材料测试与分析技术
超导材料的力学性能测试与分析方法
超导材料的力学性能测试与分析方法引言：超导材料是一类具有极低电阻和完全排斥磁场的特殊材料。
它们在许多领域，如能源传输、磁共振成像和粒子加速器等方面具有重要应用。
然而，超导材料的力学性能对其在实际应用中的可靠性和耐久性起着至关重要的作用。
因此，对超导材料的力学性能进行准确的测试和分析是十分必要的。
本文将介绍超导材料力学性能测试的常用方法和分析技术。
一、拉伸测试方法拉伸测试是评估材料强度和变形性能的常用方法之一。
对于超导材料，拉伸测试可以提供材料的屈服强度、断裂强度和延伸率等重要参数。
常见的拉伸测试方法包括万能试验机和压痕试验。
1. 万能试验机万能试验机是一种广泛应用于材料力学性能测试的设备。
在超导材料的拉伸测试中，可以使用万能试验机来施加恒定的拉力，并测量材料的应力-应变曲线。
通过分析应力-应变曲线，可以得到材料的屈服强度、断裂强度和延伸率等性能指标。
2. 压痕试验压痕试验是一种通过施加压力来评估材料硬度和强度的方法。
对于超导材料，可以使用压痕试验来评估其硬度和抗压强度。
通过在超导材料表面施加一定的压力，然后测量压痕的直径和深度，可以计算出材料的硬度和抗压强度。
二、弯曲测试方法弯曲测试是评估材料韧性和抗弯性能的常用方法之一。
对于超导材料，弯曲测试可以提供材料的弯曲强度和断裂韧性等重要参数。
常见的弯曲测试方法包括三点弯曲测试和四点弯曲测试。
1. 三点弯曲测试三点弯曲测试是一种常用的弯曲测试方法，适用于较薄的材料。
在超导材料的三点弯曲测试中，可以使用万能试验机或专用的弯曲试验机来施加一定的弯曲力，并测量材料的应力-应变曲线。
通过分析应力-应变曲线，可以得到材料的弯曲强度和断裂韧性等性能指标。
2. 四点弯曲测试四点弯曲测试是一种适用于较厚材料的弯曲测试方法。
与三点弯曲测试相比，四点弯曲测试可以提供更准确的材料弯曲强度和断裂韧性等参数。
在超导材料的四点弯曲测试中，可以使用专用的弯曲试验机来施加一定的弯曲力，并测量材料的应力-应变曲线。
浅谈材料分析与测试技术本科课程教学
浅谈材料分析与测试技术本科课程教学摘要:材料分析与测试技术是一门技术性和实验方法性课程,作者通过分析材料分析和测试技术的重要性,以及具有的特点,来谈如何安排本科教学。
关键词:分析与测试技术特点教学安排材料分析与测试技术是一门技术性和实验方法性课程。
开设这门课程主要是让学生掌握基本的材料测试技术和分析方法。
材料分析与测试技术是材料和冶金相关学科必修的公共技术基础课。
作者是主讲这门的一名大学教师,鉴于对该课程的理解,同时结合教学经验以及当前社会发展,就这门课程的本科教学谈谈自己的看法。
文章内容包括以下三个方面,(1)课程的重要性;(2)课程的特点;(3)教师的课程教学安排。
1 材料分析与测试技术的重要性谈材料分析与测试技术的重要性,应该先从材料的重要性谈起。
材料是人类社会赖以存在和发展的物质基础,材料的发展关系到国民经济发展,国防建设和人民生活水平的提高。
材料学是研究材料的一门学科,其研究内容包括材料的组成与结构、合成、以及性质等。
材料分析与测试技术属于材料学的范畴,在材料的发展过程中发挥着重要的作用。
材料分析与测试主要包括两个方面内容:一物相鉴定和分析;二是性质和性能测试。
在这门课程中,教学内容主要考虑物相鉴定和分析。
物相鉴定和分析大致包括以下几个部分,即组成鉴定、结构研究和形貌分析。
组分不同,材料不同,如铁和木材;组分相同,结构不同,材料也不同,如金刚石和石墨。
组成和结构相同,材料的形貌和粒径大小不同,性质可能不同,如球状纳米材料与带状纳米材料性质不同;同为球状材料,粒子的粒径不同其性质也不同。
在科学研究中,无论是天然的还是人工合成的材料,首先要做的是分析和测试,通过分析和测试来做物相鉴定和性质研究。
材料分析与测试技术作为一门课程不仅是为培养材料分析与测试人员,同时也是为材料相关专业研究人员提供辅助知识和技术。
2 材料分析与测试技术课程的特点材料分析与测试技术是一门实验性课程,如果仅从测试角度考虑,它具有技术性,但要从材料分析以及测试原理考虑,它又具有很深的学术性,因此这门课程同时具有技术性和学术性的特点。
超导材料的磁性测试与分析
