极紫外光刻系统物镜光学元件的支撑与分析

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极紫外光刻的原理及应用

极紫外光刻的原理及应用

极紫外光刻的原理及应用1. 引言极紫外光刻(又称EUV光刻)是一种先进的微影技术,它使用极紫外(EUV)光源进行光刻,并广泛应用于半导体制造中。

本文将介绍极紫外光刻的原理,以及它在半导体行业中的应用。

2. 极紫外光刻的原理极紫外光刻使用的光源是极紫外辐射,其波长为13.5纳米,远远短于传统光刻技术所使用的193纳米深紫外光。

极紫外光源的产生涉及复杂的物理过程,包括激光产生等离子体、从等离子体中产生极紫外光等步骤。

极紫外光刻使用的掩模还需要比传统光刻技术更高的反射率和更低的光散射率。

这是因为极紫外光源的波长很短,对掩模上细微缺陷的敏感度更高。

因此,制造高质量掩模对于极紫外光刻的成功应用至关重要。

3. 极紫外光刻的应用3.1 半导体制造极紫外光刻在半导体行业中有重要的应用。

随着半导体器件的尺寸越来越小,传统光刻技术已经无法满足制造高密度芯片的需求。

而极紫外光刻技术通过使用更短的波长,可以实现更高的分辨率和更小的线宽。

因此,它被广泛应用于半导体制造中,特别是在制造7纳米及以下尺寸的芯片中。

3.2 光刻机制造极紫外光刻技术的发展也推动了光刻机制造行业的发展。

光刻机是进行光刻过程的装置,它将掩模上的图形投影到光刻胶上,形成图案。

随着极紫外光刻技术的普及,对于光刻机的性能和稳定性的要求也越来越高。

因此,光刻机制造商需要不断改进技术,以适应极紫外光刻的要求。

3.3 研究和发展极紫外光刻作为一项新的微影技术,也需要不断的研究和发展。

许多研究机构和企业致力于提高极紫外光刻的性能和稳定性,以推动其应用的进一步发展。

此外,极紫外光刻在其他领域的应用也正在受到研究者的关注,如光学元件制造、生物医学和纳米技术等领域。

4. 极紫外光刻的优势和挑战极紫外光刻相比于传统光刻技术具有以下优势: - 更高的分辨率,可以制造更小的芯片尺寸。

- 更高的工艺容差,可以制造更复杂的器件结构。

- 更低的成本,可以提高生产效率。

然而,极紫外光刻也面临着一些挑战: - 极紫外光源的稳定性和可靠性需要进一步提高。

光刻投影物镜光学元件运动学支撑结构的设计与分析

光刻投影物镜光学元件运动学支撑结构的设计与分析

a dP yi , hns A a e yo c ne, h n cu 3 0 3 C i ) n hs sC ie cdm Si c C a gh n1 0 3 , hn c e f e s a
:Co rs n i g a t o ,E— al migy n n a @ g al c r l repo d n u h r : m i: n a g. e l m i. o n
动学支撑结 构 , 研究 了如何利用该支撑结构消除温度变化 和外界应变对光学 元件 面形 的影 响。首先 , 计算 单个支座 的径 向柔度 , 并与有 限元分析结果进行 比较 。然后 , 分析在不 同温度载荷和外界应变工况下光学元件上 、 下表 面面形的变化 , 并与三点胶粘固定支撑方式下的结 果进 行了 比较 。计算结果表 明 : 通过 理论公式推 导的支座径 向柔度与仿 真结果 的误 差绝对值小 于 22 ; . % 温度升 高 0 1℃时光学元 件上 下表面面形 R S值小于 0 3 i; . M . 6B 平面度公差 5 m时面形 R n MS值 小于0 0 i。 三点胶粘 固定方式相 比, . 5B n 运动学支撑方式能够有效消除温度变化和外界应变对光学 元件表面 面形 的影
倪明阳 巩 岩 ,
( 科学院 长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室, 中国 吉林 长春103 ) 303
摘 要 : 了实 现 曝 光 工 作 过 程 中深 紫 外 投 影 光 刻 物 镜 的 动 态 稳 定 性 , 计 了一 种 能 够 消 除 温 度 和 应 变 影 响 的 光 学 元 件 运 为 设
p r t r h n e a xe n lsr i i n l z d a d t e s pp ri g sr c u e i o e a u e c a g nd e t r a tan s a ay e n h u o t tu t r s c mpae t p i tg u n r d wi a 3- o n l e h s p ri g sr tr .Th a c l td r s lsi d c t h tt e a s l t ifr n e b t e h a a o l n e u po t t u e n uc e c lu ae e u t n i ae t a h b ou e d f e c e we n t er dilc mp i c e a

