千分尺检定记录2008

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千分尺内校记录表

千分尺内校记录表

千分尺内校记录表
(最新版)
目录
1. 千分尺内校记录表的概述
2. 千分尺内校记录表的作用和重要性
3. 如何正确填写和使用千分尺内校记录表
4. 千分尺内校记录表的注意事项
正文
千分尺内校记录表是一种用于测量工具的记录表格,主要用于记录千分尺的内部校准数据。

千分尺是一种常用的测量工具,它能够精确地测量物体的长度、宽度和高度等尺寸,因此在工程、制造、科研等领域中具有重要的作用。

而千分尺内校记录表则是保证千分尺测量精度的重要工具,它能够记录千分尺的校准数据,确保千分尺的测量结果准确可靠。

在使用千分尺进行测量之前,我们需要进行内部校准,并填写千分尺内校记录表。

内部校准是指使用标准样品对千分尺进行校准,以确保其测量结果准确无误。

而千分尺内校记录表则是记录这次校准的数据,包括校准的日期、校准人员、校准结果等,以便于日后查询和比对。

在填写千分尺内校记录表时,我们需要注意以下几点。

首先,填写表格时应该按照表格的要求进行,确保填写的信息完整、准确。

其次,填写表格时应该注意校准数据的记录,特别是校准结果的记录,这有助于我们了解千分尺的测量精度,并在必要时进行修正。

总的来说,千分尺内校记录表是保证千分尺测量精度的重要工具,它能够记录千分尺的校准数据,确保千分尺的测量结果准确可靠。

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千分尺内校记录表.pdf

千分尺内校记录表.pdf
千分尺内校周期检定计录千分尺类型校准员校准日期本厂编号测量范围分度值校准项目序号校准项目规程要求结果1外观无影响使用准确度的外观缺陷2各部分相互作用微分筒转动和测微螺杆的移动平稳无卡滞摩擦现象3测力手感无异样4标尺标记宽度和宽度差检定标尺标记宽度差应不大于003mm5示值误差检测示值误差不应超过5m结果判定千分尺内校周期检定计录
千分尺类型 本厂编号
千分尺内校周期检定计录
校准员
校准日期测Βιβλιοθήκη 范围分度值校准项目
序号
校准项目
规程要求
结果
1
外观
无影响使用准确度的外观缺陷
微分筒转动和测微螺杆的移动平
2
各部分相互作用
稳无卡滞摩擦现象
3
测力
手感无异样
4
标尺标记宽度和宽度差检定 标尺标记宽度差应不大于 0.03mm
5
示值误差检测
示值误差不应超过± 5μm
结果判定
千分尺内校周期检定计录

外径千分尺内校记录表

外径千分尺内校记录表

量具内校记录表(外径千分尺类)千分尺类型槽径千分尺校准员喻宇文校准日期年月日本厂编号测量范围mm 分度值mm 制造厂家出厂编号校准依据JJG21-2008千分尺检定规程校准地点质量部校准条件温度湿度校准时所用计量标准量块计量标准证书编号有效期2013 年月日校准项目序号校准项目规程要求结果1 外观无影响使用准确度的外观缺陷2 各部分相互作用微分筒转动和测微螺杆的移动平稳无卡滞摩擦现象3 测力手感无异样4 测量面的平面度普通的不大于0.6um 数显的不大于0.3 um5 数显千分尺的示值重复性不大于1um6 数显千分尺的细分误差不超过±2 um7 微分筒端面和固定套管刻线的相对位置压线小于0.05 mm 离线小于0.1 mm8 示值误差校准点(mm)A+5.12 A+10.24 A+15.36 A+21.50 A+25 误差(um)千分尺类型数显外径千分尺校准员喻宇文校准日期2012 年月日本厂编号测量范围mm 分度值mm 制造厂家出厂编号校准依据JJG21-2008千分尺检定规程校准地点质量部校准条件温度湿度校准时所用计量标准量块计量标准证书编号有效期2013 年月日校准项目序号校准项目规程要求结果1 外观无影响使用准确度的外观缺陷2 各部分相互作用微分筒转动和测微螺杆的移动平稳无卡滞摩擦现象3 测力手感无异样4 测量面的平面度普通的不大于0.6um 数显的不大于0.3 um5 数显千分尺的示值重复性不大于1um6 数显千分尺的细分误差不超过±2 um7 微分筒端面和固定套管刻线的相对位置压线小于0.05 mm 离线小于0.1 mm8 示值误差校准点(mm)A+5.12 A+10.24 A+15.36 A+21.50 A+25 误差(um)。

