千分尺检定记录2008
千分尺内校记录表
千分尺内校记录表
（最新版）
目录
1. 千分尺内校记录表的概述
2. 千分尺内校记录表的作用和重要性
3. 如何正确填写和使用千分尺内校记录表
4. 千分尺内校记录表的注意事项
正文
千分尺内校记录表是一种用于测量工具的记录表格，主要用于记录千分尺的内部校准数据。千分尺是一种常用的测量工具，它能够精确地测量物体的长度、宽度和高度等尺寸，因此在工程、制造、科研等领域中具有重要的作用。而千分尺内校记录表则是保证千分尺测量精度的重要工具，它能够记录千分尺的校准数据，确保千分尺的测量结果准确可靠。
在使用千分尺进行测量之前，我们需要进行内部校准，并填写千分尺内校记录表。内部校准是指使用标准样品对千分尺进行校准，以确保其测量结果准确无误。而千分尺内校记录表则是记录这次校准的数据，包括校准的日期、校准人员、校准结果等，以便于日后查询和比对。
在填写千分尺内校记录表时，我们需要注意以下几点。首先，填写表格时应该按照表格的要求进行，确保填写的信息完整、准确。其次，填写表格时应该注意校准数据的记录，特别是校准结果的记录，这有助于我们了解千分尺的测量精度，并在必要时进行修正。
总的来说，千分尺内校记录表是保证千分尺测量精度的重要工具，它能够记录千分尺的校准数据，确保千分尺的测量结果准确可靠。
第1页共1页
千分尺校准教程
三、计量性能要求
表1 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量 mm
三、计量性能要求
3、测力 千分尺的测力（系指测量面与球面接触时
所作用的力）应为（5～10）N。 4、刻线宽度及宽度差
微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm，固 定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差 均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为 （0.20～0.30）mm，其宽度差应不大于 0.05mm
五、计量器具控制
3.10 测量面的平面度 对于新制的和修理后的千分尺，用二级平 晶以光波干涉法检定，将平面平晶的测量面 与千分尺测量面研合，调整平晶使测量面上 的干涉环或干涉带的数目尽可能少。外径千 分尺测量面不应出现2条以上，壁厚千分尺， 板厚千分尺不应出现5条以上，数显千分尺不 应出现1条以上相同颜色的干涉环或干涉带。 对于后续检定的可用刀口尺用光隙法检定
±4.5
2.5
400
425，450，475
±5
3
四、通用技术要求
1 外观 1.1 千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、 腐蚀，带礠或其他缺陷，标尺刻线应清晰、 均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完 整。
1.2 千分尺应附有调整零位工具，测量上 限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的 量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和 锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。
3.3.2 测微螺杆的径向摆动亦用杠杆千分 表检定。检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm 后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿 杠杆千分表测量方向加力2N～3N，然后在相 反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示 值的变化即为径向摆动。径向摆动的检定应 在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。
千分尺校准教程
175
200 225，250 275，300 325，350，375，400 425，450，475
±5
±5 ±6 ±7 ±9 ±11
2.5
3.5 3.5 3.5 4 5
三、计量性能要求
14.2 数显外径千分尺校对用量 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸 偏差和变动量应不超过表5规定。
三、计量性能要求
三、计量性能要求
7、微分筒锥面的端面与固定套管 毫米刻线的相对位置 当测量下限调整正确后，微分筒上 的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微 分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘 应相切，若不相切，压线不大于0.05mm， 离线不大于0.1mm。
三、计量性能要求
8、测量面的平面度 外径千分尺测量面的平面度度应补大于 0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平 面度应不大于1.5 μm。数显外径千分尺测量面 平面度应不大于0.3 μm。 9、数显外径千分尺的示值重复性 数显外径千分尺的示值重复性不大于1 μm。
五、计量器具控制
