《X线头影测量学》课件
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《X线头影测量学》课件
对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望
X 线头影测量学
应用
华 西口腔
• 5. 下颌功能分析
X 线头影测量学在正畸学中的作 用
1. 研究颅面的生长发育及生长预测 2. 牙颌颅面畸形的诊断分析及治疗设计 3. 研究矫治前后牙颌颅面形态结构的矫治
变 化和生长 改变 以及判断各种矫 治器的 作用机理 4. 外科正畸的术前诊断设计和术后疗效的 评价 5. 下颌功能分析
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
华 西口腔
备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
测 量平面 腭平面 ANS-PNS /PP.(palatal plane)
有称上颌 平面， 由前鼻嵴 点和后 鼻嵴 点的连 线 构 成。常用于评 价 上颌 的位置和生 长 方向
华 西口腔
测 量平面 下颌平面 MP MP.(mandibular plane)
1. 通过颏下点与 下颌 角下缘 的 切线 ；
板，圆规，量角器、 3H 铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记, 可用强光局部观察 .
华 西ห้องสมุดไป่ตู้腔
华 西口腔
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
华 西口腔
X 线头影测量学
华 西口腔
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper * 1884 年 人类学国际会议在德国
Frankfort 举行 -- 眶耳平面的诞生 * 1916 年 正畸学家 Van Loon 第一个将
人类学方法应用到正畸学中 * 1923 年 Meconer 将X 射线引入正畸学
中 * 1931 年 Brondbent( 美 ) 及 Hofrath 华西口腔( 德 ) 首次使用头颅定位器及摄片技术
华 西口腔
颅 部的标 志点
• 颅底点 ( Ba.basion ): 枕骨大孔前缘之中
华 西口腔
点 . 后颅底的标志点 .
颅 部的标 志点
• 蝶鞍点 ( S. sella ): 蝶鞍影 像的中心 . 常 用作描图 重叠 的参考点
华 西口腔
颅 部的标 志点
华西口腔 • Bolton 点 : 枕骨髁突后切迹的最凹点 .
X 线头影测量学 在正畸学中的作
用
华 西口腔
应用
• １ . 研究颅面生长发育及生长预测
华 西口腔
应用
• ２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
华 西口腔
应用 • ３ . 研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面
形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的作 华 西口用腔机理
应用 华西• 口4腔. 外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评价
常用的 X 线头影测量 的
标志点及平面
华 西口腔
标志点
• 定义 : 用来构成一些平面及测量内容的
点. • 分类：
– 解剖标志点 (apatomical landmark) ； – 引伸标志点 (cephalametric landmark) 。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper * 1884 年 人类学国际会议在德国
Frankfort 举行 -- 眶耳平面的诞生 * 1916 年 正畸学家 Van Loon 第一个将
人类学方法应用到正畸学中 * 1923 年 Meconer 将X 射线引入正畸学
中 * 1931 年 Brondbent( 美 ) 及 Hofrath 华西口腔( 德 ) 首次使用头颅定位器及摄片技术
华 西口腔
颅 部的标 志点
• 颅底点 ( Ba.basion ): 枕骨大孔前缘之中
华 西口腔
点 . 后颅底的标志点 .
颅 部的标 志点
• 蝶鞍点 ( S. sella ): 蝶鞍影 像的中心 . 常 用作描图 重叠 的参考点
华 西口腔
颅 部的标 志点
华西口腔 • Bolton 点 : 枕骨髁突后切迹的最凹点 .
