第6章++高阶劳厄区电子衍射图的分析与应用

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劳埃法及其应用

劳埃法及其应用

劳埃法照片特征
背射 透射
晶体
入射线 000
因椭圆和双曲线均是同一晶带的 晶面衍射斑点,称其为晶带曲线 点多的为低指数晶带
劳埃法测定单晶取向
• • • •
001
单晶取向的测定 劳埃斑与晶面极点 透射法测定单晶取向 背射法测定单晶取向
110 001 010
001
111
100
劳埃斑点的晶面极点
R=1/
S R θ 2θ D 反射面 R1=D+S 变换尺 极点 θ θ 劳埃斑
tg2=S/D
格氏网
对于背射劳埃照片 也可以用上述方法找 到其与极射投影间的 关系,但由于很大, 投影集中于中间,上 述方法误差较大。 因此,背射采用格 氏网将劳埃斑转换成 极射投影。 格氏网--将吴氏 网代替倒易点阵投影 获得。
X射线衍射技术 第五讲 劳埃法及其应用
劳埃法及其应用
大家回顾一下晶体的衍射强度
2 I F ( s ) L( s ) I电子
结构因素推导出 消光规律 劳埃函数推导出 干涉方程和布拉格公式 s=g 2dsin=
劳埃法及其应用
由干涉方程和爱瓦德图解了解了各种衍射方法
020 单色光照射单晶体 晶体 So/ S /
劳埃法的爱瓦德图解
• 劳埃法-------连续光照射单晶体
020 2 晶体 S / 010 b* 100
2 0
不容易直观解释衍射现象,亦不易看出衍射方向
劳埃法的爱瓦德图解
将爱瓦德图解作一简单变换
020 110 200 100 020衍射方向
010
将干涉球直径由1/改为1 将g=1/d作倒易点阵改为g=λ/d
格氏网
纬线
经线

电子衍射6(复杂电子衍射花样)—雨课堂课件

电子衍射6(复杂电子衍射花样)—雨课堂课件

第三章 电子衍射
六、复杂电子衍射花样
菊池线的产生机理 入射电子在晶体中遭受非弹性散射→散射强度随散射方向而变 →遭受非弹性散射的电子再次受到晶面的弹性散射(Bragg衍射) →Kikuchi 线
第三章 电子衍射
六、复杂电子衍射花样
菊池线的几何特征 (1) hkl菊池线对与中心斑点到hkl衍射斑点的连线正交,而且菊
第三章 电子衍射
六、复杂电子衍射花样
所谓孪晶,通常指按一定取向关系并排生长在一起的同一物 质的两个晶粒。
上图中图a和b是CaMgSi相中的(102)孪晶在不同位向下的孪晶花样,图c 是CaMgSi相中另外一种孪晶的电子衍射花样,其孪晶面是(011)面;图d是 镁中常见的(10-12)孪晶花样。
第三章 电子衍射
池线对的间距与上述两个斑点的距离相等。
(2) 一般情况下,菊池 线对的增强线在衍射 斑点附近,减弱线在 透射斑点附近。
第三章 电子衍射
六、复杂电子衍射花样
(3) hkl菊池线对的中线对应于(hkl)面与荧光屏的截线。两条中 线的交点称为菊池极,为两晶面所属晶带轴与荧光屏的交点。
(4) 倾动晶体时,菊池 线好象与晶体固定在 一起一样发生明显的 移动。精度达0.1°
FHKL 2 [ f Au fCu fCu fCu ]2 [ f Au fCu ]2
都不消光
第三章 电子衍射
六、复杂电子衍射花样
有序 无序
第三章 电子衍射
六、复杂电子衍射花样
2、高阶劳厄带 ✓ 所有与零层倒易面平行的倒易平面统称为高层倒易面
✓ 高层倒易面中的倒易阵点由于某些原因也有可能与倒易球 相交而形成附加的电子衍射斑点,这就是高阶劳埃斑。
得上下两层倒易面与零层倒易面同时与反射球相交的机会增加; 3)当电子衍射花样不正,使得零层倒易面倾斜时,增加了高层倒易阵

电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑.doc

电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑.doc

1.电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。

2.当X射线管电压低于临界电压仅可以产生连续谱 X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续谱X射线和特征谱X射线。

