Cp 制程能力指数

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制程能力指标

制程能力指标

制程能力指标制程能力指标是衡量制造过程稳定性和一致性的重要指标,对于企业来说具有重要的意义。

制程能力指标可以帮助企业评估其制造过程的质量水平,并提供改进的方向。

本文将从制程能力指标的定义、计算方法、作用以及如何提高制程能力等方面进行探讨。

一、制程能力指标的定义制程能力指标是用来度量制造过程是否在一定规格范围内运行的指标。

它可以反映制造过程的稳定性和一致性,即制造产品的质量水平。

常见的制程能力指标有Cp、Cpk、Pp和Ppk等。

1. Cp指数:Cp指数用于衡量制造过程的一致性,它是指过程能力指数与过程公差的比值,公式为Cp = (USL-LSL) / (6σ),其中USL 为上限规格限制,LSL为下限规格限制,σ为过程标准差。

2. Cpk指数:Cpk指数用于衡量制造过程的稳定性,它是指过程能力指数与过程公差的较小值,公式为Cpk = min(Cpu, Cpl),其中Cpu为过程能力指数上限,Cpl为过程能力指数下限。

3. Pp指数:Pp指数用于衡量制造过程的一致性,它是指过程能力指数与过程公差的比值,公式为Pp = (USL-LSL) / (6σ),其中USL 为上限规格限制,LSL为下限规格限制,σ为总体标准差。

4. Ppk指数:Ppk指数用于衡量制造过程的稳定性,它是指过程能力指数与过程公差的较小值,公式为Ppk = min(Ppu, Ppl),其中Ppu为过程能力指数上限,Ppl为过程能力指数下限。

三、制程能力指标的作用制程能力指标对企业的生产质量和效率具有重要的影响:1. 评估制造过程的稳定性和一致性。

通过制程能力指标的计算,企业可以了解制造过程是否稳定,以及产品是否能够在规定的公差范围内生产。

2. 提供改进的方向。

制程能力指标可以帮助企业确定制造过程中存在的问题和缺陷,并提供改进的方向,以提高产品质量和生产效率。

3. 与客户需求对接。

制程能力指标可以帮助企业了解客户的需求和期望,以便根据客户的要求来调整制造过程,提供符合客户需求的产品。

「cpk」过程能力指数附案例分析报告和改善要求措施

「cpk」过程能力指数附案例分析报告和改善要求措施

「CPK」过程能力指数,附案例分析和改善措施过程能力指数(Process capability index,CP或CPK),也译为工序能力指数、工艺能力指数、制程能力指数一、什么是过程能力指数过程能力指数也称工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。

产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。

对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。

若工序能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。

那么,应当用一个什么样的量,来描述生产过程所造成的总分散呢?通常,都用6σ(即μ+3σ)来表示工序能力:工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。

但是这个参数能否满足产品的技术要求,仅从它本身还难以看出。

因此,还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。

这个参数就叫做工序能力指数。

它是技术要求和工序能力的比值,即当分布中心与公差中心重合时,工序能力指数记为Cp。

当分布中心与公差中心有偏离时,工序能力指数记为Cpk。

运用工序能力指数,可以帮助我们掌握生产过程的质量水平。

二、过程能力指数的意义制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。

制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度,以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上,作为制程持续改善的依据。

当我们的产品通过了GageR&R的测试之后,我们即可开始Cpk值的测试。

CPK值越大表示品质越佳。

CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))三、过程能力指数的计算公式CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]四、过程能力指数运算方法过程能力指数运算有5种计算方法:直方图(两种绘图方法);散布图(直线回归和曲线回归)(5种);计算剩余标准差;排列图(自动检索和排序);波动图(单边控制规范,也可以是双边控制规范)。

CP和CPK详解(精辟)

CP和CPK详解(精辟)

