超声波仪器和探头地使用校验

质量规

超声波仪器和探头的使用校验

1.目的和用途校检

所有使用的超声波检测设备都必须定期校检，仪器和探头的日校和周校都必须由通过超声认证的人员来完成，本规描述了该校验的方法。

2.标准参考

EN12668-3 无损检测—超声设备的特点和验证—第三部分：设备组合。

EN12223 无损检测—超声检测—校准试块No1的规。

EN27963 无损检测—刚焊缝检测—焊缝超声检测试块No2。

3.登记

为初始测量和定期校验的两个登记表格作为本规的一部分。

4.设备

参考试块V1 DS/EN12223

参考试块V2 DS/EN27963（可利用两个宽度12.5mm和20mm）

参考试块TIF (长横孔试块)

5.测试围

新的设备和探头组合最初使用时，必须对它作一个基本的测量，并且记录在登记簿上，并对照以下6.4/6.5/6.6/7.2/7.3/7.4节中所做的定期校验。

每一个测量点完成，记录好数值，对于剩余的测量点，做好任务标记。

探头必须每工作日校验，对于测定信操比和脉冲持续时间距离上一次使用每周一次已是足够的。仪器常规每周校验一次，但是如果使用中对仪器有怀疑，必须立即校验。

6.斜探头

测试包括以下几点：

6.1物理状态和外形的测试

目视检查探头和连接线是否有损坏或磨损；检查电路连接的稳定性；如果探头底面锲块磨损太.扭曲或者不均匀则需要研磨。

底面磨损不允许超过下面的厚度，是指从磨损最低处到探头壳平面的距离。

●Krautkrämer SWB-探头：1mm.

●Krautkrämer MWB-探头：1mm.

●Krautkrämer WB/WK-探头：2mm.

当达到这个限度时，要废弃或者更换探头底面锲块。对于可更换的锲块，晶片和锲块之间要有足够的机油以保证良好的耦合。

6.2入射点的测量

用V1和V2试块来测量探头的入射点，要注意探头的入射点回随着探头底面锲块的厚度不同而变化的；入射点不是很严格，但是要在±1mm公差围

6.3折射角的测量

折射角通常用V1来测量，但也可以用TIF试快来测定。

用TIF 试块的时候，获取25mm深处来的反射体最大回波，读取声程距离，扩散角可以通过公式来计算。

折射角=arc cos(25/S),这里S=显示的声程距离+1.5

如果结果值与探头标称值有±2°的误差，修磨探头底面，如果还是不行则更换底面或者丢弃。

对于80°的探头，允许最低折射角为74°

6.4根据标准反射体测量灵敏度

增益调至最低，获取25mm深处反射体的最大反射回波并调至屏幕80%高度，记录此时的dB值并且对照仪器和探头组合灵敏度的基本测量值，如果偏差超过6dB，则更换探头。

应当注意灵敏度的降低也许是因为探头底面磨损不均匀所至，在更换探头前检查这一点。当然TIF试块上不能有腐蚀或使用已经干燥的偶合剂。

6.5信噪比的测量

增益设为最低，获取25mm深处反射体的最大反射回波并调至屏幕20%高度，从试块上拿去探头并清除掉偶合剂，探头放置一边并提高增益直到噪声信号达到屏幕20%高，记录两次dB差值。如果在最大增益时候噪声信号没有达到20%，那就记录与这个最大增益之间的dB差值。对比这个数值与仪器组合灵敏度的初始测量值，如果偏差超过6dB，寻找并纠正偏差原因或者丢弃探头。

6.6测量脉冲持续时间

1.设置时基围为200mm，增益调至最低。

2.找出V1试块上100mm圆弧处的最高反射回波并调至80%屏高。

3. 读出10%水平线处回波的宽度，按照钢中的声程读数（见图1） 图1. 测量回波宽度（EB ）

如果使用数字超声波仪器，波宽可以用图2.图3所示的闸门来测量，设置仪器

TOF= flank。

图2 图3

例如：EB=102.4-100.4=2.0mm

对照设备初始测量值，如果偏差超过50%要寻找纠正偏差原因或者更换探头。7.直探头

测试包括下面的4点：

7.1 物理状态和外形

目视检查探头和连接线是否有损坏或磨损；检查电路的稳定性；如果保护膜有损伤则要更换，晶片和保护膜间的油中不能有间隙，更换其中的油通常是必须的。

7.2 用标准反射体测量灵敏度

用TIF 试块上深度为35mm处的3mm孔作为标准反射体，最大回波并调至80%屏高，增益设置为最低，记录此时的dB值并且对照初始记录值，如果偏差超过6dB,，则要寻找纠正原因或者更换探头。

7.3 信操比测量

1.用TIF试块上深度35mm处的3mm孔作为标准反射体，增益调至最低，记录此时dB数值。

2.从试块上拿下探头并擦干净偶合剂。

3.提高增益直至噪声信号达到35mm反射体同样的高度，记录提高的数值，称为信操比。记录dB值并且对照初始测量值，如果偏差超过6dB，寻找纠正原因或者更换探头。

7.4 脉冲持续时间的测量

1. 设置时基围为50mm，增益调至最低。

2. 找出V1试块上25mm厚处的第一次底波的最高反射，并调至80%屏高。

3. 读出10%水平线处回波的宽度，按照钢中的声程读数, 注意TOF要设置为flank 模式.（见图1）

4. 对照初始测量值，如果偏差超过50%,寻找纠正原因或者更换探头。

8. 超声波仪器

测试包括下面的2点：

8.1时基水平线性的测量

1. 直探头放置在V1试块上一侧，时基围调至125mm。

2. 检查第一次和最后的回波是否与时基线相一致，并检查中间其他回波的位置。

3.依次调节这些回波到80%屏高，对每一个回波，要与比例线相一致，偏差不能超过水平整个屏幕宽度的2%。

8.2 幅度垂直线性的测量

使用和测量水平线性时相同的时基围和探头，找到TIF试块上深度为35mm处的3mm孔的最高反射波，调至80%屏高。

根据下表数值调节灵敏度，检查回波高度是否在规定的围。