GTEM小室辐射抗扰度和辐射骚扰发射的测量试验

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基于gtem室吸波材料反射率测试系统的研制

基于gtem室吸波材料反射率测试系统的研制

摘要摘要随着现代科学技术和工业技术的飞速发展,许多电子设备纷纷涌入了人们的生活当中。

这给人们的生活提供了便利的同时,也因此产生了大量的电磁辐射,其造成的电磁污染正引起人们的关注。

吸波材料作为一种可以有效吸收电磁波能量,减少电磁波干扰的功能材料得到了广泛的应用,它相较于电磁屏蔽材料具有更高的普遍性和适用性。

另外,为满足现代战争的需要,隐身技术已经成为世界军事强国重点发展研究的战略技术。

吸波材料作为隐身技术的主要部分,它的研究与应用自然成为了军事领域的研究热点。

表征吸波材料特性参数的是吸波材料的反射率,它反映了吸波材料对电磁波的吸收能力。

因此在使用吸波材料之前,我们需要针对其反射率进行相应的测试。

目前,常用的测试方法有:吸波材料反射率样板空间平移测试法、吸波材料反射率远场RCS测试法、吸波材料反射率弓形测试法等。

但是对于较低频率下的吸波材料反射率测试,常用的测试方法难以实现,针对这个问题本文提出了利用吉赫兹横电磁波室(GTEM Cell)模拟自由空间中的电磁环境,将电磁波相对限制在一个有限的空间内,减小测试样品边缘散射效应对测试结果的影响,达到有效测试吸波材料反射率的目的。

本文首先对吸波材料反射率测试的研究背景以及测试方法进行了阐述,对比现有的测试技术,针对低频测试提出了利用GTEM室对材料反射率进行测试。

然后,根据测试的需要对GTEM室和对数周期天线(LPDA)的工作原理和设计思路进行了研究分析、仿真计算以及优化。

接着,在GTEM室和LPDA设计搭建完成后,根据测试编写了相关的测试软件,形成了自动测试系统。

最后,为了验证GTEM室吸波材料反射率测试系统的准确性,对吸波材料的反射率进行测试,通过对标准样品的多次测试,验证测试系统的准确性、一致性,并针对误差进行分析,对整个测试系统提出了需要继续改进的工作。

本文主要做了以下几个的改进创新点:第一,根据吸波材料反射率在低频下的测试需要,创新性提出了利用GTEM室来测试吸波材料的反射率,并成功研制出了测试系统;第二,针对GTEM室过渡段,设计了一种方便简洁的过渡结构,提高了GTEM室的性能;第三,对于低频测试的对数周期天线,相较于传统的对数周期天线,设计制作出了结构更简洁的印刷对数周期天线。

用于电磁兼容测量的GTEM小室

用于电磁兼容测量的GTEM小室
3.4 承受功率 承受功率由同轴连接头,匹
配电阻面阵及吸波材料的性能 决定。当GTEM小室用作EMS测试 时,它是影响场强最高限值的一 个指标。实际设计时,若需用大 功率的输入,则需对小室同轴连 接头,电阻面阵进行特殊的设 计。
4.GTEM小室的性能测试
关于GTEM小室性能的测试, 没有固定的标准。根据实践,可 采取如下方法:
2.GTEM小室的结构特点
GTEM小室如图1所示,外形 为四棱锥形,侧面安装屏蔽门, 锥顶处为50Ω同轴连接器,同轴 连接器内导体向锥底部膨大成三 角形金属芯板,低频时用50Ω的 电阻面阵匹配,高频时则以铺设 在底板上的微波吸收材料进行匹 配。内导体向顶板倾斜,以得到 较大的测试空间。
3.G T E M小室的主要技术指标及 设计注意事项 3.1 电压驻波比(VSWR)
CLC number:TM937
Document code:A
Article ID:1003-0107(2007)10-0078-04
1.前言
大部分国家对射频设备所产
智的方法是对噪声敏感部分电路 使用结构屏蔽以减少其他信号对
上,可以看作整个机架的一个组 件。PCB板上的辐射元件或者走
生的传导和辐射干扰的容许幅度 它的干扰。典型的例子是时钟合 线如果没有经过屏蔽处理就直接
4.1 驻波比测试
±3dB ±2dB ±1dB
图3 GTEM小室内某截面场 均匀性示意图
认证与标准
驻波比的测试一般用矢量网 络分析仪(如HP8510、HP8720 等),利用其时域驻波测量功能 可得到GTEM小室从锥顶到负载 方向上每一个横断面的波阻抗特 性。通常要求VSWR<1.5。
4.2 场均匀性测量 测试框图如图4: 测试时,在小室内部主测试