X 线头影测量学 在正畸学中的作
用
华 西口腔
应用
• １ . 研究颅面生长发育及生长预测
华 西口腔
应用
• ２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
华 西口腔
应用 • ３ . 研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面
形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的作 华 西口用腔机理
应用 华西• 口4腔. 外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评价
常用的 X 线头影测量 的
标志点及平面
华 西口腔
标志点
• 定义 : 用来构成一些平面及测量内容的
点. • 分类：
– 解剖标志点 (apatomical landmark) ； – 引伸标志点 (cephalametric landmark) 。
《X线头影测量学》课件
掌握如何处理数据及进行初步分析。了解如 何使用专业软件进行图像识别和定量分析。
操作步骤
学习操作步骤和使用技巧。了解如何通过调 节仪器、光源等参数，获得清晰稳定的X线 影像。
实验结果分析
比较实验结果与理论预期值的差异，提出结 论并讨论结果的可能性、局限性。
应用案例
医学影像分析
了解如何对图像进行分析和处 理，提供有价值的医学诊断； 以及探究一些实际应用，例如 牙科诊疗和随访评估。
工程检测
探索如何使用X线头影技术进 行工程检测，比如构件末端预 应力钢筋位置识别、竖井孔内 构筑物结构检测等。
材料研究
通过测量材料的X线头影，了 解材料中的微观结构、组织构 造、缺陷分布等信息，并探究 材料本身的物理化学性质。
展望
本章将为大家展望X线头影测量学未来的发展前景与新趋势。了解可能出现的 新技术、新应用，并思考该领域带来的影响和挑战。相信未来，X线头影测量 学定能取得更加卓越的成就。
结语
通过本课件，相信大家对X线头影测量学有了更深入的了解。无论是医学诊断， 工程检测，还是材料研究，X线头影测量学都发挥着重要的作用。鼓励更多的 研究者加入到这个领域的研究中来，推动X线头影测量学的进一步发展和应用。 谢谢！
学X线头影测量必须从了解X线开始。探究X线 的起源、生成原理、物理特性和安全注意事项。
X线头影的本质和组成要素
探究X线头影的形成过程、表现形式和物质基础。 深入理解影像中的亮度区域、密度差异等特征， 并学会分析其对应的物质构成。
X线头影测量方法
1
水平基线法
基于测量对象和X光管之间的垂直位移来计算出测量结果，适用于头部、胸部等 较大的区域。
《X线头影测量学》PPT课 件
X线头影测量学是一项重要而有趣的技术。本课件将介绍该领域的基础知识、 实践技巧、应用案例以及未来发展。让我们开始吧！
操作步骤
学习操作步骤和使用技巧。了解如何通过调 节仪器、光源等参数，获得清晰稳定的X线 影像。
实验结果分析
比较实验结果与理论预期值的差异，提出结 论并讨论结果的可能性、局限性。
应用案例
医学影像分析
了解如何对图像进行分析和处 理，提供有价值的医学诊断； 以及探究一些实际应用，例如 牙科诊疗和随访评估。
工程检测
探索如何使用X线头影技术进 行工程检测，比如构件末端预 应力钢筋位置识别、竖井孔内 构筑物结构检测等。
材料研究
通过测量材料的X线头影，了 解材料中的微观结构、组织构 造、缺陷分布等信息，并探究 材料本身的物理化学性质。
展望
本章将为大家展望X线头影测量学未来的发展前景与新趋势。了解可能出现的 新技术、新应用，并思考该领域带来的影响和挑战。相信未来，X线头影测量 学定能取得更加卓越的成就。
结语
通过本课件，相信大家对X线头影测量学有了更深入的了解。无论是医学诊断， 工程检测，还是材料研究，X线头影测量学都发挥着重要的作用。鼓励更多的 研究者加入到这个领域的研究中来，推动X线头影测量学的进一步发展和应用。 谢谢！
学X线头影测量必须从了解X线开始。探究X线 的起源、生成原理、物理特性和安全注意事项。
X线头影的本质和组成要素
探究X线头影的形成过程、表现形式和物质基础。 深入理解影像中的亮度区域、密度差异等特征， 并学会分析其对应的物质构成。
X线头影测量方法
1
水平基线法
基于测量对象和X光管之间的垂直位移来计算出测量结果，适用于头部、胸部等 较大的区域。
《X线头影测量学》PPT课 件
X线头影测量学是一项重要而有趣的技术。本课件将介绍该领域的基础知识、 实践技巧、应用案例以及未来发展。让我们开始吧！
头影测量PPT课件
2019/10/22
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1. 硬组织测量标志点
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
颅部 上颌骨
蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)
前鼻棘(ANS) 上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）
下颌骨
下齿槽座点（B）
下中切牙点（L1）
颏前点（Pg）
颏下点(Me)
颏顶点(Gn)
2019/10/22
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2. 软组织测量标志点
额点（G）
鼻小柱点（Cm）
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结
构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计 6、下颌功能分析
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记存模型
• 矫正前、矫正过程中、矫正完成后对牙合状况的 记录。
• 作用： • 1.对照观察 • 2.疗效评估 • 3.病例展示 • 4.司法鉴定
二、组成 1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
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X线头影测量分析
Cephalometric analysis
硬组织测量标志点 软组织测量标志点 常用平面 常用角度 常用线距
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角（ANB）：
上下颌位置关系
3° ±1
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5. 常用线距
全 面 高 （ N － Me ） 上面高（N－A） 下 面 高 （ A － Me ） 上面高/全面高 下面高/全面高
头影测量学【正颌正畸联合治疗中心课件】
Mean 82.8 91.0 17.1 45.0
SD 4.1 7.5 2.3 2.1
⑤
⑥
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
