X荧光光谱仪培训测试题解析

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XRF操作问题解答

XRF操作问题解答1.R o HS测试时，为什么记数率变化很大？答：由于材料不同，X荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数率变化更大，其变化并不影响实际的测量结果。

2. 样品测试时间有多长？答：测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的测试记数率有关，记数率越小，所用的测量的时间越长，一般测试时间120-200秒，记数率较小时，我们建议200秒为佳。

3. 液体，油墨可以在贵公司仪器测试吗？答：可以，我们的仪器可以测液体，粉体和固体中的有害金属成份，测试方法非常简单。

4. 为什么测试结束后，没有弹出含量结果框？答：因为样品命名适用了特殊字符，样品命名不能使用“/，﹨：，？特殊字符，这是由Windows操作系统的限制。

5. 为什么一个峰，一半是汞的颜色，一半是铅的颜色？答：（1）峰漂移，这种情况应重新初始化。

（2）其他元素的干扰。

这种元素的并非是汞和铅。

6.为什么测不锈钢要把电流降低到150微安？答：因为不锈钢容易受激发，电流太大造成记数率太高，造成的光谱堆积现象严重，即得测量的误差加大。

7.为什么不可测针脚？答：针脚是可以测试的，如果测试其ROHS指标，可直接进行测试，如果测试镀层，需要使用小的准直器，并使用标样标定，同时要测试多点的平均值，这样就可以达到测试的要求。

8.为什么测量小样品时，要用直径小的准直器？答：在测量小样品时，使用大的准直器是可以测量的，其测量的结果比较准确。

使用小的准直器多是测量样品的某点含量的样品的干扰，如：测量PCB板上的焊点，可以减少“绿油”的影响。

9.为什么相近元素，会相互干扰？答：因为相近元素的电子受激发的能量相近，光谱会相互叠加，同时会互相抬高背景。

所以容易相互干扰。

10.为什么测不出锡中的镉？答：锡中的镉是可以测量出的，只是由于目前的锡标样很多没有镉的标准含量值，所以目前没有测量其结果，同时因为锡峰干扰了镉的峰，测试的结果偏差稍大。

第四章光谱分析技术及相关仪器习题参考答案

第四章光谱分析技术及相关仪器习题参考答案一、名词解释1．激发光谱：将激发光的光源用单色器分光，连续改变激发光波长，固定荧光发射波长，测定不同波长的激发光照射下，物质溶液发射的荧光强度的变化，以激发光波长为横坐标，荧光强度为纵坐标作图，即可得到荧光物质的激发光谱。

从激发光谱图上可找出发生荧光强度最强的激发波长λex。

2．荧光光谱：选择λex作激发光源，并固定强度，而让物质发射的荧光通过单色器分光，测定不同波长的荧光强度。

以荧光波长作横坐标，荧光强度为纵坐标作图，便得荧光光谱。

荧光光谱中荧光强度最强的波长为λem 。

荧光物质的最大激发波长（λex）和最大荧光波长（λem）是鉴定物质的根据，也是定量测定中所选用的最灵敏的波长。

3．光谱分析：对物质发射辐射能的能谱分析或对辐射能与物质相互作用引起的能谱改变的分析均称为光谱分析。

4．吸收光谱：光照射到物质时，一部分光会被物质吸收。

在连续光谱中某些波长的光被物质吸收后产生的光谱被称作吸收光谱。

每一种物质都有其特定的吸收光谱，因此可根据物质的吸收光谱来分析物质的结构和含量。

5．发射光谱：一部分物质分子或原子吸收了外来的能量后，可以发生分子或原子间的能级跃迁，所产生的光谱称为发射光谱，包括线状光谱、带状光谱及连续光谱。

通过测定物质发射光谱可以分析物质的结构和含量。

6．摩尔吸光系数（ε）：摩尔吸光系数表示在一定波长下测得的液层厚度为1cm, 溶液浓度c为1mol/L时的稀溶液吸光度值。

吸光系数与入射光波长、溶液温度、溶剂性质及吸收物质的性质等多种因素有关。

当其它因素固定不变时，吸光系数只与吸收物质的性质有关，可作为该物质吸光能力大小的特征数据。

7．分光光度计：能从含有各种波长的混合光中将每一单色光分离出来并测量其强度的仪器称为分光光度计。

它具有分析精密度高、测量范围广、分析速度快和样品用量少等优点。

根据所使用的波长范围不同可分为紫外光区、可见光区、红外光区以及万用（全波段）分光光度计等。

XRF测试

XRF测试若干问题：XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。

目前市场上使用较多的是EDXRF。

无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是否存在某种元素，所以具有方便、快捷、不破坏样品、省时省事的优点，非常适用于大批量原材料的验货分析。