F表示,结构因素=0时没有衍射我们称3.结构振幅用 F 表示,结构因素用2结构消光或系统消光。

对于有序固溶体,原本消光的地方会出现弱衍射。

4.电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。

5.衍射仪的核心是测角仪圆,它由辐射源、试样台和探测器共同组成测角仪。

6.X射线测定应力常用仪器有应力仪和衍射仪,常用方法有Sin2Ψ法和0º-45º法。

7.运动学理论的两个基本假设是双束近似和柱体近似。

8.电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。

1.X射线的本质是什么?是谁首先发现了X射线,谁揭示了X射线的本质?答:X射线的本质是一种电磁波?伦琴首先发现了X射线,劳厄揭示了X射线的本质?5.透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何?答:四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。

其中电子光学系统是其核心。

其他系统为辅助系统。

6.透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位臵? 其作用如何?答:主要有三种光阑:①聚光镜光阑。

在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。

作用:限制照明孔径角。

②物镜光阑。

安装在物镜后焦面。

作用: 提高像衬度;减小孔径角,从而减小像差;进行暗场成像。

③选区光阑:放在物镜的像平面位臵。

作用: 对样品进行微区衍射分析。

7.什么是消光距离? 影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?和Ig在晶体深答:消光距离:由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果,使I度方向上发生周期性的振荡,此振荡的深度周期叫消光距离。

影响因素:晶胞体积,结构因子,Bragg角,电子波长。

1.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片?答:实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射,应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6(尤其是2)的材料作靶材的X射线管。

第6章 电子衍射原理与花样分析

第6章 电子衍射原理与花样分析

电子衍射基本公式(几何分析公式)的厄瓦尔德图解几何分基本公式由于电子衍射2θ很小,g 与R 近似平行,上近似有gr d 1*1==CgR =gC R v v =电子衍射基本公式的矢量表达式式中:R ——透射斑到衍射斑的连接矢量,可称衍射斑点矢量相比,只是放大了C 倍(C 为相机常数).单晶电子衍射花样是所有与反射球相交的倒易点(构成的图形)的放大像.注意:放大像中去除了权重为零的那些倒易.倒易点的权重即指倒易点相应的(HKL )面衍射线之|F|2值.注意:电子衍射基本公式的导出运用了近似处理,应用此公式及其相关结论时具有一定的误差或近似性电子衍射花样的本质:衍射线形成以入射电子束为轴、不同,多晶电子衍射成像原理衍射圆锥与垂直于入射束的感光平面相交,其交线为一系列同心圆(称衍射圆即为多晶电子衍射花样.多晶电子衍射花样可视为倒易球面与反射球交线即参与衍射晶面倒易点的集合)的放大像.电子衍射基本公式及其各种改写形式也适用于多晶电子衍射分析,式中之R 即为衍射圆环之半径gC R v v =多晶电子衍射花样标定指多晶电子衍射花样指数化,即确定花样中各衍射圆环对应衍射晶面干涉指数(命名)各圆环.6.2.2 多晶电子衍射花样的标定——仅讨论立方晶系多晶电子衍射花样指数化222L KHa d ++=Rd=Cd=C /RR R 2=N N ——衍射晶面干涉指数平方和N=H 2+K 2+L 2对于同一物相、同一衍射花样各圆环而言,(C 2/a 2)为常数nN N :::2L 多晶电子衍射花样指数化原理及过程均与多晶多晶电子衍射指数化与多晶X 射线衍射指数化比较:单晶电子衍射成像原理单晶电子衍射厄瓦尔单晶电子衍射厄瓦尔德图解具有3个特点λ,由于电子波长λ很小,故反*平面上一定范围内的倒易阵(uvw)厚度很小,其倒易点阵中各阵点已不再是几何点,而是沿样品厚度方向扩展延伸为杆,从而增加了与反射球相交的机会.点阵平面上,以O*为中心的一定范围内各倒易与各交点的连接矢量即为(衍射线与垂直于入射束的感光平面的交点即构成单晶电子衍射花样.单晶电子衍射花样就是(uvw)0*零层倒易平面(去除权重为零的倒易点后)的放大像(入射线平行于晶带轴[uvw ])结论:gR 1、单晶体衍射标定依据第一、应用衍射分析基本公式:CRd =第二、单晶衍射花样的周期性.的特征.单晶体衍射花样的周期性之斑点指数.本例A 点对应{110}晶组晶面指数,因而A 点指数有12种选法.任选(110).次短之斑点指数并用φ校核.晶面族,故B 点指数有6种选法,任(200)后,计算(200)面与A 点相应晶=900不符,故B 指数不能标为注:立方系晶面夹角公式为:/)21L L +)(21N N ⋅]220[]011[=×][=ωuv =将其化为互质整数比,得单晶表面原子排列规则可用二维点阵描述5种布拉菲点阵低能电子衍射厄瓦尔德图解如图:,为二维倒易点阵原点,反射球半*O成像原理与衍射花样特征若倒易杆与反射球相交,则该倒易杆(点)相应之(HK)晶列满点与交点之连接矢量即为该晶列之衍射.低能电子衍射花样是样品表面二维倒易点阵的投影像.荧光屏上与倒易原点对应的衍射斑点(00)处于入射线的镜面反)低能电子衍射的厄瓦尔德图解、电子束正入射入射线与样品表面法线夹角,则(00)点平移距离d 0[(00)点与荧光由图可证明,电子束斜入射0sin θ低能电子衍射的厄瓦尔德图解低能电子衍射分析与应用利用低能电子衍射花样分析确定晶体表面及吸附层二维点阵单元网格的形状与大小;利用低能电子衍射谱及有关衍射强度理论分析确定表面原单元网格内原子位置、吸附原子相对于基底[原子及沿表面深度方向(两三个原子层)原子三维排列情层间距、层间原子相对位置、吸附是否导致表面重构依据低能电子衍射方法提供的多种信息,分析与研究晶体、低能电子衍射分析与研究晶体表面结构的应用利用衍射斑点的形状特征及相关的运动学理论等分析确定表点缺陷、台阶表面、镶嵌结构、应变结构、规则)等.低能电子衍射不仅应用于半导体、金属及合金等材料表面结偏析和重构相的分析.也应用于气体吸附、脱附及化学反应、外延生长、沉积、催低能电子衍射也可应用于表面动力学过程,如生长动力学和(a)及(b)分别为干净W 表面[(100)面]及吸附O 原子后W 表面的衍射花样.。