GTEM小室辐射发射自动测试的研究

GTEM小室辐射发射自动测试的研究
Ql NG a JANG a . i Ch o. I Qu n xn
( oeefMehn a ni e n Su es U wn@, N nn 10 6 hn ) Clg l o cai l gn r g, ot at n e i c E ei h af g20 9 ,C ia i
Ab t a t Th spa e n r d c s a GTEM elr d ae miso u o—t s ot r e e o d b h u h r s r c : i p ri to u e c l a it d e s in a t e ts f wa e d v lpe y t e a t o , wh c sb s d o b EW it a n tume ts fwa e d v l p n l to m.T t a u e tt e f e ih i a e n La VI vru lisr n ot r e eo me tpaf r hedaa me s r d a h e d-
维普资讯
20 0 6年第 2 第 3期 2卷
2 06. l 2 . 0 Vo - 2 No 3
电 子 机 械 工 程
Elcr e to—M e h nc l gn e i g c a ia En i e rn 1 9
GE T M小 室 辐 射 发 射 自动 测 试 的研究
有着很 好 的 使 用 前 景 。但 目前 开 阔场 ( A 仍 然 是 O T)
射总 功率 , 因此 被 称作 “ 功 率 法 ” 总 。对 于许 多简 单 的 已知 辐射 源 , 一 组 三个 正 交 位 置 上 ( 图 1 产 生 的 用 见 ) 电压 值就 足 以估算 出辐 射 的 总 功率 , 而对 于其 它 形 式 的 E T则 有 必要 测 量更 多位 置 上 的电压 值 , U 比如 6个 或 9个位 置甚 至 1 2个 位置 J 。文 中所 提到 的辐 射 发 射 自动 测 试 程 序 完全 支 持 多个 位 置 ( 过 3个 ) 超 的测

GTEM小室性能测试方法

GTEM小室性能测试方法
w el l de c i d sr be by t f r id e o t e— m a n i p an e。 v l ge t n n wa e a i he ou n ex s f i m do i m ed c ot a s a dig v r t o。 f d i unf r i an s edi el i mt o y d hil ng
采 用 G E 小 室 做 辐 射 电 磁 场 敏 感 度 试 验 , 由于 用 TM
G E 产 生 的 电 场 强 度 要 远 大 于 天线 产 生 的 场 强 ,所 以 用 比 TM
本文在介绍 G E 小室的原理及其应 用的基础上结合具 TM 体测试对 G E T M小 室性能测试 内容 、方法 做了详 细的探讨 ,

要 :文 章在 G E T M小 室 原理 及其 应用 的基 础上 详细 介绍 了 G E T M小 室 的性能 指标 ,并 结 合具 体 测试 给 出
了 GE T M4 室性 能测试 方法 。结果 表 明 ,能 这 、 四个指标 能够 较好 地反 映 G E 小室 的技术 性 能。 TM 关 键 字 :G E T M小 室 ;时域阻 抗 ;驻波 比 ;场 均匀 性 ;屏 蔽效 能屏
Sh i qing.W u Sh — h g ( c a ia— l(rncEn ie r gI s t t o X d a est ,S a x x a 1 0 ) u Zh — a u z on Me h nc l ee、o i gn ei n t ue f i inUnv ri t n i y h n i i l 7 0 71 l
并 对 影 响 因 素进 行 简要 分析 。
较小 的功率放大器可 以产生很强 的电场 。同时 ,用 G E T M小 室 做射频辐射 电磁场敏 感度试验不需要 用天线 ,所以可方便 地用 于 自动测试 。当信号源经过 放大后注入到 G E T M小室的

GTEM室测试系统GTEM

GTEM室测试系统GTEM

GTEM室测试系统GTEM-EMS产品简介:GTEM室射频辐射抗扰度测试系统是上海易湃科公司根据IEC/EN61000-4-3标准要求基于GTEM技术开发的射频抗扰度预检测测试系统,全系统性能可靠,操作便捷,测试效果堪与暗室比拟,目前已广泛应用于电力、通信、军工、质检等领域,为评定小型电子设备对辐射电磁场干扰敏感性建立有力的测试依据。

主要技术参数:工作频率范围:1~1000MHZ(可扩展至数GHZ)电压驻波比:VSWR ≤1.7时域阻抗:50Ω最大输入功率:1000W电场强度范围:0~200V/m(根据输入功率大小)主要特点:1.满足IEC/EN61000-4-3标准的测试规程对辐射抗扰度测试的要求;2.与暗室及开阔场相比,系统配置更加简化,操作方式更为便捷,可节省大量测试时间;3.在全频段拥有优异的电压驻波比(VSWR),可产生均匀且便于计算的电磁场。