但它存在下述问题：第一，XRF只能进行元素分析，而不能进行价态分析。

即它的分析结果包括所有价态的元素总量。

例如Cr的分析，它分辨不出材料中Cr是以金属Cr、三价铬还是六价铬的形式存在，只能给出总铬的含量。

第二，XRF受基体干扰非常严重。

即材料的组成成分对结果影响很大。

一般来说对单纯的材料，如PP、PE、PS、高纯度的金属等，XRF测试结果的误差范围为±30％甚至更低；对复合材料，如PC+ABS、PS+PE、各种合金（含量大于1％的元素超过2种），XRF测试结果的误差范围为40～50％，材料越复杂误差越大。

所以合金的测试结果误差一般要比复合塑胶的测试结果大。

下面以RoHS测试为例，对台式EDXRF测试结果X进行如下解释：元素单纯的塑胶材料单纯的金属材料复合材料Cr X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析Br X＜300ppm，可视为满足要求—— X＜250ppm，可视为满足要求X＞300ppm无法判断是否满足要求—— X＞250ppm无法判断是否满足要求Pb X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求Hg X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求Cd X＜70ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜70ppm，可视为满足要求1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求。

X荧光光谱常见问题解答(200问)

X荧光光谱常见问题解答1.用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中放置１５分钟后，原来很好的样品在样杯中膨胀破碎了，为什么?还有什么好的方法？(1) 一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力，导致样品破碎。

我的建议是：A 压样之后在破碎之前进行分析。

（不得已而为之）B 增加压样的时间，减小压样的压力.(2) 请检查所用淀粉中是否含有水分？水份会导致风干破裂。

(3) 原则上应该按照样品测试标准进行测试，一般情况下，制样有问题，实际上已经不符合标准了。

(4) 减少试样量,增大稀释比试试.2.SPECTRO的能量色散XRF如何进行日常维护?当不进行样品分析时,X光管该如何处理?主要是谱仪室内恒温恒湿（22度左右、湿度60%以下），环境清洁，电源稳定，避免震动。

当不进行样品分析时,X光管电流电压应降至最低，仪器保持恒温.3.仅两重金属元素组成的合金，其中低含量元素为 0.1% - 25% 共有13块标样，如果标样精度为±0.01 用目前水平的XRF 作标准曲线。

其各点与直线和二次曲线拟和的标准曲线偏差大约是多少?(1) 最重要的是要用自己的试样做标样，制样方法要和实际应用方法一致，这样可以克服基体效应，和矿物效应。

标样可以通过湿法分析或者别的方法获得标准值。

(2) 是否有水分应该从以前的分析方法考虑，同时应该可以去除某些点.(3) 可用互标法！以主量元素作为内标！(4) 0.0x的含量可能会有大的偏差！(5) 标样含量分布合理，如做好共存元素基体校正，一次线会很理想。

另外，由于含量分布较大，选好低含量样品的背景也很重要。

4.在熔融制样时，二氧化硅的污染总是存在，不知各位有何高见？(1) 用不含硅的熔具,可用用白金坩埚熔(2) 你做的SI是不是太低了？要是很低还不如用压片.(3) 使用不含硅的工具。

对于高硅成分还可以接受；另外对于一些试样存在污染较小，同时也可以缩短熔样时间。

5.如果有1~2个小时不用分析,要不要将x射线管关闭呢?不用.X荧光光管是不可以随便关闭的,时间长了你需要重新老化,一般你不用的时候可以把功率降下来:电压20KV,电流10mA.晚上除了关上x射线管其他都不用关了,这样有没有不妥呢?晚上除了关上x射线管其他都不用关，保持其状态稳定。