电子衍射分析及晶体生长方向判定电子衍射基础

电子衍射分析及晶体生长方向判定电子衍射基础
A d O1 N
Kg
K0
g
G
O
图 2 . Ewald 作图法 图 3 电子衍射的几何关系
在透射电镜中,我们在离样品L处的荧光屏记录相应的衍射斑点G”,O”是 荧光屏上的透射斑点, 照相底片或CCD相机上中心斑点到某衍射斑(G’’)的距离
R为: R=L tan 2θ
考虑到能满足布拉格定律的角度θ很小,故tan 2θ = 2θ,再由布拉格定律2d sinθ = λ, 可得: Rd = Lλ 式中,d是满足布拉格定律的晶面面间距。入射电子束的波长λ和样品到照 相底片的距离L是由衍射条件确定的,在恒定实验条件下,Lλ是一个常数,称为 相机常数(camera length)。此式是利用电子衍射谱进行结构分析的基础,在分析
注意由晶面指数到生长方向的转换实际是倒空间指数和正注意由晶面指数到生长方向的转换实际是倒空间指数和正空间的指数转换需要乘以转换矩阵各晶系的转换矩阵见附表对于立方晶空间的指数转换需要乘以转换矩阵各晶系的转换矩阵见附表对于立方晶系来说晶面指数即是生长方向指数而对于其他晶系则不是需要进行计算系来说晶面指数即是生长方向指数而对于其他晶系则不是需要进行计算即即
k2 l2
v = l1 h1 ,
l2 h2
w = h1 k1
h2 k2
由以上可以看出,正空间的一个晶面族(hkl)可用倒空间的一个倒易点 hkl 来 表示,正空间的一个晶带[uvw]可用倒空间的一个倒易面(uvw)*来表示,对应关系 如图 4 所示,这大大地方便了电子衍射谱的分析。
[uvw]
正空间
-2
o
g为垂直于晶面(hkl)的倒易矢量,|g| = OG =1/ d
AO=2/λ ,∠OAG= θ 以中心点O1为中心,1/λ Ewald球如图2。