系统组成:1.信号发生器2.高频功率放大器3.场强监视系统4.GTEM室体及配套设施5.操控软件RIS3000射频电磁场辐射抗扰度测试系统RIS3000射频电磁场辐射抗扰度测试系统,完全符合最新版本IEC 61000-4-3标准,频率范围80MHz -1GHz或3GHz或6GHz,测试电平可达10V/m@80%AM。

RIS3000由信号发生器、功放、定向耦合器、双通道功率计、场强表、高增益天线、测试软件等组成。

RIS-LAB测试软件,控制整个系统进行测试并产生报告,执行校准测试并存储数据。

系统可以手动或者全自动测试。

RIS-LAB能全自动监视被测物的状态,最多可以监视4个值。

另外,软件支持暗室均匀域的测试。

RIS-LAB还具有如下特点:∙支持暗室、GTEM小室、带状线等测试环境∙基于Windows的操作系统平台∙操作简单,在线帮助功能∙图形显示测试结果∙文件的导出功能,到word或者Excel文件∙步距,测试电压和频率范围能分别设置∙客户化修改的可能性。

gtem小室法标准

gtem小室法标准

gtem小室法标准GTEM小室法标准。

GTEM(Gigahertz Transverse Electromagnetic)小室法是一种用于电磁兼容性测试的标准方法,它能够模拟真实环境中的电磁场,对电子设备进行辐射和传导干扰测试。

GTEM小室法标准是为了保证电子设备在真实环境中能够正常工作而制定的,它对电磁辐射和传导干扰的测试要求严格,能够有效评估设备的电磁兼容性能。

GTEM小室法标准主要包括以下几个方面的内容:1. 小室结构和特性,GTEM小室通常采用六面体结构,其内部涂有吸波材料,能够有效减少内部反射和漏射,确保测试结果的准确性。

小室的尺寸和特性需要符合相关的标准要求,以保证测试的有效性和可靠性。

2. 测试频率范围,GTEM小室法能够覆盖从几十兆赫兹到几千兆赫兹的频率范围,适用于大多数电子设备的电磁兼容性测试。

在不同的频率下,测试方法和要求也会有所不同,需要根据具体的测试标准进行相应的调整和设置。

3. 测试方法和要求,GTEM小室法对电磁辐射和传导干扰的测试方法和要求进行了详细的规定,包括测试设备的设置、测试条件的控制、测试参数的测量和记录等方面。

这些要求旨在确保测试过程的科学性和严谨性,以得到可靠的测试结果。

4. 测试结果的评定,根据GTEM小室法标准,对测试结果进行评定时需要考虑设备在不同频率下的电磁兼容性能,包括辐射和传导干扰的抑制能力、抗干扰能力等方面。

评定结果需要符合相关的标准要求,以确保设备在真实环境中能够正常工作。

总的来说,GTEM小室法标准是一种科学、严谨的电磁兼容性测试方法,能够有效评估电子设备在真实环境中的电磁兼容性能。

遵循GTEM小室法标准进行测试,能够为设备的设计和生产提供重要的参考依据,确保设备能够符合相关的电磁兼容性要求,减少电磁干扰对设备正常工作的影响,保障设备的可靠性和稳定性。

因此,GTEM小室法标准对于电子设备行业具有重要的意义,对于提升设备的竞争力和市场认可度有着积极的作用。

用GTEM小室进行天线增益测量的研究概要

用GTEM小室进行天线增益测量的研究概要

用GTEM小室进行天线增益测量的研究0 引言在天线和通信发射设备的测试中,天线增益的测试是一个重要内容。

传统的方法需要将接收天线放置在自由空间或暗室中,同时需用标准参考天线。

理想的开阔试验场可作为最终判定测量结果的标准测试场地,其造价低于屏蔽暗室,是理想的电磁兼容测试场地。

但是随着广播、电视、无线通信技术的高速发展,空间电磁环境日趋复杂,这给开阔试验场的建造、选址以及使用带来了不少问题,适宜建造开阔试验场的场地已经很难发现了。

并且,由于开阔试验场位于室外,自然气候的影响使其不能全天候工作,这也制约了开阔试验场的广泛使用[1]。

电波暗室的建造成本相当高且在施工上有较大的难度,建设符合标准要求的暗室基本需要上百万元,且日常维护的费用昂贵,配套的测试系统的软硬件成本也是十分惊人,这样的庞大的开支是广大中小型企业和实验室所无法承担的,这也在很大程度上制约了电波暗室的推广前景[2]。