ATC003X射线荧光光谱分析技术考核与培训大纲

全国分析检测人员能力培训委员会ATC003 X射线荧光光谱分析技术考核与培训大纲第1版文件编号：ATC003/A:2009-1发布日期：2009年12月1 总则1.1 目标了解X射线荧光光谱分析技术（XRF）基本概念及基础理论知识、XRF光谱仪组成结构及工作原理；具备XRF样品制备能力、XRF光谱仪的实际操作能力；掌握数据处理和实际应用能力、XRF分析技术在相关领域的应用技能。

1.2 适用范围本大纲适用于测定各类样品中无机元素的常规X射线荧光光谱分析技术的考核与培训。

元素分析范围通常为Na~U。

1.3 应具备的基础知识和技能1.3.1 通用基础具有普通化学、普通物理、分析化学及仪器分析的基础知识。

1.3.2 分析测试基本操作具备化学分析实验的基本操作能力，具备实验室一般仪器和设备的操作能力、实验室和辐射安全基本知识。

1.3.3 数据处理基础知识具备数据统计处理和误差理论的基础知识。

2 技术要求2.1 ATC 003 XRF技术基础与通则2.1.1 术语及概念掌握XRF分析技术基本概念和相关的技术用语。

（1）X射线荧光光谱分析方法的概念及特点；（2）X射线荧光光谱的生成；（3）特征X射线和特征谱线系的概念；（4）谱线相对强度的概念。

（5）荧光产额的概念。

（6）X射线吸收的概念；（7）X射线散射的概念。

2.1.2 基本原理掌握XRF分析技术基本原理及应用。

（1）X射线荧光光谱分析基本原理及X射线荧光的产生，及需要设备和过程。

（2）X射线荧光光谱激发源工作基本原理；（3）X射线荧光光谱探测器工作基本原理；（4）波长色散X射线荧光光谱分析（WD-XRF）基本原理；（5）能量色散X射线荧光光谱分析（ED-XRF）基本原理。

2.1.3 定性与定量分析掌握XRF定性与定量分析技术基本原理与方法。

（1）定性分析方法：谱线识别、背景拟合与扣除；（2）基体校正原理与方法；（3）定量分析方法的建立与应用（标准曲线与基体校正方法的选择与建立）。

XRF考题

X射线荧光光谱思考题一、填空题1．波长（单位为nm）为λ的X射线，其能量（以eV为单位）是____________。

2．在X射线强度测量中，如果在时间t秒内测得的X射线光子总计数为N，则总计数的相对标准偏差为____________。

3．假定测量的X射线光子计数遵循高斯分布，测量计数率为10kcps的谱线时，如果测量时间为4秒钟，则强度测量的相对标准偏差为____________。

4．按分光方式的不同，X射线荧光光谱可分为____________和____________。

5．在波长色散X射线荧光光谱分析中，如果某谱线用LiF200（2d=0.4028nm）晶体分光时，在2θ坐标上的光谱峰出现在60º处，那么改用LiF220（2d=0.2848nm）晶体分光后，光谱峰出现在2θ坐标上的位置是____________。

6．在XRF分析中，如果某样品的密度为5g/cm3，样品对测量谱线的质量吸收系数为200cm2/g，在出射角为30度的仪器中测量时，样品的“无限厚”是____________微米。