电子衍射分析方法原理及应用ppt课件

电子衍射分析方法原理及应用ppt课件

5种二维布拉菲点阵与倒易点阵的图示
(1)二维点阵基矢与其倒易点阵基矢之间的关系
若以二维点阵中任意阵点为坐标原点,建立二维 正交坐标系,则二维基矢a与b可表达为: a = axi + ayj b = bxi + byj - - - - - - - (9) 二维倒易基矢也可以表达为: a* = a*xi + a*yj b* = b*xi + b*yj - - - - - - - (10) 将(9) (10)式,代入(8)的矢量点积坐标表达式得: a*xax+a*yay=b*xbx+b*yby=1 a*xbx+a*yby=b*xax+b*yay=0 - - - - - (11) 解(11)式得:
(2) Rd= λL的矢量表达式的推导
当入射电子束的加速电压一定时,电子波长 λ值恒 定,则令 λL=C(C为常数,称为相机常数) 由(4)式Rd= λL知 Rd=C - - - - (5) 由倒易点阵与点阵平面距离间的关系: g=1/d (g为(HKL)面倒易矢量,g为g的模) ∴ R=Cg - - - - - -(6) 因为电子衍射2θ很小,R与g近乎平行,故(6)式可演变 为矢量形式: R = Cg - - - - - -(7) R为透射斑到衍射斑的连接矢量,称为衍射斑点矢量。 由式(7)可知,R与g相比只是放大了C倍,所以从图 中可知单晶电子衍射花样是所有与反射球相交的倒易点 的放大像。
2、二维点阵和二维点阵的倒易点阵
低能电子衍射来自于样品表面的原子的相干 散射,故可将样品表面视为二维点阵。 上图所示单晶表面原子排列规则就可用二维点 阵描述。与三维点阵的排列规则可用14种布拉菲 点阵表达相似,二维点阵的排列可用5种二维布拉 菲点阵表达。(如后图所示) 对于由点阵矢量a与b定义的二维点阵,若由 点阵基矢a*与b*定义的二维点阵满足: a*· a = b*· b=1 a*· b = b*· a=0 - - - - - - - (8) 则称a*与b*定义的点阵是a与b定义的点阵的倒易 点阵。

劳埃法及其应用

劳埃法及其应用

格氏网
纬线
经线


透射法测定单晶取向
底片
晶体
2θ x-ray 50mm
衍射线
劳埃斑
极射投影
透射
透射法测定单晶取向
透射法测定单晶取向
背 射 法 测 定 单 晶 取 向
背 射 法 测 定 单 晶 取 向
劳埃法的其他应用举例
单晶体的定向切割 塑性变形的研究
双面法测滑移面 极点轨迹测挛生面 滑移方向的测定
劳埃法的爱瓦德图解
• 劳埃法-------连续光照射单晶体
020 2 晶体 S / 010 b* 100
2 0
不容易直观解释衍射现象,亦不易看出衍射方向
劳埃法的爱瓦德图解
将爱瓦德图解作一简单变换
020 110 200 100 020衍射方向
010
将干涉球直径由1/改为1 将g=1/d作倒易点阵改为g=λ/d
010 b*
0 a* s=g
单色光照射转动的 单晶体
100 连续光照射单晶体
单色光照射多晶体
劳埃法实验原理图
底片 晶体 2θ x-ray 50mm 30mm
底片
衍射线 2θ 晶体
衍射线
透射
反射
劳埃法实验
• 劳埃法-------连续光照射单晶体 • 对光源的要求:光强高,波长范围宽- --增加劳埃斑点的强度和数目 • 一般用W靶 V=30~70kV • 另外底片要标记正反面(一是方底片左 上角切角,另一是在底片盒上加标记) • 通常一次装三张底片
X射线衍射技术 第五讲 劳埃法及其应用

