华西医科大学X线头影测量临

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X线头影测量

 X线头影测量

X线头影测量X线头影测量介绍:X线头影测量是对头部进行投影测量,用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。

X线头影测量正常值:检查中没有发现异常阴影和图样。

X线头影测量临床意义:异常结果:?研究颅面生长发育:X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段,一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析,从横向研究颅面生长发育,同时也可用于对个体不同时期的测量分析,而作颅面生长发育的纵向研究。

?2?牙颌、颅面畸形的诊断分析:通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析,可了解畸形的机制、主要性质及部位,是骨骼性畸形抑或牙合性畸形,使对畸形能作出正确的诊断。

?3?确定错合畸形的矫治设计:从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中,而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定,因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后,根据错合的机制,可确定颌位及牙齿矫治的理想位置,从而制定出正确可行的矫治方案。

?4?研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化:X线头影测量亦常用作评定矫治过程中,牙颌、颅面形态结构发生的变化,从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。

如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化,都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。

?5?外科正畸的诊断和矫治设计:通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析,得出畸形的主要机制,以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量,同时应用X线头影图迹进行剪裁,模拟拼对手术后牙颌位置,得出术后牙颌、颅面关系的面型图,为外科正畸提供了充分的根据,从而提高了其诊断及矫治水平。

6?下颌功能分析:X线头影测量还可以用来研究下颌运动,语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。

也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。

需要检查的人群:颅面生长异常,面部畸形的人群。

X线头影测量分析方法

X线头影测量分析方法
头影测量分析方法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法
主要测量由眼耳平面、下 颌平面、下中切牙长轴所组 成的代表面部形态结构的颌 面三角形的三角。
4)下中切牙-合平面角(1〖TX-〗to occlusal plane):下中切牙长轴与合 平面相交之下前角。此角表示下中切
5)上中切牙凸距(1〖TX-〗-AP):上 中切牙切缘至AP连线的垂直距离(mm)。 此距代表上中切牙的突度,当上中切 牙切缘在AP连线前方时为正值,反之 为负值。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括: 全颅底长(Ba-N); 中面部深度(Ba-A),包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离; 下面部深度(Ba-Pog),包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距离; 全面高(N-Me),包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LIMe、ANS-Me 距离; 后面高(N-Go),包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离; 下颌支长度(AL)和下颌体 长度(MP)。
8)L1〖TX-〗-NB角:下中 切牙切缘与NB连线的交角。 代表下中切牙的倾斜度和突 度。
9)Po-NB(mm):颏前点至NB
10)U1〖TXX-〗-L1〖TX-〗 角:上下中切牙长轴交角。
11)OP-SN:合平面与前颅底 平面之交角。代表合平面的
12)GoGn-SN:下颌平面与前 颅底平面交角。代表下颌平 面的斜度及面部高度。下颌 平面由下颌角点与颏顶点连

X线头影测量分析

X线头影测量分析
X 线头影测量 , 主要是测量 X 线头颅定位照像 所得的影像 , 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一 定的线角进行测量分析 , 从而了解牙颌、 颅面 软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断 , 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面( FH )的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点:
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
2 . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点!

X 线头影测量学

X 线头影测量学
华 西口腔
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper * 1884 年 人类学国际会议在德国
Frankfort 举行 -- 眶耳平面的诞生 * 1916 年 正畸学家 Van Loon 第一个将
人类学方法应用到正畸学中 * 1923 年 Meconer 将X 射线引入正畸学
中 * 1931 年 Brondbent( 美 ) 及 Hofrath 华西口腔( 德 ) 首次使用头颅定位器及摄片技术
华 西口腔
颅 部的标 志点
• 颅底点 ( Ba.basion ): 枕骨大孔前缘之中
华 西口腔
点 . 后颅底的标志点 .
颅 部的标 志点
• 蝶鞍点 ( S. sella ): 蝶鞍影 像的中心 . 常 用作描图 重叠 的参考点
华 西口腔
颅 部的标 志点
华西口腔 • Bolton 点 : 枕骨髁突后切迹的最凹点 .
X 线头影测量学 在正畸学中的作

华 西口腔
应用
• 1 . 研究颅面生长发育及生长预测
华 西口腔
应用
• 2 . 牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
华 西口腔
应用 • 3 . 研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面
形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的作 华 西口用腔机理
应用 华西• 口4腔. 外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评价
常用的 X 线头影测量 的
标志点及平面
华 西口腔
标志点
• 定义 : 用来构成一些平面及测量内容的
点. • 分类:
– 解剖标志点 (apatomical landmark) ; – 引伸标志点 (cephalametric landmark) 。