3 检定方法 3.1 外观 目力观察。 3.2 各部分的相互作用 手动试验和目力观察。 3.3 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动 一般情况下用手感检验测微螺杆的轴向 窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法 检定。
五、计量器具控制
3.3.1 测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分 表检定。检定时，杠杆千分表与测微螺杆测 量面接触，沿测微螺杆轴向方向分表返加力 3N～5N，如图7所示。杆杠千分表示值变化， 即为轴向窜动量。 3.3.2 测微螺杆的径向摆动亦用杠杆千分 表检定。检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm 后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿 杠杆千分表测量方向加力2N～3N，然后在相 反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示 值的变化即为径向摆动。径向摆动的检定应 在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。
千分尺校准教程
五、计量器具控制
3.10 测量面的平面度 对于新制的和修理后的千分尺，用二级平 晶以光波干涉法检定，将平面平晶的测量面 与千分尺测量面研合，调整平晶使测量面上 的干涉环或干涉带的数目尽可能少。外径千 分尺测量面不应出现2条以上，壁厚千分尺， 板厚千分尺不应出现5条以上，数显千分尺不 应出现1条以上相同颜色的干涉环或干涉带。 对于后续检定的可用刀口尺用光隙法检定 在距测量面边缘0.4mm范围内的平面度忽 略不计。
三、计量性能要求
10、数显外径千分尺任意位置时数 值漂移应不大于1 μm/h。 11 、两测量面的平面度 外径千分尺锁紧装置紧固与松开时， 千分尺两工作面的平行度均应不超过表 2规定。
三、计量性能要求
表2外径千分尺示值的最大允许误差及两侧量面的平面度
测量范围/mm 最大允许误差/μm 两测量面的平行度/μm
二、概述
• 千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测 力装置、锁紧装置和读数装置等组成。 如图所示：
二、概述
二、概述
二、概述
二、概述
二、概述
三、计量性能要求
1、测微螺杆的轴向串动和径向摆动 测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不 大于0.01mm。 2、测砧与测微螺杆测量面的相对偏移 测砧与测微螺杆 测量面的相对偏移 量应不超过表1规定。
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200 225，250 275，300 325，350，375，400 425，450，475
千分尺校准教程
175
200 225，250 275，300 325，350，375，400 425，450，475
±5
±5 ±6 ±7 ±9 ±11
2.5
3.5 3.5 3.5 4 5
三、计量性能要求
14.2 数显外径千分尺校对用量 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸 偏差和变动量应不超过表5规定。
三、计量性能要求
三、计量性能要求
5、指针与刻度盘的相对位置 板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住 刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上 表面至 刻线度盘表面的距离应不大于0.7mm。 指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值 应不大于0.05mm。 6、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻 线面的距离 微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的 距离应不大于0.4mm。
三、计量性能要求
10、数显外径千分尺任意位置时数 值漂移应不大于1 μm/h。 11 、两测量面的平面度 外径千分尺锁紧装置紧固与松开时， 千分尺两工作面的平行度均应不超过表 2规定。
三、计量性能要求
表2外径千分尺示值的最大允许误差及两侧量面的平面度
测量范围/mm 最大允许误差/μm 两测量面的平行度/μm
五、计量器具控制
3.8 微分筒锥面的端面棱边至固定套管 刻线面的距离 在工具显微镜上检定。也可用0.4mm的塞 尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定， 检定时在微分筒转动一周内不少于3各位置上 进行。 3.9 微分筒锥面的端面与固定套管毫米 刻线的相对位置 当测量下限调整正确后，使微分筒锥面 的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相 切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵向 刻线的偏移量。
千分尺的校准
千分尺的检定/校准作业指导书
依据：JJG21─2008千分尺检定规程
注意事项：
检定过程必须带手套，防止标准器生锈。标准器应放在干燥和温度适宜的检定室内，注意保持清洁，使用前应将各工作面用汽油擦试干净。每次使用完毕必须用汽油擦洗干净并涂上防锈油，放入盒内。检定条件：