此時數據越接近上限或下限越好﹔
D Cpk 用一个数值来表达制程的水准; < 0.67
制程能力太差,應考慮重新整改設計制程
此時數據越接近上限或下限越好﹔
对于只有规格上限和规格中心的规格:
某工序的規格要求為10±0.
Cpk和制程良率換算
Cpk
每一百件之不良 Defects per 100 parts
每一百萬件之不良(Dppm) Defects per million parts
9.995 10.014 9.928 9.983 9.972 10.016 9.992 9.987 10.025 9.972
9.981 9.971 9.914 9.976 10.054 10.003 10.027 9.995 10.021 9.975
9.963 10.095 10.017 9.968 10.159 9.994 10.018 10.001 9.987 10.002
单边规格:只有规格上限和规格中心或只有下限 或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分,或 浮高不得超过0.5mm等;此時數據越接近上限或 下限越好﹔
双边规格:有上下限與中心值,而上下限與中心值 對稱的规格;此时数据越接近中心值越好;如 D854前加工脚长规格2.8±0.2mm;
和Cpk相关的几个重要概念2
B 1.00 ≦ Cpk < 1.33 USL (Upper specification limit):即規格上限
此时数据越接近中心值越好;
改進為 A 級
C(某2)工制序程的能規力格指要数求是0為一.16种07±表0示≦. 制程C水p平k高<低的方1.便0方0法,其制实程 质作不用是良反映較制程多合, 格率必的高須低。提升其能力
Mini-SPC

CP和CPK详解(精辟)

CP和CPK详解(精辟)
USL (Upper specification limit):即規格上限 LSL (Low specification limit): 即規格下限 C:规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值
(n為樣本數) ▪ T=USL-LSL 規格公差
δ= (X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2
處理原則 無缺點考慮降低成本 狀態良好維持現狀 改進為 A 級 制程不良較多,必須提升其能力 制程能力太差,應考慮重新整改設計制程
Cpk的計算公式
Cpk=Cp x(1- Ca ); Cpk≦Cp; Cpk是Cp和Ck的綜合表現﹔
製程能力靶心圖
...
.
. .
.
..
Ca好﹐Cp差
....
9.981 9.971 9.914 9.976 10.054 10.003 10.027 9.995 10.021 9.975
9.963 10.095 10.017 9.968 10.159 9.994 10.018 10.001 9.987 10.002
9.947 10.034 10.021 10.026 9.973 9.983 10.005 10.017 10.006 9.943
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CPK基本知识
什么是 Cpk?
Cpk的定义:制程能力指數; Cpk的意义:制程水准的量化反映;
用一个数值来表达制程的水准;
(1) 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、 可靠性水平高的产品﹔

ca cp cpk计算公式

ca cp cpk计算公式

ca cp cpk计算公式CA(准确度)、CP(精密度)和 CPK(综合制程能力指数)是在生产制造和质量控制领域中常用的重要指标,对于确保产品质量和生产过程的稳定性起着关键作用。