2 I F ( s ) L( s ) I电子
结构因素推导出 消光规律 劳埃函数推导出 干涉方程和布拉格公式 s=g 2dsin=

电子衍射花样标定教程和电子衍射图谱解析

电子衍射花样标定教程和电子衍射图谱解析
Miller指数的符号应满足右手螺旋法则,该法则决定了两基本矢量与晶带 轴之间的关系。
两个基本矢量的线性组合,一定能标出属于相同Laue区的所有衍射斑点 的指数。
9
多晶电子衍射谱标定
多晶电子衍射谱由一系列同心圆环 组成,每个环对应一组晶面。
根据 d = Lλ/R,可求得各衍射环
对应的晶面间距d。 与JCPDF卡(多晶粉末衍射卡)
变换规则:指数位置不能改变,三指数符号可一起变;k的符号可 单独变,共 4种 变换可能。
e 三斜
d公式复杂,略。
变换规则:h、k、l只能一起改变符号,2种 变换可能。
15
f 六方
d = 1 4 ( h 2 + hk + k 2 + l 2 )
3
a2
c2
由公式可见,h、k的次序可变,h、k的符号需同时改变;l的符号可随意改变。
测角74o基本相符。取(211)为B点指
数,按矢量叠加原理,标定如图。
4 晶带轴指数
[uvw] → [110] × [2 1 1] = [1 13]
晶带轴的计算:晶面法向与晶带轴垂直【110】*【uvw】=0
13
等价晶面的指数变换
采用d值比较法标定电子衍射谱,要使用JCPDS或JCPDF数据,但对等 价晶面只列出一个面指数,而如何确定其他等价晶面,标定电子衍射谱时 尤显重要。
像平面上的像经过中间镜组,投 影镜组再作二次放大投射到荧光 屏上,称为物的三级放大。
改变中间镜电流,即改变中间镜 焦距,使中间镜物平面移到物镜 后焦面,便可在荧光屏上看到像 变换成衍射谱的过程。
6
显微像和选区电子衍射花样
TEM一大优点是可以获得对应的显微图象和选区电子衍射(SAED)图样。在 200kv的加速电压下,改变选区光阑的直径,可以得到尺寸小到0.1微米样品的 TEM像和SAED图样。

电子衍射-PPT

电子衍射-PPT

❖ 通常电子衍射图的标定过程可分为下列三种情况:
1)已知晶体(晶系、点阵类型)能够尝试标定。 2)晶体虽未知,但依照研究对象估计确定一个范围。就在这
些晶体中进行尝试标定。 3)晶体点阵完全未知,是新晶体。此时要通过标定衍射图,来
确定该晶体的结构及其参数。所用方法较复杂,可参阅电 子衍射方面的专著。
征之因此区别X射线的主要原因。
8-2 偏离矢量与倒易点阵扩展
❖ 从几何意义上来看,电子束方向与晶带轴重合时,零层倒易 截面上除原点0*以外的各倒易阵点不估计与爱瓦尔德球相 交,因此各晶面都可不能产生衍射,如图(a)所示。
❖ 假如要使晶带中某一晶面(或几个晶面)产生衍射,必须把 晶体倾斜,使晶带轴稍为偏离电子束的轴线方向,此时零层 倒易截面上倒易阵点就有估计和厄瓦尔德球面相交,即产 生衍射,如图(b)所示。
量。
倒易点阵扩展
❖ 下图示出偏离矢量小于零、等于零和大于零的三种情况。 如电子束不是对称入射,则中心斑点两侧和各衍射斑点的 强度将出现不对称分布。
8-3 电子衍射基本公式
❖ 电子衍射操作是把倒易点阵的 图像进行空间转换并在正空间 中记录下来。用底片记录下来 的图像称之为衍射花样。右图 为电子衍射花样形成原理图。
❖ Rdhkl=f0·MI·Mp·λ=L'λ ❖ 称Lˊλ为有效相机常数
选区衍射
❖ 选区衍射就是在样品上选择一个 感兴趣的区域,并限制其大小,得 到该微区电子衍射图的方法。也 称微区衍射。
❖ 光阑选区衍射(Le Poole方式) 此法用位于物镜像平面上的光阑 限制微区大小。先在明场像上找 到感兴趣的微区,将其移到荧光 屏中心,再用选区光阑套住微区 而将其余部分挡掉。理论上,这 种选区的极限≈0、5μm。