因此,需要一种相对简单、廉价的测试设备。

1 GTEM 小室的介绍1987 年,由瑞士Baden 市Asea Brown Boveri 公司电磁干扰控制中心的Konigstein D.和Hansen D 提出了吉赫横电磁传输室(GTEM 小室)[3][4],将TEM 小室改造成矩形锥同轴线结构,从而将工作频率提高到GHz 以上。

GTEM 小室实质上是同轴线的一种变形,也可以说是双导体导波系统,采用同轴及非对称矩形传输线设计原理,为避免内部电磁波的反射及产生高阶模式的谐振,总体设计为尖劈型[5]。

与电波暗室、半暗室比较,用GTEM 小室做天线测试的主要优点为能够较好的屏蔽外界电磁干扰,提供准确的电场强度值,且设备成本低廉、占地面积小。

其基本结构如所示。

所以,用GTEM 小室进行天线增益的测试是一个非常合适的选择。

2 用 GTEM 小室测试天线增益的方法2.1 测试原理在 GTEM 小室中进行天线增益的测试原理和方法为:用信号源在GTEM 小室端口输入已知的功率Pin,待测天线放在GTEM 小室确定位置上,天线的端口连接到频谱仪测试其输出功率,旋转天线的方位,记下最大方位上的天线的输出功率值Pout。

芯片集成电路电磁兼容测试技术

芯片集成电路电磁兼容测试技术

芯片集成电路电磁兼容测试技术摘要:当今,集成电路的电磁兼容性越来越受到重视,芯片电磁兼容(EMC)技术关乎整机电子系统及其周围电子器件的运行的安全可靠性,电磁兼容性。

电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范,降低电磁发射和增强抗干扰能力, 集成电路(IC)的电磁兼容性(EMC)的测试方法正受到越来越多的关注,文章基于国内外资料调研和课题组的研究成果, 介绍了器件级(IC)EMC测试方面的发展现状,测试标准,详细介绍了器件级(IC)主要的电磁兼容测试方法。

关键词:标准集成电路电磁兼容电磁辐射 GTEM小室TEM小室1、集成电路电磁兼容项目背景近年来,世界范围内电子产品正在以无线、便携、多功能和专业化的趋势快速发展,集成电路在数字电子产品与电子系统中越来越重要,使用的程度也在随着集成电路产业的发展不断加深,从摩尔定律提出至今,集成电路就基本保持每2年集成度翻一倍、但是价格却减半的发展趋势。

尤其是近些年来,IC 芯片的频率越来越高,所集成的晶体管数目越来越多, IC芯片自身的供电电压越来越低,加工芯片的特征尺寸进一步减小,越来越多的功能,甚至是一个完整的系统都能够被集成到单个芯片之中。

图1 IC发展总体趋势图2 IC性能发展趋势根据SEMI的分析报告,全球半导体市场从2015到2025年的预期份额,包括了各类型芯⽚所占的份额。

相⽚2015年的3427亿美元,预计在2025的市场份额将会达到6556亿美元,复合增长率为6.7%。

集成电路的快速发展,这为集成电路的大范围、多层次应用奠定了基础。

尤其在消费类产品领域,这种发展趋势尤为明显,各种数码类产品的普及就是很好的说明。

图3各类型芯⽚所占的份额图4 各尺寸芯⽚所占的份额这种快速发展也造成了电子系统电磁兼容性问题的日益突出,芯⽚复杂性、IO口的数量、⽚作频率、瞬态电流都会有所增加,这些发展均使得芯片级电磁兼容显得尤为突出,更高的集成度和使用密度,是片内和片外耦合的发生几率大大提高。

gtem小室 标准

gtem小室 标准

gtem小室标准GTEM小室是一种用于替代辐射发射和辐射敏感度测试的低成本测量设备,它的标准可能因制造商和应用领域而有所不同。

以下是部分GTEM小室标准的介绍:-型号:包括GTEM250、GTEM500、GTEM750、GTEM1000和GTEM1250等。

-输入功率:不同型号的GTEM小室的最大输入功率不同,如GTEM250的最大输入功率为250W,GTEM1000的最大输入功率为1600W。

-电源插座数量:不同型号的GTEM小室的电源插座数量不同,如GTEM250和GTEM500的电源插座数量为1个,GTEM1000和GTEM1250的电源插座数量为2个。