共轴极紫外投影光刻物镜设计研究共3篇

共轴极紫外投影光刻物镜设计研究共3篇

共轴极紫外投影光刻物镜设计研究共3篇共轴极紫外投影光刻物镜设计研究1共轴极紫外投影光刻物镜设计研究背景随着微纳技术的发展,芯片制造工艺不断更新换代,由于光刻技术在微电子工业中具有不可替代的地位,因此光刻技术的研究和发展一直处于微电子领域的重要研究方向之一。

近年来,随着芯片制造工艺转向微纳米级,传统的紫外光刻技术已经无法满足高精度、高分辨率、大面积等要求。

共焦偏振干涉(SPIL)测量技术以及矢量场光学(VCO)技术的不断发展,将极紫外(EUV)光刻技术发展起来,也成为了未来芯片制造工艺的重要方向。

因此,共轴极紫外投影光刻技术成为了今后极紫外光刻技术的重要研究方向之一。

研究目的共轴极紫外投影光刻物镜设计研究的目的是通过设计一种新型的物镜,来提高极紫外光刻技术的分辨率和成像能力。

研究方法1. 设计物镜光学结构:主要包括凸透镜、抛物面镜、共轴式算法设计等。

2. 光学模拟:采用Zemax、Code V等光学模拟软件进行模拟实验,其中主要包括成像质量分析、衍射效应分析等。

3. 光刻胶薄膜厚度分析:对光刻胶薄膜厚度进行详细的分析,主要目的是减少胶薄膜的不均匀性及浸没效应。

研究进展共轴极紫外投影光刻物镜是一种集成式的设计,主要由凸透镜、抛物面镜等光学元件组成。

在保证高分辨率的同时,共轴极紫外投影光刻物镜还可以有效的解决胶薄膜的不均匀性及浸没效应等问题。

并且,由于采用共轴式算法设计,使得光路比较简明,也可以大大减小反射率。

研究成果及应用前景目前的研究成果表明,共轴极紫外投影光刻物镜设计可以降低胶薄膜厚度的不均匀性及浸没效应,从而使得投影图案的精度和分辨率更高,相比传统紫外光刻技术有了非常明显的优势。

此外,共轴极紫外投影光刻物镜设计还具有制造成本低、生产效率高、制造周期短等优点。

因此,共轴极紫外投影光刻物镜设计有非常广阔的应用前景,将会促进微电子工业的持续创新和发展共轴极紫外投影光刻物镜作为一种新型物镜设计,可以有效提高极紫外光刻技术的分辨率和成像能力,解决传统紫外光刻技术的不足。

光学光刻和极紫外光刻pdf

光学光刻和极紫外光刻pdf

光学光刻和极紫外光刻pdf
光学光刻和极紫外光刻是现代微电子工艺中最重要的两种制造技术。

在集成电路制造中,利用光刻技术对光刻胶进行曝光,形成的影像被
转移到芯片表面。

它是制造集成电路的一项关键技术,对芯片的制造
精度、速度和费用影响极大。

下面,我将为您简要介绍光学光刻和极紫外光刻的原理和应用。

一、光学光刻
光学光刻是一种将图案转移到光刻胶上从而形成图案的技术。

在该技
术中,使用光刻胶涂布在硅片表面,然后用投影式光刻机对光刻胶进
行曝光,使得光刻胶化学反应,同时也将曝光模板的图案通过透镜对
光刻胶进行投影,从而在光刻胶上生成所需的图案。

