原子吸收的干扰与消除
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
第三节 干扰及消除方法
目前原子吸收分光光度计上一般都配有连续光源自动扣 除背景装备。连续光源用氘灯在紫外区;碘钨灯、氙灯 在可 见区扣除背景。 氘灯产生的连续光谱进入单色器狭缝,通常比原子吸收 线 宽度 大一百倍左右。氘灯对原子吸收的信号为空心阴极 灯原子信号的0.5%以下。由此,可以认为氘灯测出的主要是 背景吸收信号,空心阴极灯测的是原子吸收和背景信号,二 者相减得原子吸收值。氘灯校正法已广泛应用于商品原子吸 收光谱仪器中,氘灯校正的波长和原子吸收波长相同,校正 效果显然比非共振线法好。
第三节 干扰及消除方法
离剂是比被测元素电离电位低的元素,相同条件下消电离剂 首先电离,产生大量的电子,抑制被测元素的电离。 例如,测钙时可加入过量的KCl溶液消除电离干扰。钙 的电离电位为6.1eV,钾的电离电位为4.3eV。由于K电离产 生大量电子,使钙离子得到电子而生成原子。
四、光谱干扰
(1)吸收线重叠 共存元素吸收线与被测元素分析线波长很接近时,两谱 线重叠或部分重叠,会使结果偏高。 (2)光谱通带内存在的非吸收线
第三节 干扰及消除方法
Zeeman效应 是指在磁场作用下简并的谱线发生分裂的 现象。Zeeman效应分为正常Zeeman效应 和反常Zeeman效 应。
0
H =0
0
H >0 +
正常Zeeman效应
-
+
反常Zeeman效应
第三节 干扰及消除方法
在正常Zeeman效应中,每条谱线分裂为三条分线,中 间一条为组分,其频率不受磁场的影响;其它两条称为 组分,其频率与磁场强度成正比。在反常Zeeman效应中, 每条谱线分裂为三条分线或更多条分线,这是由谱线本身的 性质所决定的。反常Zeeman效应是原子谱线分裂的普遍现 象,而正常Zeeman效应仅仅是假定电子自旋动量矩为零, 原子只有轨道动量矩时所有的特殊现象。 利用塞曼效应校正背景的方法可分为两大类:光源调制 法和吸收线调制法。 由于施加磁场的方式不同,每一类又可分为若干小类。
第三节 干扰及消除方法
当垂直于磁场方向的光束p成分通过原子蒸气时,因与 吸收线 组分偏振方向不同,不产生原子吸收,但与背景产 生吸收,因为背景吸收与发射线偏振方向无关。以p‖为测量 光束, p为参比光束,所测得信号差,则为经过背景校正后 的“净吸光度”。 吸收线磁场调制方式 一交变磁场(方向与光束垂直)置于原子化器,用磁场 对原子化过程中的原子吸收线进行调制。无磁场(H=0)时, 原子吸收线不发生Zeeman分裂,有磁场(H=HMAX)时,原 子吸收线分裂为和组分。在光路中放置一个偏光元件, 只允许光源辐射光中与磁场方向
原子吸收的干扰与消除
1、物理干扰 2、化学干扰 3、电离干扰 4、光谱干扰 5、背景干扰
原子吸收光谱法的主要干扰有物理干扰、化学干扰、电 离干扰、光谱干扰和背景干扰等。
一、物理干扰
物理干扰是指试液与标准溶液 物理性质有差异而产生 的干扰。如粘度、表面张力或溶液的密度等的变化,影响样 品的雾化和气溶胶到达火焰传送等引起原子吸收强度的变化 而引起的干扰。 消除办法:配制与被测试样组成相近的标准溶液或采 用标准加入法。若试样溶液的浓度高,还可采用稀释法。
第三节 干扰及消除方法
二、化学干扰
化学干扰是由于被测元素原子与共存组份 发生化学反应 生成稳定的化合物,影响被测元素的原子化,而引起的干扰。 消除化学干扰的方法: (1)选择合适的原子化方法 提高原子化温度,减小化学干扰。使用高温火焰或提高 石墨炉原子化温度,可使难离解的化合物分解。 采用还原性强的火焰与石墨炉原子化法,可使难离解的 氧化物还原、分解。
第三节 干扰及消除方法
塞曼效应。 p‖与p偏振交替调制方式 此法是在原子化器上施加一个永久磁场,其方向与光束 垂直,使吸收线分裂为 、+和 -组分, 组分平行于磁场 方向, 组分垂直于磁场方向。光源发射线通过检偏器后 变成偏振光,其偏振化方向一时刻平行于磁场方向为p‖光束, 另一时刻垂直于磁场方向为p光束。吸收线 组分与平行于 磁场方向的发射线p‖成分方向一致,产生吸收,由于背景吸 收没有方向性,因此测得的是原子吸收和背景吸收。
第三节 干扰及消除方法