咱先来说说 CA 吧,它其实就是测量值的平均值与规格中心值之间的差异。

比如说,咱有一批零件,规格中心值应该是 10 厘米,但是测量这堆零件的平均值是 9.8 厘米,那这中间差的 0.2 厘米就是 CA 啦。

CP 呢,反映的是制程的精密度。

还是拿刚才那批零件举例,如果零件的尺寸分布比较集中,那就说明精密度高,CP 值就大;要是尺寸分布很分散,那精密度就低,CP 值就小。

CPK 就更综合一些啦,它综合考虑了 CA 和 CP 。

CPK 值越大,说明制程能力越强,产品质量越稳定。

我记得有一次在一家工厂实习的时候,就碰到了关于 CPK 计算的事儿。

那是生产一种小型电子元件的车间,产品的规格要求非常严格。

当时有一批产品的质量不太稳定,大家都很着急。

工程师们就赶紧收集数据,计算 CA、CP 和 CPK 。

我跟着他们在车间里跑来跑去,一会儿测量零件尺寸,一会儿记录数据。

那场面,真是紧张又忙碌。

我们发现,有些零件的尺寸偏差比较大,CA 值明显偏离了规格中心,而 CP 值也不高,说明生产过程的精密度不够。

经过一番分析,原来是其中一台生产设备出了点小毛病,导致加工出来的零件尺寸不太稳定。

维修人员赶紧对设备进行了维修和调试,然后重新生产了一批零件。

再次测量和计算 CPK 后,发现数值有了明显的提升,产品质量也稳定了下来。

大家这才松了一口气。

通过这件事,我深刻地体会到了 CPK 计算公式的重要性。

它就像是一个诊断工具,能够帮助我们快速找出生产过程中的问题,从而采取有效的措施来改进。

在实际应用中,计算 CA、CP 和 CPK 并不复杂,但是要准确地收集数据和进行分析。

比如说,测量数据的时候一定要仔细,不能有误差。

而且要选择合适的样本数量,太少了不准确,太多了又浪费时间和成本。

质量管理用到的公式

质量管理用到的公式

质量管理用到的公式在质量管理中,有许多公式可以用于计算和评估质量的各个方面。

下面将介绍几个常用的质量管理公式。

1. 制程能力指数(Cp)和加工能力指数(Cpk):制程能力指数和加工能力指数是用来评估制程或加工过程的能力,以确定是否满足质量要求。

计算公式如下:Cp=(USL-LSL)/(6*标准差)Cpk = Min(Cpu,Cpl)其中,USL是上限规格限,LSL是下限规格限,标准差是统计数据的标准差,Cpu是过程能力指数的上限,Cpl是过程能力指数的下限。

2.不良品率(DPPM):不良品率是描述单位产品或过程中的不良品数量的指标,通常以每百万单位产品(DPPM)的方式表示。

计算公式如下:3.检出率(DR):检出率是指在进行质量检验时,能够正确判定产品是否合格的能力。

计算公式如下:DR=(合格品数量/总样本数量)*1004. 合格品率(Yield):合格品率是指生产过程中生产出的合格产品占总产品数量的百分比。

计算公式如下:Yield = (合格产品数量 / 总产品数量) * 1005. 效能(Efficiency):效能是指生产过程中实际生产的产品数量与理论最大产能之间的比率。

计算公式如下:Efficiency = (实际生产数量 / 理论最大产能) * 1006. 效益(Effectiveness):效益是指实际生产的产品数量与计划生产的产品数量之间的比率。

计算公式如下:Effectiveness = (实际生产数量 / 计划生产数量) * 1007. 效率(Productivity):效率是指单位时间内实现的产量与所需资源之间的比率。

计算公式如下:Productivity = (产量 / 资源消耗) * 1008.成本绩效指数(CPI)和进度绩效指数(SPI):成本绩效指数和进度绩效指数是用于评估项目的成本和进度表现的指标。

计算公式如下:CPI=挣值(EV)/实际成本(AC)SPI=挣值(EV)/计划值(PV)其中,挣值(EV)是实际完成工作的预算成本,实际成本(AC)是实际花费的成本,计划值(PV)是计划的预算成本。

Cpkcpca计算方法

Cpkcpca计算方法

1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp 两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(U). 规格公差T=规格上限-规格下限;规格中心值U=(规格上限规格下限)/2;8. 依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) ,计算出制程准确度:Ca值 (X为所有取样数据的平均值)9. 依据公式:Cp =T/6σ ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A 级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A 级 2.0 >Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级 1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级 1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级 0.67 > Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

CPK过程能力指数

CPK过程能力指数

过程能力指数(Process capability index,CP或CPK),也译为工序能力指数、工艺能力指数、制程能力指数什么是过程能力指数过程能力指数也称工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。

产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现。

对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。

若工序能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。

那么,应当用一个什么样的量,来描述生产过程所造成的总分散呢?通常,都用6σ(即μ+3σ)来表示工序能力:工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。

但是这个参数能否满足产品的技术要求,仅从它本身还难以看出。

因此,还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。

这个参数就叫做工序能力指数。

它是技术要求和工序能力的比值,即当分布中心与公差中心重合时,工序能力指数记为Cp。

当分布中心与公差中心有偏离时,工序能力指数记为Cpk。

运用工序能力指数,可以帮助我们掌握生产过程的质量水平。

过程能力指数的意义制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。

制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度,以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上,作为制程持续改善的依据。