光学光刻广泛应用于微电子产业、光电子产业以及生物医学等领域。

它的精度高、速度快,被广泛用于集成电路、纳米技术和MEMS(微
电子机械系统)制造等领域。

它的优点是成本低,技术成熟稳定,因
此是当前最广泛应用的制造技术之一。

二、极紫外光刻
极紫外光刻是一种采用极短波长光进行曝光的制造技术,通常使用波
长为13.5纳米的极紫外光(EUV)进行曝光。

与光学光刻相比,极紫
外光刻对芯片成像的精度更高,可以实现更小的芯片制造。

极紫外光刻技术的制造成本较高,但在芯片制造领域中具有广泛的应用前景。

极紫外光刻可以制造出更精细的芯片结构,比如更小、更紧密的微尺度结构,使得芯片可以更加高效地工作。

总结
以上是关于光学光刻和极紫外光刻的简要介绍。

在集成电路制造中,用光刻技术制造出的更加精密的芯片,不仅可以提高芯片的工作效率和速度,而且也可以满足现代电子设备对于体积、功耗等要求的发展需求。

极紫外光刻

极紫外光刻

极紫外光刻给光学技术带来的挑战王占山同济大学精密光学工程技术研究所,物理系,上海,200092摘要:本文概述了极紫外光刻技术的发展,阐明了极紫外光刻技术的特点,说明了极紫外光刻的关键光学技术。

极紫外光刻中光学元件的评价需要采用随空间波长变化的表面功率谱密度进行评价,分析了不同区域内表面误差对极紫外光刻系统性能的影响,给出了极紫外光刻对相应空间波长区域的技术要求和现在技术能够达到的水平。

根据这些问题,重点说明了极紫外光刻如何将光学加工、检测和镀膜技术带到了原子尺度。

最后建议我国能够抓紧时间,尽快启动相关研究,推动我国相关领域的发展。

1 引言自上世纪6O年代以来,集成电路制作技术取得了飞速的发展,一直按照“摩尔定律”预言的轨迹前进。

“摩尔定律”是美国因特(Intel)公司创始人之一的Goldon Moore于1965年提出的,即每隔约18-24个月,集成电路单个芯片上的晶体管数目将增加1倍,集成电路中最细刻线的宽度减小0.7倍,这一增长速度不仅导致了半导体市场在过去30年中以平均每年约15%的速度增长,而且对现代经济、国防和社会产生了巨大的影响。

目前,集成电路已从上世纪60年代每个芯片上只有几十个器件发展到现在每个芯片上可包含10亿个以上的器件。

在集成电路飞速发展过程中,光刻技术的进步起到了极为关键的作用,其决定了集成电路最小刻线的宽度,即集成电路的集成度。

为了紧跟迅速发展的集成电路制作技术,美国、欧洲、日本、韩国与台湾的半导体产业协会合作制订了《国际半导体技术蓝图》(ITRS),自2001年起,每隔一年就会有新版出现,而在双年时,则会对蓝图进行修订。