-外部尺寸:不同型号的GTEM小室的外部尺寸不同,如GTEM250的外部尺寸为115×64×44cm,GTEM1250的外部尺寸为600×330×220cm。

-门尺寸:不同型号的GTEM小室的门尺寸不同,如GTEM250的门尺寸为30×23cm,GTEM1250的门尺寸为100×100cm。

-EUT尺寸:不同型号的GTEM小室的EUT尺寸不同,如GTEM250的EUT尺寸为20×20×15cm,GTEM1250的EUT尺寸为100×100×85cm。

-测试体积:不同型号的GTEM小室的测试体积不同,如GTEM250的测试体积为15×15×10cm,GTEM1250的测试体积为75×75×42cm。

-隔板高度:不同型号的GTEM小室的隔板高度不同,如GTEM250的隔板高度为250mm,GTEM1250的隔板高度为1250mm。

-屏蔽性能:10kHz-10MHz的屏蔽性能。

辐射抗扰度测试

辐射抗扰度测试

4.辐射敏感度的测量
1)用GTEM小室的测量 优点:1.场强远大于天线的场强,价格低廉。用较小的 功率放大器可以产生很强的电场。 2.不需要天线,方便自动测试,减少了测试时 间,降低了对试验人员的技术要求。
4.辐射敏感度的测量
1.电场辐射敏感度测量 (1)测量设备 信号发生器;功率放大器;场探头;场强监视器;计算 机;测试软件;GTEM小室等 (2)电场敏感度测量方法 测量仪器的配置如图
辐射抗扰度测试
指导老师:陈洁 作者:胡力元11721297 时间:2011年12月16号
主要内容
1.抗扰度测量 2.抗扰度试验准则和一般测量方法 3.电磁兼容测试场地 4.辐射敏感度的测量 5.辐射抗扰度测试实质 6.测试案例分析 7.参考文献
1.抗扰度测量
抗扰度是指装置、设备或系统面临电磁骚扰不降低运行 的能力。 设备的抗扰度测试又称为设备的敏感度测试(EMS), 目的是测试设备承受各种电磁骚扰的能力。当设备由于 受到骚扰影响而性能下降时其性能判据可分为4级。
3.电磁兼容测试场地
4.横电磁波室(TEM Cell) 1974年 新型标准电磁场装置 美国国家标准局(NBS),克兰福尔德(M.L.Cranford) 本质:扩展的同轴传输线,在其内部可以传输均匀的横 电磁波以模拟自由空间的平面波。 TEM Cell的截面:矩形或正方形 外表导电性能良好的金属板构成的封闭体 电子设备电场辐射敏感度试验的理想装置(射频连续 波敏感度试验;脉冲波的敏感度试验)
3.电磁兼容测试场地
5.吉赫兹横电磁波室(GTEM Cell) 利用TEM Cell的可利用空间与其高端频率反射率成正比 的情况,是一种由TEM Cell与电波暗室混合而成的结构 形式。为避免内部电磁波的反射和谐振,外形上设计成 尖锥形。

GTEM小室性能测试方法

GTEM小室性能测试方法

VSWR
主测试段
图 6 GTEM Ce ll 小室的时域阻抗特性
4.3 场的均匀性测试
测 试 仪 器 为 Anritsu 公 司 的 MG3692A 信 号 发 生 器 和 LP- An ESCO Company 公 司 的 7405 全 向 电 场 探 头 , HP8563EC 频谱仪。
采用点频法对 GTEM Cell 传输室进行了场均匀性的测试 分析。点频法在 60MHz、300MHz、1GHz、1.5G Hz、2G Hz、 2.3G Hz 共六个频率点对传输室测试区的场分布进行了详细 的研究。需说明的是由于比较的是某一截面上各点场强值彼 此间的相对值,测试没有对所测的每一点场强值做电缆,场 强探头的损耗修正,只需保证同一截面所有点是在同一前提 下所测即可。表 1 是 300MHz 频点下两个截面的测试数据。
本文在介绍 GTEM 小室的原理及其应用的基础上结合具 体测试对 GTEM 小室性能测试内容、方法做了详细的探讨, 并对影响因素进行简要分析。
2 GTEM 小室原理及应用 2.1 GTEM 小室原理
GTEM (Gigahertz Transverse Electromagnetic) 小 室 实 质 上是同轴线的一种变形,也可以说是双导体导波系统,其内 导体是一个尺寸渐变的平板,外导体类似一个锥形喇叭天 线。由于小室芯板与底板设计张角很小,因而其内的球面波 可近似为平面波,从而产生了一个均匀的测试区域。GTEM 小室采用分布式无感电阻和吸波材料分别改善低频段与高频 段的匹配,当在其始端馈入激励功率时,GTEM 小室内就建 立起均匀的横电磁行波,这与自由空间远场区的电磁波特性 相同,并且被测试设备或样品“淹没”在电磁波中,因而能 够较好地模拟了自由空间中电磁场的环境;同时,GTEM 小 室与馈入室内的射频功率有如下固定的关系,从而易于对其 进行计算和控制。

