第4章单晶硅及其杂质和缺陷

合集下载

第四章_单晶硅材料

第四章_单晶硅材料

三 硅氯 烷氢 热硅 分氢 解还 法原

四 氯 化 硅 还 原 法
二 氯 二 氢 硅 还 原 法
作为单晶硅原料的高纯多晶硅
对于区熔单晶硅而言,是利用感应线
圈形成区域熔化,达到提纯和生长单晶 的目的。这种单晶硅的纯度很高,电学 性能均匀,但是,其直径很小,机械加 工性差。虽然太阳电池的光电转换效率 高,但是生产成本很高,一般情况下, 区熔硅不应用在太阳电池的大规模生产 上。
4.2 太阳电池用硅材料
由于硅材料的独特性质,成为现代 电子工业和信息社会基础,其发展是20 世纪材料和电子领域的里程碑,它的发 展和应用直接促进了20世纪全球科技和 工业的高速发展,因为,人类的发展被 称为进入了“硅时代”。
按纯度划分:
金属硅和半导体(电子级)硅
按结晶形态划分:
非晶硅、多晶硅和单晶硅
生成的硅烷可以利用精馏技术提纯, 然后通入反应式,细小的多晶硅硅棒通 电加热至850℃以上,硅烷分解,生成 多晶硅沉积在硅棒上,化学反应式为:
SiH4=Si+2H2
4.3.3 四氯化硅氢还原法
四氯化硅氢还原法是早期最常用的 技术,但材料利用率低、能耗大,现在 已经很少采用。
该方法利用金属硅和氯气反应,生 成中间化合物四氯化硅,其反应式为:
硅材料是目前世界上最主要的元素 半导体材料,在半导体工业中广泛应用, 是电子工业的基础材料。其中单晶硅材 料是目前世界上人工制备的晶格最完整、 体积最大、纯度最大的晶体材料。
硅是地壳中最丰富的元素之一,仅次于氧,
在地壳中的丰度到达26%左右,硅在常温下其 化学性质是稳定的,是具有灰色金属光泽的固 体,不溶于单一的算,易溶于某些混合酸和混 合碱,在高温下很容易与氧等化学物质反应。 所以自然界中没游离的单质硅存在,一般以 氧化物存在,是常用硅酸盐的主要元素。硅在 元素周期表中属于IV元素,晶体硅在常压下为 金刚石结构,熔点为1420℃。

半导体材料-硅锗晶体中的杂质

半导体材料-硅锗晶体中的杂质

ρ
1 eμKC0(1 g)( 1k )
• 如果要拉电阻率ρ为w克锗,所需要加入的杂质 量m为:
wA 1 wA m C0 dN0 euK(1 g ) (1k ) dN0
思考: 为什么会是 m=C0wA/dN0这一公式? 而不是 m=wC0
C0:杂质浓度,每立方厘米晶体中所含的杂质数目 单位: 个· cm-3 w :单晶质量 A: 单晶的摩尔质量 d: 单晶的密度, N0: 阿佛加德罗常数, 单位:g 单位: g ·mol-1 单位:g ·cm-3 单位 : 个·mol-1
M(母合金质Βιβλιοθήκη ) W锗质量 C0(单晶中杂质浓度 ) Cm(母合金中杂质浓度 )
• 母合金可以是单晶(或多晶),通常在单晶炉内掺杂拉制, 测量单晶电阻率后,将电阻率曲线较平直部分依次切成 0.35~0.40mm厚的片,再测其电阻率,清洗后编组包装顺 次使用。 • 母合金中杂质的含量用母合金浓度(cm-3)来表示,其大小可
霍尔电压,即l、2两点间的电位差为
UH bB
工作电流I与载流子电荷e、n型载流 子浓度n、迁移速率v及霍尔元件的 截面积bd之间的关系为I=nevbd,
UH IB KIB end
式中K=1/(end),称该霍尔元件的灵敏度。如果霍尔元件是P型(即载流子是 空穴)半导体材料制成的,则K=l/(epd),其中p为空穴浓度。
载流子浓度为:
n(或p) 工作电流 磁场强度 IB 霍尔电压 电荷 器件厚度 U Hed
室温下(300K)硅、锗的电阻率值随施主或受主浓度的变化关系。在半导 体材料和器件生产中,常用这些曲线进行电阻率与杂质浓度(ρ-N)换算。
4-2硅、锗晶体的掺杂
• • 通过掺杂的方法来控制半导体材料的电学参数。 掺杂方式:在拉晶过程中掺杂,是将杂质与纯材料一 起在坩埚里熔化或是向已熔化的材料中加入杂质,然后 拉单晶。

半导体材料第4章硅中有害杂质课后答案

半导体材料第4章硅中有害杂质课后答案

第四章、硅中有害杂质1、概念解释:①*小平面效应:晶体生长的固液界面,由于受坩埚中熔体等温线的限制,常常是弯曲的。

如果在晶体生长时迅速提起晶体,则在<111>锗、硅单晶的固液界面会出现一小片平整的平面,它是(111)原子密排面,称之为小平面。

在小平面区杂质浓度与非小平面区有很大差异,这种杂质在小平面区域中分布异常的现象叫小平面效应。

②杂质(生长)条纹:在晶体生长的过程中,由于各种外界因素导致晶体生长速率的的微起伏,造成晶体中杂质浓度的起伏,晶体的电阻率、载流子寿命及其他物理性能在纵、径向出现周期性起伏,在用化学腐蚀时表现出宽窄不一的条纹称为杂质条纹。

③旋转性条纹:在晶体转轴与温场轴不重合时,不同时刻所生长的晶体中杂质浓度是不相同的,这样形成的条纹叫旋转性条纹。

④*中子嬗变掺杂:通常是由三种同位素组成。

将高纯区熔硅单晶放入原子反应堆中进行中子辐照,使起施主作用进行掺杂,称为中子嬗变掺杂(*NTD)④漩涡缺陷:无位错单晶在生长方向的横断面经希特尔腐蚀液腐蚀后,所观察到的呈漩涡状分布的宏观缺陷花纹,俗称漩涡缺陷。

⑤热施主效应:在硅单晶中,由于含有氧杂质,在对其进行热处理时,Si与O之间发生一系列反应,在450C°时SiO以最快的速度形成SiO4,SiO4是一个正电中心,可以束缚一个电子,在室温下受热激发而使它电离出来参与导电,SiO4起施主作用,此种效应称为热施主效应。

⑥吸杂工艺:通过机械化学处理方法,在硅片的非电活性区引入缺陷,在热处理时一些重金属杂质会扩散并淀积在这些缺陷处,从而减少了这些有害杂质对器件工作区的影响,改善了器件的性能,这种工艺叫吸杂工艺。

2、简述CZ法中杂质掺入办法及其选择依据。

答:对于不易挥发的杂质如硼,可采用共熔法掺入,即把掺入元素或母合金与原料一起放在坩埚中熔化;对于易挥发的杂质,如砷、锑等,则放在掺杂勺中,待材料熔化后,在拉晶前再投放到熔体中,并需冲入氩气抑制杂质挥发。