X线头影测量分析方法

X线头影测量分析方法

Downs分析法
是以眼耳平面作为基准平面,具体包括以下的测量内容。
(1)骨骼间关系的测量: 1)面角(facial angle):面平面 与眼耳平面相交之下后角。此角代 表了下颌的凸缩程度。此角越大则 表示下颌越前突,反之则表示下颌 后缩。 2)颌凸角(angle of convexity): NA与PA延长线之交角。此角代表面 部的上颌部对整个面部侧面的关系。 当PA延长线在NA前方时,此角为正 值,反之若PA延长线在NA之后方时, 则此角为负值。此角越大表示上颌 相对凸度越大,反之表示上颌相对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括: 全颅底长(Ba-N); 中面部深度(Ba-A),包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离; 下面部深度(Ba-Pog),包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距 离; 全面高(N-Me),包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LI-Me、 ANS-Me 距离; 后面高(N-Go),包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离; 下颌支长度(AL)和下颌体 长度(MP)。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Steiner分析法
1)SNA角:前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部

X线头影测量分析

X线头影测量分析

3)下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale):下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor):下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion):颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton):颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion):颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
(1)头影测量标志点 1)颅部标志点 2)上颌标志点 3)下颌标志点 4)常用软组织侧面标志点 (2)头影测量平面
1)颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion):鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella):蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion):外耳道之最上点 机械耳点,解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion):枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点:枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion):上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor): 上中切牙切缘之最前点
UI
3)下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion):髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare):颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion):下颌角的后下 点:可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental):下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine):前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine):硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.):翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年,美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。

该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片,然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓,并测量线距与角度进行测量分析。

这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里,让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代,使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。

如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。

1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出,该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。

具体为:FMA角:眼耳平面与下颌平面围成;FMIA角:下中切牙长轴与眼耳平面围成;IMPA角:下中切牙长轴与下颌平面围成。

临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。

Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要,是维持牙合关系稳定的关键因素。

所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定,他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。

所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。

但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度,如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合,下切牙内收畸形会加重,下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者,直立下切牙则会加重已存在的深覆盖,上切牙后收又会造成凹面型。

Tweed分析法测量值来自白种人群,不一定适合中国人群;对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。

临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。

吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念:即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。

通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系,为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据,同时也丰富了Tweed三角分析法,有一定临床指导价值。

X 线头影测量学

X 线头影测量学
华 西口腔
眶耳平面 FH
由耳点和眶点的连 线 构成。该 平面可直 接用于临 床,用肉眼 直接观 察定位。眶耳 平面在 1884 年 Frankfort 举行的人 类学学会上被确定为 头 颅 骨的标 准横平面 ,大部分人的眶耳平 面与地平面平行。
华 西口腔
Bolton 平面
由 Bolton 点与鼻根 点的连 线 构成。 此平面相对 稳 定 ,故常作为 重叠 头 影图 的基准平 面。
• 软组织鼻根点 ( N’ nasion of soft tissue ): 软组织侧 面上相应 的鼻根
华 西口点腔.
软组织侧貌的标志点
• 眼点( E.eye ) 睑 裂之眦点。
华 西口腔
软 组 织 侧 貌的 标 志点
• 鼻顶点 ( Prn. pronasale ) ;鼻部 最突点 .
• 鼻下点 ( Sn. subnasale ) ;鼻小 柱与上唇之连 接 点.
• 审美平面( E 线) Pn-Pg’ •S 线 •Z 角
华 西口腔
(1) Ricketts 审美平面( E 线)
• 侧面软组织鼻尖点 和颏前点连线,
• 评价上下唇突度 • 上下唇与 E 线的间
距随年龄减小 • 上下唇处于 E 线稍
后所表现侧面较好
华 西口腔
(2) Steiner 软组织观察法 ( S 线)
2. 下颌下缘最低 部的切线 ;
3. 下颌角点与颏 顶 点间 的连 线 。
华 西口腔
测 量平面 合平面 OP
⑴ 解剖 he 平面:为通过上下第一恒磨牙咬 he 中点与 上下中切牙覆 he 中点的连线。⑵功能 he 平面(自然 he 平面):由均分后牙咬合接触点而得。⑶上颌 he 平面:为 通过 上下第一恒磨牙咬合中点与上中切牙切 缘 点的连 线 构成。

