飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置和方法[发明专利]

专利名称：飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置和方法专利类型：发明专利
发明人：周常河,刘文军
申请号：CN200610026621.2
申请日：20060517
公开号：CN1844844A
公开日：
20061011
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：一种利用飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置和方法。

装置构成主要包括飞秒激光源和CCD摄象机及计算机控制和处理系统，所述的方法利用该装置将物体移动前后的散斑场分别用CCD 探测器记录下来并储存于计算机中，对移动前的散斑场和移动后的散斑场进行相关性运算，就可以确定出场的移动量；本发明可以对散斑场移动作实时测量；精确到亚像素大小。

飞秒激光与分子、生物体的相互作用导致散斑的产生是常见的现象，本发明利用飞秒散斑的信息，可以得知散射体的空间运动信息有重要意义。

申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所
地址：201800 上海市800-211邮政信箱
国籍：CN
代理机构：上海新天专利代理有限公司
代理人：张泽纯
更多信息请下载全文后查看。