千分尺的校准

千分尺的校准

千分尺的检定/校准作业指导书依据:JJG21─2008千分尺检定规程注意事项:检定过程必须带手套,防止标准器生锈。

标准器应放在干燥和温度适宜的检定室内,注意保持清洁,使用前应将各工作面用汽油擦试干净。

每次使用完毕必须用汽油擦洗干净并涂上防锈油,放入盒内。

检定条件:温度(20±3)℃湿度:不超过70%RH应将被检卡尺及量块等检定用设备同时置于平板或木桌上,其平衡温度3h。

(根据测量范围~100mm)外观:标尺标记清晰,无目力可见的断线或粗细不均。

数显千分尺数字显示应清晰、完整,无黑斑和闪跳现象。

各按钮功能稳定、工作可靠。

各部分相互作用:主要指微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳、无摩擦,在测力的作用下全程运行灵活,不得有卡住,或一段行程灵活、一段行程不灵活等现象。

千分尺的锁紧装置作用要可靠,能保证测微丝杆运行到任何部位都能可靠止动;对大于300mm的千分尺可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅,。

测微螺杆的轴向窜动和径向摆动:测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01 mm。

一般情况下凭手感觉,左手拿住千分尺弓架,右手拿住活动套管前后推拉和左右摆动,只要感到有活动量就说明测微螺杆有轴向窜动和径向摆动。

轴向串动用杠杆千分表检定。

检定时,杠杆千分表与测微螺杆测量面接触,沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N~5N。

杠杆千分表示值的变化,即为轴向窜动量。

径向摆动用杠杆千分表检定。

检定时,将测微螺杆伸出尺架10mm后,使杠杆千分表接触测微螺杆端部,再沿杠杆千分表测量方向加力2N~3N,然后在相反方向加同样大小的力,此时杠杆千分表示值的变化,即为径向摆动量。

测力:用分度值不大于0.2N的专用测力计校准。

校准时,使测量面与测力计的球工作面接触后进行。

千分尺的测力应为(5~10)N微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置:当微风筒零刻线与固定套管纵刻线对准后,微风筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切,若不相切,压线不超过0.05mm,离线不超过0.1 mm。

千分尺校准规范

千分尺校准规范

菲恩(江门)科技有限公司千分尺校准规范文件编号:发布日期:实施日期:1、目的对内部的千分尺校准,确保准确度和实用性保持完好。

2、规范性引用文件本规范引用下列文件:JJG 21-2008 通用卡尺检定规程。

3、范围本规范适用于公司内部分度值为0.01mm,测量上限到500mm外径机械千分尺;测量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺;以及分辨力为0.001mm,0.0001mm,测量上限至500mm的数显千分尺校准。

4、校准条件校准测量范围不大于100mm的外径千分尺,其室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间,应符合5、通用技术要求5.1外观5.1.1千分尺及其校准用的量杆不应碰伤、锈蚀、带磁或其它缺陷,标尺刻线应清晰、均匀,数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。

5.1.2千分尺应有调整零位的工具,测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。

千分尺应具有测力装置,隔热装置和锁紧装置。

校对量杆应有隔热装置。

5.1.3千分尺应标有分度值、测量范围、制造厂商(或厂标)及出厂编号5.1.4后续校准和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。