X线头影测量学

X线头影测量学

2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
3.面部高度的常用测量项目
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
P
为各点在FH平面垂线 上投影之距离(与教 材不同)
X线头影测量分析
Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
1 概念、应用、拍摄及描图 2 常用头影测量标志点及平面 3 常用硬组织、软组织测量项目 4 常用X线头影测量分析法
临床实例
什么是X线头影测量?
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线,代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角:反映上颌相对
N
于颅部的前后位置关系
S
SNB 角:反映下颌相对
于颅部的前后位置关系
A
ANB 角=SNA-SNB,反映
上下颌骨对颅部的相互
B
位置关系
面角(NP-FH):面平
不同人群的FMIA目标有差异
Tweed 三角
下中切牙-FH平面(FMIA)
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面-MP平面角(FMA) 25° 31° 28°
下中切牙-MP平面(IMPA) 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值

X线头影测量分析方法

X线头影测量分析方法

X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。

将头部放置在X线
透射成像设备中,通过发射X射线,X射线会被不同组织结构吸收和散射,形成X线头颅影像。

利用该影像,可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。

在X线头影测量中,常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。

颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离,如颅骨板间距、颅底间距等。

颅骨厚度是指头颅骨的厚度,可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。

颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度,如脑颅角、额颅角等。

这些参数可以通过计算机软件自动测量,也可以通过手工测量
来获取。

二、应用领域和意义
其次,X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。

通过测量头颅内的结构和参数变化,可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质,并且更好地指导手术操作。

此外,X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。

通过测量头颅参数的变化,可以更好地
了解人类进化的过程,也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。

总的来说,X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法,它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。

在临床医学中,它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质,为手术治疗提供指导,并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。

X线头影测量分析 (1)

X线头影测量分析 (1)

Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
1.基准平面
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SN 平面- 前颅底平面 FH 平面-Frankfort 平面 Bolton平面– Bolton点与鼻根点连线
-基准平面
SN plane前颅底平面
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-基准平面
FH plane眶耳平面
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-基准平面
Bolton平面
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基准平面
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测量平面
-测量平面
腭平面(ANS-PNS)
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-测量平面
全颅底平面(Ba-N):颅底点与鼻根点连线
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全颅底平面
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-测量平面
牙合平面(OP)
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简言之:
通过对X片进行分析、测量,从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相 互关系 。
一、主要应用
研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中,矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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1.研究颅面生长发育

x线头影测量名词解释

x线头影测量名词解释

x线头影测量名词解释
嘿,你知道啥是 x 线头影测量不?这可真是个超有意思的东西呢!
就好像我们拍照留下自己的瞬间一样,x 线头影测量就是给我们的头颅拍个特别的“照片”。

比如说吧,你看那些模特走秀,他们的身材比例都被完美呈现出来,这就有点像 x 线头影测量对头颅的呈现呀!它能把头颅的各种细节,
像什么骨骼结构啦、牙齿位置啦,都清清楚楚地展示出来。

医生们为啥要用它呢?哎呀呀,这可太重要啦!就好像你要去了解
一个神秘的城堡,得有张详细的地图一样,x 线头影测量就是医生了解我们头颅内部情况的“地图”呀!通过它,医生能发现好多问题呢。

想象一下,要是没有 x 线头影测量,医生就像在黑暗中摸索,怎么
能准确地诊断和治疗呢?比如牙齿矫正,要是不知道头颅的具体情况,怎么能制定出最合适的矫正方案呢?这可不是随便乱来的呀!
而且哦,它可不是随随便便就能做的,得有专业的设备和技术才行呢。

这就好比你要做出一道超级美味的菜肴,没有好的食材和厨艺怎
么行呢?
我觉得呀,x 线头影测量真的是医学领域里超级厉害的一个工具呢!它就像一个神奇的钥匙,能打开了解头颅秘密的大门,帮助医生更好
地为我们的健康保驾护航。