当我们的产品通过了GageR&R的测试之后,我们即可开始Cpk值的测试。

CPK值越大表示品质越佳。

CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))过程能力指数的计算公式CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]过程能力指数运算方法过程能力指数运算有5种计算方法:•直方图(两种绘图方法);•散布图(直线回归和曲线回归)(5种);•计算剩余标准差;•排列图(自动检索和排序);•波动图(单边控制规范,也可以是双边控制规范)。

制程能力指数

制程能力指数

製程能力指數Process Capability Index, C pk何謂Cpk呢﹖即所謂製程能力指數﹝Process capability index─傳統上簡稱為Cp﹞,係統計製程管制SPC的一個很重要的指標。

代表著我們產品製程的品質有多好或不良率是多少。

而時下流行的Cpk只是對舊有的Cp做了中心值的修正。

上邊的圖示是以Minitab軟體計算得來.其中製程能力指標Cpk電子業一般要求1.33, 即不良率63ppm(每百萬個產品中有63個不良品),但一些較先進的公司要求1.5即3.4ppm(如MOTOROLA).甚至1.67即0.57ppm(如GM,Ford,Chrysler全美三大汽車廠).Cp較嚴格的要求則為2.一般說來Cp 比k重要,因為k值不佳很可能只要調整機器設定參數即可解決,但Cp差則是製程變異太大;變異是製程品質的大敵,較難以克服.需要注意的是傳統上Cp時代,我們對製程能力指數的要求是Cp=1,易言之,良品率是99.73%,而多年前Cpk出現時要求的是Cpk=1.33,而這兩年則要求提升到Cpk=1.67。

而當Cpk=1.63時即可進入個位數的PPM世界。

公差TCpk=( 1 - K ) * --------------- = ( 1 - K ) *-------------六倍標準差6* σ為了能有較好的製程能力,C pk最好能大於1。

關於這個理由我們可以從Figure 8 看出,當C pk接近1時,良率會接近100%;相反的,當C pk等於0.5時,良率會掉到80%。

當C pk小於1時,我們需要採取矯正措施,C pk等於1時,表示製程是可以接受的(Good);當C pk等於2時,表示製程是非常好的(Great)。

很多的時候我們都盡力希望C pk能達到1.33,因為他代表製程平均與最近的規格界限差距為4個σ。

當現存於製程中的自然變異(6σ)剛好等於規格公差時(USL-LSL),我們就必須花較多的心力去維持製程平均的穩定性以及持續減少自然變異的大小;相反的如果自然變異小於規格公差那麼我們就只需花較少的心力去留意製程平均是否有在製程中心。

Cpk、Cp和Ca之关系

Cpk、Cp和Ca之关系

Cpk、Cp和Ca的计算方法:1.Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估是一类指标。

2.同Cpk息息相关换的两个指数:Ca和Cp。

Ca:制程准确度 Cp:制程精密度3.Cpk、Cp和Ca三者的关系:Cpk=Cp*(1-∣Ca∣),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)。

4.当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5.计算取样数据至少应有20-25组数据,方具有一定代表性。

6.计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL和LSL),才可顺利计算其值。

7.首先可用Excel的“STDEVV”函数自动计算所取样数据的标准差(),再计算出规格公差(T),及规格中心值(U)。

规格公差T=规格上限-规格下限;规格中心值U=(规格上限+规格下限)/28.依据公式:Ca=(X-U)/(T/2),计算出制程准确度Ca值,其中,X为所有取样数据的平均值。

9.依据公式:Cp=T/6,计算出制程精密度Cp值。

10.依据公式:Cpk=Cp*(1-∣Ca∣),计算出制程能力指数Cpk值。

11.Cpk的评级标准:可据此标准对制程能力指数做相应对策。

A++级:Cpk≥2.0,特优,可考虑成本的降低;A+级:2.0>Cpk≥1.67,优,应对保持;A级:1.67>Cpk≥1.33,良,能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级;B级:1.33>Cpk≥1.0,一般,状态一般,制程因素稍有变异既有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级。