在近5年的国际半导体技术蓝图中,我们可以明显地看出,什么技术被淘汰,什么技术得到确定。

如:对90nm线宽的光刻技术,2001年还有多种选择,到2003年就完全确定下来。

2005年给出的蓝图,比原来几年的蓝图都简单,原因是大家都比较清楚什么样的光刻技术是未来需要的。

超高数值孔径组合变倍率极紫外光刻物镜及优化方法

超高数值孔径组合变倍率极紫外光刻物镜及优化方法

超高数值孔径组合变倍率极紫外光刻物镜及优化方法随着半导体工艺的不断发展,对于光刻机物镜的要求也越来越高。

超高数值孔径组合变倍率极紫外光刻物镜是目前比较先进的一种物镜,采用了多项技术手段来提升其性能。

首先,该物镜采用了超高数值孔径设计,使得其分辨率和深度都有了很大提升,可以实现更为精细的图案制作。

其次,该物镜还采用了组合变倍率设计,使得在不同倍率下都能保持较高的分辨率和统一的像场尺寸,提高了光刻机的生产效率。

最后,针对极紫外光刻过程中的非理想因素,该物镜还进行了优化,通过对反射率、波带等参数进行调整,进一步提高了物镜的性能和稳定性。

除了物镜本身的设计,该研究项目还对超高数值孔径组合变倍率极紫外光刻物镜的应用进行了探索和优化。

其中包括了光源的选择、透镜材质的优化、曝光参数的调整等方面,以实现更为高效和精确的光刻制程。

总之,超高数值孔径组合变倍率极紫外光刻物镜及其优化方法是半导体工艺发展中非常重要的一环。

通过不断的研究和探索,未来还将在更多方面得到应用和拓展,为半导体工艺的进一步发展提供有力支持。

基于euv极紫外光刻工艺

基于euv极紫外光刻工艺

基于euv极紫外光刻工艺
基于EUV(极紫外)光刻工艺是一种先进的半导体制造技术,它在制造集成电路(IC)时起着至关重要的作用。

EUV光刻工艺利用极紫外波长的光源进行曝光,相比传统的光刻工艺,EUV技术具有更短的波长,可以实现更小的图形尺寸,从而提高了芯片的集成度和性能。

首先,让我们从技术角度来看。

EUV光刻工艺的关键在于使用13.5纳米的极紫外光源进行曝光。

这种极紫外光源的波长比传统的193纳米光刻工艺要短得多,可以实现更小的特征尺寸,从而实现更高的集成度。

此外,EUV光刻工艺还需要使用反射镜而非透镜来聚焦光线,因为极紫外光线会被透镜吸收,这也增加了工艺的复杂性。

其次,从制造工艺的角度来看,EUV光刻工艺对材料和设备的要求也更高。

由于极紫外光线的特殊性,光刻胶和光刻设备都需要进行特殊的优化和改进,以适应这种新的工艺。

此外,EUV光刻工艺还需要在真空环境中进行,以防止极紫外光线在大气中被吸收或散射。

另外,从产业发展的角度来看,EUV光刻工艺的商业化和产业
化也面临着挑战。

目前,EUV光刻工艺的设备和材料成本都非常高,而且稳定性和可靠性也需要进一步提高。

因此,虽然EUV光刻工艺
在技术上具有巨大的潜力,但在商业化和产业化方面还需要不断的
努力和投入。

总的来说,基于EUV光刻工艺的半导体制造技术具有巨大的潜
力和发展空间,但在技术、制造工艺和产业发展等方面都面临着诸
多挑战。

随着技术的不断进步和产业的不断发展,相信EUV光刻工
艺将会在未来发挥越来越重要的作用。

极紫外光刻技术原理

极紫外光刻技术原理

极紫外光刻技术原理
哇塞,朋友们!今天咱们要来好好唠唠极紫外光刻技术原理这个超厉害的东西!
你知道吗,极紫外光刻技术就像是一位超级精细的雕刻大师!它呀,是利用极紫外光来进行芯片制造的关键技术呢。

比如说,我们平常使用的手机、电脑这些高科技产品,它们里面的芯片可都离不开极紫外光刻技术哦!
极紫外光的波长超级短,这就好比一根超级细的针,可以在芯片上刻画出极其精细的图案和线路。

想象一下,要是没有这么厉害的技术,我们的电子产品能有这么强大的功能吗?肯定不行呀!
在这个过程中,光刻机就像是一个超级厉害的作画工具。

它把极紫外光聚焦到晶圆上,一点点地绘制出芯片的图案。

这可不简单啊,就好像是在一个小小的米粒上画出一幅超级复杂的画!
而且哦,这个技术的要求非常非常高。

稍微有点偏差,可能整个芯片就废掉了。

这是不是超级紧张刺激的?就如同走钢丝一样,必须小心翼翼的呢!
极紫外光刻技术的发展真的是太神奇了,它让我们的科技水平不断提升,让我们能享受到更多更先进的电子产品。

真的太酷了,不是吗?。

极紫外光刻技术

极紫外光刻技术

极紫外光刻技术
极紫外光刻技术作为一种先进的光刻技术,在半导体制造和信息存储领域具有
广泛的应用。

极紫外光刻技术依靠200nm的极紫外光将模版信息准确地等比例复制的到基体表面上去实现芯片制造和数据存储,相比较传统的亚微米技术和光刻技术,极紫外光刻技术具有准确度高,灵活性强的特点。

极紫外光刻技术的工作原理十分复杂,主要依靠激光发射器产生的紫外线来激
发刻在纳米级片上的激活剂,使其释放出一种特殊的能量,然后将激发剂中的能量传输到纳米基材中,使其发生分解而最终形成一种新的Chemistry,从而将模板上
的信息准确复制到基面上。

