是医学诊断， 工程检测，还是材料研究，X线头影测量学都发挥着重要的作用。鼓励更多的 研究者加入到这个领域的研究中来，推动X线头影测量学的进一步发展和应用。 谢谢！
《X线头影测量学》PPT课 件
X线头影测量学是一项重要而有趣的技术。本课件将介绍该领域的基础知识、 实践技巧、应用案例以及未来发展。让我们开始吧！
概述
通过介绍X线头影测量学的定义和意义，本章将为您打开一扇全新的门。探索 这个令人神秘又迷人的领域，深入了解它的发展历程和研究对象。
基础知识
X线的发现和特性介绍
学习X线头影测量必须从了解X线开始。探究X线 的起源、生成原理、物理特性和安来自百度文库注意事项。
X线头影的本质和组成要素
探究X线头影的形成过程、表现形式和物质基础。 深入理解影像中的亮度区域、密度差异等特征， 并学会分析其对应的物质构成。
正畸投影测量(共37张PPT)
X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构
，使对牙颌、颅面的检查、诊断由外表形态深入到内部的骨骼结构中去
3下颌下缘最低部的切线
2通过颏下点与下颌下缘相切的线条
5、外科正畸的诊断和矫治设计
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后部轮廓、筛板、蝶
常用的x线头影测量标志点
常用的x线头影测量标志点
3下颌下缘最低部的切线
3下颌下缘最低部的切线
1前颅底平面 2眼耳平面 3Bolton平面
X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构
，使对牙颌、颅面的检查、诊断由外表形态深入到内部的骨骼结构中去
鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒磨牙
Y轴角
下颌平面角
颌凸角
上颌长
翼上颌裂-蝶鞍点
下颌长
髁突后切线_蝶鞍点
上中切牙角
下中切牙角
上中切牙凸距
上中切牙凸距
下中切牙凸距
下中切牙凸距
1全面高 2上面高 3下面高
• Downs分析法
X线头影测量
1
X线头影测量是测量X线头颅侧位定 位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志 点描绘出一定的线角进行测量分析，从 而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使 对牙颌、颅面的检查、诊断由外表形态 深入到内部的骨骼结构中去
医学影像检查技术学--X线基本知识 PPT课件
六、光学密度与感光效应
（一）光学密度 胶片中的感光乳剂（卤化银）在光（或 辐射线）作用下致黑的程度称为照片的密度， 又称光学密度或黑化度。 光学密度是由于胶片上乳剂感光后，光 量子被卤化银吸收，经过化学处理，使卤化 银还原，构成黑色金属银的影像。吸收光线 越多，卤化银沉积越多，照片就越黑；反之， 卤化银沉积越少，照片越透明。
2.稀土增感屏：用稀土材料制成的增感 屏，能大大地提高增感效率，可较钨酸 钙屏增加4～7倍，使X线曝光量显著降低， 为鎢酸钙屏的1/4～1/7。可分为蓝光和 绿光系列。
（二）增感屏的种类
稀土增感屏根据荧光体的不同，可分为： （1）硫氧化物类：如硫氧化钆、硫氧化镧、 硫氧化钇等增感屏，受X线激发下转换成绿 色谱段可见光，对感绿胶片敏感。此类屏亦 称绿敏胶片增感屏。 （2）溴氧化物类：如溴氧化镧、溴氧化钇等 增感屏，受X线激发以后转换成蓝色谱段可 见光，对感蓝胶片敏感。
（五）影响感光效应的因素 除了相对固定因素外，感光效应公式通 常写成（变换因素）：
kV ·I · t E = K ·—————— R2
n
式中K是常数，kV代表管电压，I代表管 电流，T代表曝光时间，R代表焦－片距。 感光效应与管电压（kV）的n次方成正比， 与照射量(mAs)成正比，与焦－片距（R） 的平方成反比。
（三）照片密度的影响因素 4．被照体 照片影像密度随被照体的厚度、密度增加 和有效原子序数增高而降低。 5．照射野面积 X线照射被照体的面积越大，产生的散射线 越多，胶片的灰雾度增加，使照片的密度 也相应地增加，但降低了对比度，影响了 影像质量。
(完整版)头影测量
• 翼上颌裂点（Ptm. Pterygomaxillary Fissure）: 翼上颌裂轮廓之最下点
上颌标志点