电子衍射图谱解析

电子衍射图谱解析
20世界30年代,德国E.Ruska教授与其 导师研制出世界上第一台电子显微镜,为 开展多种电子衍射实验提供了保证。
70余年来,依托TEM的电子衍射实验, 为材料结构的研究发挥了难以估量的作用。 电子衍射与电子显微图象,以及成分分析结 合,对固体微观形貌、晶体结构以及化学组 成进行的研究,极大地丰富了固体物理、物 体化学、材料科学、地质矿物等学科的相关 知识,有力地促进了这些学科深入发展。
米)的衍射花样的观测,适合于微晶、表面和薄膜的晶体结 构研究;
另一方面,强衍射束在晶体内易产生二次衍射,甚 至多次衍射,导致衍射强度分析困难。在电子衍射图谱的分 析中也往往要考虑二次衍射效应。
4
新型TEM主体结构
为了获得更高的性能,目前 生产的新型TEM的结构更加复 杂,如透镜有:聚光镜两个、汇 聚小透镜、物镜、物镜小透镜、 三个中间镜、投影镜等。这样的 结构可以在很大范围内改变像的 放大倍数,并被用来实现扫描透 射成像(需要利用偏转线圈)、 微衍射和微分析(加上X射线能 谱仪)
电子衍射图谱解析
1
内容提要
TEM成像原理 电子衍射谱的标定 未知结构的衍射分析 多次衍射效应 孪晶的电子衍射谱
孪晶面与电子束平行 任意取向的孪晶电子衍射 孪晶的迹线 长周期结构(调制结构)电子衍射谱 有序长周期结构 密堆长周期结构 缺陷引起的超结构 菊池衍射谱 织构衍射谱
2
1927年,戴维孙、革末和汤姆孙的电子 衍射实验证明了电子的波动性,为电子显微 镜的诞生创造了条件。
Miller指数的符号应满足右手螺旋法则,该法则决定了两基本矢量与晶带 轴之间的关系。
两个基本矢量的线性组合,一定能标出属于相同Laue区的所有衍射斑点 的指数。
9
多晶电子衍射谱标定

复杂花样超点阵斑点双衍射斑点高阶劳厄斑点孪晶电子衍射菊池

复杂花样超点阵斑点双衍射斑点高阶劳厄斑点孪晶电子衍射菊池

当层错面倾斜于样品表面时,倒易点阵同时沿层错面的法
线方向和样品膜面的法线方向扩展,形成互相具有一定交角
பைடு நூலகம்
的两个倒易杆n1和n2。
n1和n2与反射球相交产生两个 衍射斑点,一为基体的主衍射斑
n2 n1
t
点,另一为层错的卫星斑点。
SF
2. 卫星斑点反映的结构信息分析
g与n1和n2决定的平面不共面时的情形
“复杂花样”产生原因包括以下几方面:
1) Ewald球半径有限,衍射时有多个晶带参与,在衍射花样中出现高阶 劳厄带斑点、双晶带衍射等。
2) 晶体结构有序化产生超点阵斑点。 3) 入射电子多次散射,产生二次衍射和菊池线。 4) 两个或两相晶体同时参与衍射,出现两套斑点,或产生二次衍射。 5) 晶体形状、尺寸及晶体缺陷,导致衍射斑点变形或分裂,在花样中
(10 1 1) (1 010 ) (0001)
(2) bcc 结构
Bcc结构,F0的条件
h + k + l = 偶数
若(h1k1l1)和(h2k2l2)之间发生二次衍射,二次衍射斑点 (h3k3l3)=(h1k1l1)+(h2k2l2)
h3 + k3 + l3 = 偶数 (h3k3l3)本身Fh3k3l3 0,即应该出现的。
2. 产生二次衍射的几何关系
D1
D0
D/
二次衍射的反射球构图。衍射的几何条件要求(h1k1l1)产生的一次和 (h2k2l2)产生的二次衍射时其相应的倒易点分别位于以O1和O2为中心的反射 球上。其中,二次衍射束应合成到O1球面上,相当于G3。
由图7-3(b)有