极紫外光刻技术还可以用于进行晶元光刻制程,通过对晶元应力经历对比,从
而实现芯片制造。

这种技术在晶元和纳米领域应用广泛,比如半导体表面的准确绘制,光学不对称的数据存储,生物医药领域的细胞编码,以及更复杂的存储发射等,都可以利用极紫外光刻技术进行制定。

也正是由于极紫外光刻技术的准确性和便捷性,对半导体材料的信息存储及处
理得到了很大的改善,而且极紫外光刻技术在晶元芯片制造领域也发挥了巨大作用。

由于极紫外光刻技术不仅可以更快捷地完成芯片制造,而且不会破坏晶元结构,提高芯片精度,可以快速准确的将模版信息复制到基体表面,对于晶元信息的存储和处理也有着至关重要的价值。

以上就是极紫外光刻技术的简要介绍,它是当今先进技术,为芯片制造提供了
高效、准确、灵活的解决方案,为芯片表面准确复制及数据存储提供了更佳的解决方案。

极紫外光刻系统物镜光学元件的支撑与分析

极紫外光刻系统物镜光学元件的支撑与分析
该过程中被检测元件需要不断与支撑设备分 离, 所以由接触、摩擦等因素引起的面形不确定性 成为影响干涉仪检测重复性的一个重要因素, 特 别是到了 0125 nm ( RM S ) 的面形量级, 这些因素 的影响不可忽略。因此在面形检测过程中, 需要 有特殊设计的检测支撑结构, 且特别要保证支撑 结构具有高重复性 [ 12] 。
EUVL 系统必 须达到 衍射 极限 分辨 率的 要 求, 根 据 M arechal 判 据, 系 统 波 前 偏 差 应 小 于 K/14, 即小于 1 nm ( RM S) , 对应于四镜系统, 单个 反射面面形要求为 0125 nm ( RM S ), 对应于六镜 系统则更为严格, 单个反射面面形要求为 0120 nm ( RM S) [ 4<。上述多项关键技术中, 物镜支撑结构 设计和支撑方案选择与最终能否实现该面形要求 直接相关。
60 0
中国光学与应用光学
第 3卷
图 2 实际运动学支撑结构图 F ig. 2 K inem atic m ount structures used in lithograph ic cam era
2. 2 检测加工支撑设计 极紫外光刻系统对实际支撑条件下面形要求
极端苛刻, 重力环境等因素对面形影响非常严重, 常用的解决方案是对带实际支撑的光学元件进行 原位面形检测, 为面形加工提供参考数据, 加工检 测不断迭代收敛直至满足面形要求, 以此来消除 重力等因素的影响。
第 6期
王 辉: 极紫外光刻系统物镜光学元件的支撑与分析
601
表 1 加工装配参 数对面形影响的分析及误差分配
T ab. 1 Analysis on effect of param eters on optic f igure and error d istribution

光刻投影物镜光学元件运动学支撑结构的设计与分析

光刻投影物镜光学元件运动学支撑结构的设计与分析

光刻投影物镜光学元件运动学支撑结构的设计与分析倪明阳;巩岩【摘要】In order to maintain the dynamic stability of a Deep Ultra-Violet(DUV) lithographic projection ob- jective, a kinematic supporting structure which is able to eliminate the effects of temperature change and exter- nal strain is designed. The lens surface deformation due to temperature variation and external strain is studied. Firstly, the theoretical formula for the compliance of a supporting seat is derived, then the radial compliance of the supporting seat is calculated by using the derived formula and is compared with the results of the whole supporting seat from a Finite Element Analysis(FEA) analysis. The lens surface profile variation due to temperature change and external strain is analyzed andthe supporting structure is compared with a 3-point glue supporting structure. The calculated results indicate that the absolute difference between the radial compliance obtained from the derived formula and the FEA simulation is within 2.2% , RMS values of the optical surfaces are less than 0. 36 nm with a 0. 1 ℃ temperature rise, and the RMS values of the optical surfaces are less than 0. 05 nm for a manufacturing tolerance is 5μm. Compared with the 3-point glue suporting method, the kinematic supporting structure can eliminate the effect of temperature change and outside strain on the lens surface.%为了实现曝光工作过程中深紫外投影光刻物镜的动态稳定性,设计了一种能够消除温度和应变影响的光学元件运动学支撑结构,研究了如何利用该支撑结构消除温度变化和外界应变对光学元件面形的影响。