你说是不是呢?反正我是这么认为的啦!。

X线头影测量分析

X线头影测量分析

简言之: 通过对X片进行分析、测量,从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相 互关系 。
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一、主要应用 研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中,矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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1.颅部标志点
定点
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S (Sella 蝶鞍中心点)
定点
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N (Nasion 鼻根点):鼻额缝最前点
定点
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P( Porion耳点 ):机械耳点
定点
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颅底点( Ba,basion )枕骨大孔前缘中点
定点
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唇倾度大
-测量内容
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U1-NA:上切牙对于前颅底的相对倾斜度
-测量内容
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U1-NA distance (U1-NA距)
-测量内容
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L1-NB angle
-测量内容
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L1-NB distance
-测量内容
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Gn (Gnathion 颏顶点) :颏前点与颏下点之中点
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D点 :下颌体骨性联合部之中心点
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第二次实验
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头影测量平面
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1.基准平面(Reference line): 头影测量中相对稳定的平面
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数字化X线机头影测量法

数字化X线机头影测量法

数字化X线机头影测量法王朝俭;王晨;高军;徐方芳【期刊名称】《华西口腔医学杂志》【年(卷),期】2001(019)001【摘要】X线头影测量术对口腔正畸学及正颌外科学的发展发挥了非常重要的作用,不仅可以研究分析正常及错的颅面生长发育机制,而且还可以研究矫治前后的牙、颌、面形态结构变化,也是外科正畸的治疗设计、近远期疗效分析的量化基础。

目前国内已引进产自不同国家的数字化曲面全景X线机可进行头影测量,由于相应的处理及分析软件较昂贵,而各医院对其已装软件未能充分开发利用。

银川市口腔医院引进数字化曲面全景X线机后,研究开发出一简单实用的头影测量法。

现报道如下。

rnrn1 设备和方法rn数字化曲面全景X线机(ORTHOPHOS DS西诺德公司,德国)、SIDEXIS4.2软件、联想天鹤640PC机、EPSON COLOR800打印机。

rn在SIDEXIS工作窗口登记姓名、科别、出生年月日、程序等,将ORTHOPHOS DS调整到头颅侧位拍摄状态,使患者眶-耳平面与光标重叠,收紧头颅定位架,拍摄。

拍摄条件见表1。

图像传输到显示器后,在SIDEXIS工作窗先对图像优化,再调节对比度亮度大小等。

点击鼠标右键选取已存入的各待测角及线距。

点击Analysis菜单:①点击Measure angle可直接测量SNA、SNB。

②点击Measure length利用有限长度线距将各常用测定标志点连线,对于在显示器范围内不能相交的两线作任意一与上述两线相交的辅助线(如FH-MP°)。

③点击Measure angle测定并记录各测量角度。

④点击Measure length测定常用线距。

⑤点击打印图标打印测定结果及图像。

【总页数】1页(P62)【作者】王朝俭;王晨;高军;徐方芳【作者单位】银川市口腔医院,;银川市口腔医院,;银川市口腔医院,;宁夏医学院附属医院【正文语种】中文【中图分类】R78【相关文献】1.数字化X线摄影双能量减影在胸部外伤诊断中的临床价值 [J], 黄扬2.数字化X线像影中的多级对比放大技术 [J], 程晓玫;林少春;徐刚3.直接数字化X线摄影双能量减影在成人阻塞性睡眠呼吸暂停低通气综合征中的应用 [J], 张成仁;李丽芬;封任冬4.OSAS鼻咽纤维喉镜检查及头影X线测量法 [J], 柳端今5.联影UDR588数字化医用X线摄影系统的常见故障分析及排除方法 [J], 杨海洁因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。

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华西医科大学X线头影测量临床分析法
该方法系华西医科大学口腔医学院正畸科采用了各方法中一些容易定点、简明实用的计测项目作为临床常规的综合分析法。

计测项目中,按颅、上颌、下颌、面高、牙及牙槽高的顺序,共29项线距及角度等计测内容,以便达到简明迅速的诊断目的。

其常用测量项目如下:
一、颅、颌:
1、前颅底平面—上齿槽座点角(SNA):蝶鞍点和鼻根点连线与鼻根点和上齿槽座点连
线相交之后下交角,代表了上颌骨基骨相对于颅底的前后向位置关系。