4.2各部分的相互作用4.2.1微分筒传动和测微杆的移动应平稳无卡滞现象。

4.2.2可调或可换测砧的调整和装卸应顺畅,作用要可靠,调零和锁紧装置的作用应切实有效。

4.2.3数显外径千分尺,各工作按钮应灵活可靠。

6计量性能要求与校准方法5.1示值误差5.1.1外径千分尺示的最大允许误差不应超出表-2的规定:数显外径千分尺的示值得最大允许误差不应超出表-3的规定。

表-3数显外径千分尺示值的最大允许误差及量测量面的平行度。

深度千分尺校验规程

深度千分尺校验规程

深度千分尺校验规程1.0目的规范深度千分尺校验的操作,确保深度千分尺的测量精度处于受控状态,检验结果真实、可靠,以确保产品品质。

2.0范围本作业指导书适用于分度值为0.01MM,测量范围(0-100)MM的首次校准、后续定期检定、使用中发生异常时的内部校验。

3.0校验设备外校合格的标准量块。

4.0校准条件:环境温度:20℃±5℃相对湿度:≤80%校准前,应将被校深度千分尺及量块、表面粗糙度样块等校准用工具同时置于平板上。

5.0校验方法5.1深度千分尺是应用螺旋副传动原理将回转运动变为直线运动的一种量具。

深度千分尺由微分筒、固定套管、测量杆、基座、测力装置、锁紧装置等组成,如图1所示:5.2深度千分尺是机械制造业中用于测量工件的孔或槽的深度以及台阶高度的计量器具。

如图2所示,深度千分尺附件有校对用量具。

5.3先目测下尺身上是否有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕现象,各非工作面不应有镀层脱落现象,各刻线应清晰、均匀及影响准确度的其他缺陷,如有需用干布、酒精等擦拭干净或修复。

5.4校对用量具及可换测量杆应标注标称尺寸。

5.5各部分相互作用各活动部件的作用应灵活、平稳、无卡滞现象;零位的调整要保证顺利和可靠,锁紧装置的作用应切实有效;可换测量杆的更换要方便,紧固要可靠。

5.6用0.4mm的塞尺校微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离:微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。

5.7微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置:当测量下限调整正确后,微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时,微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切,若不相切,压线不大于0.05mm,离线不大于0.1mm。

5.8测量的表面粗糙度:用表面粗糙度比较样块以比较法进行校准,或用表面粗糙度仪进行校准,仲裁校准以表面粗糙度比较样块上的校准为淮。

5.9示值误差用量块在大理石上进行校准。

受检点应至少均匀分布于示值范围的5点,如5.12mm、1 0.14mm、15.36mm、21.5mm、25mm。

千分尺校验记录表

千分尺校验记录表

示值读数 示值误差
标准允差
(mm)
(um)
(um)
(标称值0~ 50):±4□ (标称值50~ 100):±5 (标称值100 ~150):±6 (标称值150 ~200):±7 (标称值200 ~250):±8
量杆尺寸变动量(um)
量杆尺寸 偏差 (um)
标称值25,50mm:1 um □
5 标称值75mm:1.5 um □ 标称值100mm:2 um □
校对量杆尺寸偏差
(um)
(mm)
(mm)
A+
N A+
mm A+
mm A+
mm 平行度误差(um)
mm
(um)
(um)
(标称值0~
50):2□ (标称值50~
100):3□ (标称值100
~150):4 (标称值150
~200):5 (标称值200
~250):6
示值误差
校准点 um
(mm) A+ A+ A+ A+ A+
±2 um □
±3 um □ ±3 um □
注:关于
测量结果
不确定度
的说明:
依据
JJF1059-
1999测量
不确定度
评定与表