C级:1.0>Cpk≥0.67,差,制程不良较多,必须提升其能力。

D级:0.67>Cpk,不可接受,其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

CP和CPK详解 - 打印版

CP和CPK详解 - 打印版

C
T /2
Cp=
USL-LSL
Cpu=
Cpl=
USL- X X LSL
Cpk
Cpk = Cp x (1- Ca )

|Ca|≤12.5% 12.5%<|Ca|≤25% 25%<|Ca|≤50% 50%<|Ca| 1.67 ≤ Cp 1.33 ≤ Cp <1.67 1 ≤ Cp <1.33 0.67 ≤ Cp <1 Cp < 0.67 1.67 ≤ Cpk 1.33 ≤ Cpk <1.67 1 ≤ Cpk <1.33 0.67 ≤ Cpk <1 Cpk < 0.67
Cpl= Cp=
X
LSL
பைடு நூலகம்
对于双边规格:
USL-LSL
Management
什么是Cp? Cp等级评定及处理原则 等级
A+ A B C D
Cp值
≧1.67 1.33 ≦ Cp < 1.67 1.00 ≦ Cp < 1.33 0.67 ≦ Cp < 1.00 Cp < 0.67 无缺点考虑降低成本 状态良好维持现状 改进为 A 级
Ca等级评定及处理原则
X C Ca = T /2
Management
什么是Cp? 什么是Cp? Cp:制程精密度 (Capability of Precision)
Cp 衡量的是“规格公差宽度”与“制程变异宽度”之比例;
对于只有规格上限和规格中心的规格:
Cpu=
USL- X
对于只有规格下限和规格中心的规格:
LSL(Low specification limit)
C X = (X1+X2+… …+Xn)/n
: 规格下限
: 规格中心 : 平均值 (n为样本数)

制程能力(CPK PPK)

制程能力(CPK PPK)
• =0.0192, USL=3.6, LCL=3.4,
Cpk min( 1.07 3.6 - 3.538 3 0 . 0192 ,
X 3.538
3 . 538 3 . 4 3 0 . 0192
) min(1.07,2
.39)
19
制程性能指数:
PPK:性能指数(长期) PPK系依据长期数据的收集,而计算所得能 力指数。数据来源于长期(一般认为三个月 或以上) 注:在有的文献中,初始能力指数亦用PPK 表示。
3
制程能力的概念 :
准确度 Ca :

实际中心点与规格中心点 的差异称为准确度 制程上,实际中心与规格 中心的差异愈小,准确度 愈高,制程愈理想
A制程 : 准确度越高, 制程越理想
准确度

B制程 :
准确度越低, 制程越不理想
4
制程能力的概念 :
精确度Cp :


品质特性的散布 范围大小或集中 度称为精确度 在制程上,散布 范围(或称变异) 愈小,精确度愈 好,制程愈理想。
规格下限
规格上限
24
制程能力与不良率 :
CPK与不良率的对照表(不偏移):
CPK 0.33 0.67 1.00 1.33 1.67 2.00 百分比 68.27% 95.45% 99.73% 99.9937% 99.999943% 99.9999998% 不良率(PPM) 317300 45500 2700 63 0.57 0.002
2 2
7 1 80 . 71 40 3 3 . 039 4 . 47
3 . 039
16
制程能力综合指数 :
Cpk的介绍 :

什么是CPK

什么是CPK

什么是CPK?CP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写汉语译作工序能力指数,也有译作工艺能力指数过程能力指数。

工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。

对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。

若工序能力越高则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。

Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp = ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 >Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A级1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级0.67 >Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

CPK(制成能力指数)介绍

CPK(制成能力指数)介绍

1、何谓CPK?制程能力指数﹝Process capability index─传统上简称为Cp﹞,系统计制程管制SPC的一个很重要的指标。

代表着我们产品制程的质量有多好或不良率是多少。

自从1950年代SPC普及以来,大抵使用Cp这样的一个能力指数来反映质量水平的状况。

但随着时间的推移,电子产业的兴起,以前的质量水平不良率以百分比%为单位就足以胜任,因为电子组件的数量庞大,百分比的不良率不敷使用,所以演化成以PPM为不良率的单位。