gtem小室测量原理

gtem小室测量原理

gtem小室测量原理GTEM小室测量原理是一种广泛应用于射频电磁兼容性测试的技术。

它是一种用来模拟自由空间环境中电磁场的小室,通过控制边界条件和尺寸,使其产生均匀的电磁场分布,从而实现对被测设备的辐射和传导敏感性测试。

GTEM小室(Gigahertz Transverse Electro-Magnetic cell)是由一个金属导体构成的,其内部结构是一种特殊的波导结构。

它的形状可以是长方体、圆柱体或其他几何形状,其尺寸和边界条件的设计是为了满足特定的频率范围和辐射场强度要求。

GTEM小室的工作原理是通过在小室内部引入特定的电磁场分布,从而模拟自由空间中的电磁场。

在小室的一端,通过一个射频传输线将电磁信号引入小室内部,经过一系列的反射和干涉,最终形成一个均匀的电磁场分布。

被测设备放置在小室内部,通过测量其在电磁场中的响应,可以判断其辐射和传导敏感性。

GTEM小室的优点之一是其结构简单,易于制造和调整。

它不需要复杂的光学系统或机械结构,仅需通过合理设计的导体结构和边界条件即可实现预期的电磁场分布。

同时,GTEM小室还具有较宽的频率范围和辐射场强度范围,适用于不同类型的测试需求。

然而,GTEM小室也存在一些局限性。

由于边界条件和尺寸的限制,GTEM小室在特定频率范围内可能无法模拟自由空间中的电磁场分布。

此外,GTEM小室对被测设备的尺寸和形状也有一定的限制,需要根据具体的测试需求进行合理的设计。

GTEM小室测量原理是一种重要的射频电磁兼容性测试技术,通过模拟自由空间中的电磁场分布,可以评估被测设备的辐射和传导敏感性。

它具有结构简单、易于制造和调整的优点,适用于不同类型的测试需求。

然而,需要注意其频率范围和辐射场强度范围的限制,以及对被测设备尺寸和形状的要求。

一种有前景的辐射EMI测试方法--用GTEM小室做EMI测试

一种有前景的辐射EMI测试方法--用GTEM小室做EMI测试

一种有前景的辐射EMI测试方法--用GTEM小室做EMI测

陈志雨
【期刊名称】《电子质量》
【年(卷),期】2003(000)009
【摘要】文中简介了用GTEM小室做电磁兼容辐射EMI测试的方法、概念、现状和实际测试结果.通过对电偶极源,磁偶极源和一个实际雷达分机在GTEM室和开阔场的实际测试,证实了用GTEM室做辐射EMI预测试或预测试的可行性.
【总页数】2页(P32-33)
【作者】陈志雨
【作者单位】中国科学院电子学研究所,北京,100080
【正文语种】中文
【相关文献】
1.基于均值法的GTEM小室辐射EMI噪声提取 [J], 陈旸;赵阳;颜伟;夏欢;陈雪丽
2.用GTEM室做EMI测试的电小尺寸概念 [J], 薛谦忠;陈志雨
3.GTEM小室辐射发射自动测试的研究 [J], 秦超;蒋全兴
4.一种改进的开关电源传导EMI源阻抗测试方法 [J], 田志勇;李瑾
5.GTEM小室性能测试方法 [J], 舒志强;吴淑忠
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用GTEM小室做产品的辐射抗扰度和辐射骚扰发射的测量试验上海三基电子工业有限公司钱振宇作为替代户外开阔场而建立的电波暗室,因其性能完善而获得了广泛的应用,但由于造价和必须配备的设备昂贵,阻碍了它向中小企业的发展。

这里介绍的GETM小室又称吉赫芝(GHz)横电磁波室则是近十几年才发展起来的新型电磁兼容测试设备,它的工作频率范围可以从直流至数GHz以上,内部可用场区较大,尤其可贵的是小室本身与其配套设备的总价不算过于昂贵,能为大多数企业所接受。

