卡尺内校 SOP1

SOP-QR-104
三阶文件生效日期2012.06.19 编号SOP-QR-104版本/次A/1
卡尺内校作业指导书
编制人曲海涛审核人邱丰批准人张述强
日期2012.06.19 日期2012.06.19 日期2012.06.19
文件修改记录
文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期A0 首次发行2012.06.19
卡尺内校作业指导书版本/次A/1
1. 目的
1.1 确保校准结果的结果的准确性，使校准作业规范化。

2. 范围
2.1 本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺，包括高度尺、游标卡尺、戴表卡尺、电子数显卡尺。

3. 职责
3.1 卡尺保管人：负责所属卡尺维护和保养。

3.2 品保部：卡尺专用量块的维护和保养。

3.3校验人：卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。

4. 作业内容说明：
4.1 卡尺结构：
4.1.1游标卡尺结构如下图所示。

4.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。

4.1.3 戴表卡尺结构如下图所示。

卡尺内校作业指导书版本/次A/1
4.2 校验/检定条件：
4.2.1 室内温度：25±3℃
4.2.2 相对温度：65±15％
4.3 校验/检定用主要标准器具:成都产二级量块.
4.4外观检查
4.4.1 检查方法：目检与试验；
4.4.2 卡尺表面应无锈蚀，碰伤或其它缺陷，刻度和数字应清晰、均匀；
4.4.3 尺框沿尺身移动应平稳，不应有阻滞及明显晃动现象，紧固螺丝的作用可靠。

4.5显示值校验/检定
4.5.1所卡尺校正外卡任意选五个点校正，第五点须是该卡尺的最大量程范围，所卡尺校正内卡任意选
三个点校正，第三点须是该卡尺的最大量程范围. 所卡尺校正深度，任意选四个点校正，第四点
须是该卡尺深度的最大量程范围。

所有卡尺必须校正并须校正卡尺的外卡，内卡，深度。

4.5.2 误差:
4.5.2.1 所有游标卡尺、带表卡尺在100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm
以上误差为±0.02mm；
4.5.2.2 数显卡尺100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±
0.02mm。

4.5.2.3 所有受检尺寸均满足4.5.2.2之误差规定为合格，否则为不合格。

4.6 校验/检定方法
4.6.1 校正时，先将所需尺寸之量块平置于平面玻璃上，每一个受检点应在量爪的里端和外端两个位置
进行校正，量块的工作面长边和卡尺的尺身应平行，然后测量读取数据。

4.6.2 深度端校正：将量块平置于玻璃深度端校正：将量块平置于玻璃上，卡尺的尺身与量块平面必须
垂直，然后测量读取数据。

4.7 不合格处置
4.7.1 对于检验/检定不合格之卡尺应立即停止使用，并报修必要时报废封存。

4.7.2 检验/检定不合格之卡尺可经专职人员调校后或维修合格后重新校验，经检验/检定合格继续使
用。

4.4.判定标准：
示值误差不超过以下所列标准极为合格.
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5记录保存：
5.1 校验合格后，贴上校验合格标签。

5.2 校验不合格时，贴上停用标签，依实际情况定为暂停使用，并记录在维修记录上严重者作报
废处理。

5.3 将校验结果登录在《仪器校验记录表》上并归档保存。

测量范围 允许误差 0-150mm
外径及内径
±0.02mm 20mm
深度：±0.02mm
150-200mm ±0.02mm 200-300mm ±0.02mm。