• 上齿槽座点（A. Subspinale）: 前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点，也称鼻棘下点 • 上中切牙点(UI. Upper Incisor) :最前的上中切牙切缘
下颌标志点
理想的标记点应该是 易于定位的解剖标志 点，而且在生长发育 过程中应相对稳定
颅部标志点
• 蝶鞍点（S. Sella）:蝶鞍影像中心
颅部标志点
• 鼻根点（N. Nasion）：鼻额缝的最前点
颅部标志点
• 耳点（P. Porion）:外耳道之最上点（解剖耳点）
颅部标志点
• 颅底点（Ba. Basion）:枕骨大孔前缘最下点
牙-齿槽
• 下中切牙角（LI-MP）:下中切牙与下颌平 面后交角，均值95.1±6.1。值越大，下 切牙越唇倾。
牙-齿槽
• 上下中切牙角（UI-LI）:上下中切牙后交 角，均值123.4±7.1，值越大，上下颌切 牙凸度越大
前、后 面 部 高 度
• 前面高（N-Me）:从鼻根点至颏下点的距离 • 后面高（S-Go）:蝶鞍点至下颌角点的距离 • 后、前面高比（S-Go/N-Me）:约为62%。值偏大表明
• Bolton平面：由Bolton点与鼻根点N连线 构成。多用于重叠头影图的基准平面
上颌标志点
• 上齿槽座点（A. Subspinale）: 前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点，也称鼻棘下点 • 上中切牙点(UI. Upper Incisor) :最前的上中切牙切缘
下颌标志点
理想的标记点应该是 易于定位的解剖标志 点，而且在生长发育 过程中应相对稳定
颅部标志点
• 蝶鞍点（S. Sella）:蝶鞍影像中心
颅部标志点
• 鼻根点（N. Nasion）：鼻额缝的最前点
颅部标志点
• 耳点（P. Porion）:外耳道之最上点（解剖耳点）
颅部标志点
• 颅底点（Ba. Basion）:枕骨大孔前缘最下点
牙-齿槽
• 下中切牙角（LI-MP）:下中切牙与下颌平 面后交角，均值95.1±6.1。值越大，下 切牙越唇倾。
牙-齿槽
• 上下中切牙角（UI-LI）:上下中切牙后交 角，均值123.4±7.1，值越大，上下颌切 牙凸度越大
前、后 面 部 高 度
• 前面高（N-Me）:从鼻根点至颏下点的距离 • 后面高（S-Go）:蝶鞍点至下颌角点的距离 • 后、前面高比（S-Go/N-Me）:约为62%。值偏大表明
• Bolton平面：由Bolton点与鼻根点N连线 构成。多用于重叠头影图的基准平面
儿童口腔X线头影测量临床应用—颈椎骨龄定量分期法.pptx
颈椎成熟分成六个阶段
1995年Brent Hassel等将椎骨成熟分成六个阶段，是骨骼成熟连线的过程。 颈椎成熟六个阶段
6个Байду номын сангаас段
指征
可获得的青春期生长
1、起始
C2、C3、C4椎体下缘平坦，椎体上缘从后往前渐细
非常显著量 80—100%
2、加速
C2、C3的下缘形成凹面，C3、C4形状似矩形
显著量 65—85%
儿童口腔X线头影测量的临床应用
—颈椎骨龄定量分期法
单突 ： 上颌发育过度 上前牙唇倾 下颌发育正常or发育不足
双突： 上下颌发育过度 上下颌唇倾
治疗： 是否需要减数 上下颌唇弓内收上下前牙 Twinblock导下颌向前（生长发育高峰期效果好）
牙 骨 软组织 生长发育 腺样体 上气道
01 02 03 04 05
H4（cm）
第四颈椎上缘最凹点与颈椎下缘连线之间的垂直距离（L到JK连线的垂直距离）
W4（cm）
第四颈椎前缘中点到椎体后缘的垂直距离（IK连线中点M到HJ连线的垂直距离）
参考值
颈椎骨龄=-4.13+3.57×H4/W4+4.07×AH3/PH3+0.03×@2
颈椎骨龄值<1.74
QCVMⅠ期：高峰前期（加速期）
很少或完成
以C3为例：
口腔正畸学 X线头影测量
Airway Analysis
（六）常用软组织测量内容
（七）计算机Ｘ线头影测量
诊断
◆ 病史及检查：牙颌畸形的因素与机制 ◆ Ｘ线头影测量：牙颌颅面结构特征 ◆ 模型分析：牙弓拥挤度 ◆ 腕骨Ｘ线片分析：生长发育潜能
治疗计划与适应证
提问与解答互动时间
谢谢！
Dental relationships
The maxilla and incisors is protrusive