2、前颅底平面—下齿槽座点角(SNB):蝶鞍点和鼻根点连线与鼻根点和下齿槽座点连
线相交之后下交角,代表了下颌骨基骨相对于颅底的前后向位置关系。

3、上齿槽座点—鼻根点—下齿槽座点角(ANB):鼻根点和上齿槽座点连线与鼻根点
和下齿槽座点连线相交之下交角,代表了上下颌基骨间的前后向位置关系。

二、上颌:
4、上齿槽座点—翼上颌裂点(A—Ptm):翼上颌裂点和上齿槽座点在眶耳平面上的投
影点之间的距离,代表了上颌骨基骨的长度。

5、蝶鞍点—翼上颌裂点(S—Ptm):翼上颌裂点和蝶鞍点在眶耳平面上的投影点之间的
距离,代表了上颌骨后缘相对于前颅底的前后向位置关系。

6、腭平面—眶耳平面夹角(PP—FH):腭平面与眶耳平面的夹角,代表了腭平面的倾斜
度。

三、下颌:
7、下颌角点—颏前点(Go—Pg):分别从下颌角点和颏前点向下颌平面(通过颏下点和
下颌角下缘相切的线)作垂线,两垂足之间的距离,代表了下颌体的长度。

8、下颌角点—髁突最上点(Go—Co):分别从下颌角点和髁突最上点向下颌升枝平面
(下颌升枝后缘切线)作垂线,两垂足之间的距离,代表了下颌升枝的长度。

9、髁突后缘切点—蝶鞍点(Pcd—S):分别从下颌髁突后缘切点和蝶鞍点向眶耳平面作
垂线,两垂足之间的距离,代表了下颌髁突的前后向位置关系。

10、下颌平面角(MP—FH):下颌平面(通过颏下点和下颌角下缘相切的线)与眶耳平
面相交之前下交角,代表了下颌平面的倾斜度。

11、Y轴角(SGn—FH):Y轴(蝶鞍点和颏顶点连线)与眶耳平面相交之前下交角,代
表了面部相对于颅部向前下发育的程度。

12、面角(NPg—FH):面平面(鼻根点和颏前点连线)与眶耳平面相交之后下交角,
代表了下颌的凸缩程度。

四、面高:
13、上面高(N—ANS):鼻根点和前鼻嵴点在垂直于眶耳平面的垂线上的投影点之间的
距离,代表了面上份的高度。

14、下面高(ANS—Me):颏下点和前鼻嵴点在垂直于眶耳平面的垂线上的投影点之间的
距离,代表了面下份的高度。

15、后面高(S—Go):分别从蝶鞍点和下颌角点向眶耳平面的垂线作垂线,两垂足之间
的距离就代表了后面高。

五、牙测量:
16、上下中切牙角(U1—L1):上下中切牙长轴相交之后交角,代表了上下中切牙的倾
斜度。

17、上中切牙—前颅底平面夹角(U1—SN):上中切牙长轴与前颅底平面相交之前下夹
角,代表了上中切牙的轴倾度。

18、U1—NA(毫米):上中切牙切缘到鼻根点和上齿槽座点连线的垂直距离,代表了上
中切牙的凸度。

19、U1—NA(度):上中切牙长轴与鼻根点和上齿槽座点连线的上交角,代表了上中切
牙的倾斜度。

20、L1—NB(毫米):下中切牙切缘到鼻根点和下齿槽座点连线的垂直距离,代表了下
中切牙的凸度。

21、L1—NB(度):下中切牙长轴与鼻根点和下齿槽座点连线的下交角,代表了下中切
牙的倾斜度。

22、下中切牙—下颌角点和颏顶点连线夹角(L1—GoGn):下中切牙长轴与下颌角点和颏
顶点连线相交之后上交角,代表了下中切牙唇舌向的倾斜度。

23、下中切牙—下颌平面角(L1—MP):下中切牙长轴与下颌平面(通过颏下点和下颌角
下缘相切的线)相交之后上交角,代表了下中切牙唇舌向的倾斜度。

24、翼上颌裂点—上颌第一恒磨牙(Ptm—U6):翼上颌裂点和上颌第一恒磨牙近中颊沟
点在眶耳平面上的投影点之间的距离,代表了上颌第一恒磨牙的前后向位置关系。

25、翼点—上颌第一恒磨牙(Ptv—U6):翼点和上颌第一恒磨牙远中切点在眶耳平面上的
投影点之间的距离,代表了上颌第一恒磨牙的前后向位置关系。

六、牙槽高:
26、上前牙槽高(U1—PP):上中切牙切缘到腭平面的垂直距离。

27、上后牙槽高(U6—PP):上颌第一恒磨牙近中颊尖点到腭平面的垂直距离。

28、下前牙槽高(L1—MP):下中切牙切缘到下颌平面的垂直距离。

29、下后牙槽高(L6—MP):下颌第一恒磨牙近中颊尖点到下颌平面的垂直距离。

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