因此GTEM小室国内取得了长足发展,成为企业对于外型尺寸不算太大的设备开展射频辐射电磁场抗扰度试验的首选方案。

1GTEM小室简介GTEM小室是根据同轴及非对称矩形传输线原理设计而成的设备。

为避免内部电磁波的反射和谐振,GTEM小室在外形上被设计成尖锥形,其输入端采用N型同轴接头,随后中心导体展平成为一块扇形板,称为芯板。

在小室的芯板和底板之间形成矩形均匀场区。

为了使球面波(严格地说,由N型接头向GTEM小室传播的是球面波,但由于所设计的张角很小,因而该球面波近似于平面波)从输入端到负载端有良好的传输特性,芯板的终端因采用了分布式电阻匹配网络,从而成为无反射终端。

GTEM小室的端面还贴有吸波材料,用它对高端频率的电磁波作进一步吸收。

因此在小室的芯板和底板之间产生了一个均匀场强的测试区域。

试验时,试品被置于测试区中,为了做到不因试品置入而过于影响场的均匀性,试品以不超过芯板和底板之间距离的1/3高度为宜。

图1是GTEM小室的外形(日本ELENA 电子有限公司产品)及典型的工作特性。

频率(GHz)频率(GHz)电压驻波比电场强度特性图1GTEM小室外形及典型工作特性2结构GTEM小室的结构简图见图2所示。

说明:1.将托架安装完毕后置于地面。

2.铝质板材通过铝的角型材用铆钉相连接,板材内部必须平整,无毛刺。

3.上、下板,前、后板通过螺钉安装成一个锥形腔体,形成测试空间放置在托架上。

4.芯板底部用非金属棒支撑,侧壁采用非金属棒支撑,防止芯板与锥形腔体外壁接触,发生短路。

5.吸波材料安装在吸波材料支撑架上,从锥形腔体的后部放入腔体。

6.芯板与锥形腔体外壁通过分布电阻相连,保证分布电阻接触良好,阻值准确。

7.锥形腔体后盖板将GTEM小室后部封闭,防止电磁波泄漏。

8.馈源头是一个采用氩弧焊焊接而成的整体,采用螺钉安装于锥形腔体前端,形成过渡部件。

9.将N型接头通过过渡部件(铜质)与芯板连接。

10.电源配电箱安装于GTEM小室靠近屏蔽门的侧壁上;电源滤波器安装于锥形腔体底部,通过接线板给GTEM室内供电。

11.试品进出线的通孔位于屏蔽门侧壁上,用于GTEM小室内设备的信号线、测试线进出。

12.通过单相电源线滤波器,并采用白炽灯给GTEM小室内提供照明。

3工作原理GTEM小室中的电场强度与从N型接头输入信号电压V成正比,与芯板距底板垂直距离h成反比:E=V/h在50Ω匹配的系统里,芯板对底板的电压与N型接头的信号输入功率之间的关系满足V=(RP)1/2=(50P)1/2故场强E=(50P)1/2/h如考虑实测值与理论值之间的差异,上式还应乘一个系数k,因此实际的电场强度是E=k(50P)1/2/h从上式可见,若在GTEM小室注入同样的功率,芯板的位置距底板的距离越近(h值越小),则可获得较大的场强;若产生同相的场强,较大空间处(h值越大)需要的输入功亦较大。

上述结论表明,对于较小的试品,我们可以把试品放在GTEM小室中比较靠前的位置,这样用比较小的信号输入功率,就可以得到足够高的电场强度。

注意,试品的高度不能超过选定位置芯板与底板间距的1/3。

4性能指标现以日本ELENA电子有限公司提供的GTEM小室为例(图3),在表1中给出了这些GTEM小室的主要技术特性。

图.3a日本ELENA电子有限公司所生产GTEM小室的外形尺寸图3b 在图11.3a 中各GTEM 小室的内部可用尺寸表1日本ELENA 电子有限公司GTEM 小室的主要技术特性型号EGT-250EGT-500EGT-750EGT-1100EGT-1750内部芯板最大高度275mm 550mm 750mm 1100mm1750mm ﹡1频率范围EMI 试验30MHz ~2GHzEMS 试验DC ~2GHz阻抗50ΩVSWR <1.8电磁场强度偏差≤±4db (在芯板高度的中心处)﹡2输入/输出连接器7/16mm 母插座(附N-R 转换用连接器)最大输入脉冲16kV最大输入功率60W 300W 450W 600W900W 可用试品的最大尺寸L 207mm 414mm 565mm 829mm1320mm W 207mm 414mm 565mm 829mm1320mm H 183mm 367mm 500mm 733mm1170mm 精密测试时的最大尺寸L 183mm 367mm 500mm 733mm1170mm W 183mm 367mm 500mm 733mm1170mm H 92mm 183mm 250mm 367mm583mm 3应用举例移动通信设备的发送与接收灵敏度试验车载电子设备及强电磁场的场测试车载电子设备和通用电子设备通用电子设备EMI/EMS 测试系统设备的EMI/EMS 测试5GTEM小室在电磁兼容测试中的应用5.1射频辐射电磁场抗扰度试验采用GTEM小室做射频辐射电磁场抗扰度试验的优点:·用GTEM产生的电场强度要远大于天线产生的场强,所以用比较小的射频功率放大器可以产生很强的电场,使得整个测试系统的价格大大降低。