Retrusive mandible and incorrect treatment
Good facial balance with lips approximating the s-line
Soft-Tissue Analysis
Steiner’s S-line
Interpretation of Cephalometric Headfilms
Acceptable Compromises
Wits Appraisal
ANB as a Measure of Jaw Dysplasia
Applicaton of the Wits Appraisal
Shortcomings of ANB
Follow-up Studies on ANB Angle and Wits Measurements
Roth’s modification of the Wits appraisal to describe molar relationships
头部影像 头颈部颅脑X线 (医学影像检查技术课件)
检查方法
五、循环时间
（一）颈内动脉循环时间 由颈内动脉到颈内静脉约3～6s,平
均为4s。 （二）椎动脉循环时间
造影剂从头臂干动脉注入，脑干与 小脑动脉于注射后3s才开始显影。
R
动脉期 颈内动脉
正位
R
颈内动脉
正位
造影剂均匀地分布在
实
细小动脉和脑实质内
质 期
R
脑浅静脉
颈内动脉 正位
乙
状
脑深
静
窦
横窦
检查方法
一、术前准备 物品的准备；病人的准备。 二、适应症与禁忌症
禁忌症 1.对造影剂麻醉剂过敏者绝对禁忌症。 2.严重的动脉硬化、心肾功能不全者。 3.血与造血器官疾病者。 4.感染发烧者。
检查方法
三、造影剂 常用40％ ～60％泛影葡胺。
四、造影方法 幕上病变，常用颈动脉造影，它可
显示大脑的大部分血管。 幕下病变，用椎动脉造影。
大脑镰 钙斑
颅内生理性钙斑
CT C- 大脑大钙镰脑钙斑镰 斑密度淡薄， 呈斑片状。
大脑镰
通常钙不能斑 显示。
颅内生理性钙斑
4、颅内生理性钙斑
（1）松果体钙斑 （2）大脑镰钙斑 （3）床突鞍间韧带钙化或骨化
隔 为前后床突间韧带和鞍隔钙化。
床突间 韧带 钙化
颅内生理性钙斑
床突间 韧带 钙化
X线头影测量学
不同人群的FMIA目标有差异
Tweed 三角
下中切牙－FH平面（FMIA）
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值
图预测 功能分析法—辅助鉴别功能性错
经典头影测量分析方法
Wits分析法—排除N点变异，基于功能OP进行 矢状向不调分析
Kim分析法—MEAW技术诊断体系，评价垂直向、 矢状向骨性不调趋势
McNamara分析法—以鼻根点垂线为主要基准 平面，线距为主的分析
四边形分析法—适用Biblioteka Baidu正颌外科病例的个体 估计
下颌标志点
• 下切牙点（Li）: 下中切牙切缘之 最前点
• 下磨牙点（L6）: 下颌第一磨牙的 近中颊尖点
下颌标志点（7个）
• 髁顶点（Co）
• 下颌角点（Go）
• 颏前点（Po）
Co
• 颏下点（Me）
• 颏顶点（Gn）
• 下齿槽座点（B）
• 下切牙点（Li）
Go
Li
B Po Gn Me
软组织侧面标志点（9个）
前点 前颅部的标
3.1普通X线摄影检查技术ppt课件
35
3．辅助法 在进行X线摄影过程中，如果发生未
做任何标记现象，应及时采取辅助法。 用蓝、黑色墨水将X线片号及摄影日期等 基本标记内容书写在X线照片无银盐沉积 的透明区。这种方法也可用于点片后的 处理。
36
X线机使用原则
1．使用前要详细阅读X线机使用说明书，掌握机 器的性能、规格和要求。
2．严格遵守操作规程，正确操作使用。 3．在保障机器安全的前提下，充分发挥机器的
41
2．焦－片距及物－片距的选择
根据投影的原理，在X线摄影工作中，被检体应
尽量贴近暗盒。而焦－片距从理论上讲，越远越好，
但实际上要考虑机器的性能、X线管的负荷、聚焦式滤
线栅的使用、物－片距的大小、
焦点b
被照体的厚度等因素。焦－片距
的选择应以被照肢体影像放大、
焦点a
失真及模糊不影响诊
断为宜，进行最优
4．曝光前必须做好摄影技术选择和 曝光条件选择，曝光时禁止调动各 种调节器。旋转阳极全速运转后方 可加高压。
38
5．使用中应通过看、听、嗅观察机器有无异常 现象，若发现异常要及时停机，进行检修。