单晶硅缺陷

单晶硅缺陷

解决办法
时的浓度与温度有关。温度越高,平衡 中过饱和的间隙原子和空位要消失。 碳等杂质原子 选择合适的晶体生长参数和原原生晶历史 (热场),主要调节生长参数是拉速、固 液面的轴向温度梯度、冷却速率等。另外 通过适宜的退火处理可减少或消除原声缺 陷。
各种形态的氧化物沉淀,它们是氧和碳 质成核和异质成核机理形成
固液界面落入不容固体颗粒, 1、缩颈,加大细晶长度 2、调节热场,选 较大的热应力时,更容易产生位错并增 择合理的晶体生长参数,维持稳定的固液 界面形状 3、防止不容固态颗粒落入固液 界面 的晶粒间界称为小角晶界。 1、保持炉内、石墨件清洁,防止颗粒落入 颗粒进入固液界面 2、晶体内存在较大 固液界面 2、调节径、轴向梯度,保持稳 面附近熔体过冷度较大 4、机械振动 定状态 3、对电器定时检测,防止机械故 生长过程中,固液界面处引入固态小颗 障(如拉速突变 ,埚升停止或突变等) 4 并不断长大形成孪晶。另外,机 、尽量减轻机械振动 度过快或拉速突变也可促使孪晶形成。 常见的有包裹体、气泡、空洞、微 可以通过增大埚转、晶转或延长恒温时间 。属于宏观缺陷。 等方法改进 由于种种原因,或引起固液界面 由此导致晶体围观生长速率 调整热场,使之具有良好的轴对称性,并 杂质边界层厚度起伏,以及小平面效应 使晶体的旋转轴尽量与热场中心轴同轴, 体之间的杂质有效分凝系数产生波动引 抑制和减弱熔体热对流,可以使晶体杂质 趋于均匀分布。 度分布发生相应变化,从而形成杂质条 。
分类 热点缺陷 空位、间 隙原子 点缺陷 杂质点缺陷 间隙杂质点缺陷 微缺陷
状态及产生原因
产生原因:单晶中空位和间隙原子在热平衡时的浓度与温度有关 浓度愈大。高温生长的单晶硅在冷却过程中过饱和的间隙原子和空位要 替位杂质点缺陷 如硅晶体中的磷、硼、碳等杂质原子 如硅晶体中的氧等

半导体材料第5讲-硅、锗晶体中的杂质

半导体材料第5讲-硅、锗晶体中的杂质

精品课件
基本原理,由Cs=KCL可知,在拉晶时,若杂质K<l, CL将不断增大,要保持Cs不变,则必须使K值变小(变速拉 晶法) 或CL变小。 使用双坩埚,当拉出部分单晶,内坩埚 的CL变大时,外坩埚中的锗液进入内坩埚,又使CL变小。
当锗熔化后,内外坩埚中的熔体液面相同。拉晶时,
内坩埚内熔体减少,液面降低,外坩埚中的纯锗液通过连
质和P型杂质的数量接近,它们相互补偿,结果材料将呈
现弱N型或弱P型。

值得提出的是,一些离子半导体材料,如大多数Ⅱ一
Ⅵ族化合物,晶体中的缺陷能级对半导体的导电类型可起
支配作用。
精品课件
2.杂质对材料电阻率的影响

半导体材料的电阻率一方面与载流子密度有关,另一方面
又与载流子的迁移率有关。

同样的掺杂浓度,载流子的迁移率越大,材料的电阻率
精品课件
4-2硅、锗晶体的掺杂
• 通过掺杂的方法来控制半导体材料的电学参数。

掺杂方式:在拉晶过程中掺杂,是将杂质与纯材料
一起在坩埚里熔化或是向已熔化的材料中加入杂质,然
后拉单晶。
• 影响单晶内杂质数量及分布的主要因素是: 1. 原料中的杂质种类和含量 2. 杂质的分凝效应 3. 杂质的蒸发效应 4. 生长过程中坩埚或系统内杂质的沾污 5. 加入杂质量
而蒸发正好相反,蒸发会使单晶尾部电阻率升高;

坩埚的污染(引入P型杂质)会使N型单晶尾部电阻率
增高,使P型单晶尾部电阻率降低。
• 如果综合上述的影响因素,使纵向电阻率逐渐降低的效果 与使电阻率逐渐升高的效果达到平衡,就会得到纵向电阻
率比较均匀的晶体。

对锗单晶来说,杂质分凝是主要的,而对于硅单晶而

硅中的缺陷和杂质

硅中的缺陷和杂质
杂 质 晶体 B Al Ga In 晶体
杂 质
P As Sb
Si
0.045
0.057
0.065 0.16
Si
0.044
0.049
0.039
Your company slogan
深能级杂质
在硅中掺入非Ⅲ、Ⅴ族杂质后,在硅禁带中产生的施主能 级ED距导带底EC较远,产生的受主能级EA距价带顶EV较远, 这种能级称为深能级,对应的杂质称为深能级杂质。 深能级杂质可以多次电离,每一次电离相应有一个能级。 因此,这些杂质在硅的禁带中往往引入若干个能级。而且, 有的杂质既能引入施主能级,又能引入受主能级。
Your company slogan
过渡金属杂质的固溶度
1金属的固溶度随温度而迅速下降 2.同一温度不同金属的固溶度不一样 3. Cu,Ni 最大 (1018 cm-3),较P,B为小 4.掺杂剂会影响过渡族金属在金属中的溶解度
Your company slogan
Fe, Cu, Ni在硅中的扩散 Cu原子扩散是其带正电离子Cu+的扩散,故其不仅仅受温度 影响,而且受导电类型和掺杂浓度的影响。 Ni金属扩散主要是以间隙态存在,有0.1%的替位Ni(有电 学活性),受点缺陷的控制,扩散以分离机制为主。 Fe主要以间隙态存在,禁带中引入导带以下0.29 eV的能级, 替位铁不存在。温度小于200度时p型硅中绝大部分铁带正 电荷,高温时候无论p或者n型硅中大部分铁是中性,带电 铁容易和p型硅中的B形成Fe-B对,影响Fe的扩散。
Si
EC
Si Si Eg
Si Si Si
Si
+
BSi
Δ EA
EA
EV
空穴得到能量Δ EA后, 从受主的束缚态跃迁到 价带成为导电空穴在能 带图上表示空穴的能量 是越向下越高,空穴被 受主杂质束缚时的能量 比价带顶EV低Δ EA

单晶硅中可能出现的各种缺陷分析

单晶硅中可能出现的各种缺陷分析

单晶硅中可能出现的各种缺陷分析缺陷,是对于晶体的周期性对称的破坏,使得实际的晶体偏离了理想晶体的晶体结构。

在各种缺陷之中,有着多种分类方式,如果按照缺陷的维度,可以分为以下几种缺陷:点缺陷:在晶体学中,点缺陷是指在三维尺度上都很小的,不超过几个原子直径的缺陷。

其在三维尺寸均很小,只在某些位置发生,只影响邻近几个原子,有被称为零维缺陷。

线缺陷:线缺陷指二维尺度很小而们可以通过电镜等来对其进行观测。

面缺陷:面缺陷经常发生在两个不同相的界面上,或者同一晶体内部不同晶畴之间。

界面两边都是周期排列点阵结构,而在界面处则出现了格点的错位。

我们可以用光学显微镜观察面缺陷。

体缺陷:所谓体缺陷,是指在晶体中较大的尺寸范围内的晶格排列的不规则,比如包裹体、气泡、空洞等。

一、点缺陷点缺陷包括空位、间隙原子和微缺陷等。

1、空位、间隙原子点缺陷包括热点缺陷(本征点缺陷)和杂质点缺陷(非本征点缺陷)。

1.1热点缺陷其中热点缺陷有两种基本形式:弗仑克尔缺陷和肖特基缺陷。

单晶中空位和间隙原子在热平衡时的浓度与温度有关。

温度愈高,平衡浓度愈大。

高温生长的硅单晶,在冷却过程中过饱和的间隙原子和空位要消失,其消失的途径是:空位和间隙原子相遇使复合消失;扩散到晶体表面消失;或扩散到位错区消失并引起位错攀移。

间隙原子和空位目前尚无法观察。

1.2杂质点缺陷A、替位杂质点缺陷,如硅晶体中的磷、硼、碳等杂质原子B、间隙杂质点缺陷,如硅晶体中的氧等1.3点缺陷之间相互作用一个空位和一个间隙原子结合使空位和间隙原子同时湮灭(复合),两个空位形成双空位或空位团,间隙原子聚成团,热点缺陷和杂质点缺陷相互作用形成复杂的点缺陷复合体等。