7．试举出X射线荧光光谱分析中的2种制样方法____________和____________。

8．试举出X射线荧光光谱分析中的2种基体校正方法____________和____________。

9．试举出2种影响X射线在样品中的质量吸收系数大小的因素_________和_________。

10．X射线与物质相互作用，能产生X射线荧光的作用是____________吸收。

二、选择题1．以下几种波长的射线，属于X射线的是：（）(A) 0.001nm (B) 1nm (C) 100nm (D) 1000nm2. 以下几种射线中，能激发锌（Zn）的K系谱线的是：（）(A) Fe Kα谱线(B) Cu Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Br Kα谱线3. 以下几种射线中，激发铁（Fe）的K系谱线最有效的是：（）(A) Cr Kα谱线(B) Ni Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Rh Kα谱线4. 波长为λ的X射线照射到以下哪种物质时，产生最强康普顿（Compton）散射的是：（）(A) 碳(B) 氧化铁(C) 硫酸铜(D) 银5. 在X射线荧光光谱中，对于波长为λ的X射线荧光，样品达到“无限厚”时，厚度最大的物质是：（）(A) 硼酸(B) 二氧化硅(C) 硫酸铜(D) 铅6. 以下几种元素中，K系谱线的荧光产额最高的是：（）(A) 铁(B) 镍(C) 铜(D) 银7. 以下几种元素中，Kβ/Kα强度比最高的是：（）(A) 钾(B) 镍(C) 溴(D) 银8. 在X射线荧光光谱分析的熔融法制样中，以下几种物质中可以做脱模剂的是：（）(A) 碘化钾(B) 硝酸铵(C) 过氧化钡(D) 硫酸钡9. 在X射线荧光光谱分析中，薄样法的优点是：（）(A) 强度高(B) 背景低(C) 重复性好(D) 谱线干扰少10. 以下几种探测器中，一般不用于波长色散X射线荧光光谱仪中的是：（）(A) 流气正比计数器(B) 闪烁计数器(C) 半导体计数器(D) 封闭式正比计数器三、简答题1.简述X射线荧光光谱的基本原理、特点和作用。

临床检验仪器第十七章荧光光谱分析仪和原子光谱分析仪习题

第十七章荧光光谱分析仪和原子光谱分析仪一、名词解释1.利用某物质对特定光谱进行吸收、发射或散射后所引起的光谱改变来进行结构或含量分析的方法。

2.荧光：荧光属于光致发光。

当某种常温物质经某种波长的入射光（通常是紫外线或X射线）照射，吸收光能就进入激发态；并且立即退激发并发出比入射光的波长长的出射光（通常在可见光波段）；而一旦停止入射光，发光现象也随之消失。

具有这种性质的出射光就被称之为荧光。

连续改变激发光波长，固定荧光发波长的激发光照射下，物质溶液发射的荧光强度的变化，以激发光波长为横坐标，荧光强度为纵坐标作图，即可得到荧光物质的激发光谱。

从激发光谱图上可找出发生荧光强度最强的激发波长λex。

λex 作激发光源，并固定强度，而让物质发射的荧光通过单色器分光，测定不同波长的荧光强度。

以荧光波长作横坐标，荧光强度为纵坐标作图，便得荧光光谱。

荧光光谱中荧光强度最强的波长为λem 。

荧光物质的最大激发波长（λex）和最大荧光波长（λem）是鉴定物质的根据，也是定量测定中所选用的最灵敏的波长。

5.波长准确度：指其波长计数器的指示值与真实光波长的数值相符的程度。

特定的激发波长和发射波长是定性分析和定量测定的基础，因此波长精度也是荧光光谱仪的核心指标之一。

6.分辨率：荧光仪器对靠近的峰尖分开的能力，它与波长精度有密切关系，决定着对混合物成分分析特异性的好坏。

7.原子化器：其作用是提供合适的能量，将试样干燥、蒸发并转化为所需的基态原子蒸气。

8.检出限：原子吸收光谱法中检出限（D）指在选定的实验条件下，被测元素溶液能给出的测量信号3倍于标准偏差（б）时所对应的浓度（mg/L）或质量（mg 或g），反映仪器对某元素在一定条件下的检出能力。

检出限越低，说明仪器性能越好，对元素的检出能力越强。

9.摄谱仪：用光栅或棱镜做色散元件，用照相法记录光谱的原子发射光谱仪器。

根据色散元件的不同把摄谱仪分为棱镜摄谱仪和光栅摄谱仪两种。

MXF理论题库

题库一、填空题：1、真空系统包括（试样室）和（真空室），光闸是（试样室）和（真空室）的隔离装置。

2、检测器通道由（分光器）（检测器）（分光晶体）和（前置放大器）四部分组成。

3、X荧光循环水包括（内循环水）和（外循环水）；4、X荧光我们主要做的设备维护包括（真空维护）（水的维护）和（机械维护）三部分。

5、试样室从上到下总共有（4）个O环，擦洗O环时用干纱布擦，严禁用（酒精）擦，否则O环容易老化。

（光闸）部位的O环是易损件，每次清洗必须更换。

6、内循环水电导率最大可达（67）us，超过就会报警；一般要求电导率超过（20）us就该立刻更换离子交换树脂。

7、正常待机状态真空值≧（8）开始清理时样式和真空系统。

8、当仪器运行时，应确保外循环水流量为（8L/min）或更大，关闭或减小水流量，将会导致（纯水温度上升，长时间水温过高会使离子交换树脂失效或缩短使用寿命，影响纯水的纯度，电导率升高）。