Unit
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) deg deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm mm %
deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm c mm % deg deg % % %
88.0 15.6 46.1 83.2 93.2 -10.9 14.2 35.6 45.8 65.0 69.1 105.2
d
91.0 17.1 45.0 80.1 85.4 6.0 a 17.4 27.3 30.4 71.0 x 56.0 100.0
耳点（Po）： 机械耳点 --- 定位仪耳 塞影像的最上点 解剖耳点 --- 骨性外耳 道影像的最上点
颅底点（Ba）：枕骨 大孔前缘中点
二.上颌标志点
眶点（Or）： 眶下缘最下点 翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最下 点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
后鼻棘点（PNS）： 硬腭后部骨棘之尖
① ③ ④
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
②
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
上颌骨相对于颅底
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) Mandible to Cranium
Unit
deg deg mm mm
X线头影测量学[精制材料]
![X线头影测量学[精制材料]](https://img.taocdn.com/s3/m/ca797fe8f46527d3250ce036.png)
实操应用
7
实操应用
8
实操应用
9
患者体位：ICP位，唇自然放松
实操应用
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2.头影图的描绘
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆
仪及硬质尖锐的铅笔等 注意：
当左右影像不完全重合时，应取 其平均中应用
12
常用标志点及测量 平面
实操应用
13
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：
实操应用
40
常用计测点
实操应用
41
E线（审美平面）
实操应用
42
实操应用
43
实操应用
44
实操应用
45
眶点（Or）：眶下
缘最下点
翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的 最下点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
实操应用
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上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）：
硬腭后部骨棘之 尖
上齿槽坐点（A）：
前鼻棘与上齿槽 缘间的最凹点
上中切牙点（U1）：
上中切牙切缘之 最前点
实操应用
18
注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
研究矫治过程中及矫治后的牙合颅 面形态结构变化 外科正畸预测手术及矫治效果 下颌功能分析
实操应用
3
实操应用
4
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
实操应用
5
1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
实操应用
6
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
X线头影测量学ppt课件
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意义：
• FMIA为54 °是建立良好面形的重要
条件 • 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的
位置和倾斜度来完成 • 以下颌分析为依据
精品课件
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常用软组织测量标志
精品课件
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• 额点（G）：额部之最前点 • 软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点 • 鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点 • 鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点 • 软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点 • H线：软组织颏前点与上唇间切线 • 审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线
精品课件
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常用的头影测量分析法
精品课件
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• Tweed测量分析法
• 华西医大测量分析法
• Downs测量分析法 • Wylie测量分析法
精品课件
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Tweed分析法：
测量由眶耳
平面（FH）、下 颌平面（MP）、
下中切牙长轴延 长线所组成的代 表面部形态结构 的颌面三角形
精品课件
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精品课件
• 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅 面形态结构变化
• 外科正畸预测手术及矫治效果 • 下颌功能分析
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3
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4
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