2、微缺陷2.1产生原因如果晶体生长过程中冷却速度较快,饱和热点缺陷聚集或者他们与杂质的络合物凝聚而成间隙型位错环、位错环团及层错等。

Cz硅单晶中的微缺陷,多数是各种形态的氧化物沉淀,它们是氧和碳等杂质,在晶体冷却过程中,通过均质成核和异质成核机理形成。

硅锗晶体中的杂质和缺陷

硅锗晶体中的杂质和缺陷
3
三、硅锗晶体的掺杂
半导体的电学参数通过掺杂来控制的,拉 单晶的过程时就掺入杂质。
杂质掺入的方法
不易挥发的材
共熔法:纯材料与杂质一起料放入坩锅熔化
投杂法:向已熔化的材料中加入杂质
易挥发的材料
4
单晶生长时, 杂质分布不均匀会造成横向和纵向电阻率不均匀 电阻率均匀性是半导体材料质量的一个指标
一、直拉法生长单晶的电阻率的控制
第四章 硅/锗晶体中的杂质和缺陷
1
一、杂质能级
对材料电阻
杂质的分类
率影响大
浅能级杂质
Ⅲ族杂质 起或Ⅴ复陷族合阱杂中作心用质
深能级杂质
2
二、杂质对材料性能的影响
1.杂质对材料导电类型的影响 掺杂一种杂质 掺杂两种杂质
2.杂质对材料电阻率的影响
3.杂质对非平衡载流子寿命的影响
降低了载流子的寿命
四、硅锗单晶中的位错
晶体中常见的缺陷种类
点缺陷 线缺陷
位错
面缺陷 体缺陷 微缺陷
11
点缺陷
杂质点缺陷
来源:制备过程中或环境中杂质沾污或掺杂, 间隙 替位
热点缺陷
弗伦克尔缺陷 肖特基缺陷 来源:与温度直接相关
12
线缺陷:位错的基本类型
1. 刃型位错(棱位错) 特点:位错线垂直滑移方向
快扩散杂质:H,Li, Na, Cu, Fe, K, Au, He, Ag, Si 慢扩散杂质:Al,P,B,Ca, Ti, Sb,As
➢ 根据杂质元素的蒸发常数选择
快蒸发杂质的掺杂不宜在真空而应在保护性气氛下进行
➢ 尽量选择与锗、硅原子半径近似的杂质元素作为 掺杂剂,以保证晶体生长的完整性
10
2.螺位错: 特点:位错线平行滑移方向

4. 晶体缺陷

4. 晶体缺陷

螺型位错的滑移:在图示的晶体上施加一切应力,当应力足够大 时,有使晶体的左右部分发生上下移动的趋势。假如晶体中有一 螺型位错,显然位错在晶体中向后发生移动,移动过的区间右边 晶体向下移动一柏氏矢量。因此,①螺位错也是在外加切应力的 作用下发生运动;②位错移动的方向总是和位错线垂直;③运动 位错扫过的区域晶体的两部分发生了柏氏矢量大小的相对运动 (滑移);④位错移过部分在表面留下部分台阶,全部移出晶体 的表面上产生柏氏矢量大小的完整台阶。这四点同刃型位错。
第二节 位错的基本概念
一.位错概念的引入
★1926年 Frank计算了理论剪切强度,与实际剪切 强度相比,相差3~4个数量级,当时无法解释, 此矛盾持续了很长时间 。
★1934年 Taylor在晶体中引入位错概念,将位错与 晶体结构、晶体的滑移联系起来解释了这种差异 。
★ 1939年 Burgers提出柏氏矢量b以表征位错的特征, 阐述了位错弹性应力场理论。
例题
Cu晶体的空位形成能uv=0.9ev/atom或 1.44*10-19J/atom材料常数A取作1,k=1.38*10-23. 计算:
1)在500℃下,每立方米中的空位数目; 2)500 ℃下的平衡空位浓度 。
解:首先确定1m3体积内原子Cu原子总数 (已知Cu的摩尔质量MCu=63.54g/mol,500 ℃
螺型位错
τb
晶体的局部滑移
螺型位错的原子组态
混合型位错: 晶体的局部滑移
τ∧ b
混合型位错的原子组态
线缺陷:在三维空间的一个方向上的尺寸很大(晶粒数量级),
另外两个方向上的尺寸很小(原子尺寸大小)的晶体缺陷。其 具体形式就是晶体中的位错Dislocation
一、位错的原子模型