9、粉末样品中误差的主要来源有（矿物效应）（粒度效应又叫表面效应）（样品偏析）。

10、常见的粉末样品制备方法有（压片法）和（熔融法）。

11、我们常用的压片法有（PVC环压片法）（硼酸包边压片法）两种。

12、当（检测器高压）开关未开启时，分析测量完毕后所有元素强度值显示为0。

13、我们日常使用仪器过程中，X射线发生器部位出现的几种错误类型包括（最大的X射线电压错误）（X射线锁定错误）（最大的X射线电流错误）（冷却水高温错误）（X射线预设错误）（水流量错误）6种。

14、MXF-2400型X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱分析方法配置的（多通道X射线荧光光谱仪），能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量，具有（灵敏度高）、（精密度好）、（性能稳定）、（分析速度快）等特点。

二、问答题：1、X射线荧光仪安全使用注意事项有哪些？答：1、本仪器提供了为防止X射线在正常操作情况下泄漏而设置的安全保护机构。

如果处理不当可能会导致X射线泄漏。

X射线荧光光谱理论考试考试题库（简答题）

X射线荧光光谱理论考试考试题库（简答题）X射线荧光光谱理论考试题库（简答题）1．X荧光进行定性分析的基础是什么？答：化学元素在受到适当的激发时发射出特征辐射。

2．X荧光进行定量分析的基础是什么？答：受激引发的特征辐射强度与样品中元素的含量成正比关系。

3．请列出几种探测器(两种以上)？答：充气正比探测器、闪烁探测器、半导体探测器。

4．X荧光分析中所用探测器的作用是什么？答：将X射线转换成一种能量形式，这种能量可在一定的时间内被测量和积分。

5．X荧光分析中对所使用的分光晶体有哪些要求：答：X荧光分析中，色散装置中所用的分光晶体应有好的反射率、色散率，温度效应小，较好的物理性质，小的晶体荧光、异常反射。

6．波长色散X荧光光谱仪的组成部分是什么，各部分的作用是什么？答：波长色散X荧光光谱仪的主要组成部分为：X光管、色散装置和探测器。

各部分作用：X光管作为激发源；色散装置分离出单一波长以供检测；探测器用于检出信号。

7．X荧光分析中，脉冲高度选择器的作用是什么？答：脉冲高度选择器的作用是以能量分离的方式，将适当窄的波长范围与整个波谱分开，以利于检测。

8．请解释何为X射线荧光。

答：当来自X射线管具有足够能量的初级（一次）X射线与试样中的原子发生碰撞时，并从该原子中逐出一个内层电子（如K电子），就在此壳层中形成一个空穴，随后由较外层的一个电子跃迁来填充此空穴，同时发射出二次X射线光电子，即X射线荧光。