6．严格按X线管的规格要求使用，严禁过载使用。 连续使用时要注意观察X线管热储量，一般管 套表面温度不可超过50℃，以防靶面熔化，X 线管损坏。
7．高压电缆的弯曲度不能过小，过小易使绝缘 橡胶产生裂纹，同时应避免接触油类物质，以 免橡胶变质，容易造成击穿。 8．移动X线管、荧光屏及床面时， 要防止与障碍物发生碰撞。
3．辅助法 在进行X线摄影过程中，如果发生未
做任何标记现象，应及时采取辅助法。 用蓝、黑色墨水将X线片号及摄影日期等 基本标记内容书写在X线照片无银盐沉积 的透明区。这种方法也可用于点片后的 处理。
36
X线机使用原则
1．使用前要详细阅读X线机使用说明书，掌握机 器的性能、规格和要求。
2．严格遵守操作规程，正确操作使用。 3．在保障机器安全的前提下，充分发挥机器的
41
2．焦－片距及物－片距的选择
根据投影的原理，在X线摄影工作中，被检体应
尽量贴近暗盒。而焦－片距从理论上讲，越远越好，
但实际上要考虑机器的性能、X线管的负荷、聚焦式滤
线栅的使用、物－片距的大小、
焦点b
被照体的厚度等因素。焦－片距
的选择应以被照肢体影像放大、
焦点a
失真及模糊不影响诊
断为宜，进行最优
4．曝光前必须做好摄影技术选择和 曝光条件选择，曝光时禁止调动各 种调节器。旋转阳极全速运转后方 可加高压。
38
5．使用中应通过看、听、嗅观察机器有无异常 现象，若发现异常要及时停机，进行检修。
6．严格按X线管的规格要求使用，严禁过载使用。 连续使用时要注意观察X线管热储量，一般管 套表面温度不可超过50℃，以防靶面熔化，X 线管损坏。
7．高压电缆的弯曲度不能过小，过小易使绝缘 橡胶产生裂纹，同时应避免接触油类物质，以 免橡胶变质，容易造成击穿。 8．移动X线管、荧光屏及床面时， 要防止与障碍物发生碰撞。
相关主题
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《X线头影测量学》
上中切牙－前颅底平面角
（U1-SN）：上中切牙长轴
与前颅底平面的前下交角 下中切牙－下颌平面角
（L1-MP）：下中切牙长轴
与下颌平面的后上交角
上下中切牙角（U1-L1）：
上下中切牙长轴的交角
《X线头影测量学》
常用的面部高度测量值
• 上前面高（N-ANS）：以 FH为参照，N点和ANS点
• 下齿槽座角（SNB）：
前颅底平面与鼻根点和 下齿槽座点连线所形成 的后下交角
• 上下齿槽座角（ANB）： SNA与SNB之差
《X线头影测量学》
• 下颌平面角（MP-FH）:
下颌平面与FH平面的交 角 • Y轴角：蝶鞍中心点与颏 顶点连线与眶耳平面之 前下交角
• 面角（NPog-FH）： 面
平面与眶耳平面相交的 后下交角
结构变化 • 外科正畸预测手术及矫治效果 • 下颌功能分析
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
《X线头影测量学》
1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
《X线头影测量学》
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
成
Bolton平面:由Bolton点与鼻根点的连
线组成
《X线头影测量学》
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH） Bolton平面
《X线头影测量学》
2.测量平面：
腭平面（PP）:由
前鼻棘点与后鼻棘点的 连线组成
面平面（N-Pog）：
由鼻根点与颏前点的连 线组成
Y轴（S-Gn）：蝶鞍
点与颏顶点的连线组成
《X线头影测量学》
合平面
合平面（OP）:
解剖合平面 功能合平面
《X线头影测量学》
下颌平面（MP）：
颏下点与下颌角 下缘的切线
通过下颌骨下缘 最低点的切线
下颌角点与颏顶
点的连线（Go-Gn）
《X线头影测量学》
常用测量项目
《X线头影测量学》
常用的角度测量值
• 上齿槽座角（SNA）：
前颅底平面与鼻根点和 上齿槽座点连线所形成 的后下交角
《X线头影测量学》
常用计测点
《X线头影测量学》
E线（审美平面）
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
THANKS!