温度（20±3）℃湿度：不超过70％RH
应将被检卡尺及量块等检定用设备同时置于平板或木桌上，其平衡温度3h。（根据测量范围～100mm）
外观：
标尺标记清晰，无目力可见的断线或粗细不均。数显千分尺数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象。各按钮功能稳定、工作可靠。各部分相互作用：
主要指微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳、无摩擦，在测力的作用下全程运行灵活，不得有卡住，或一段行程灵活、一段行程不灵活等现象。千分尺的锁紧装置作用要可靠，能保证测微丝杆运行到任何部位都能可靠止动；对大于300mm的千分尺可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，。
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：
测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01 mm。
一般情况下凭手感觉，左手拿住千分尺弓架，右手拿住活动套管
前后推拉和左右摆动，只要感到有活动量就说明测微螺杆有轴向窜动和径向摆动。
轴向串动用杠杆千分表检定。检定时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N～5N。杠杆千分表示值的变化，即为轴向窜动量。
径向摆动用杠杆千分表检定。检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿杠杆千分表测量方向加力2N～3N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化，即为径向摆动量。
千分尺检校规程
千分尺检校规程
1 范围本规程适用于本公司千分尺的内部检定。
2 引用文件本规程引用下列文
件：
GB/T 1216-2004 外径千分尺
GB/T 20919-2007 电子数显外径千分尺
JJG21-2008 千分尺检定规程
3 概述千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。如图1,2,3所示。千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种量具，主要用来测试各种外尺寸。
4 技术要求
4.1 外观
4.1.1 千分尺及其校对用的量杆不应有锈蚀、碰伤、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。
4.1.2 千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。
4.1.3 千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。
4.1.4 后续检定和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。
4.2 各部分相互作用
4.2.1 微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。
4.2.2 调零和锁紧装置的作用应切实有效。
4.2.3 带有表盘的千分尺，表针移动应灵活、无卡滞现象。
4.2.4 数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。
4.3 各部分相对位置
4.3.1 微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于0.4mm。
4.3.2 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，如不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。
千分尺测量面平行度的检定
千分尺测量面平行度的检定
作者：姜建波张旭东
来源：《魅力中国》2018年第47期
千分尺（本文指外径千分尺）测量面平行度的检定是JJG21-2008检定规程中重要的一项检定项目，而我们在日常的工作检查和技术交流中发现，有些计量检定员对规程的要求没有吃透，在检定的过程中没有准确把握其要领，影响了千分尺准确度的评定，笔者愿借贵刊一角谈谈对千分尺测量面平行度的检定，并与广大读者商榷。
一、千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定
目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定（0～100）mm四个规格的千分尺平行度。检定前先用绸布把千分尺测量面和平行平晶擦洗干净，然后依次把四块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，在微分螺杆工作面接近平行平晶时，用测力装置继续转动微分筒，使测量面与平行平晶接触，在测力作用下使平行平晶夹在两测量面之间。如图1所示。调整平行平晶，并不断转动测力装置，当平行平晶一侧的干涉带调整到最少时，而且两测量面接触平行平晶位置又在同一侧时，读取两边干涉带条数（或圈数）。紧固螺杆锁紧装置，再读取两边干涉带条数（或圈数），两次读数中以最多的那次计算出来的数值为这块平行平晶检定的平行度偏差。其余三块也按以上方法进行检定和计算。四块中以呈现干涉带总数最多的一块数值作为被检千分尺两测量面平行度偏差。而有的计量检定员当调整平行平晶一侧出现干涉带为最少后，在读取另一测量面干涉条纹时又去调整平行平晶，找出这一侧最少干涉条纹，然后把两侧的最少条纹加起来计算千分尺紧固前的测量结果，这是错误的。