极紫外光刻机光源设计

极紫外光刻机光源设计

极紫外光刻机光源设计极紫外光刻机光源是一种用于半导体制造中的关键设备,它的设计对于芯片制造的精确性和效率至关重要。

本文将从光源的原理、设计要求以及相关技术发展等方面进行探讨。

极紫外光刻机光源的原理是利用极紫外光(EUV)来实现对芯片上图案的精确刻写。

极紫外光的波长较短,约为13.5纳米,能够实现更高分辨率的图案刻写,因此在现代半导体制造中得到了广泛应用。

而光源作为极紫外光刻机的核心部件,其设计需要考虑到光强度、波长稳定性、光斑均匀性等多个因素。

光源的光强度是影响刻写速度和质量的一个重要指标。

光强度过低会导致刻写速度慢,影响生产效率;而光强度过高则容易引起光损伤,降低芯片质量。

因此,设计光源时需要平衡光强度与刻写速度之间的关系,确保光强度在合适的范围内。

光源的波长稳定性是保证刻写精度的关键因素。

极紫外光的波长非常短,因此需要采用特殊材料制作光学元件,以确保波长的稳定性。

同时,光源的温度控制也是确保波长稳定性的重要手段。

高温会导致光源的波长发生偏移,从而影响刻写精度,因此需要对光源进行精确的温度控制。

光源的光斑均匀性也是影响刻写质量的重要因素。

光斑均匀性指的是光源发出的光在刻写过程中的分布是否均匀。

如果光斑不均匀,就会导致芯片上图案的部分区域刻写过深或过浅,从而影响芯片的功能。

为了提高光斑均匀性,光源设计中通常采用多个光源进行交叉曝光,通过叠加光斑来提高均匀性。

随着半导体工艺的不断进步,对极紫外光刻机光源的要求也越来越高。

目前,一种常见的极紫外光刻机光源设计方案是基于激光等离子体技术。

该技术通过使用激光将某种惰性气体(如氙气)转化为等离子体,然后通过一系列光学元件将等离子体转化为极紫外光。

这种设计方案具有光强度高、波长稳定性好、光斑均匀性高等优点,因此被广泛应用于现代半导体制造中。

除了激光等离子体技术,还有一些其他的极紫外光刻机光源设计方案,如放电等离子体技术和微波激励等离子体技术。

这些技术各有优劣,可以根据实际需求进行选择。

极紫光+光刻技术

极紫光+光刻技术

极紫光+光刻技术极紫光+光刻技术是一种先进的半导体制造技术,是现代电子行业中关键的制造工艺之一。

它是将芯片图形投射到硅片上的一种技术,可以实现微米甚至纳米级别的精密制造,广泛应用于集成电路、半导体器件和光学元件等领域。

本文将介绍极紫光+光刻技术的原理、发展历程以及在电子行业中的应用。

一、极紫光+光刻技术的原理极紫光+光刻技术是利用紫外光对感光材料进行曝光的一种制造技术。

其原理主要包括:曝光、显影、刻蚀和清洗等环节。

通过掩膜、光源和投影镜等设备,将芯片图形投射到感光材料上进行曝光;然后通过显影使得感光材料的曝光区域发生化学反应,形成图形;接着利用刻蚀技术将感光材料之外的部分去除,留下期望的图形结构;最后清洗去除未固化的材料,形成所需的芯片结构。

通过这一系列的工艺步骤,可以实现对硅片的微细加工,制备出各种微米级别的结构。

二、极紫光+光刻技术的发展历程极紫光+光刻技术的发展可以追溯到1960年代,最早用于集成电路的制造。

1969年,贝尔实验室研究人员发明了第一个光刻机,并成功将图案投影到硅片上。

随着电子行业的发展,光刻技术也不断得到优化升级,逐渐实现了微米级别的精密加工。

1990年代,极紫光+光刻技术已经成为集成电路制造中不可或缺的工艺,在微电子产业中占据重要位置。

三、极紫光+光刻技术在电子行业中的应用极紫光+光刻技术在电子行业中有着广泛的应用,主要体现在以下几个方面:1.集成电路制造:极紫光+光刻技术是目前集成电路制造中最主要的工艺之一。