单晶硅中可能出现的各种缺陷

单晶硅中可能出现的各种缺陷

单晶硅中大概出现的百般缺陷之阳早格格创做缺陷,是对付于晶体的周期性对付称的益害,使得本量的晶体偏偏离了理念晶体的晶体结构.正在百般缺陷之中,有着多种分类办法,如果依照缺陷的维度,不妨分为以下几种缺陷:面缺陷:正在晶体教中,面缺陷是指正在三维尺度上皆很小的,没有超出几个本子曲径的缺陷.其正在三维尺寸均很小,只正在某些位子爆收,只效率相近几个本子,有被称为整维缺陷.线缺陷:线缺陷指二维尺度很小而第三维尺度很大的缺陷,也便是位错.咱们不妨通过电镜等去对付其举止瞅测.里缺陷:里缺陷时常爆收正在二个分歧相的界里上,大概者共一晶体里里分歧晶畴之间.界里二边皆是周期排列面阵结构,而正在界里处则出现了格面的错位.咱们不妨用光教隐微镜瞅察里缺陷.体缺陷:所谓体缺陷,是指正在晶体中较大的尺寸范畴内的晶格排列的没有准则,比圆包裹体、气泡、空洞等.一、面缺陷面缺陷包罗空位、间隙本子战微缺陷等.1、空位、间隙本子面缺陷包罗热面缺陷(本征面缺陷)战纯量面缺陷(非本征面缺陷). 1.1热面缺陷其中热面缺陷有二种基础形式:弗仑克我缺陷战肖特基缺陷.单晶中空位战间隙本子正在热仄稳时的浓度与温度有闭.温度愈下,仄稳浓度愈大.下温死少的硅单晶,正在热却历程中过鼓战的间隙本子战空位要消得,其消得的道路是:空位战间隙本子相逢使复合消得;扩集到晶体表面消得;大概扩集到位错区消得并引起位错攀移.间隙本子战空位暂时尚无法瞅察.1.2纯量面缺陷A、替位纯量面缺陷,如硅晶体中的磷、硼、碳等纯量本子B、间隙纯量面缺陷,如硅晶体中的氧等 1.3面缺陷之间相互效率一个空位战一个间隙本子分离使空位战间隙本子共时湮灭(复合),二个空位产死单空位大概空位团,间隙本子散成团,热面缺陷战纯量面缺陷相互效率产死搀纯的面缺陷复合体等.2、微缺陷2.1爆收本果如果晶体死少历程中热却速度较快,鼓战热面缺陷汇集大概者他们与纯量的络合物凝结而成间隙型位错环、位错环团及层错等.Cz硅单晶中的微缺陷,普遍是百般形态的氧化物重淀,它们是氧战碳等纯量,正在晶体热却历程中,通过均量成核战同量成核机理产死. 2.2微缺陷瞅察要领1)择劣化教腐蚀:择劣化教腐蚀后正在横断里上呈匀称分集大概组成百般形态的宏瞅漩涡花纹(漩涡缺陷).宏瞅上,为一系列共心环大概螺旋状的腐蚀图形,正在隐微镜下微缺陷的微瞅腐蚀形态为浅底腐蚀坑大概腐蚀小丘(蝶形蚀坑).正在硅单晶的纵剖里上,微缺陷常常呈层状分集.2)热氧化处理:由于CZ硅单晶中的微缺陷,其应力场太小,往往需热氧化处理,使微缺陷缀饰少大大概转移为氧化层错大概小位错环后,才可用择劣腐蚀要领隐现.3)扫描电子隐微技能,X射线形貌技能,白中隐微技能等要领. 2.3微缺陷结构曲推单晶中微缺陷比较搀纯.TEM瞅察到正在本死曲推硅单晶中,存留着间隙位错环,位错团战小的堆跺层错等形成的微缺陷,以及板片状SiO2重积物,退火Cz硅单晶中的微缺陷为体层错、氧重淀物及重淀物-位错-络合物等.Cz硅中的本死缺陷分别是根据分歧的丈量要领而命名,有三种:1.使用激光集射层析摄影仪检测到的白中(IR)集射核心(LSTD);2.经一号荡涤液腐蚀后,正在激光颗粒计数器下检测为微弱颗粒的缺陷(COP);3.流型缺陷(FPD),它是正在Secco腐蚀液择劣腐蚀后,用光教隐微镜瞅察到的形如楔形大概扔物线形的震动图样的缺陷,正在其端部存留有很小的腐蚀坑.统造CZ硅单晶中本死缺陷的道路是采用符合的晶体死少参数战本死晶体的热履历.要安排的主要死少参数是推速、固液界里的轴背温度梯度G(r)(含符合的v/G(r)比值)、热却速率等.其余通过相宜的退火处理可缩小大概与消本死缺陷.二、线缺陷位错:包罗螺位错战刃位错1、爆收本果1)籽晶中位错的蔓延;2)晶体死少历程中,固液界里附近降进没有溶固态颗粒,引进位错;3)温度梯度较大,正在晶体中爆收较大的热应力时,更简单爆收位错并删殖.2、位错形态及分集1)择劣化教腐蚀:位错蚀坑正在{100}里上呈圆形,但是其形态还与位错线走背、晶背偏偏离度、腐蚀剂种类、腐蚀时间、腐蚀液的温度等果素有闭.硅单晶横断里位错蚀坑的宏瞅分集大概组态:A、位错匀称分集B、位错排是位错蚀坑的某一边排列正在一条曲线上的一种位错组态,它是硅单晶正在应力效率下,位错滑移、删殖战散集的截止.位错排沿目标排列.C、星形结构式由一系列位错排沿目标汇集排列而成的.正在{100}里上,星形结构呈井字形组态.2)白中隐微镜战X射线形貌技能3、无位错硅晶体的死少1)缩颈2)安排热场,采用合理的晶体死少参数,保护宁静的固液界里形状3)预防没有溶固态颗粒降进固液界里三、里缺陷里缺陷主要有共种晶体内的晶界,小角晶界,层错,以及同种晶体间的相界等.仄移界里:晶格中的一部分沿着某部分网相对付于另一部分滑动(仄移).堆跺层错:晶体结构中周期性的互相仄止的堆跺层有其固有的程序.如果堆跺层偏偏离了本去固有的程序,周期性改变,则视为爆收了堆跺层错.晶界:是指共种晶体里里结晶圆背分歧的二晶格间的界里,大概道是分歧晶粒之间的界里.按结晶圆背好别的大小可将晶界分为小角晶界战大角晶界等.小角晶界普遍指的是二晶格间结晶圆背好小于10度的晶界.偏偏离角度大于10度便成了孪晶.相界:结构大概化教身分分歧的晶粒间的界里称为相界.1、小角晶界:硅晶体中相邻地区与背没有共正在几分之一秒到一分(弧度)的晶粒间界称为小角度晶界.正在{100}里上,位错蚀坑则以角顶底办法曲线排列.2、层错:指晶体内本子仄里的堆垛序次庞杂产死的.硅单晶的层错里为{111}里. 2.1层错爆收本果:正在暂时工艺条件下,本死硅单晶中的层错是已几睹的.普遍认为,正在单晶死少历程中,固态颗粒加进固液界里,单晶体内存留较大热应力,固液界里附近熔体过热度较大,以及板滞振荡等皆大概成为爆收层错的本果. 2.2层错的腐蚀形态应用化教腐蚀要领隐现硅单晶中的层错时,偶我不妨瞅察到沿目标腐蚀沟槽,它是层错里与瞅察表面的接线.正在{111}里上,层错线互相仄止大概成60o,120o分集,{100}里上的层错线互相仄止大概者笔曲,正在层错线二端为偏偏位错蚀坑.层错不妨贯脱到晶体表面,也不妨终止于晶体内的半位错大概晶粒间界处. 2.3氧化诱死层错产死的根根源基本果:热氧化时硅二氧化硅界里处爆收自间隙硅本子,那些自间隙硅本子扩集至弛应力大概晶格缺陷(成核核心)处而产死OSF并少大.普遍认为,OSF主要成核十硅片表面的板滞益伤处、金属沾污宽重处,其余诸如表面大概体内的旋涡缺陷、氧重淀也是OSF的成核核心它与中延层错相辨别也与由体内应力引起的体层错(bulkstackingfaults)相辨别.常常OSF有二种:表面的战体内的.表面的OSF普遍以板滞益伤,金属沽污、微缺陷(如氧重淀等)正在表面的隐露处等动做成核核心;体内的B-OSF(BulkOSF)则普遍成核于氧重淀.20世纪70年代终,钻研者创造硅晶体中的OSF时常呈环欲分集特性(ring-OSF)后裔的钻研标明,那与晶体死万古由死少参数(死少速度、固液界里处的温度梯度)决断的面缺陷的径背分集相闭联由搞空位战自间隙的相互效率,从而引起氧的非常十分重淀,从而激励OSF.3孪晶 3.1孪晶的形成孪晶是由二部分与背分歧,但是具备一个共共晶里的单晶体组成.它们共用的晶里称为孪死里,二部分晶体的与背以孪死里为镜里对付称,且二部分晶体与背夹角具备特定的值.硅晶体的孪死里为{111}里. 3.2孪晶死成本果晶体死少历程中,固液界里处引进固态小颗粒,成为新的结晶核心,本去没有竭少大产死孪晶.别的,板滞振荡、推晶速度过快大概推速突变也可督促孪晶的产死.四、体缺陷所谓体缺陷,是指正在晶体中三维尺度上出现的周期性排列的混治,也便是正在较大的尺寸范畴内的晶格排列的没有准则.那些缺陷的地区基础上不妨战晶体大概者晶粒的尺寸相比较,属于宏瞅的缺陷,较大的体缺陷不妨用肉眼便不妨浑晰瞅察.体缺陷有很多种类,罕睹的有包裹体、气泡、空洞、微重淀等.那些缺陷地区正在宏瞅上与晶体其余位子的晶格结构、晶格常数、资料稀度、化教身分以及物理本量有所分歧,佳像是正在所有晶体中的独力王国.1嵌晶硅晶体里里存留与基体与背分歧的小晶体(晶粒)称为嵌晶.嵌晶可为单晶大概多晶.正在普遍推晶工艺下,嵌晶很少睹.2夹纯物由中界大概多晶引进熔硅中的固态颗粒,正在推晶时被夹戴到晶体中产死第二相称为夹纯物.应用电子探针战扫描电子隐微镜瞅察到曲推大概者区熔硅单晶中,存留α-SiC 战β-SiC颗粒,其尺寸由几个微米到十几个微米.3孔洞硅单晶中存留的近于圆柱形大概球形的空洞.正在硅单晶板滞加工时,硅片上所睹到的圆形孔洞,大的孔洞曲径有几毫米.五、条纹正在宏瞅上为一系列共心环状大概螺旋状的腐蚀图形,正在100倍大概者更下搁大倍数下是连绝的表面坎坷状条纹.。