9．简述滤光片的作用。

答：消除或降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰，可改善峰背比，提高分析的灵敏度。

10．请写出X光管产生X射线的机理。

答：用电流加热灯丝，在灯丝周围形成高电子密度区，电子在加于阳极和灯丝之间的大电位差的作用下，沿阳极聚焦管加速，高速电子打在阳极上，产生X射线辐射。

11．充气探测器探测X射线的原理是什么？答：X射线光子通过窗口进入探测器，电离惰性气体，电离产生的初始电子对数目与入射线的能量成正比。

X射线荧光光谱分析-复习题及解答综述

•X射线荧光光谱是连续谱还是特征谱?如何产生?为什么能用它来进行元素的定性和定量分析？答：X射线荧光光谱是特征谱。它是当原子内电子层出现电子空位，外层电子跃迁填充时所发射出来的X射线，故又称二次X射线… 由于各元素原子的能级差是不一样的，而同种元素原子的能级差是一样的，对于同一元素的原子发射出来的X射线的波长或能量是固定的；因此当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱, 特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关；谱线的强度和元素含量的多少有关, 所以测定特征谱线的波长, 就可知道试样中包含什么元素, 测定特征谱线的强度, 就可知道该元素的含量。
•XRFS分析物质成分的特点有那些？答：1.分析速度快，自动化程度高。 2.XRF分析是一种物理分析方法；特别适合过程分析、野外现场、对比和非破坏性分析。 3.分析浓度范围广、测量的线性好、精度高。 4.XRF分析比其他发射光谱简单，易于解析；尤其是对未知样品的定性分析。 5.制样简单；试样形式多样化。 6.具有在原样上微区条件下进行定性、定量分析。 7.定量分析有时需要多标样对比，标样的组分与被测样的组分要差不多；对于原子序数低的元素，其荧光产额低，因此检出限不是很理想；对于超轻元素(H、Li 、 Be)目前还不能直接进行分析。
•质量吸收系数：式I I 0 e μρt 中的比例系数μ称为密度为ρ材料对波长为λX射线的质量吸收系数。式中I0、I为材料吸收前、后的波长为的X射线强度，t为材料的厚度。 •基体：样品中除了被测元素外的其他成分，称为基体。 •基体效应：基体对分析元素的影响称为基体效应。有两类基体效应：一类为样品的化学组成引起的效应，即吸收—增强效应；一类为样品的物理特性引起的效应，如表面光滑度、颗粒度、材料的不均匀性等。 •怎样校正基体效应的影响：答：实验校正法…，数学校正法…及制样。并用其中某一方法具体说明一下（略）

检验员-光谱岗培训试卷A卷含答案

检验员-光谱岗培训试卷A卷答案解析一、判断题答案1.A1.A2.A3.A4,A二、单选题答案1.Λ2.A3.C4.B5.B6.A7.A8.B9.A10.C11.B12.C13.B14.A15.A16.A1 7.C18.A19.B20.B21.A22.B23.B24.B25.B26.A27.C28.B29.C30.A31.B32.C33.A34.A35.B36.A三、多选题答案1.ABCD2.ACD3.ABCD4.ABCE5.ACD6.ABC7.AC8.BCD9.ABCD10.ABC一、判断题1在受限空间作业时，空间内有可燃气体、溶液等可能造成火灾；通风不畅，有可能造成窒息、中毒。

（2分）A.正确B.错误答案：A,正确解析：2.气瓶在库房内的存放，氧气瓶与乙快等易燃气体应保持4米以上距离，如果混放可能造成火灾（2分）A.正确B.错误答案：A.正确解析：3.进入罐内维修时，属于受限空间作业，人员误操作开启搅拌开关，可能造成人员受伤（2分）A.正确B.错误答案：A.正确解析：4.检查焊机的焊枪、气接头、电线快速接头的完好，相应插座连接的完好，接地良好；如果出现破损，可能会造成人员触电。

（2分）A.正确B.错误答案：A.正确解析：二、单选题1相较于《生产安全事故报告和调查处理条例》（国务院令第493号），新安法对凡发生事故负有责任的生产经营单位，罚款下限从原来的10万元提高至（）万元。

（）（2分）A：20B：30C：15答案：A解析：2.患有（）疾病者不得从事接尘作业。

（2分）A：活动性肺结核病B：慢性胆囊炎C：脂肪肝答案：A解析：3.石棉尘主要对人体的（）器官有危害。

（2分）A：胃部B：皮肤C：肺部答案：C解析：4.维修保养电机泵时，更换机械密封或者维修转动部件时，人员误开机造成维修人员O（2分）A：、中毒B：、挤伤C：、窒息D：、触电答案：B解析：5.县级以上各级人民政府及其有关部门对报告（）或者举报安全生产违法行为的有功人员，给予奖励。

X射线荧光光谱仪测试方法和要点详细介绍

X射线荧光光谱仪测试方法和要点详细介绍X射线荧光光谱仪是光谱仪一种常用类型，具有重现性好、测量速度快、灵敏度高、稳定性好等优点。

用户在使用x荧光光谱仪时对于测试方法和要点是需要掌握的，对于用户的使用有帮助。

下面介绍一下x荧光光谱仪测试方法和要点，希望可以帮助到大家。

一、X射线荧光光谱仪测试方法：1、X射线荧光光谱仪样品制备进行x射线荧光光谱分析的样品，（东仪精工）可以是固态，也可以是水溶液。

无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。

对金属样品要注意成份偏析产生的误筹；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至300目一400目，然后压成圆片，也可以放人样品槽中测定。

对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面，则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。