通过对硅片进行曝光、显影和刻蚀等工序,可以制备出各种微米级别的集成电路结构。

这为数字电子产品的发展提供了技术支撑,推动了信息产业的快速发展。

2.半导体器件生产:除了集成电路外,极紫光+光刻技术在生产其他半导体器件中也得到了广泛应用,如存储芯片、传感器、光电器件等。

通过精密的光刻工艺,可以实现对半导体器件结构的精准加工,提高器件的性能和稳定性。

3.光学元件制造:光刻技术还可以应用于光学元件的制造,如激光器、光波导等器件。

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E e e t n l i( E l n A ay s F A)m dl f pi l u t aeb i p adte g r c ags nt r i t nf l m s o e r t a mons r ulu , n ue h ne ega t i e so o c t h f i i h va o i d
17 -9 5 2 1 )6 580 642 1 ( 00 0 - 9 —7 0
极 紫 外 光 系 物 镜 光 学 元 件 的 支 撑 与 分 析 刻 统
王 辉
( 中国科学院 长春光学 精密 机械与物理研究所, 长春 1 03 吉林 3 3) 0
摘 要 : 绍 了极 紫外 光 刻 系 统 物 镜 光 学元 件 的支 撑 原 理 和 支 撑 要求 , 析 了符 合运 动学 支 撑 要 求 的 物 镜 支撑 结 构 和 面 形 介 分
i he c me aa d u e n t e it re o tra e t e s me b sc ly i r vtto a ed,a d t e d f r n e o n t a r n s d i h n e fr me e r h a a ial n g a iai n lf l i n h i e e c f f
a d t e ma ed ae a ay e n h r lf l r n l z d,r s e tv l . T e u t n ia e t tt e fg r so h o n tucu e s d i e p cie y he rs lsi d c t ha h iu e n te m u tsr t r su e
C i s A a e yo c ne, h nc u 3 0 3 C i ) hn e cdm e fSi c C a g h n10 3 , h a e s n
A s a t T epic l adrq i m ns fh pia m u t f nE t m lai e Ltorp y E V ) bt c : h r i e n ur et o eot l on x e eU t vo t i ga h ( U L r n p e e t c oa r r l h
文 献标 识码 : A 中 图分 类 号 :N 0 . T 7 3 T 3 57; H 0
Obet eo t a u t a da ayi frE VL jci pi l v c mo ns n n ls o U s
W Байду номын сангаасNG i Hu
( h n cu ntu pi , i ca i n hs s C a gh nIs tt o O tsFn Meh nc a dP yi , i ef c e s c
第 3卷
第 6期
中国 光学 与应 用 光 学
Ch n s o r a fOp i s a d Ap le tc i e e J u n lo tc n p i d Op is
Vo . No. 13 6 De 201 c. 0
21 0 0年 l 2月
文章编号
检测用支撑结构 ; 针对支撑结构性能和支撑方案 中关键问题进行 了深入研究 , 并提 出了相应 的解决方案。最后建立 了支
撑结 构 的有 限 元 模 型 , 在 此基 础上 进 行 了重 力 场 中 的镜 体 变 形 分 析 和 温 度 场 作 用 下 系 统 的热 变 形 分 析 。分 析 结 果 表 并 明 , 测用 支 撑 与 实 际 用 支 撑 两 种 结 构 在 重 力 环 境 下 支 撑 出 的元 件 面 形 基 本 相 同 , 形 相 差 00 26r R S ; 控 范 检 面 . 0 i M ) 温 m( 围为 00 . 5℃ 时 , 由机 械结 构 热 变 形 引 起 的镜 体 面形 变 化 在 00 1HlR S 量 级 。研 究 结 果 表 明 , 动 学 物 镜 元 件 支 撑 .0 i( M ) l 运 结 构 能 够 满 足极 紫外 光 刻 系 统 对 于 物镜 机 械 支 撑 结 构 的 要 求 。 关 键 词 : 紫外 光 刻 ; 镜 : 动 学 支撑 ; 限元 分 析 极 物 运 有
1 ms i u tpr c pta e su id,a d t e c re po d n ou in r lo b o g tfr r . Fia l e n mo n e e r t d e n h o r s n i g s l to s a e as r u h owa d nl y,F n t ii e
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