第4章_硅锗中的杂质和缺陷ppt课件

第4章_硅锗中的杂质和缺陷ppt课件

EA EV
25
多子——多数载流子
少子——少数载流子
N型半导体导带电子数由施主决定,半导体 导电的载流子主要是电子。电子为多子,空 穴为少子。
P型半导体价带空穴数由受主决定,半导体导 电的载流子主要是空穴。空穴为多子,电子 为少子。
最新课件
26
3. 杂质半导体
杂质激发
杂质向导带和价带提供电子和空穴的过程(电 子从施主能级向导带的跃迁或空穴从受主能级 向价带的跃迁)称为杂质电离或杂质激发。具 有杂质激发的半导体称为杂质半导体
0.35eV
EA ED
能起到复合中心作用,
0.29eV
Ev
使少数载流子寿命降
低。
Au doped Silicon
最新课件
43
0.35
最新课件
44
化合物半导体中的杂质能级(补充)
Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体中的杂质
理想的GaAs晶格
价键结构: 含有离子键成分的 共价键结构
Ga-
As+
Ga
As
Ga
As
Ga
施主向导带提供的载流子 =1016~1017/cm3 》 本征载流子浓度
最新课件
28
上述杂质的特点:
杂质能级在禁带中的位置
施主杂质: ED Eg
受主杂质:
EA Eg
浅能级杂质
杂质的双重作用:
改变半导体的导电性 决定半导体的导电类型
最新课件
29
4. 杂质的补偿作用
半导体中同时存在施主和受主杂质,施主和受 主之间有互相抵消的作用
第4章 硅、锗晶体 中的杂质和缺陷
最新课件
1
理想半导体:
1、原子严格周期性排列,具有完整的晶格 结构。

第四章 硅锗晶体中的杂质和缺陷分解

第四章 硅锗晶体中的杂质和缺陷分解



快扩散杂质:H,Li, Na, Cu, Fe, K, Au, He, Ag, Si
慢扩散杂质:Al,P,B,Ca, 选择

快蒸发杂质的掺杂不宜在真空而应在保护性气氛下进行

尽量选择与锗、硅原子半径近似的杂质元素作为 掺杂剂,以保证晶体生长的完整性
10
四、硅锗单晶中的位错

根据杂质元素在硅、锗中的溶解度选择 三、五族元素在硅中的固溶度较大。 杂质原子半径越大,特征原子构型与锗、硅的越 不同,它们在锗、硅中的固溶度越小。
固溶度是指杂质在一定温度下能溶入固体硅中的最大浓度。

根据分凝系数选择

分凝系数远离1的杂质难于进行重掺杂 9

根据杂质在晶体中的扩散系数选择

在高温工艺中,如扩散、外延,掺杂元素的扩散系数小 些好
7


二、水平区熔拉晶时杂质的控制 (区域匀平法)


在用水平区熔法生长单晶时的掺杂,是 把杂质放在籽晶与料锭之间,随着熔区 的移动使杂质分布在整个晶锭中。 利用这种方法可以得到比较均匀的电阻 率分布,因此又称为区域匀平法。
8
掺杂元素的选择标准

根据导电类型和电阻率的要求选择掺杂元素

轻掺杂(1014~1016,在功率整流级单晶)、中 掺杂(1016~1019,晶体管级单晶)、重掺杂 (大于1019外延衬底级单晶)
3

三、硅锗晶体的掺杂

半导体的电学参数通过掺杂来控制的,拉 单晶的过程时就掺入杂质。 杂质掺入的方法 不易挥发的材 料 共熔法:纯材料与杂质一起放入坩锅熔化 投杂法:向已熔化的材料中加入杂质
易挥发的材料
4
单晶生长时, 杂质分布不均匀会造成横向和纵向电阻率不均匀

杂质与缺陷对晶体硅光伏器件性能的影响分析

杂质与缺陷对晶体硅光伏器件性能的影响分析

杂质与缺陷对晶体硅光伏器件性能的影响分析一、概述晶体硅是太阳能电池制造的主要材料。

在硅光伏器件中,杂质和缺陷是影响光电转换效率和长期稳定性的主要因素。

本文将从杂质和缺陷两个方面来分析它们对晶体硅光伏器件性能的影响。

二、杂质对晶体硅光伏器件性能的影响1. 大面积位错当晶体硅生长不完美时,就会出现大面积位错。

这会导致电子和空穴的捕获和重组增加,降低光伏器件的开路电压和填充因子。

2. 杂质掺杂杂质掺杂是一种常见的制备高效硅太阳能电池的方法。

例如,磷和硼可以用于控制硅的电子浓度和类型,提高光电流。

然而,过多的杂质掺杂会导致太阳能电池的饱和电流增加,从而降低电压。

此外,在氧化层中有太多的氧杂质时,激活层的接合会变得脆弱,导致器件失效。

3. 金属污染硅片制造过程中会有金属污染。

例如,铁污染会导致暗电流和光电流的损失,这会降低光伏器件的效率。

因此,制造工艺中必须控制金属污染的水平。

三、缺陷对晶体硅光伏器件性能的影响1. 晶粒边界晶粒是晶体硅中的基本单元。

在硅太阳能电池中,晶粒边界的存在会导致电池效率的降低。

晶粒边界是降低光电转换效率和长期稳定性的主要因素。

晶粒边界的存在会导致电子和空穴的捕获和重组增加,从而降低光伏器件的开路电压和填充因子。

2. 氧化层缺陷氧化层是硅太阳能电池界面的一部分。

氧化层缺陷会导致损失和漏电流,从而影响太阳能电池的电气特性。

氧化层缺陷可以通过制造过程和氧化层合适的温度来控制。

3. 晶体缺陷晶体缺陷可以通过改变生长条件来控制,例如晶体生长速率、生长密度和晶界控制等等。

晶体缺陷会引起光电子捕捉和再生的增加,导致器件效率的下降并降低器件的长期稳定性。

四、结论光伏器件的效率和长期稳定性可以通过控制掺杂水平,缺陷和杂质水平来改善。

为了获得高效、可靠和经济的太阳能电池,必须在硅太阳能电池的生产中控制这些因素的水平。

单晶硅中可能出现的各种缺陷分析

单晶硅中可能出现的各种缺陷分析

单晶硅中可能出现的各种缺陷分析缺陷,是对于晶体的周期性对称的破坏,使得实际的晶体偏离了理想晶体的晶体结构。

在各种缺陷之中,有着多种分类方式,如果按照缺陷的维度,可以分为以下几种缺陷:点缺陷:在晶体学中,点缺陷是指在三维尺度上都很小的,不超过几个原子直径的缺陷。

其在三维尺寸均很小,只在某些位置发生,只影响邻近几个原子,有被称为零维缺陷。

线缺陷:线缺陷指二维尺度很小而们可以通过电镜等来对其进行观测。

面缺陷:面缺陷经常发生在两个不同相的界面上,或者同一晶体内部不同晶畴之间。

界面两边都是周期排列点阵结构,而在界面处则出现了格点的错位。

我们可以用光学显微镜观察面缺陷。

体缺陷:所谓体缺陷,是指在晶体中较大的尺寸范围内的晶格排列的不规则,比如包裹体、气泡、空洞等。

一、点缺陷点缺陷包括空位、间隙原子和微缺陷等。

1、空位、间隙原子点缺陷包括热点缺陷(本征点缺陷)和杂质点缺陷(非本征点缺陷)。

1.1热点缺陷其中热点缺陷有两种基本形式:弗仑克尔缺陷和肖特基缺陷。

单晶中空位和间隙原子在热平衡时的浓度与温度有关。

温度愈高,平衡浓度愈大。

高温生长的硅单晶,在冷却过程中过饱和的间隙原子和空位要消失,其消失的途径是:空位和间隙原子相遇使复合消失;扩散到晶体表面消失;或扩散到位错区消失并引起位错攀移。

间隙原子和空位目前尚无法观察。

1.2杂质点缺陷A、替位杂质点缺陷,如硅晶体中的磷、硼、碳等杂质原子B、间隙杂质点缺陷,如硅晶体中的氧等1.3点缺陷之间相互作用一个空位和一个间隙原子结合使空位和间隙原子同时湮灭(复合),两个空位形成双空位或空位团,间隙原子聚成团,热点缺陷和杂质点缺陷相互作用形成复杂的点缺陷复合体等。