千分尺检定作业指导书
千分尺检定作业指导书
1 范围
本规程适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25mm 的板厚、壁厚千分尺；以及分辨率为0.001mm，0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
2 目的
确保外径千分尺检定项目及人员的检定活动规范，并符合有效检定规程的要求。
3执行规程
JJG 21-2008 《千分尺检定规程》
4检定环境条件
检定千分尺的室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间均应符合规程表6规定，室内湿度：≤70%RH。
5使用的测量设备
4等的20块组量块；4等的8块组量块；大型工具显微镜；75mm的刀口尺；表面粗糙度比较样块；量仪测力仪；塞尺；2级平面平晶；万能测长仪；千分尺平行性检具。6使用前对标准器及配套设备的检查
6.1检定装置的标准器应定期送检。
6.2计量检定前,应仔细检查标准器及配套设备的状况,一切正常后方可使用，避免造成设备的意外损坏。
7检定前对被检仪器的检查
7.1被检仪器应保持清洁，不应有影响计量检定的附着物。
7.2被检设备应能正常工作。
8检定步骤
第1页共2页
淮南市计量测试研究所 HNJL-ZY-FF-CD-05
第2页 共2页 1 8.1 外观
8.2 各部分相互作用
8.3 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
8.4 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
8.5 测力
8.6 刻线宽度及宽度差
8.7 指针与刻线盘的相对位置
8.8 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
8.9 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
千分尺内校记录表
千分尺内校记录表
摘要：
1.千分尺内校记录表的概述
2.千分尺内校记录表的具体内容
3.千分尺内校记录表的作用和意义
正文：
千分尺内校记录表是一种用于记录千分尺内校过程的表格，它详细列出了内校的各项数据和结果。内校是高精度测量仪器如千分尺等必须进行的重要操作，它可以检测仪器的精度和稳定性，保证测量结果的准确性。
千分尺内校记录表通常包括以下几个部分：首先是表头，包括表格名称、千分尺型号、内校日期等信息；其次是内校数据，包括测量值、标准值、偏差值等；最后是内校结果，包括内校合格与否的判断以及内校人员的签名等。
千分尺内校记录表的作用和意义主要体现在以下几个方面：首先，它可以帮助我们了解千分尺的精度状况，及时发现并解决问题；其次，它为以后的维修和校准提供了依据，可以有效延长仪器的使用寿命；最后，它保证了测量结果的准确性和可靠性，提高了整个测量工作的质量和效率。
千分尺校验记录表
分
计量器具名称 型号/规
格 制造厂
外尺
径 mm
分 度
校准日期 下次校准
编号
本次校准
的校技准术地依 点：
实验室□
现 场
无明显缺 外观各部分相互作用 陷、顺畅
日期 JJG
21- 温度：
相对湿
校℃
度：
准
两测量面
平行度 校验尺寸 实测读数 实测偏差
标准允差
、可靠
项目 测力 测微螺杆轴向窜动 测微螺杆径向摆动
±2 um □
±3 um □ ±3 um □
注：关于
测量结果
不确定度
的说明：
依据
JJF1059-
1999测量
不确定度
评定与表
示
校准结论
□所校项 目合格
□按校准
结果使用
校准员：
结 果
核验员：
示值读数 示值误差ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
标准允差
(mm)
(um)
(um)
(标称值0～ 50）：±4□ (标称值50～ 100）：±5 (标称值100 ～150）:±6 (标称值150 ～200）:±7 (标称值200 ～250）:±8
量杆尺寸变动量（um)
量杆尺寸 偏差 （um）
标称值25，50mm:1 um □
5 标称值75mm:1.5 um □ 标称值100mm:2 um □
jjg 21-2008 《千分尺检定规程》
jjg 21-2008 《千分尺检定规程》
《千分尺检定规程》（JJG 21-2008）由国家质量监督检验检疫总局发布，于2008年3月25日发布，并于同年9月25日实施。该规程规定了千分尺的检定方法，适用于分度值为0.01mm，测量范围为（5-150）mm的内测千分尺及分度值为0.005mm、0.01mm，测量范围为（6-200）mm的孔径千分尺（三爪内径千分尺）的校准。
千分尺校准教程
三、计量性能要求
表1 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量 mm
三、计量性能要求
3、测力 千分尺的测力（系指测量面与球面接触时
所作用的力）应为（5～10）N。 4、刻线宽度及宽度差
微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm，固 定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差 均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为 （0.20～0.30）mm，其宽度差应不大于 0.05mm