k1 k g1
k3

《电子衍射环分析》课件

《电子衍射环分析》课件
通过测量衍射环的位置、强度和形状等信息,采用衍射理论和晶体学方法进行分析,得到晶 体的晶胞参数和对称性。
晶体结构的表征方法
除了衍射环分析,还可以使用X射线结构分析、电子显微镜等方法,综合判断晶体的结构和 性质。
典型实验结果及其分析
展示一些典型的实验结果,并对其进行详细的分析和解释,说明实验结果与晶体结构之间的 关系。
样品制备
要求样品具有高纯度和 良好的晶体质量,通常 采用各种制备方法,如 溶液法、气相法和固相 法等。
参数设置
选择合适的电子束参数 和衍射仪器参数,如电 子束能量、电子束聚焦 度和衍射仪器的配置等。
实验操作流程图
制定详细的实验操作流 程图,在实验过程中注 意操作技巧和安全事项。
4. 结果分析
衍射环的分析方法
2. 原理
电子衍射环的形成原理
电子束通过晶体时,由于晶体的衍射作用,形成了 一系列衍射环,这些衍射环是晶体结构的直接反映。
衍射环与晶体结构的关系
衍射环的位置、强度和形状与晶体的晶体学参数和 结构密切相关,可以用来确定晶体的晶胞参数和晶 体的对称性。
3. 实验方法
实验步骤概述
电子衍射环分析包括样 品制备、参数设置和实 验操作流程图的制定等 步骤。
《电子衍射环分析》PPT 课件
电子衍射环分析是一种研究晶体结构的重要技术。本课件将详细介绍电子衍 射环分析的原理、实验方法、结果分析及应用领域,带你全面了解这一领域 的知识。
1. 简介
什么是电子衍射环分析?
电子衍射环分析是一种使用电子束对晶体进行衍射的方法,通过衍射环的形态和特征,研究晶体的结构和性质。
可能存在的问题和挑战
面临着晶体的制备难度、实验仪器的改进及数据分析等方面的挑战,需要不断解决和改进。
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hi u k i v li w N
N=±1,±2,±3,… 倒易面阶数
2.
高阶劳厄带产生的条件
主要因素:倒易面间距,反射球半径1/,倒易阵点形状。 ① 晶体点阵常数。点阵常数增大,倒易面间距减小。
② 样品在入射束方向上的厚度。厚度上越小,倒易阵点的扩
展量越大。 ③ 加速电压;加速电压越小,λ越大,1/λ越小。 ④ 晶体取向,晶带轴偏离入射束方向的程度越大,易出现高 阶劳厄斑。
1) 标定0阶斑点指数,并确定晶带轴指数[uvw] 2) 选取高阶劳厄带的阶次N。规律为: 对fcc晶体 • • u + v + w为奇数(两偶一奇)时,N = 1, 2, 3,阶次连续; u + v + w为偶数(两奇一偶)时,N = 2, 4,N 取偶数,阶次不连续; • • u,v,w为奇偶混合时,N = 1, 2,…阶次连 续; u,v,w全奇时,N = 2, 4,…N 取偶数,阶次 不连续;
(6-6)
h2 k 2 l 2 h0 k 0 l0 h1k1l1
(6-7)
HKL hkl
N uvwG 2 ruvw
6.3 高阶劳厄区衍射的应用
1. 估算晶体在晶体电子束方向的厚度和倒易平面间距 (1) 根据0阶斑点分布园的直径计算电子束方向晶体厚度
⑤ 晶带指数[uvw]增加,与其垂直的倒易面间距减小。
⑥ 会聚束使反射球面具有一定厚度。
3. 高阶劳厄斑点的几何特征:
① 同一高阶劳厄斑点所构成的特征平形四边形与零阶劳厄带
斑点相同,在一般情况下相对于O阶劳厄带有一定的平移。
② 在对称入射情况下,高阶劳厄斑形成以中心斑为中心的系 列同心园环,高阶劳厄斑点分布在园环内。 ③ 在非对称入射情况下,高阶劳厄斑分布于不对称的偏心园 环内。
④ 零阶劳厄带斑点和高阶劳厄带斑点之间有时存在无衍射斑
点的空白区,有时也可能互相重叠。
⑤ 高阶劳厄带斑点指数(hkl)与晶带轴指数[uvw]及阶次N间 满足
hi u k i v li w N
N=±1,±2,±3,… 倒易面阶数
这称为广义的晶带定律
证 明:
* * g hkl ruvw (ha1* ka 2 la3 )(ua1 va 2 wa3 ) hu kv lHKL
N uvwG 2 ruvw
(6-5b)
2 式中 ruvw
u (ua1 va 2 wa 3 ) (ua1 va 2 wa 3 ) [uvw][G ] v w
6.2.2 高阶劳厄带斑点指数标定 0阶与高阶斑点分布相同,各自构成完全相同的二维网格, 但一般有一相对平移。 一般,只标定一个高阶斑点指数,就可以与0阶斑点指数 配合,用矢量运算方法,推出其他高阶斑点指数。 高阶劳厄带斑点指数的标定步骤:
• G(hkl)是N阶倒易面上的阵点
• • • ghkl 为G对应的倒易矢量 gHKL 为ghkl在0层倒易面上的投 影,投影坐标为(HKL) g/hkl 是ghkl 在ruvw方向的投影
g hkl Nd uvw
N ruvw
N r uvw N g hkl 2 r uvw ruvw ruvw ruvw
布相同的0阶劳厄带斑点花样(偶合不唯一性),因此,不能
根据0阶衍射图唯一确定物相。 但此时,它们的高阶劳厄斑点在0阶劳厄带上的投影位置 一般是不同的,故可以根据高阶劳厄斑点的投影位置来唯一 确定物相。
例:图6-6是fcc结构TiC[112]晶带与hcp结构Mo2C[110]晶 带的衍射图。 注意:其0阶花样是完全相同的,但高阶出现的位置不同, 从而可以唯一确定衍射物相。
uvw
点在0层倒易平面上的投影位置(HKL);利用(6-5b)
进行逆运算。
hk l HKL
N uvwG 2 ruvw
5) 利用已标出的高阶劳厄带斑点和0阶斑点,进行矢量运算 外推其他斑点指数。 利用矢量运算外推其他高阶劳厄带斑点指数的具体做法 如图6-3所示。
g 2 g 0 g1
如图,设(hkl)为0阶劳厄带上 的最外面的一个斑点
∵ Δ00*M∽Δ0*BA