2、微缺陷2.1产生原因如果晶体生长过程中冷却速度较快,饱和热点缺陷聚集或者他们与杂质的络合物凝聚而成间隙型位错环、位错环团及层错等。

Cz硅单晶中的微缺陷,多数是各种形态的氧化物沉淀,它们是氧和碳等杂质,在晶体冷却过程中,通过均质成核和异质成核机理形成。

硅中的杂质和缺陷

硅中的杂质和缺陷

位错的延伸与生长轴线方向之间的关系
Page 15
自强不息 厚德载物
生长过程中位错产生后向无位错 单晶区域的反延
一旦在无位错单晶的生长过程中产生了位错,除了将会向 下延伸以外,位错还会由于其在热应力作用下的滑移和攀 移运动而向已经生长出的无位错单晶区域中反延。这部分 刚生长出的单晶温度还较高,产生塑性形变的屈服应力较 低。根据前面同样的分析,结合对于单晶中的温度分布的 认识,我们可以确定位错反延的范围。
Page 28
自强不息 厚德载物


Page 29
自强不息 厚德载物
Page 14
自强不息 厚德载物
生长过程中位错向界面的延伸
由硅中缺陷的特点我们已经知道,硅单晶中的位错不论是螺位错还是混合位错 都是在{111}面上的<110>方向。在生长过程中随着生长界面的推进,终止在界 面上的位错有延伸的趋势。另一方面,在生长过程中伴随着位错的滑移和攀移 运动。硅单晶中位错的滑移面是{111}面,位错的运动包括滑移和攀移都是在 {111}面上进行的。
硅中的缺陷和杂质
刘江 郭丽敏 清华大学
Page 1
几种晶体结构
面心立方结构的金属的 铜、银、金、铝、铅
体心立方结构的金属的 钒、钽钼等
Page 2
自强不息 厚德载物
晶体的晶向与晶面
Page 3
自强不息 厚德载物
晶体的晶向与晶面
Page 4
自强不息 厚德载物
Si晶体结构
图1.3 (a)金刚石结构的晶胞 (b)面心立方 5 自强不息 厚德载物
Page 5
晶体缺陷
Page 6
自强不息 厚德载物
点缺陷
晶体中的点缺陷示意图

第4章单晶硅及其杂质和缺陷

第4章单晶硅及其杂质和缺陷

籽晶可以是长方形或圆柱形,直径5mm,籽晶界面的法线方向 为单晶硅的生长方向,一般为<111>或<100>。
籽晶制备后,需化学抛光,除去表面损伤和可能的金属污染。
3 缩颈
种晶完成后,籽晶应快速向上提升,使新结晶的单晶硅 的直径比籽晶小,可达3mm左右,长度为此时晶体直径的 6~10倍,称为缩颈阶段,目的是为了使籽晶浸入液体时由于 热振动产生的位错滑移出单晶硅的表面,保证单晶硅无位错 生长。
以高纯多晶硅为原料,将多晶硅制 成棒状,垂直固定。
多晶硅棒下端放臵一定晶向的单晶 硅,作为单晶生长的籽晶。 在真空或保护性气体下,利用高频 感应线圈加热多晶硅棒,是多晶硅 棒的部分区域形成熔区,并依靠熔 区的表面张力保持多晶硅的平衡。 晶体生长首先从多晶硅棒和籽晶的 结合处开始,多晶硅棒和籽晶以一 定的速度做相反方向的运动,熔区 从下端沿着多晶硅棒缓慢向上移动, 使多晶硅逐渐转变为单晶硅。
晶体硅的密排面为(111)面,其次为(110)面,最 后为(100)面, (111)面间距最大, (100)面的间 距最小。所以晶体硅易沿(111)面解理,而腐蚀速 率最小。(面间距、面密度和键密度见表4.1)
4.2 太阳能电池用硅材料
高纯多晶硅 薄膜多晶硅 多晶硅 带状多晶硅 高纯硅烷 铸造多晶硅 硅材料 非晶硅 非晶硅薄膜 含硅气体
4.4 太阳能电池级多晶硅的制备
高纯多晶硅可以作为直拉单晶硅、铸造多晶硅、 带硅的原材料,但是,高纯多晶硅的制备成本过高。 相比于微电子器件而言,太阳电池用硅的纯度要低的 多,所以太阳电池所用原料通常为微电子行业废弃的 头尾料,造成了光伏产业对微电子工业的依赖性。随 着光伏产业的发展,微电子工业的废料已经不能满足 光伏产业的需要,因此,光伏产业迫切需要纯度高于 粗硅、低于高纯多晶硅,且成本又远远低于高纯多晶 硅的太阳能电池专用的太阳能级多晶硅材料。 所以发展了三种低成本的直接从粗硅提纯为太阳能级 多晶硅的技术,但是还没有投入大规模的使用。

第四章-硅锗晶体中的杂质和缺陷电子教案

第四章-硅锗晶体中的杂质和缺陷电子教案
• 快扩散杂质:H,Li, Na, Cu, Fe, K, Au, He, Ag, Si • 慢扩散杂质:Al,P,B,Ca, Ti, Sb,As
➢ 根据杂质元素的蒸发常数选择
• 快蒸发杂质的掺杂不宜在真空而应在保护性气氛下进行
➢ 尽量选择与锗、硅原子半径近似的杂质元素作为掺 杂剂,以保证晶体生长的完整性
11
四、硅锗单晶中的位错
晶体中常见的缺陷种类
• 点缺陷 • 线缺陷
位错
• 面缺陷 •止
硅单晶中重金属元素Cu、Fe、Ni、Mn、Au、 Ti;碱金属Li、Na、K;非金属C、O等对器 件性能有重大影响。
(一)、金属杂质 1.金属杂质在硅中的形态 金属杂质在硅中可以是间隙态,替位态,复
半导体材料
第四章 硅/锗晶体中的杂质和缺陷
2
一、杂质能级
对材料电阻率影响大
浅能级杂质 Ⅲ族杂质
杂质的分类
Ⅴ族杂质
深能级杂质
起复合中心或陷 阱作用
3
二、杂质对材料性能的影响
• 1.杂质对材料导电类型的影响 掺杂一种杂质 掺杂两种杂质
• 2.杂质对材料电阻率的影响
• 3.杂质对非平衡载流子寿命的影响
因碳的原子半径比硅小,引起晶格形变,容易 吸引氧原子在其附近聚集,形成氧成淀核心,为氧 成淀提供异质核。
23
点缺陷
• 杂质点缺陷
来源:制备过程中或环境中杂质沾污或掺杂, 间隙 替位
• 热点缺陷
弗伦克尔缺陷 肖特基缺陷 来源:与温度直接相关
24
线缺陷:位错的基本类型
1. 刃型位错(棱位错) 特点:位错线垂直滑移方向
21
三、硅中的碳
1.碳在硅中的基本性质 碳在硅中处于替位位置。由于它是四价元 素,属非电活性杂质。在特殊情况下,碳在 硅晶体中也可以以间隙态存在。当碳原子处 于晶格位置时,因为碳原子半径小于硅原子 半径,晶格会发生形变。目前,采用减压拉 晶和热屏系统,CO大量被保护气体带走,有 利于减少硅晶体中的碳浓度。碳在硅中的平 衡分凝系数为0.07,在直拉硅单晶中头部浓 度大,尾部浓度小。

