一种箔条云电磁散射系数的测量方法、系统及应用[发明专利]

专利名称：一种箔条云电磁散射系数的测量方法、系统及应用专利类型：发明专利
发明人：余乐,苏金华,左炎春,彭傲,方争光,吴东辉,郭雨航,刘伟
申请号：CN202110004612.8
申请日：20210104
公开号：CN112816793A
公开日：
20210518
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明属于箔条云团反射、透射、衰减系数测量技术领域，公开了一种箔条云电磁散射系数的测量方法、系统及应用，利用往泡沫块中插金属丝的方法构建确定性的箔条云模型；通过测量反射系数已知的材料作为定标数据，利用对比的方法计算出待测箔条云的反射系数；通过测量透射系数已知的材料作为定标数据，利用对比的方法计算出待测箔条云的透射系数；通过对比添加材料前后的接收功率，计算箔条云的衰减系数；通过改变收发天线的极化角度测量不同极化方式下的箔条云相关参数。

本发明测量了其反射、透射、衰减系数，可以将这些测量参数应用到箔条云的电磁计算中；实验方法简单实用，也可以应用到其他材料的测量中。

申请人：西安电子科技大学,北京机电工程研究所
地址：710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
国籍：CN
代理机构：西安长和专利代理有限公司
代理人：黄伟洪
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