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1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
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6
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
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• 下颌平面角（MP-FH）:
精华版X线头影测量分析方法课件
4)SND角：前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
线头影测量学
N Ns
Prn
Sn UL LL Po Me Pos
Mes
注意
正中矢状面上的参考点（如S点）较矢 状面两侧的参考点（如Co点）准确
双侧影像未完全重叠时取其中点（如 Go点）
较难准确定位的点：O点、A点、ANS点、 PNS点
• 在颅面生长过程中，参考点的稳定性是 有变化的，所谓“固定的标志点”是不 存在的
标志点
• 定义:
用来构成一些平面及测量内容的点
• 特点：
– 影片上易于定位 – 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位:
–颅部 –上颌 –下颌 –软组织侧
面
颅部标志点
• 蝶鞍点(S): 蝶鞍影像的中心 常用作描图重叠
的参考点
颅部标志点
• 鼻根点(N): 鼻额缝之最
前点 前颅部的标
志点 代表颅、面
上齿槽突之最 前下点
常在上中切牙 釉牙骨质界处
上颌标志点
• 上齿槽座点(A): ANS与SPr间骨
部的最凹点 用于评价上颌
基骨前后位置
的重要标志点！
上颌标志点
• 上中切牙点 （UI）：上中切 牙切缘之最前下 点
• 上磨牙点（U6）: 上颌第一磨牙的 近中颊尖点或颊 沟点
上颌标志点（6个）
• 眶点（O） • 翼上颌裂点（Ptm） • 前鼻棘（ ANS） • 后鼻棘（PNS） • 上齿槽座点（A） • 上中切牙点（UI）
测量平面
面平面（N-P）:由鼻根 点与颏前点连线组成
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线，代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角：反映上颌相对
第5章X线头影测量诊断学
每次投照均严格按以上原则，方能保证不同 时间、不同个体影片测量结果的可靠性和可比性
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点
X线头影测量分析 (1)
Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
1.基准平面
Company Logo
SN 平面－ 前颅底平面 FH 平面－Frankfort 平面 Bolton平面– Bolton点与鼻根点连线
－基准平面
SN plane前颅底平面
Company Logo
－基准平面
FH plane眶耳平面
Company Logo
－基准平面
Bolton平面
Company Logo
基准平面
Company Logo
Company Logo
测量平面
－测量平面
腭平面(ANS-PNS)
Company Logo
－测量平面
全颅底平面（Ba-N):颅底点与鼻根点连线
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全颅底平面
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－测量平面
牙合平面(OP)
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简言之：
通过对X片进行分析、测量，从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相 互关系 。
一、主要应用
研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中，矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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1.研究颅面生长发育
正畸投影测量ppt课件
翼上颌裂-蝶鞍点
.
下颌长
.
髁突后切线_蝶鞍点
.
上中切牙角
.
下中切牙角
.
上中切牙凸距
.
上中切牙凸距
.
下中切牙凸距
.
下中切牙凸距
.
1全面高 2上面高 3下面高
.
• Downs分析法
.
谢
谢!
.
.
常用的测量平面
1颅底平面 2腭平面 3合平面
.
1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn)
2通过颏下点与下颌下缘相切的线条
3下颌下缘最低部的切线
.
1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
.
常用的硬组织测量项目
SNA角
.
SNB角
.
ANB角
.
面角
.
22
Y轴角
.
下颌平面角
.
颌凸角
.
上颌长
.
X线头影测量
.
X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
.
X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
结构变化
• 5、外科正畸的诊断和矫治设计
.
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
.
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《X线头影测量学》
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：
鼻额缝的最前 点
蝶鞍点（S）：
蝶鞍影像的中 心点
《X线头影测量学》
颅部标志点（5个）
耳点（Po）：
机械耳点---定 位仪耳塞影像的最上 点
解剖耳点---骨 性外耳道影像的最上 点
颅底点（Ba）：枕骨
大孔前缘中点
Bolton点（Bo）：枕
骨髁突后切迹之最凹 点
X线头影测量学
（Cephalometry)
四川大学华西口腔医院 正畸教研室
《X线头影测量学》
定义
X线头影测量是对标准化定位 的X线片所得的软硬组织影像进行 定量的测量分析，从而了解牙合 颅面软硬组织的结构，使对牙合 颅面的检查诊断由表面形态深入 到内部的骨骼结构中去。
《X线头影测量学》
应用
• 研究颅面生长发育 • 牙合颅面畸形的诊断分析 • 确定错合畸形的矫治设计 • 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态
两点间的垂直距离
• 下前面高（ANS-ME）： 以FH为参照，ANS点和ME
点两点间的垂直距离
• 全面高（N-ME） ：从前
鼻棘至颏下点的距离
《X线头影测量学》
常用的头影测量分析法