《X线头影测量学》
部之最前点
颏顶点（Gn）：颏下
点与颏前点之中点
下齿槽座点（B）：
颏前点与下齿槽缘 之间的凹点
下中切牙点（L1）：
下中切牙切缘之最 前点
《X线头影测量学》
下颌标志点
《X线头影测量学》
四.常用测量平面
• 1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻根点的
连线组成
眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的连线组
意义：
• wk.baidu.comMIA为54 °是建立良好面形的重要
条件 • 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位 置和倾斜度来完成 • 以下颌分析为依据
《X线头影测量学》
常用软组织测量标志
《X线头影测量学》
• 额点（G）：额部之最前点 • 软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点 • 鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点 • 鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点 • 软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点 • H线：软组织颏前点与上唇间切线 • 审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线
两点间的垂直距离
• 下前面高（ANS-ME）： 以FH为参照，ANS点和ME
点两点间的垂直距离
• 全面高（N-ME） ：从前
鼻棘至颏下点的距离
《X线头影测量学》
常用的头影测量分析法
《X线头影测量学》
•Tweed测量分析法
•华西医大测量分析法
•Downs测量分析法 •Wylie测量分析法
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：
鼻额缝的最前 点
蝶鞍点（S）：
蝶鞍影像的中 心点
《X线头影测量学》
颅部标志点（5个）
耳点（Po）：
机械耳点---定 位仪耳塞影像的最上 点
解剖耳点---骨 性外耳道影像的最上 点
颅底点（Ba）：枕骨
大孔前缘中点
Bolton点（Bo）：枕
骨髁突后切迹之最凹 点
X线头影测量学
（Cephalometry)
四川大学华西口腔医院 正畸教研室
《X线头影测量学》
定义
X线头影测量是对标准化定位 的X线片所得的软硬组织影像进行 定量的测量分析，从而了解牙合 颅面软硬组织的结构，使对牙合 颅面的检查诊断由表面形态深入 到内部的骨骼结构中去。
《X线头影测量学》
应用
• 研究颅面生长发育 • 牙合颅面畸形的诊断分析 • 确定错合畸形的矫治设计 • 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
患者体位：ICP位，唇自然放松
《X线头影测量学》
2.头影图的描绘
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬
质尖锐的铅笔等 注意：
当左右影像不完全重合时，应取其平均 中点来做描绘
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
常用标志点及测量 平面
上中切牙切缘之 最前点
《X线头影测量学》
注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
《X线头影测量学》
上颌标志点
《X线头影测量学》
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁突
影像最上点
下颌角点（Go）：下
颌角后下点
颏下点（Me）：颏部
之最下点
《X线头影测量学》
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
二.上颌标志点（6个）
眶点（Or）：眶下
缘最下点
翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最 下点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
《X线头影测量学》
上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）：
硬腭后部骨棘之 尖
上齿槽坐点（A）：
前鼻棘与上齿槽 缘间的最凹点
上中切牙点（U1）：
Tweed分析法：
测量由眶耳平
面（FH）、下颌平 面（MP）、下中切
牙长轴延长线所组 成的代表面部形态 结构的颌面三角形
《X线头影测量学》
正常值
成都
眶耳平面－下颌平面角（FMA）
28°
下中切牙－眶耳平面角（FMIA）
54°
下中切牙－下颌平面角（IMPA）
98°
白人 25° 65° 90°
《X线头影测量学》
上中切牙－前颅底平面角
（U1-SN）：上中切牙长轴
与前颅底平面的前下交角 下中切牙－下颌平面角
（L1-MP）：下中切牙长轴
与下颌平面的后上交角
上下中切牙角（U1-L1）：
上下中切牙长轴的交角
《X线头影测量学》
常用的面部高度测量值
• 上前面高（N-ANS）：以 FH为参照，N点和ANS点
• 下齿槽座角（SNB）：
前颅底平面与鼻根点和 下齿槽座点连线所形成 的后下交角
• 上下齿槽座角（ANB）： SNA与SNB之差
《X线头影测量学》
• 下颌平面角（MP-FH）:
下颌平面与FH平面的交 角 • Y轴角：蝶鞍中心点与颏 顶点连线与眶耳平面之 前下交角
• 面角（NPog-FH）： 面
平面与眶耳平面相交的 后下交角
结构变化 • 外科正畸预测手术及矫治效果 • 下颌功能分析
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
《X线头影测量学》
1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
《X线头影测量学》
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
成
Bolton平面:由Bolton点与鼻根点的连
线组成
《X线头影测量学》
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH） Bolton平面
《X线头影测量学》
2.测量平面：
腭平面（PP）:由
前鼻棘点与后鼻棘点的 连线组成
面平面（N-Pog）：
由鼻根点与颏前点的连 线组成
Y轴（S-Gn）：蝶鞍
点与颏顶点的连线组成
《X线头影测量学》
合平面
合平面（OP）:
解剖合平面 功能合平面
《X线头影测量学》
下颌平面（MP）：
颏下点与下颌角 下缘的切线
通过下颌骨下缘 最低点的切线
下颌角点与颏顶
点的连线（Go-Gn）
《X线头影测量学》
常用测量项目
《X线头影测量学》
常用的角度测量值
• 上齿槽座角（SNA）：
前颅底平面与鼻根点和 上齿槽座点连线所形成 的后下交角
《X线头影测量学》
常用计测点
《X线头影测量学》
E线（审美平面）
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
THANKS!