这对尺寸不太大的设备来说,是一个非常好的射频辐射电磁场抗扰度试验方案。

·由于用GTEM小室做射频辐射电磁场抗扰度试验不需要用天线,所以可方便地用于自动测试,大大减少了测试时间,也降低了对试验人员的技术要求。

GTEM小室的射频辐射电磁场抗扰度试验的系统图见图4所示,主要由信号发生器、功率放大器、测试探头、智能场强计、计算机及测试软件、以及GTEM小室组成。

图4采用GTEM小室的射频辐射电磁场抗扰度测试系缆在图4中,当信号源经过放大后注入到GTEM小室的一端(通过N型同轴接头),就能在芯板和底板之间形成很强的均匀电磁场,放置在被测件附近的电场监视探头监测此场强,再经由计算机得到输入功率值,直接调节信号源以求达到所需求的场强值。

测控软件控制信号源以一定的步长进行辐射场的频率扫描。

另有视频监视器(摄像头安装在GTEM小室里面,图4中未画出,试验人员在GTEM小室外通过监视器)观测试品在射频电磁场干扰下的工作情况。

操作方法:①将试品及场探头置于GTEM小室内;②外接信号源,通过功率放大器,在GTEM小室内建立均匀电场;③确定测试频率范围及调制方法和调制深度;④调整信号源输出电平(注意,切勿超过功率放大器允许的最大输入电平);⑤通过场强监视计监测GTEM小室的场强,使之达到所需的强度;⑥重复③~⑤步骤,观测确定被试品的电磁辐射敏感度。

5.2试品的电磁骚扰辐射发射测试系统试品的电磁骚扰辐射发射值测试在理论上也能在GTEM小室内进行,这时小室内芯板和底板就代替暗室测试中的天线接收试品工作过程中产生的辐射骚扰。

GTEM小室的N型接头接干扰接收机,通过干扰接收机便能测试试品工作过程中电磁骚扰的辐射发射情况。

再通过计算机和处理软件,以定出试品辐射发射的测试结果。

注意,这里存在一个在GTEM 小室中的测试结果和开阔场或电波暗室测试结果的比对问题,从中找出规律(建立数学模型),进行必要的修正,而这也正是GTEM小室测试软件所要解决的问题。

另外,试品在GTEM小室中摆放的位置不同,造成芯板与底板之间相对距离的不同,也将是导致测试结果不同的关键因素,试验人员务必给以充分注意。

在GTEM小室内做试品电磁骚扰辐射发射试验的操作方法如下:1将被试品置于GTEM小室内;2外接干扰接收机,接收试品的辐射骚扰电平输出;3根据测试标准要求设置扫描频率的范围和检波方式及分辨率带宽;4干扰接收机测试被试品的辐射骚扰电平值;5通过计算机及软件进行数据处理,得到最终测试结果。

﹡﹡﹡注意,用GTEM小室无论是做射频辐射电磁场抗扰度试验,还是做试品本身工作中所产生的辐射电磁骚扰的发射试验,都有一个极化问题(在开阔场和电波暗室中做测试,是通过改变摆放天线的方向来实现的)。

在GTEM小室里的芯板和底板扮演了天线的角色,它们的位置是不能变化的,因此要想改变电场的极化方向,只能通过人为地改变试品相对芯板和底板的摆放方向来实现了。

﹡﹡﹡最后,将目前上海三基电子工业有限公司向社会公众推荐的GTEM小室射频辐射电磁场抗扰度测试系统介绍于下,供参考。

①系统外形②系统特点·采用GTEM小室的技术,构筑最经济实用的射频电磁场辐射抗扰度测试(符合GB/T17626.3和IEC61000-4-3标准)解决方案。

·全中文界面的操作软件,贴合标准设计,轻松实现测试过程自动化,并自动生成测试报告。

·技术领先与可靠性并重,全面整合产品资源,提供最优的系统配置。

③主要技术指标·测试频率范围:80MHz~1GHz(或2GHz)·最大测试场强:10V/m;30V/m·信号调制:1kHz调幅波,调制深度80%④场均匀性实测曲线(在6m长GTEM小室中的实测曲线)。

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