同时更自1980年代因为美国的汽车产业也不堪日本汽车业的竞争,从而将制程能力指数修正成Cpk,近年来电子产业多以追求Cpk为准。

传统品管上针对这个问题是以Ca处理,但通常都带过未加以刻意强调。

而时下流行的Cpk只是对旧有的Cp做了中心值的修正。

需要注意的是传统上Cp时代,我们对制程能力指数的要求Cp=1,易言之,良品率是99.73%,而多年前Cpk出现时要求的是Cpk=1.33,而这两年则要求提升到Cpk=1.67。

而当Cpk=1.63时即可进入个位数的PPM世界。

2、CPK应用检查重点一般来说,当量测数据收集到之后,就需要将这笔数据的制程平均值μ以及制程变异数σ两个值画在图表上。

当图表画好后,就可以将这些数值与规格界限作比较。

我们知道,大约有68.26%的量测数据会落在平均值上下一个σ之内,大约95.44%的数据会落在平均值上下二个σ之内,大约99.73%的制程数据则会落在平均值上下3个σ之内(见Figure 4.),制程能力的观念就是将自然变异(6σ)与规格公差(USL-LSL)作比较。

制程能力是由以下三个主要因素构成:设计的公差(The Design Specification)制程中心(Mean,μ)变异的大小(Sigma,σ)制程能力指数,Cp,就是将上下规格界限的差异(USL-LSL)与制程变异 (6σ)作比较。

99.7%的数据会落在 3个标准偏差之内。

我们以Push Pull为例(见Figure 5),其制程能力指数,Cp,的记算方式如下:C=(USL-LSL)/6σp从图上可看出上规格界限(USL)为0.07,下规格界限(LSL)为0.04,母体标准偏差为0.005。

CPK计算公式

CPK计算公式

C P K计算公式-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1什么是CP和CPK(工序能力指数) CP(或CPK)是英文Process Capability index缩写,汉语译作工序能力指数,也有译作工艺能力指数过程能力指数。

工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。

对于任何生产过程,产品质量总是分散地存在着。

若工序能力越高,则产品质量特性值的分散就会越小;若工序能力越低,则产品质量特性值的分散就会越大。

那么,应当用一个什么样的量,来描述生产过程所造成的总分散呢通常,都用6σ(即μ+3σ)来表示工序能力:工序能力=6σ若用符号P 来表示工序能力,则:P=6σ式中:σ是处于稳定状态下的工序的标准偏差工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。

但是这个参数能否满足产品的技术要求,仅从它本身还难以看出。

因此,还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求(公差、规格等质量标准)的程度。

这个参数就叫做工序能力指数。

它是技术要求和工序能力的比值,即工序能力指数=技术要求/工序能力当分布中心与公差中心重合时,工序能力指数记为Cp。

当分布中心与公差中心有偏离时,工序能力指数记为CPK。

运用工序能力指数,可以帮助我们掌握生产过程的质量水平。

工序能力指数的判断工序的质量水平按Cp值可划分为五个等级。

按其等级的高低,在管理上可以作出相应的判断和处置(见表1)。

该表中的分级、判断和处置对于CPK也同样适用。

表1 工序能力指数的分级判断和处置参考表 Cp值级别判断双侧公差范(T) 处置 Cp> 特级能力过高 T>106 (1)可将公差缩小到约土46的范围 (2)允许较大的外来波动,以提高效率 (3)改用精度差些的设备,以降低成本 (4)简略检验≥一级能力充分 T=86—106 (1)若加工件不是关键零件,允许一定程度的外来波动(2)简化检验 (3)用控制图进行控制≥Cp> 二级能力尚可 T=66—86 (1)用控制图控制,防止外来波动 (2)对产品抽样检验,注意抽样方式和间隔 (3)Cp—1.0时,应检查设备等方面的情示器≥Cp> 三级能力不足 T=46—66 (1)分析极差R过大的原因,并采取措施(2)若不影响产品最终质量和装配工作,可考虑放大公差范围 (3)对产品全数检查,或进行分级筛选 >Cp 1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式 Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为: Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp *( 1 -┃Ca┃),Cpk 是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4。