对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水份后测定，也可以密封在样品槽中。

总之，所测样品不能含有水、油和挥发性成份，更不能含有腐蚀性溶剂。

2、X射线荧光光谱仪定性分析不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量，因此根据荧光x射线的波长或能量可以确定元素的组成。

如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入，从而确定元素成份。

对于能量色散型光谱仪，可以由通道来判别能量，从而确定是何种元素及成份。

但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。

首先识别出x光管靶材的特征x射线和强峰的伴随线，然后根据能量标注剩余谱线。

在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源、性质等元素，以便综合判断。

3、X射线荧光光谱仪定量分析x射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光x射线强度ii与试样中该元素的含量ci成正比：ii=is×ci式中is为ci=100%时，该元素的荧光x射线的强度。

根据上式，可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。

X荧光光谱常见问题解答(200问)剖析

我的建议是：A 压样之后在破碎之前进行分析。

（不得已而为之）B 增加压样的时间，减小压样的压力.(2) 请检查所用淀粉中是否含有水分？水份会导致风干破裂。

(3) 原则上应该按照样品测试标准进行测试，一般情况下，制样有问题，实际上已经不符合标准了。

标样可以通过湿法分析或者别的方法获得标准值。

另外，由于含量分布较大，选好低含量样品的背景也很重要。

对于高硅成分还可以接受；另外对于一些试样存在污染较小，同时也可以缩短熔样时间。

光谱分析试题2终解析

浙江省质量监督系统食品检验人员上岗考核试卷仪器分析（光谱类）（第二套）姓名：单位：得分：一、选择题（每题 1 分）4、不属于分析化学中浓度的法定计量单位是（C ）。

A、mol/LB、mol/m3C、ND、mmol/L5、地方标准由（A）制定，并报国务院标准化行政主管部门和国务院有关行政部门备案，在公布国家标准或行业标准之后，该项地方标准即行废止。

A、省、自治区、直辖市标准化行政主管部门B、省、自治区、直辖市产品质量监督部门C、省、自治区、直辖市地方政府7、以下数据修约正确的是（B ）。

A.28.2645取三位有效数字为28.2。

B.28.350取三位有效数字为28.4。

C.28.250取三位有效数字为28.3。

D.28.050取三位有效数字为28.0。

8、检验机构向社会提供出具公证数据的检验服务，下列说法错误的是（D）。

（A）按照计量认证的检验业务范围接受委托（B）严格执行检验技术规程、标准和制度（C）客观、公正地出具检验结果（D）不用保守检验过程中知悉的被检验人的商业秘密9、在GB/T601-2002《化学试剂标准滴定溶液的制备》中规定：制备标准滴定溶液的浓度值应在规定浓度值的 C 范围内。

A、±10%B、±8%C、±5%D、±3%10、下面关于精密度的说法，错误的是（B）a)精密度是保证准确度的先决条件。

b)精密度高的，准确度一定高。

c)精密度是指几次平行测定结果相互接近的程度。

d)常常根据测定结果的精密度来衡量分析工作的质量。

11、下列哪种方法不能同时测定多种元素（A）a)原子吸收光谱b)原子发射光谱c)电感耦合等离子体光谱d)电感耦合等离子体质谱14、下列化合物中不能与水作用的是（C ）。

A、CaOB、Na2OC、CuOD、SO315、向饱和石灰水中通入CO2，氢氧化钙的质量分数（A ）。

A、变小B、变大C、无变化D、先变大，后变小16、与元素的化学性质关系密切的是原子的（B ）。

光谱培训试题2

光谱培训班复习思考题一、填空题1．原子发射光谱是由电热能对气态原子外层电子的激发跃迁产生的，线光谱的形成原因是原子外层电子产生的跃迁。

2．发射光谱分析中各元素的谱线强度与光源的温度关系是各元素具有其最佳温度，当光源温度为一定时，其元素的原子发射谱线强度与原子浓度成正比。

3．将试样进行发射光谱分析的过程有：A。

激发B 复合光的分解C 跃迁D 检测E 蒸发4.1926年的内标法的出现，使光谱分析能够进行定量分析。

5．目前看谱镜中常用的色散元件有棱镜、光栅。

6．实际看谱分析时，从光栏中看到的有线光谱，带光谱和连续光谱。

7．看谱分析最好在绿色区进行，因为该色区对人眼灵敏度最高。

8看谱半定量分析适合元素低浓度分析，看谱分析误差时10％——20％9．看谱分析中所用的看见光波长范围是390——700nm.10.钢10CrMo910,相当于中国材料号12Cr2Mo，其中Cr、Mo平均含量分别为Cr2.25%、Mo1%。