《X线头影测量学》
部之最前点
颏顶点（Gn）：颏下
点与颏前点之中点
下齿槽座点（B）：
颏前点与下齿槽缘 之间的凹点
下中切牙点（L1）：
下中切牙切缘之最 前点
《X线头影测量学》
下颌标志点
《X线头影测量学》
四.常用测量平面
• 1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻根点的
连线组成
眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的连线组
意义：
• wk.baidu.comMIA为54 °是建立良好面形的重要
条件 • 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位 置和倾斜度来完成 • 以下颌分析为依据
《X线头影测量学》
常用软组织测量标志
《X线头影测量学》
• 额点（G）：额部之最前点 • 软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点 • 鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点 • 鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点 • 软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点 • H线：软组织颏前点与上唇间切线 • 审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线
两点间的垂直距离
• 下前面高（ANS-ME）： 以FH为参照，ANS点和ME
点两点间的垂直距离
• 全面高（N-ME） ：从前
鼻棘至颏下点的距离
《X线头影测量学》
常用的头影测量分析法
《X线头影测量学》
•Tweed测量分析法
•华西医大测量分析法
•Downs测量分析法 •Wylie测量分析法
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：
鼻额缝的最前 点
蝶鞍点（S）：
蝶鞍影像的中 心点
《X线头影测量学》
颅部标志点（5个）
耳点（Po）：
机械耳点---定 位仪耳塞影像的最上 点
解剖耳点---骨 性外耳道影像的最上 点
颅底点（Ba）：枕骨
大孔前缘中点
Bolton点（Bo）：枕
骨髁突后切迹之最凹 点
X线头影测量学
（Cephalometry)
四川大学华西口腔医院 正畸教研室
《X线头影测量学》
定义
X线头影测量是对标准化定位 的X线片所得的软硬组织影像进行 定量的测量分析，从而了解牙合 颅面软硬组织的结构，使对牙合 颅面的检查诊断由表面形态深入 到内部的骨骼结构中去。
《X线头影测量学》
应用
• 研究颅面生长发育 • 牙合颅面畸形的诊断分析 • 确定错合畸形的矫治设计 • 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
患者体位：ICP位，唇自然放松
《X线头影测量学》
2.头影图的描绘
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬
质尖锐的铅笔等 注意：
当左右影像不完全重合时，应取其平均 中点来做描绘
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
常用标志点及测量 平面
上中切牙切缘之 最前点
《X线头影测量学》
注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
《X线头影测量学》
上颌标志点
《X线头影测量学》
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁突
影像最上点
下颌角点（Go）：下
颌角后下点
颏下点（Me）：颏部
之最下点
《X线头影测量学》
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
二.上颌标志点（6个）
眶点（Or）：眶下
缘最下点
翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最 下点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
《X线头影测量学》
上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）：
硬腭后部骨棘之 尖
上齿槽坐点（A）：
前鼻棘与上齿槽 缘间的最凹点
上中切牙点（U1）：
Tweed分析法：
测量由眶耳平
面（FH）、下颌平 面（MP）、下中切
牙长轴延长线所组 成的代表面部形态 结构的颌面三角形
《X线头影测量学》
正常值
成都
眶耳平面－下颌平面角（FMA）
28°
下中切牙－眶耳平面角（FMIA）
54°
下中切牙－下颌平面角（IMPA）
98°
白人 25° 65° 90°
《X线头影测量学》