《X线头影测量学》
•Tweed测量分析法
•华西医大测量分析法
•Downs测量分析法 •Wylie测量分析法
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
上中切牙－前颅底平面角
（U1-SN）：上中切牙长轴
与前颅底平面的前下交角 下中切牙－下颌平面角
（L1-MP）：下中切牙长轴
与下颌平面的后上交角
上下中切牙角（U1-L1）：
上下中切牙长轴的交角
《X线头影测量学》
常用的面部高度测量值
• 上前面高（N-ANS）：以 FH为参照，N点和ANS点
《X线头影测量学》
合平面
合平面（OP）:
解剖合平面 功能合平面
《X线头影测量学》
下颌平面（MP）：
颏下点与下颌角 下缘的切线
通过下颌骨下缘 最低点的切线
下颌角点与颏顶
点的连线（Go-Gn）
《X线头影测量学》
常用测量项目
《X线头影测量学》
常用的角度测量值
• 上齿槽座角（SNA）：
前颅底平面与鼻根点和 上齿槽座点连线所形成 的后下交角
• 下齿槽座角（SNB）：
前颅底平面与鼻根点和 下齿槽座点连线所形成 的后下交角
• 上下齿槽座角（ANB）： SNA与SNB之差
《X线头影测量学》
• 下颌平面角（MP-FH）:
下颌平面与FH平面的交 角 • Y轴角：蝶鞍中心点与颏 顶点连线与眶耳平面之 前下交角
• 面角（NPog-FH）： 面
平面与眶耳平面相交的 后下交角
意义：
• FMIA为54 °是建立良好面形的重要
条件 • 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位 置和倾斜度来完成 • 以下颌分析为依据《X线头 Nhomakorabea测量学》
常用软组织测量标志
《X线头影测量学》
• 额点（G）：额部之最前点 • 软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点 • 鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点 • 鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点 • 软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点 • H线：软组织颏前点与上唇间切线 • 审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线
结构变化 • 外科正畸预测手术及矫治效果 • 下颌功能分析
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
《X线头影测量学》
1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
《X线头影测量学》
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
部之最前点
颏顶点（Gn）：颏下
点与颏前点之中点
下齿槽座点（B）：
颏前点与下齿槽缘 之间的凹点
下中切牙点（L1）：
下中切牙切缘之最 前点
《X线头影测量学》
下颌标志点
《X线头影测量学》
四.常用测量平面
• 1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻根点的
连线组成
眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的连线组
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
患者体位：ICP位，唇自然放松
《X线头影测量学》
2.头影图的描绘
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬
质尖锐的铅笔等 注意：
当左右影像不完全重合时，应取其平均 中点来做描绘
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
常用标志点及测量 平面
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
二.上颌标志点（6个）
眶点（Or）：眶下
缘最下点
翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最 下点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
《X线头影测量学》
上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）：
硬腭后部骨棘之 尖
上齿槽坐点（A）：
前鼻棘与上齿槽 缘间的最凹点
上中切牙点（U1）：
上中切牙切缘之 最前点
《X线头影测量学》
注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
《X线头影测量学》
上颌标志点
《X线头影测量学》
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁突
影像最上点
下颌角点（Go）：下
颌角后下点
颏下点（Me）：颏部
之最下点
《X线头影测量学》
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏
成
Bolton平面:由Bolton点与鼻根点的连
线组成
《X线头影测量学》
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH） Bolton平面
《X线头影测量学》
2.测量平面：
腭平面（PP）:由
前鼻棘点与后鼻棘点的 连线组成
面平面（N-Pog）：
由鼻根点与颏前点的连 线组成
Y轴（S-Gn）：蝶鞍
点与颏顶点的连线组成
《X线头影测量学》
常用计测点
《X线头影测量学》
E线（审美平面）
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
THANKS!
《X线头影测量学》
Tweed分析法：
测量由眶耳平
面（FH）、下颌平 面（MP）、下中切
牙长轴延长线所组 成的代表面部形态 结构的颌面三角形
《X线头影测量学》
正常值
成都
眶耳平面－下颌平面角（FMA）
28°
下中切牙－眶耳平面角（FMIA）
54°
下中切牙－下颌平面角（IMPA）
98°
白人 25° 65° 90°
《X线头影测量学》
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：
鼻额缝的最前 点
蝶鞍点（S）：
蝶鞍影像的中 心点
《X线头影测量学》
颅部标志点（5个）
耳点（Po）：
机械耳点---定 位仪耳塞影像的最上 点
解剖耳点---骨 性外耳道影像的最上 点
颅底点（Ba）：枕骨
大孔前缘中点
Bolton点（Bo）：枕
骨髁突后切迹之最凹 点
X线头影测量学
（Cephalometry)
四川大学华西口腔医院 正畸教研室
《X线头影测量学》
定义
