塞尺校验规程

塞尺校验规程

1.0目的

为确保检验﹑测量和试验用的计量器具能溯源至国家标准，保持其量值的准确可靠，规范内校操作，特制订本内校操作规范。

2.0范围

本规程适用于（0.02～3.00）mm长度为（75～300）mm塞尺的首次校准、后续校准和使用中检验。

3.0校验设备

数显千分尺

所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格，每年需校准一次。并在校准有效期内使用。

4.0环境条件

常温常湿。

温度：（20±5）℃

湿度（30~80)%

5.0校验方法

5.1校准项目

表1 校准项目

校

首次校准后续校准使用中校准准类别

校准项目

外观+ + +

相互作用+ + +

工作面表面粗糙度+ - -

塞尺厚度+ + -

注：表中“+”表示校准项目，“-”表示可不校准项目。

5.2外观

5.2.1 目力观察。首次校准的塞尺的工作面应无划痕、毛刺、锈斑；后续校准的塞尺工作面允许有不影响使用计量特性的外观缺陷。

5.2.2 保护板上应标出制造厂名（或厂标）、规格、出厂编号，每片塞尺上均应标出厚度的标称值。

5.3相互作用

手感试验。塞尺与保护板的联接应可靠，塞尺绕联接件转动应灵活，不得有松动和卡滞现象。

5.4工作面表面粗糙度

用表面粗糙度比较样块比较测量或用表面粗糙度测量仪测量。

表2 工作面表面粗糙度

塞尺厚度d/mm 表面粗糙度Ra/μm

0.02≤d≤0.05 ≤0.4

0.05

5.5塞尺厚度

每片塞尺选择几个受检点用数显千分尺测量，取其中最大值作为塞尺的厚度值，取塞尺厚度值与其标称值之差作为测量结果。

塞尺厚度d

塞尺厚度极限偏差

首次校准后续校准

0.02≤d≤0.10 +0.005

-0.003

+0.005

-0.005

0.10

-0.005

+0.008

-0.008

0.30

-0.007

+0.012

-0.012

0.60

-0.009

+0.016

-0.016

1.00

2.00 +0.028

-0.015

+0.028

-0.028

2.00

3.00 +0.048

-0.025

+0.048

-0.048

注：距工作面边缘1mm范围内的厚度偏差不计。

5.6校准结果处理和校准周期

5.6.1 将校准数据进行整理，按表3塞尺厚度偏差判断塞尺是否合格，将校准结果记录于规定的“仪器计量校准记录表”中。

5.6.2 校准证书应出具实测值。将校准数据及原始记录﹑校准证书等数据进行归档处理以便备查。

5.6.3 被校塞尺各项要求均符合本指导书中相应项目的要求，则说明该塞尺校准合格，否则为校准不合格。合格的贴上绿色合格标签，不合格的注明不合格项，并贴上蓝色限用标签。

5.6.4计量校准不合格的允许降级处理或限制使用。

5.6.5校准证书及其原始记录资料至少保存3年。

6.0校准周期

塞尺校准周期根据使用情况，一般不超过一年。新购塞尺需经校准验收，合格后方能提供使用。

7.0参考文件

JJG 62-2007 塞尺检定规程

JJF1071国家计量校准规范编写规则

JJF1001通用计量术语及定义

GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定8.0记录表格

内校合格证

塞尺校验记录表

内校合格证

内校合格证

仪器编号

校准日期

复效日期

校准人