ADC芯片参数测试技术解析

ADC芯片参数测试技术解析
ADC芯片参数测试技术解析
随着数字技术的不断发展和计算机在信号处理、控制等领域中的广泛应用，过去由模拟电路实现的工作，今天越来越多地由数字电路或计算机来处理。

作为模拟与数字之间的桥梁，模拟数字转换器（ADC）的重要性越来越突出，由此也推动了ADC测试技术的发展。

本文首先介绍了ADC的测试，包括静态参数和动态参数测试，然后结合自动测试系统测试实例，详细介绍了ADC芯片参数的测试过程。

测试原理1. 1静态参数的测试原理
ADC的静态参数是指在低速或者直流流入ADC芯片测得的各种性能参数。

静态参数测试方法有逐点测试法等，其主要测试过程如图1所示。

（1）零点误差的测量
零点误差又称输入失调，是实际模数转换曲线中数字0的代码中点与理想模数转换曲线中数字0的代码中点的最大误差，记为EZ。

其测试方法如下：输入电压逐渐增大，当图1中的数字显示装置从00..00变为00..01，记下此时输入电压Vin1 ，然后逐渐减小输入电压，使数字显示装置由00..01变为00..00，记下输入电压Vin2 ：式中：N 为A /D的位数; VFSR 为A /D输入电压的满量程值，LSB为ADC的最低有效位。

（2）增益误差EG 测量
增益误差是指转换特性曲线的实际斜率与理想斜率之间的偏差。

测试方法如下：把零点误差调整为0，输入电压从满量程开始变化，使数字输出由11..11 变11..10，记为Vin1。

反方向逐渐变化Vin ，使输出端由11..10变为11..11，记下输入电压Vin2 。

则：
（3）线性误差的测量
线性误差指实际转换曲线与理想特性曲线间的最大偏差。

实际测量是测试第j码的代码中。