Cp与Cpk的计算公式

Cp与Cpk的计算公式

1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为: Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp *( 1 -┃Ca┃),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4。

当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5。

计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6。

计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7。

首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u)。

规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8。

依据公式:Ca=(X…-U)/(T/2),计算出制程准确度:Ca值9。

依据公式:Cp =T/6Sigma ,计算出制程精密度:Cp值10。

依据公式:Cpk=Cp*(1-绝对值Ca),计算出制程能力指数:Cpk值11。

Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2。

0 特优可考虑成本的降低A+级 2。

0 >Cpk ≥ 1。

67 优应当保持之A 级 1。

67 >Cpk ≥ 1。

33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级 1。

33 >Cpk ≥ 1。

0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级 1。

0 >Cpk ≥ 0。

67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级 0。

67 > Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。

CPK

CPK

什么叫做怎么定义?应该问你数据是如何取的啊。

分几组,每组多少个数据。

每组的数据个数就是子组大小啊。

CPK不用了组啊,只有SPC时才用Cpk样品总数:是进行计算的测量数据的个数总和;子组数:是进行计算的组数;子组大小:每组包含的测量数据个数;CP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写汉语译作制程能力分析指数,也有译作工艺能力指数过程能力指数。

制程能力分析指数是用来度量一个过程满足顾客要求的程度。

顾客的要求可以用规范限来表示。

1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

计算方法:min[(mean-lsl)/3σ,(usl-mean)/3σ)],σ表示Sst(短期)=R/d2。

含义就是:CPK表示某个子组内的过程稳定性,2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca 反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:,计算出制程准确度:Ca值9. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 >Cpk ≥1.67 优应当保持之A 级1.67 >Cpk ≥1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级1.33 >Cpk ≥1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 >Cpk ≥0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级0.67 >Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

CPK,查表和算数法

CPK,查表和算数法

CPK,查表和算数法
Cpk(Process Capability Index)的定义:制程能力指数;
Cpk的意义:是制程水平的量化反映,用来表达制程的水平。

制程能力指数:是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程
合格率的高低。

Cpk计算公式:CPk=Cp×[1-ABS(Ca))
Ca(Capability of Accuracy):制程准确度;
Cp(Capability of Precision):制程精密度;
注意:计算Cpk时,取样数据至少应有20组数据,方具有一定代表性。

1、单边规格:只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分,或浮高不得超过0.5mm等;此时数据越接近上限或下限越好﹔
2、双边规格:有上下限与中心值,而上下限与中心值对称的规格;此时数据越接近中心值越好;如D854前加工脚长规格2.8±0.2mm;
USL(Upper Specification Limit):即规格上限;
LSL(Low Specification Limit):即规格下限;
C(Center Line):规格中心;
X=(X1+X2+n+Xn)/n平均值;
(n为样本数)
T=USL-LSL:即规格公差;
δ(sigma)为数据的标准差
(Excel中的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ))。

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製程能力指數
製程準確度Ca
製程精密度Cp
製程能力Cpk
估計不良率ppm 計量值公式
統計數值
直方圖
製程能力分析圖
X-R管制圖
XMED-R管制圖
X-s管制圖
X-Rm管制圖
計數值公式
推移圖分析
p 管制圖
1-p管制圖
np管制圖
c管制圖
u管制圖
dppm管制圖
附錄
柏拉圖
抽樣分配常數表
管制界限係數製程精密度Cp(Caoability of Precision)
製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL(精密度;Precision):表示製程特性的一致性程度,值越大越集中,越小越分散。

或:雙邊能力指數(長期)
:雙邊績效指數(短期)
:單邊上限能力指數
:單邊下限能力指數
USL:特性值之規格上限;即產品特性大於USL在工程上將造成不合格
LSL:特性值之規格下限;即產品特性小於LSL在工程上將造成不合格
:製程平均數估計值;即製程目前特性值的中心位置
:製程標準差估計值;即製程目前特性值的一致程度
PS.製程特性定義
單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限
沒有規格下限Cp =CPU =Cpk
沒有規格上限Cp =CPL = Cpk
簡易公式
評等參考。

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