卫星电子组件高加速寿命试验技术

卫星电子组件高加速寿命试验技术
郭秀才;冯伟泉;郑会明;杨力坡;李树鹏;马腾飞
【期刊名称】《航天器环境工程》
【年(卷),期】2011(028)005
【摘要】高加速寿命试验(HALT)是一种高效的可靠性试验.通过高加速应力作用,激发产品潜在缺陷变为故障并进行改进,以达到其在使用中几乎不会出现故障的目的.文章阐述了试验的基本原理、试验剖面和失效分析等等,根据航天产品的特点,给出了应力极限确定步骤和温度控制方法,并将该方法在卫星典型电子组件上进行了应用研究.
【总页数】5页(P454-458)
【作者】郭秀才;冯伟泉;郑会明;杨力坡;李树鹏;马腾飞
【作者单位】北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094;北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094;北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094;北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094;北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094;北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094
【正文语种】中文
【中图分类】V416.5
【相关文献】
1.卫星转动机构加速寿命试验技术探讨 [J], 朱炜;程郁琨;王栩
2.高、低档同步锥毂组件焊接接头设计和工艺改进——电子柬焊接在高、低档同步锥毂组件上的应用 [J], 李述荣
3.电子组件失效分析技术连载系列之一——电子组件失效分析技术概述 [J], 邱宝军
4.电子元器件加速寿命试验技术探讨 [J], 崔立欣
5.卫星电视接收技术不断提高,CATV系统设备日趋完善——从’95第四届中国(成都)电子技术应用大会暨展示会及全国卫星电视接收技术交流展示会看我国卫星电视接收技术和CATV系统设备 [J], 张兆安
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。