1 1 1 1 : : t d 2d
t
2d 2

由电子衍射的基本公式
Rd L
R0为0阶劳厄带的半径
M
B
A

2L2 t 2 R0
(6-8)
(2) 根据第N阶劳厄斑点的阶次计算电子束方向上的倒易 面间距 已知
1 * g hkl ruvw g hkl ruvw cos g hkl cos ruvw N d uvw * N d uvw
(2)
(1)=(2),得证
rUVW ghkl

6.2 高阶劳厄带斑点指数的标定(垂直投影法) 6.2.1 垂直投影公式推导
第 6 章
高阶劳厄区电子衍射图的分析与应用
6.1 高阶劳厄带斑点及其形成 1. 高阶劳厄区(带)衍射的概念
如图所示,由于种种原因,除过 O * (uvw) * 0
上的阵点与 上的
反射球相截外,与此平行的其它高阶倒易截面 (uvw) * n
阵点也可能与反射球相截,从而产生相应的衍射,称这些衍 射斑点为高阶劳厄区衍射斑点或高阶劳厄带斑点,这些斑点 指数满足:
2L2 t 2 R0
计算电子束方向的倒易面间距,将1/t用Nd*uvw代换可得
d uvw
R2 2 NL2
(6-9a)

ruvw
2 NL2 R2
(6-9b)
对于[001]取向,r001 = c,(6-9b)可改写为
2 NL2 c R2
可近似计算点阵参数
2. 物相鉴别
结构不同的两种晶体,在某些特殊的取向下,可能会有分
a1 a1 a1 N HKLa2 hkla2 2 uvwa2 ruvw a a a3 3 3
(6-4b)
HKL hk l
N uvwG 2 ruvw
对bcc晶体
对六方、三斜、单斜等对称性较低的晶系,N是连续的
3) 选取N值后,根据广义晶带定律hu + kv + lw = N,选择N 层倒易平面(uvw)N*上的一指数为(hkl)的倒易阵点。
HKL hk l N uvwG 计算(hkl)倒易阵 4) 利用(6-5a) r2
(6-3)
由图可见
g hkl g HKL g hkl
N g HKL g hkl 2 r uvw ruvw
(6-2)
(6-4a)
* * * * * * N Ha1 Ka 2 La3 ha1 ka 2 la3 2 (ua1 va 2 wa3 ) ruvw
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