校准结论
□所校项 目合格
□按校准
结果使用
校准员:
结 果
核验员:
微分筒锥面
标 (准5 ~≤ 0≤. 离0.
实 测
的端面与固
线
套筒毫米刻

线的相对位
线
测量面的平行度 ≤0.6um
注:(A: 为(A千=0分;2尺5; 5测0;量75范;1围0 示15值0m误m以 差,测微

2008千分尺规程宣贯

2008千分尺规程宣贯
16
用平行平晶检定千分尺两测量面平行度时应注意以下几方面的问题:
①当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,不能用力过猛,更不 能转动微分筒接触,否则加力不一样,会影响测量结果。
为±2μm。检定方法为1圈内检定12个点;标准中的方法为1圈检定25个点。
3.14检定结果的处理 由于校对用量杆尺寸偏差数值增大,规定检定结果的处理中应给出校对用量
杆实测值的最大值。
13
二、检定千分尺的注意事项和修理常识
1.注意事项
1.1由于千分尺准确度较高,检定前应先用溶剂汽油(如120号航空汽油)清洗测杆表面,用白府绸布仔 细擦净测量面。首先进行外观的检定,对使用中的千分尺发现测量面有毛刺或锈迹时,应采用油石打磨, 再使用平晶与测量面研合,应手感有研合力的存在。
JJG21-2008《千分尺》检定规程宣贯
2009年5月
1
千分尺检定规程解释 检定千分尺的注意事项和修理常识
2
一、千分尺检定规程解释
1.前言 分析介绍JJG21-2008《千分尺》检定规程与JJG21-95
《千分尺》检定规程的不同点和主要条款解释。 2.主要修订内容 ①格式②名词术语③10个条款的修订④新增3个条款⑤检 定方法 主要修订内容如下:
注:①相同测量条件是指:同一测量程序,同一计量器具,同一观测者,同一地点,同一
使用条件,在很短的时间间隔内重复。
②测量重复性可以用测量结果的分散性来定量表示。
贝塞尔公式: 示值变动性:
1
s( xi ) n 1
2
xi x
在相同条件下,对同一被测量进行多次(一般为5~10次)重复测量时,计量器具测量
1.4检定测量面平面度时,应首先用油石打磨千分尺测量面,然后使平晶工作面与被检千分 尺测量面轻轻接触观察千分尺测量面是否有毛刺或锈蚀,以免划伤平晶或检定不准确。检 定时使平晶工作面与被检千分尺测量面研合,应手感有研合力的存在,调整平晶使测量面 上的干涉环或干涉带的数目尽可能少。

2008年检定规程

2008年检定规程

JJG861-2007 酶标分析仪检定规程 JJG 874-2007 温度指示控制仪
JJG893-2007 超声多普勒胎心仪超声源
定价
26.00 20.00 24.00
24.00
22.00 20.00 22.00 24.00 24.00 22.00 24.00 26.00 22.00
16.00 18.00 26.00
定价
28.00 24.00 26.00 28.00 24.00
28.00
34.00
30.00 26.00 24.00 20.00 24.00 24.00 20.00 28.00 24.00 28.00 24.00 24.00 20.00
28.00 18.00 20.00 18.00 26.00 30.00 60.00
定价
24.00 24.00 30.00 24.00 26.00 26.00 26.00 24.00 22.00 32.00 26.00 30.00 24.00 24.00 30.00 30.00 50.00 24.00 40.00 24.00 26.00 30.00 24.00 24.00 22.00 24.00
24.00 24.00
册数
金额


JJF1198-2008 通信用可调谐激光源校准规范 JJF1199-2008 通信用光衰减器校准规范 JJF1200-2008 声频功率放大器校准规范 JJF1201-2008 助听器测试仪校准规范 JJF1202-2008 驻极体传声器校准规范 JJF1203-2008 电声产品(扬声器类)功率寿命试验 校准规范 JJF1204-2008TD-SCDMA 数字移动通信综合测试 仪校准规 范 JJF1205-2008 谐波和闪烁分析仪校准规范 JJF1206-2008 频率标准与数字时针的远程校准规范 JJF1207-2008 针规 三针校准规范 JJF1208-2008 沥青针入度仪校准规范 JJF1209-2008 齿轮齿锯测量仪校准规范 JJF1210-2008 低速转台校准规范 JJF1211-2008 激光粒度分析仪校准规范 JJF1212-2008 便携式动态轴重仪校准规范 JJF1213-2008 肺功能仪校准规范 JJF1214-2008 长度基线场校准规范 JJG(京)40-2008 停车场电子收费计时器 JJG(京)41-2008 可燃气体报警器

千分尺校准教程

千分尺校准教程
100 ~125,125 ~150 150 ~175,175 ~200 200 ~225,225 ~250 250 ~275,275 ~300 300 ~325,325 ~350 350 ~375,375 ~400 400 ~425,425 ~450 450 ~475,475 ~500
最大允许误差/μm ±2 ±3 ±3 ±4 ±4 ±5 ±6
千分尺校准教程
二、概述
• 千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测 力装置、锁紧装置和读数装置等组成。 如图所示:
千分尺校准教程
二、概述
千分尺校准教程
二、概述
千分尺校准教程
二、概述
千分尺校准教程
二、概述
千分尺校准教程
二、概述
千分尺校准教程
三、计量性能要求
1、测微螺杆的轴向串动和径向摆动 测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不
偏差和变动量应不超过表5规定。
千分尺校准教程
三、计量性能要求
表5 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量
标称尺寸/mm
尺寸偏差/μm
变动量/μm
25,50
±1.25
1
75
±1.5
1
100
±2
1
125,150,175
±2.5
1.5
200,225,250
±3.5
1.5
275,300
±4
2
325,350,375,
千分尺校准教程
三、计量性能要求
13 数显外径千分尺细分误差 数显外径千分尺数显装置的细分误差应不
超过±2μm。 14 校对用的量杆 14.1外径千分尺校对用的量杆 外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差
和变动量应不超过表4规定。