半导体材料-硅锗晶体中的杂质

半导体材料-硅锗晶体中的杂质



基本原理,由Cs=KCL可知,在拉晶时,若杂质K<l,CL
将不断增大,要保持Cs不变,则必须使K值变小(变速拉晶 法) 或CL变小。 使用双坩埚,当拉出部分单晶,内坩埚的 CL变大时,外坩埚中的锗液进入内坩埚,又使CL变小。 当锗熔化后,内外坩埚中的熔体液面相同。拉晶时,
内坩埚内熔体减少,液面降低,外坩埚中的纯锗液通过连
•6 确定需加入母合金质量
M(母 合 金 质 量 ) W硅 质 量 C L 0(熔 硅 中 杂 质 浓 度 ) Cm(母 合 金 中 杂 质 浓 度)
如果蒸发效应很小,则掺杂公式为
M( 母 合 金 质 量 ) W硅 (CL2 CL1 ) Cm
三、杂质掺入的方法
• 在直拉法中掺入杂质的方法有共熔法 和投杂法两种。对于不易挥发的杂质如硼, 可采用共熔法掺入,即把掺入元素或母合 金与原料一起放在坩埚中熔化。 • 对于易挥发杂质,如砷、锑等,则放在 掺杂勺中,待材料熔化后,在拉晶前再投 放到熔体中,并需充入氩气抑制杂质挥发。 •
第4章 硅、锗晶体中的杂质和缺陷
• 半导体材料中的杂质和缺陷对其性质具有重要 的影响。半导体硅、锗器件的制做不仅要求硅、 锗材料是具有一定晶向的单晶,而且还要求单晶 具有一定的电学参数和晶体的完整性。 • 单晶的电学参数通常是采用掺杂的方法,即在 单晶生长过程中加入一定量的杂质,并控制它们 在晶体中的分布来解决。

上两式表明,在有杂质补偿的情况下,电阻率 主要由有效杂质浓度决定。但是总的杂质浓度 NI=NA+ND也会对材料的电阻率产生影响,因为 当杂质浓度很大时,杂质对载流子的散射作用会 大大降低其迁移率。 例如,在硅中Ⅲ、V族杂质,当N>1016cm-3时, 对室温迁移率就有显著的影响.

单晶硅中可能出现的各种缺陷

单晶硅中可能出现的各种缺陷

单晶硅中可能出现的各种缺陷【1】缺陷,是对于晶体的周期性对称的破坏,使得实际的晶体偏离了理想晶体的晶体结构。

在各种缺陷之中,有着多种分类方式,如果按照缺陷的维度,可以分为以下几种缺陷:点缺陷:在晶体学中,点缺陷是指在三维尺度上都很小的,不超过几个原子直径的缺陷。

其在三维尺寸均很小,只在某些位置发生,只影响邻近几个原子,有被称为零维缺陷。

线缺陷:线缺陷指二维尺度很小而第三维尺度很大的缺陷,也就是位错。

我们可以通过电镜等来对其进行观测。

面缺陷:面缺陷经常发生在两个不同相的界面上,或者同一晶体内部不同晶畴之间。

界面两边都是周期排列点阵结构,而在界面处则出现了格点的错位。

我们可以用光学显微镜观察面缺陷。

体缺陷:所谓体缺陷,是指在晶体中较大的尺寸范围内的晶格排列的不规则,比如包裹体、气泡、空洞等。

一、点缺陷点缺陷包括空位、间隙原子和微缺陷等。

1、空位、间隙原子点缺陷包括热点缺陷(本征点缺陷)和杂质点缺陷(非本征点缺陷)。

1.1热点缺陷其中热点缺陷有两种基本形式:弗仑克尔缺陷和肖特基缺陷。

单晶中空位和间隙原子在热平衡时的浓度与温度有关。

温度愈高,平衡浓度愈大。

高温生长的硅单晶,在冷却过程中过饱和的间隙原子和空位要消失,其消失的途径是:空位和间隙原子相遇使复合消失;扩散到晶体表面消失;或扩散到位错区消失并引起位错攀移。

间隙原子和空位目前尚无法观察。

1.2杂质点缺陷A、替位杂质点缺陷,如硅晶体中的磷、硼、碳等杂质原子B、间隙杂质点缺陷,如硅晶体中的氧等 1.3点缺陷之间相互作用一个空位和一个间隙原子结合使空位和间隙原子同时湮灭(复合),两个空位形成双空位或空位团,间隙原子聚成团,热点缺陷和杂质点缺陷相互作用形成复杂的点缺陷复合体等。

2、微缺陷 2.1产生原因如果晶体生长过程中冷却速度较快,饱和热点缺陷聚集或者他们与杂质的络合物凝聚而成间隙型位错环、位错环团及层错等。

Cz硅单晶中的微缺陷,多数是各种形态的氧化物沉淀,它们是氧和碳等杂质,在晶体冷却过程中,通过均质成核和异质成核机理形成。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