(2)加入释放剂 释放剂的作用是释放剂与干扰物质能生成比被测元素更 稳定的化合物,使被测元素释放出来。 例如,磷酸根干扰钙的测定,可在试液中加入镧、锶盐, 镧、锶与磷酸根首先生成比钙更稳定的磷酸盐,就相当于把 钙释放出来。 (3)加入保护剂 保护剂作用是它可与被测元素生成易分解的或更稳定的 配合物,防止被测元素与干扰组份生成难离解的化合物。保 护剂一般是有机配合剂。例如,EDTA、8-羟基
第三节 干扰及消除方法
垂直的偏振光成分通过。在H=0时,与通常原子吸收一样, 测量原子吸收和背景吸收;在H=HMAX时,原子吸收线发生 Zeeman分裂,其组分与光源辐射的偏振光波长一致,但偏 振方向正交,故不发生吸收,此时测量的为背景吸收。两者 之差为校正了背景的净吸收信号。
第三节 干扰及消除方法
背景吸收是宽带吸收。分析线测量是原子吸收与背景吸 收的总吸光度AT, AT在分析线邻近选一条非共振线,非共 振线不会产生共振吸收,此时测出的吸收为背景吸收AB 。两 次测量吸光度相减,所得吸光度值即为扣除背景后的原子吸 收吸光度值A。 AT = A + AB A = AT - AB = k c 本法适用于分析线附近背景吸收变化不大的情况,否则 准确度较差。 (2)连续光源背景校正法
第三节 干扰及消除方法
干扰。例如,碱金属卤化物在紫外区有吸收;不同的无机酸 会产生不同的影响,在波长小于250nm时,H2SO4 和 H3PO4有很强的吸收带,而HNO3和HCl的吸收很小。因此, 原子吸收光谱分析中多用HNO3和HCl配制溶液。 光散射是指原子化过程中产生的微小的固体颗粒使光发 生散射,造成透过光减小,吸收值增加。 2. 背景校正方法 一般采用仪器校正背景方法,有邻近非共振线、连续光 源、Zeeman效应等校正方法。 (1)邻近非共振线校正法
第三节 干扰及消除方法
喹啉。 (4)加入基体改进剂 对于石墨炉原子化法,在试样中加入基体改进剂,使其 在干燥或灰化阶段与试样发生化学变化,其结果可以增加基 体的挥发性或改变被测元素的挥发性,以消除干扰。
三、电离干扰
在高温条件下,原子会电离,使基态原子数减少,吸光 度下降,这种干扰称为电离干扰。 消除电离干扰的方法是加入过量的消电离剂。消电
第三节 干扰及பைடு நூலகம்除方法
① 光源调制法 这种方法是将磁场加在光源上,使共振发射线发生塞曼 分裂。此法亦分为: 光束方向平行于磁场的方法( 旋转检偏器调制法) 这一方法又称为同位素位移塞曼原子吸收法,是在同位 素光源上施加一个永久磁场,使光源发射线发生塞曼分裂。 经磁场分裂后的圆偏振光,用1/4延迟板变为相位不相同 的两直线偏振光,再用旋转式偏转检偏器将+ 与 -组分分 开,让组分中之一组分位于共振吸收线中心,作为测量光 束,另一组分位于远离吸收线中心位
第三节 干扰及消除方法
置,作为参比光束。 光束方向垂直于磁场的方式( 、旋转检偏器调制法) 在光源上施加一个永久磁场,光源共振发射线分裂为、 组分,三组分同时通过试样原子蒸气时组分为试样原子 蒸气和背景吸收,组分仅为背景吸收。用旋转检偏器将、 两相互垂直的直线偏振化组分分开,交替地送到检测系统, 即得到校正了背景的试样原子吸收信号。 ② 吸收线调制法 这类方法是在原子化器上施加磁场,使吸收线发生
第三节 干扰及消除方法
非吸收线可能是被测元素的其它共振线与非共振线,也 可能是光源中杂质的谱线。一般通过减小狭缝宽度与灯电流 或另选谱线消除非吸收线干扰。 (3)原子化器内直流发射干扰
五、背景干扰
背景干扰也是一种光谱干扰。分子吸收与光散射是形成 光谱背景的主要因素。 1. 分子吸收与光散射 分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射的吸收。 分子吸收是带状光谱,会在一定的波长范围内形成
第三节 干扰及消除方法
氘灯校正背景是商品仪器使用最普通的技术,为了提高 背景扣除能力,从电路和光路设计上都有许多改进,自动化 程度越来越高。 此法的缺点在于氘灯是一种气体放电灯,而空极阴极灯 属于空极阴极溅射放电灯。两者放电性质不同,能量分布不 同,光斑大小不同,再加上不易使两个灯的光斑完全重叠。 急剧的原子化,又引起石墨炉中原子和分子浓度在时间和空 间上分布不均匀,因而造成背景扣除的误差。 (3)Zeeman效应背景校正法