千分尺检定记录2008

千分尺检定记录2008
序号
检定项目
检定结果
1
外观
2
各部分相互作用
3
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
(mm)
4
测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
(mm)
5
测力
(N)
6
刻线宽度及宽度差
(mm)
7
指针与刻度盘相对位置
(mm)
8
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离
(mm)
9
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
压线:(mm)离线:(mm)
QT CD 66-2005
千分尺检定记录
证书NO:CD-共1页第1页
送样单位
电磁线
分度值
0.01 (mm)
制造厂
日本三丰
出厂编号
检定地点
本院
测量范围
0~25(mm)
检定温度
(℃)
相对湿度
(%)
检定前样品有效性检查
检定后样品有效性检查
检定用仪器使用前状态
检定用仪器使用后状态
本次检定所依据规程JJG 21-2008《千分尺》
检定:核验:检定日期:200年月日
注:表中A表示千分尺测量下限
10
测量面的平面度
固定测砧:(μm)
活动测砧:(μm)
11
数显外径千分尺的示值重复性
(μm)ห้องสมุดไป่ตู้
12
数显外径千分尺的示值任意位置时数值漂移
(μm)
13
两测量面的平行度
(μm)
14




受检点
(mm)
千分尺读数误差
(μm)
量块误差
(μm)

千分尺校准教程

千分尺校准教程
千分尺
千分尺检定规程(JJG21-2008) 千分尺的检定或校准
一、范围
• 本规程适用于分度值为0.01mm,测 量上限至500mm的外径千分尺;测量上限 至25mm的板厚、壁厚千分尺;以及分 辨力为0.001mm,0.0001mm,测量上限 至500mm的数显外径千分尺的首次检定、 后续检定和使用中检验。
三、计量性能要求
表1 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量 mm
三、计量性能要求
3、测力 千分尺的测力(系指测量面与球面接触时 所作用的力)应为(5~10)N。 4、刻线宽度及宽度差 微分筒刻线宽度为(0.08~0.20)mm,固 定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差 均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为 (0.20~0.30)mm,其宽度差应不大于 0.05mm
五、计量器具控制
使用平行平晶检定时,依次将4块厚度差 为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间,使量 测量面与平行平晶接触,转动棘轮机构,并 轻轻转动平晶,使两测量面出现的干涉环或 干涉带数目减至最少。分别读取量测量面上 的干涉条纹数,取两测量面上的干涉条纹数 目之和与所用光的波长值的计算结果作为两 测量面的平行度。利用平行平晶组中每一块 平行平晶按上速程序分别进行检定,取其中 最大值作为受检千分尺的两测量面平行度测 量结果。
四、通用技术要求
1.3 千分尺上应标有分度值、测量 范围、制造厂名(或厂标)及出厂编号。 1.4 后续检定和使用中检验的千分 尺及其校对用的量杆不应有影响使用准 确度的外观缺陷。
四、通用技术要求
2 各部分的相互作用 2.1 微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳 无卡滞现象。 2.2 可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅, 作用要可靠,调零和紧锁装置的作用应切实 有效。 2.3 带有表盘的千分尺,表针移动应灵活、 无卡滞现象。 2.4数显外径千分尺各工作按钮应灵活可 靠。

千分尺校验记录表

千分尺校验记录表

编号
本次校准
的校技准术地依 点:
实验室□
现 场
无明显缺 外观各部分相互作用 陷、顺畅
日期 JJG
21- 温度:
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
相对湿
校℃
度:

两测量面
平行度 校验尺寸 实测读数 实测偏差
标准允差
、可靠
项目 测力 测微螺杆轴向窜动 测微螺杆径向摆动
微分筒锥面
标 (准5 ~≤ 0≤. 离0.
实 测
的端面与固
线
套筒毫米刻
测微螺杆径向摆动测量面的平行度06um无明显缺计量器具名称测微螺杆轴向窜动外观各部分相互作用测力项目标准允差um平行度误差umum标准允差校对量杆标称尺寸mm校验部位校对量杆尺寸偏差um量杆尺寸变动量um2um3um3um标称值100mm