4.5 区熔单晶硅
采用悬浮区熔法制备的单晶硅就叫区熔单晶硅。 优点:纯度高,电学性能均匀 缺点:直径小,机械加工性差 区熔单晶硅制备的电池转化效率高,但是成 本高、价格昂贵。不能应用于太阳电池的大规模 生产上,只在某些需要高光电转化效率的特殊情 况下应用。本小节仅简单介绍其制备原理。
采用区域熔炼的原理
3SiCl4+Si+2H2 = 4SiHCl3 2SiHCl3 = SiH2Cl2+SiCl4 3SiH2Cl2 = SiH4+ 2SiHCl3
美国联合碳化物公司,歧化反应,需 加催化剂。
硅烷采用低温精馏法提纯
硅烷的热分解: 温度:850℃ SiH4=Si+2H2 可采用上面的加热硅棒和流化床两种技术
什么样的温度控制才能生长单晶?——根据晶体生长理论来 进行设计 结晶学把晶体生长过程看作是成核长大过程。这个过程分为 两个阶段,成核阶段和生长阶段。
在人工晶体生长系统中,为了在所希望生长的地方生长出单晶,必须严格 控制生长系统中的成核率。通常采用设臵非均匀相变驱动力场的方法,使 生长系统中的相变驱动力有一定的合适的空间分布。所谓驱动力场是指生 长系统中驱动力在空间的分布。
4.4 太阳能电池级多晶硅的制备
高纯多晶硅可以作为直拉单晶硅、铸造多晶硅、 带硅的原材料,但是,高纯多晶硅的制备成本过高。 相比于微电子器件而言,太阳电池用硅的纯度要低的 多,所以太阳电池所用原料通常为微电子行业废弃的 头尾料,造成了光伏产业对微电子工业的依赖性。随 着光伏产业的发展,微电子工业的废料已经不能满足 光伏产业的需要,因此,光伏产业迫切需要纯度高于 粗硅、低于高纯多晶硅,且成本又远远低于高纯多晶 硅的太阳能电池专用的太阳能级多晶硅材料。 所以发展了三种低成本的直接从粗硅提纯为太阳能级 多晶硅的技术,但是还没有投入大规模的使用。
粗硅提纯直接制备太阳能电池级硅的方 法主要有以下三种:
酸洗法:冶炼级硅粉碎后用酸洗去金属杂质, 再以真空蒸除水份,提高硅纯度。 鼓泡法:将氯气和氧的混合气体吹入熔硅, 硅中多数金属杂质能与氯反应生成易挥发的 卤化物,达到提纯的目的。然后再鼓入氩气 以赶走剩余的氯。
偏析法:利用慢凝固时,固相与液相的界面 上发生杂质分凝现象来进行提纯的方法。
直拉单晶硅 单晶硅 区熔单晶硅
4.3 高纯多晶硅(8个9至9个9)的制备
粗硅(工业硅)的生产
• 原料 石英砂(SiO2), 碳(来自焦炭、煤、木屑) • 反应原理 SiO2+2C=Si+2CO(2000OC左右) 反应温度下硅是气相,然后凝固成固相 粗硅为多晶状态,纯度95%~99%
采用化学提纯的方法对粗硅进行提纯。化学提纯是指 通过化学反应,将硅转化为中间化合物,再用蒸馏等 技术提纯中间化合物,使之达到高纯度;然后再将中 间化合物还原成硅,此时高纯硅为多晶状态。
以高纯多晶硅为原料,将多晶硅制 成棒状,垂直固定。
多晶硅棒下端放臵一定晶向的单晶 硅,作为单晶生长的籽晶。 在真空或保护性气体下,利用高频 感应线圈加热多晶硅棒,是多晶硅 棒的部分区域形成熔区,并依靠熔 区的表面张力保持多晶硅的平衡。 晶体生长首先从多晶硅棒和籽晶的 结合处开始,多晶硅棒和籽晶以一 定的速度做相反方向的运动,熔区 从下端沿着多晶硅棒缓慢向上移动, 使多晶硅逐渐转变为单晶硅。
优点:硅烷作为中间化合物易于提纯。
硅烷可以直接热分解形成多晶硅,不需还原反 应,分解温度相对较低。
缺点:综合生产成本高。
4.3.3 四氯化硅氢还原法
Si + 2Cl2 = SiCl4
SiCl4+H2 = Si + 4HCl
(1100~1200℃)
最早期的方法,材料利用率低、能耗大,现在已 很少采用。
注意:
缩颈时单晶硅的直径和长度受到所要生长单晶硅总重量的限 制,如果重量很大,缩颈时的单晶硅的直径就不能很细。
4 放肩 在缩颈完成后,晶体硅的生长速度大大放慢, 此时晶体硅的直径急速增大,从籽晶的直径增大到 所需的直径,形成一个近180度的夹角,此阶段称为 放肩。
5 等径
当放肩达到预定晶体直径时,晶体生长速度加快, 并保持几乎固定的速度,使晶体保持固定的直径生长。 此阶段称为等径。
第4章 单晶硅材料
第5章 单晶硅中的杂质和位错
主要内容:
• • • • • 硅的基本性质 高纯多晶硅的制备 高纯单晶硅的制备 单晶硅中的杂质 单晶硅中的位错
第4章 单晶硅材料
硅材料是目前世界上最主要的元素半导体材料, 在半导体工业中广泛应用,是电子工业的基础材料。 硅是地壳中最丰富的元素之一,仅次于氧,在地壳 中达到26%左右,但自然界中没有游离态的单质硅存 在,一般以氧化物的形式存在。 单晶硅材料是目前世界上人工制备的晶格最完 整、体积最大、纯度最高的晶体材料。
所用高纯多晶硅棒,在单晶生长之前,用金刚石机械滚磨的方 法将直径控制在一定尺寸,然后进行化学腐蚀,去除表面的机 械损伤和可能的金属污染。 关键技术:控制熔区。采用感应线圈和辅助线圈来控制温度 梯度和熔区形状。由于熔区的表面张力是有限的,熔区单晶 硅的直径增大,熔区重量会增加,会导致表面张力无法支撑, 会是多晶硅跌落。所以发展了针眼工艺,将多晶硅棒的下端 做成圆锥形,下截面和籽晶上表面的面积相等,感应线圈直 径比多晶硅棒直径小,这样就可以使熔区始终很小,而可以 生长大直径的单晶硅棒,现在,直径为150mm的单晶硅棒已经 采用这种方法在工业上大量生产。
注意: 保持单晶硅的无位错生长。可能影响因素:晶体硅径向的热 应力和单晶炉内的细小颗粒。
6 收尾
在晶体硅生长结束时,晶体硅的生长速度再次加快,使得 晶体硅的直径不断缩小,形成一个圆锥形,最终晶体硅离开液 面,单晶硅生长完成,最后这个阶段叫收尾。
以上简要叙述了直拉单晶硅的工艺过程。实际生产过程很 复杂,除了坩埚的位臵、转速和上升速度,以及籽晶的转速和 上升速度等常规工艺参数外,热场的设计和调整也是至关重要 的。
特殊的物化性质:
熔化时体积缩小,固化时体积增大。 硬度高,脆性大,易破碎,室温下没有延展 性,为脆性材料。 温度大于750℃时,转变为塑性材料,外加 压力,可以进行塑性变形。
硅的晶体结构:
硅原子的3s轨道和3p轨道 杂化简并,形成四个等同的 杂化轨道,有4个未配对的电 子,每两个杂化轨道间的夹 角为109º 28。这4个未配对的 电子分别与相邻的硅原子的 一个未配对的价电子组成共 价键,共价键的键角也是 109º 28,结构如右图所示。
将高纯硅粉臵于加热流化床上,通入中间化合物三氯氢硅 和高纯氢气,反应得到的高纯硅沉积在硅粉上。
在加热的高纯石墨管中通入三氯氢硅和高纯氢气,直接形 成硅液滴,最后凝固成高纯多晶硅。
4.3.2 硅烷热分解法 硅烷的制备:
Mg2Si+4NH4Cl→SiH4+4NH3+2MgCl2 ⑴ Mg2Si:NH4Cl =1:3 ⑵ Mg2Si:液氨=1:10(液氨充当溶剂和催化剂) ⑶温度-30~-33℃(日本小松电子公司)
2 种晶
熔硅的温度和流动达到稳定后,可以进行晶体生长。首先 将单晶籽晶固定在旋转地籽晶轴上,然后将籽晶浸入熔硅,形 成固液界面,随后,提拉籽晶,使籽晶逐步上升,与籽晶相连 并离开固液界面的硅温度降低,凝固,形成单晶硅。 注意: 籽晶浸入熔硅之前,在熔硅液面上方几毫米处暂停片刻,使 籽晶温度尽量接近熔硅温度,减少热冲击。
工艺过程:书88页图4.10
1 多晶硅的装料和熔化 将高纯多晶硅粉碎,清洗表面,装入石英坩 埚中。将石英坩埚放入到炉中的石墨坩埚中,抽 真空,通入保护气体,最后炉体加热升温,温度 超过硅材料的熔点1420℃时,使其熔化。
注意:
装料时,不能使石英坩埚底部有过多的空隙。
装料量不可过多,多晶硅不能碰到石英坩埚的上边缘。
晶体硅的密排面为(111)面,其次为(110)面,最 后为(100)面, (111)面间距最大, (100)面的间 距最小。所以晶体硅易沿(111)面解理,而腐蚀速 率最小。(面间距、面密度和键密度见表4.1)
4.2 太阳能电池用硅材料
高纯多晶硅 薄膜多晶硅 多晶硅 带状多晶硅 高纯硅烷 铸造多晶硅 硅材料 非晶硅 非晶硅薄膜 含硅气体
晶体生长时,保护气体中掺入磷化氢和硼化氢,对单晶硅进行 掺磷或掺硼。
研究者发现:保护气体中掺入氮气,在晶体硅中引入微量的 氮,可以降低区熔单晶硅的微缺陷密度,同时由于单原子的 钉杂位错的作用,可以增加其机械强度。
4.6 直拉单晶硅
4.6.1 直拉单晶硅制备工艺
采用直拉生长法制 备的单晶硅叫作直 拉单晶硅,又称切 氏法,目前,直拉 生长法已是单晶硅 制备的主要技术, 也是太阳电池用单 晶硅的主要制备方 法。
4.1硅的基本性质
硅的物理性质: 性质
位置 原子序数 颜色 熔点 禁带宽度(室温) 本征电阻率(.cm) 电子迁移率(cm2/V.s) 空穴迁移率(cm2/V.s)
Si
Ⅳ族 14 灰色金属光泽 1420℃ 1.12eV 1.51010 1350 480
硅的化学性质:
• 室温下 稳定,与空气,水,硫酸(H2SO4),硝酸(HNO3)不反 应,但是,与氟,氢氟酸,强碱反应 • 高温下 活性大,与O2 ,水,卤族(第七族),卤化氢, 碳….反应,自然界中没有游离态的单质硅存在,一 般以氧化物的形式存在。
副产物:SiCl4, SiH2Cl2,FeCl3等 SiHCl3采用蒸馏法提纯
SiHCl3氢还原: SiHCl3+H2 →Si+3HCL (SiHCl3:H2=1: 10~20mol)
4SiHCl3=Si+3SiCl4+2H2
SiCl4+ 2H2 =Si +4HCl 反应结束,制得高纯多晶硅
反应室中臵高纯的多晶硅细棒,通电加热至1100℃以上, 通入中间化合物三氯氢硅和高纯氢气,反应得到的高纯硅 沉积在硅棒上。
相关文档
最新文档