二、选择题：1．原子发射光谱定量分析常采用内标法，其目的是为了A.提高灵敏度B. 提高准确度C. 减少化学干扰D. 减少背景2．在下述那种情况下应选用原子发射光谱法而不选用其他方法检测。

A.汽油中的铅B. 煤中的钠C.小麦中的硒D. 高纯金属中的杂质元素．3.看谱分析最好选择在人眼灵敏度高绿色区进行，该色区波长范围是A．440—470nm B.495—581nm C.470—600nm D.500—650nm4.原子或离子外层电子跃迁，辐射出的谱线是A．连续的线连续的线光谱B.不连续的线光谱C. 带光谱D. 连续光谱5．看谱分析难熔元素时，需要A.预燃及燃弧时间要短B. .预燃时间短,燃弧时间长C. .预燃及燃弧时间要长D. 预燃时间长,燃弧时间短三、是非题1．看谱分析能够进行定性和定量分析。

×2．原子中每个轨道上能级的能值都是确定的。

正常情况下电子总是在能级最低的轨道上运行，这时的原子状态称作基态√3．原子是元素的具体存在，是体现元素化学性质的最小微粒。

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X荧光光谱仪培训测试题
姓名：得分：
一.填空题
1.RoHs指令检测的元素及其管控范围＿＿＿＿＿
2.仪器指示灯分别代表：＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿
3.测试软件的名称为：＿＿＿
4.测量模式有：＿＿＿＿＿＿＿＿，选择＿＿＿＿.
5.仪器预热时间一般为：＿＿，测试时间为：＿＿；当待机＿＿以上
需重新预热；测试时当计数率低于＿＿时，需将测量时间改为＿＿.
6.初始化需要放入＿＿，峰通道为：＿＿，当不是此值时需再次初始
化直到它为正确值，初始化一般做＿＿次；选侧不同的曲线前需重
新初始化，一般＿＿小时需初始化一次.
7.测试塑料类型的样品时间为＿＿，前200S测＿＿，需在系统-系统
设置-检测元素-测量塑料中的CrCl含量选项前打勾.
8.测试时将样品放入测试窗口，轻轻的合上盖子，确认＿＿＿已闭合
好，软件上点开始测量，输入＿＿＿＿，选择相应的＿＿＿＿.
9.测试完成时会自动弹出＿＿＿＿，需点击＿＿＿＿，测试报告才会
生成；＿＿＿＿，＿＿＿＿此时也可以根据需要做相应的修改.
10.仪器工作的温度范围是：＿＿＿，当超出＿＿℃时仪器会报警，并
自动停止测量，起到保护仪器的作用.
二.问答题
1. 简述仪器操作的步骤
2. 列举仪器使用过程中的注意事项
3. 仪器数据如何恢复？
答案：
一.填空题
1. Pb＜1000.Cd＜100.Cr＜1000.Hg＜1000.Br＜1000.
2.绿色是220V电源，黄色是高压工作
3.Mearohs2008
4.自动测量，手动测量，手动测量
5.1800S,200S,4H，1000，300S
6.Ag银校正片，1105,3次，1-2H
7.400S,CrCl
8.微动开关，样品名称，校正曲线
9.检测结果，保存报告，报告设置，标准设置
10.15-30℃，45℃
二.问答题
1.开机—预热—初始化—测试
2.A.不要碰触探测器，即使是擦拭也不要。

B.测试样品轻拿轻放，盖子轻开轻关，确保微动开关闭合良好
C.每天测试样品前一定要预热初始化
D.测试过程中，黄灯亮时不能打开盖子
3.进F盘，解压缩备份的数据，将解压出来的所有文件复制，粘贴到Mearohs软件的安装文件夹中，取代所有的文件。

查找软件所安装的文件夹的方法：单击Mearohs-点击鼠标右键-属性-查找目标，这样软件安装的地方就找到了，再将解压缩出来的文件全部复制粘贴至此，取代现在的文件就恢复到仪器初始调试的数据了。