±7
两测量面的平行度/μm 1.5 2.0 2.5 3 3.5 4 5
6
三、计量性能要求
12 示值误差 外径千分尺示值的最大允许误差应不超 过表2规定。 壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允 许误差应不超过±8μm。 数显外径千分尺示值的最大允许误差应 不超过表3规定 对于测量上限大于150mm的千分尺可只 检测微头示值误差，测微头各点相对零点的 示值最大允许误差不超过±3μm。
二、概述
• 千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测 力装置、锁紧装置和读数装置等组成。 如图所示：
二、概述
二、概述
二、概述
二、概述
二、概述
三、计量性能要求
1、测微螺杆的轴向串动和径向摆动 测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不
大于0.01mm。 2、测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
测砧与测微螺杆 测量面的相对偏移 量应不超过表1规定。
2008年检定规程
定价
24．00 24．00 30．00 24．00 26．00 26．00 26.00 24．00 22．00 32．00 26．00 30.00 24．00 24.00 30.00 30．00 50．00 24．00 40．00 24．00 26．00 30．00 24．00 24．00 22．00 24．00
2008 年检 定 规 程
书
名
定价
JJG18-2008 医用注射器
26.00
JJG21-2008 千分尺
28．00
JJG34-2008 指示表（指针式 数显式）
26．00
JJG110-2008 标准钨带灯
24．00
JJG140-2008 铁路罐车容积
32.00
JJG157-2008 非金属拉力压力和万能试验机
JJF1184-2007 热电偶检定炉温度场测试技术规范
JJF1185-2007 速度型滚动轴承振动测量仪校准规 范 JJF1186-2007 标准物质认定证书和标签内容编写 规则
定价
18.00 18.00 24.00 30.00 20.00 20.00 42．00
20．00 18．00 20．00 46.00 32．00 28.00 26.00 24.00
定价
28．00 24．00 26．00 28．00 24．00
28．00
千分尺校验记录表(参照模板)
千分尺校验记录表
1 外观和各部分相互作用：□合格□不合格2测微螺杆的轴向串动和径向摆动：
3 测砧与测微螺杆测量面的相对位移：
4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置：
5 数显外径千分尺任意位置时数值漂移：
6测力：
7工作面的平面度：
8两工作面的平行度：
9示值误差：
7校对用的量杆：
实测值（mm）：工作面的平行度（μm）：
检定/校准日期：年月日下次检定/校准日期：年月日根据检定结果准予该计量器具使用。
检定/校准员：核验员：
千分尺校准教程
千分尺校准教程
三、计量性能要求
表5 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量
标称尺寸/mm
尺寸偏差/μm
变动量/μm
25，50
±1.25
1
75
±1.5
1
100
±2
1
125，150，175
±2.5
1.5
200，225，250
±3.5
1.5
275，300
±4
2
325，350，375，
±7
千分尺校准教程
两测量面的平行度/μm 1.5 2.0 2.5 3 3.5 4 5
6
三、计量性能要求
12 示值误差 外径千分尺示值的最大允许误差应不超 过表2规定。 壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允 许误差应不超过±8μm。 数显外径千分尺示值的最大允许误差应 不超过表3规定 对于测量上限大于150mm的千分尺可只 检测微头示值误差，测微头各点相对零点的 示值最大允许误差不超过±3μm。
微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm，固 定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差 均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为 （0.20～0.30）mm，其宽度差应不大于 0.05mm
千分尺校准教程
三、计量性能要求
5、指针与刻度盘的相对位置 板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住 刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上 表面至 刻线度盘表面的距离应不大于0.7mm。 指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值 应不大于0.05mm。 6、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻 线面的距离 微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的 距离应不大于0.4mm。