计量器具名称 型号/规
格 制造厂
外尺
径 mm
分 度
校准日期 下次校准
□按校准
结果使用
校准员:
结 果
核验员:

线的相对位
线
测量面的平行度 ≤0.6um
注:(A: 为(A千=0分;2尺5; 5测0;量75范;1围0 示15值0m误m以 差,测微
校对量杆 校验:
校对量杆标称尺寸(mm)
标准量块
尺寸
(mm)
标准量块
偏差
(um)
校验部位
123 4
校对量杆尺寸偏差
(um)
(mm)
(mm)
A+
N A+
mm A+
mm A+
量杆尺寸变动量(um)
量杆尺寸 偏差 (um)
标称值25,50mm:1 um □

千分尺内校记录表

千分尺内校记录表

千分尺内校记录表
【实用版】
目录
1.千分尺内校记录表的作用和意义
2.千分尺内校记录表的内容和结构
3.如何填写和使用千分尺内校记录表
4.千分尺内校记录表的注意事项
正文
千分尺内校记录表是一种用于测量工具的记录表格,主要用于记录千分尺的内部校准数据。

千分尺是一种常见的测量工具,用于测量物体的长度、宽度和高度等尺寸,其精度高达 0.01 毫米。

然而,在使用千分尺进行测量之前,需要对其进行内部校准,以确保其测量数据的准确性。

这时,千分尺内校记录表就派上用场了。

千分尺内校记录表的内容和结构相对简单,通常包括以下几个部分:
1.记录表的标题和编号:用于标识记录表的名称和编号,方便管理和查询。

2.测量工具的基本信息:包括千分尺的型号、编号、生产厂家等,以便于了解测量工具的基本情况。

3.校准数据记录栏:这是记录表的核心部分,用于记录千分尺的内部校准数据。

通常包括测量值、标准值、偏差值等栏目。

4.校准人员信息:记录校准人员的姓名和编号,以便于追踪和溯源。

5.校准日期和有效期:记录千分尺的校准日期和有效期,方便了解其使用时间。

在使用千分尺内校记录表时,需要注意以下几点:
1.填写记录表前,需要先对千分尺进行内部校准,确保其测量数据的准确性。

2.填写记录表时,需要认真核对测量数据,确保数据的准确性和一致性。

3.填写记录表后,需要妥善保管记录表,防止遗失或损坏。

4.当千分尺的使用寿命到期或测量数据出现异常时,需要及时重新进行内部校准,并重新填写记录表。

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检定:核验:检定日期:200年月日
注:表中A表示千分尺测量下限
10
测量面的平面度
固定测砧:(μm)
活动测砧:(μm)
11
数显外径千分尺的示值重复性
(μm)
12
数显外径千分尺的示值任意位置时数值漂移
(μm)
13
两测量面的平行度
(μm)
14




受检点
(mm)
千分尺读数误差
(μm)
量块误差
(μm)
受检点误差
(μm)
A
A+5.12
-0.12
A+10.24
-0.47
QT CD 66-2005
千分尺检定记录
证书NO:CD-共1页第1页
送样单位
电磁线
分度值
0.01 (mm)
制造厂
日本三丰
出厂编号
检定地点
本院
测量范围
0~25(mm)
检定温度
(℃)
相对湿度
(%)
检定前样品有效性检查
检定后样品有效性检查
检定用仪器使用前状态
检定用仪器使用后状态
本次检定所依据规程JJG 21-2008《千分尺》
序号
检定项目
检定结果
1
外观
2
各部分相互作用
3
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
(mm)
4
测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
(mm)
5
测力
(N)
6
刻线宽度及宽度差
(mm)
7
指针与刻度盘相对位置
(mm)
8
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离
(mm)
9
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
压线:(mm)离线:(mm)
A+15.36
-0.40
A+21.50
-0.02
A+25.00
+0.07
15
数显千分尺细分误差
受检点
mm
0.04
0.08
0.120.Leabharlann 60.200.24
0.28
0.32
0.36
0.40
0.44
0.48
误差
μm
16
校对用量杆
标称尺寸:mm
实际尺寸:mm
变动量:μm
结论
主要设备名称
量块
主要设备编号
640047A、780027A
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