X线头影测量是对标准化定位 的X线片所得的软硬组织影像进行 定量的测量分析，从而了解牙合 颅面软硬组织的结构，使对牙合 颅面的检查诊断由表面形态深入 到内部的骨骼结构中去。
《X线头影测量学》
应用
• 研究颅面生长发育 • 牙合颅面畸形的诊断分析 • 确定错合畸形的矫治设计 • 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态
两点间的垂直距离
• 下前面高（ANS-ME）： 以FH为参照，ANS点和ME
点两点间的垂直距离
• 全面高（N-ME） ：从前
鼻棘至颏下点的距离
《X线头影测量学》
常用的头影测量分析法
《X线头影测量学》
•Tweed测量分析法
•华西医大测量分析法
•Downs测量分析法 •Wylie测量分析法
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
上中切牙－前颅底平面角
（U1-SN）：上中切牙长轴
与前颅底平面的前下交角 下中切牙－下颌平面角
（L1-MP）：下中切牙长轴
与下颌平面的后上交角
上下中切牙角（U1-L1）：
上下中切牙长轴的交角
《X线头影测量学》
常用的面部高度测量值
• 上前面高（N-ANS）：以 FH为参照，N点和ANS点
《X线头影测量学》
合平面
合平面（OP）:
解剖合平面 功能合平面
《X线头影测量学》
下颌平面（MP）：
颏下点与下颌角 下缘的切线
通过下颌骨下缘 最低点的切线
下颌角点与颏顶
点的连线（Go-Gn）
《X线头影测量学》
常用测量项目
《X线头影测量学》
常用的角度测量值
• 上齿槽座角（SNA）：
前颅底平面与鼻根点和 上齿槽座点连线所形成 的后下交角
• 下齿槽座角（SNB）：
前颅底平面与鼻根点和 下齿槽座点连线所形成 的后下交角
• 上下齿槽座角（ANB）： SNA与SNB之差
《X线头影测量学》
• 下颌平面角（MP-FH）:
下颌平面与FH平面的交 角 • Y轴角：蝶鞍中心点与颏 顶点连线与眶耳平面之 前下交角
• 面角（NPog-FH）： 面
平面与眶耳平面相交的 后下交角
意义：
• FMIA为54 °是建立良好面形的重要
条件 • 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位 置和倾斜度来完成 • 以下颌分析为依据《X线头 Nhomakorabea测量学》
常用软组织测量标志
《X线头影测量学》
• 额点（G）：额部之最前点 • 软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点 • 鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点 • 鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点 • 软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点 • H线：软组织颏前点与上唇间切线 • 审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线
结构变化 • 外科正畸预测手术及矫治效果 • 下颌功能分析
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
《X线头影测量学》
1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
《X线头影测量学》
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
部之最前点
颏顶点（Gn）：颏下
点与颏前点之中点
下齿槽座点（B）：
颏前点与下齿槽缘 之间的凹点
下中切牙点（L1）：
下中切牙切缘之最 前点
《X线头影测量学》
下颌标志点
《X线头影测量学》
四.常用测量平面
• 1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻根点的
连线组成
眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的连线组
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
患者体位：ICP位，唇自然放松
《X线头影测量学》
2.头影图的描绘
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬
质尖锐的铅笔等 注意：
当左右影像不完全重合时，应取其平均 中点来做描绘
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
常用标志点及测量 平面
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
二.上颌标志点（6个）
眶点（Or）：眶下
缘最下点
翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最 下点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
《X线头影测量学》
上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）：
硬腭后部骨棘之 尖
上齿槽坐点（A）：
前鼻棘与上齿槽 缘间的最凹点
上中切牙点（U1）：
上中切牙切缘之 最前点
《X线头影测量学》
注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
《X线头影测量学》
上颌标志点
《X线头影测量学》
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁突
影像最上点
下颌角点（Go）：下
颌角后下点
颏下点（Me）：颏部
之最下点
《X线头影测量学》
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏
成
Bolton平面:由Bolton点与鼻根点的连
线组成
《X线头影测量学》
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH） Bolton平面
《X线头影测量学》
2.测量平面：
腭平面（PP）:由
前鼻棘点与后鼻棘点的 连线组成
面平面（N-Pog）：
由鼻根点与颏前点的连 线组成
Y轴（S-Gn）：蝶鞍
点与颏顶点的连线组成
《X线头影测量学》
常用计测点
《X线头影测量学》
E线（审美平面）
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
《X线头影测量学》
THANKS!
《X线头影测量学》
Tweed分析法：
测量由眶耳平
面（FH）、下颌平 面（MP）、下中切
牙长轴延长线所组 成的代表面部形态 结构的颌面三角形
《X线头影测量学》
正常值
成都
眶耳平面－下颌平面角（FMA）
28°
下中切牙－眶耳平面角（FMIA）
54°
下中切牙－下颌平面角（IMPA）
98°
白人 25° 65° 90°
《X线头影测量学》