超导材料的磁性测试与分析引言超导材料是一类具有特殊电磁性质的材料，其在低温下能够表现出零电阻和完全抗磁性的特点。
超导材料的磁性测试与分析是研究和应用超导材料的关键步骤之一。
本文将介绍超导材料的磁性测试方法和分析技术，探讨其在超导领域中的应用。
一、磁性测试方法1.1 磁化曲线测量磁化曲线测量是一种常用的测试超导材料磁性的方法。
通过在不同温度和磁场下测量材料的磁化曲线，可以得到材料的临界温度、临界磁场等关键参数。
常用的磁化曲线测量方法包括交流磁化测量和直流磁化测量。
1.2 磁滞回线测量磁滞回线测量是研究超导材料磁性的重要手段之一。
通过在不同温度和磁场下测量材料的磁滞回线，可以了解材料的磁化和解磁过程，进一步研究材料的超导性质和磁化机制。
1.3 磁化率测量磁化率是描述材料磁性的重要物理量，通过测量材料的磁化率可以了解材料的磁化响应和磁化机制。
常用的磁化率测量方法包括交流磁化率测量和直流磁化率测量。
二、磁性测试的分析技术2.1 X射线衍射分析X射线衍射是一种常用的材料结构分析技术，可以通过测量材料的衍射图谱来确定材料的晶体结构和晶格参数。
在超导材料的磁性测试中，X射线衍射分析可以用来确定材料的晶体结构和晶格畸变等与超导性质相关的结构信息。
2.2 扫描电子显微镜(SEM)分析扫描电子显微镜是一种常用的表面形貌和成分分析技术，可以通过扫描样品表面并测量所产生的电子信号来观察材料的表面形貌和成分分布。
在超导材料的磁性测试中，SEM分析可以用来观察材料的晶粒形貌和晶界特征等与超导性质相关的微观结构信息。
2.3 能谱分析能谱分析是一种常用的材料成分分析技术，可以通过测量材料的能谱图谱来确定材料的元素组成和化学状态。
在超导材料的磁性测试中，能谱分析可以用来确定材料的化学成分和杂质含量等与超导性质相关的成分信息。
三、超导材料磁性测试与分析的应用3.1 超导材料的性能评估通过磁性测试与分析，可以评估超导材料的性能，包括临界温度、临界磁场、临界电流等关键参数。
纳米材料的力学性能测试与分析
纳米材料的力学性能测试与分析随着纳米科技的迅速发展，纳米材料在各个领域中的应用越来越广泛。
然而，由于其特殊的尺度效应和表面效应，纳米材料的力学性能测试与分析变得更加困难和复杂。
本文将介绍纳米材料力学性能的测试方法和分析技术，并探讨其在实际应用中的意义和挑战。
一、力学性能测试的方法1. 压痕测试法压痕测试法是一种常用的纳米材料力学性能测试方法。
通过在纳米材料表面施加一定压力，通过观察压痕的产生和扩展来推断纳米材料的硬度和弹性模量等力学参数。
压痕测试法具有简单、快速的优势，并且适用于各种纳米材料。
2. 拉伸测试法拉伸测试法是另一种常用的纳米材料力学性能测试方法。
通过将纳米材料拉伸至破裂点，测定其应力-应变曲线，并计算出纳米材料的屈服强度、断裂韧性等力学参数。
拉伸测试法可以提供更全面和详细的力学性能信息，但对仪器设备和材料标本制备等要求较高。
二、力学性能分析的技术1. 分子动力学模拟分子动力学模拟是一种基于物理原理的力学性能分析技术，可以模拟纳米材料在原子尺度上的行为。
通过建立原子级别的力场模型和运动方程，可以模拟纳米材料的结构演化、应力分布等力学性能表现。
分子动力学模拟可以提供丰富的细节信息，但计算复杂度较高。
2. 有限元分析有限元分析是一种基于数值计算的力学性能分析技术，可以模拟纳米材料在宏观尺度上的行为。
通过将纳米材料离散化为有限数量的单元，并考虑边界条件和加载情况，可以计算出纳米材料的应力分布、形变情况等力学性能参数。
有限元分析具有较高的计算效率和适用性。
三、实际应用与挑战纳米材料的力学性能测试与分析在材料科学、机械工程等领域中具有重要的应用价值。
能够准确了解和评估纳米材料的力学性能，对于设计和制造具有优异性能的纳米材料产品具有重要意义。
然而，纳米材料的力学性能测试与分析也面临一些挑战。
首先，纳米材料的尺度效应和表面效应使得传统力学理论无法直接适用于纳米材料的力学性能预测和分析。
其次，针对纳米材料的测试方法和分析技术需要更高的精度和灵敏度，以满足纳米材料特殊性能的需求。
材料分析测试技术
材料分析测试技术材料分析测试技术是指通过对材料的组成、结构、性能等进行分析和测试，以获取材料的相关信息和数据，为材料的研究、开发和应用提供科学依据和技术支持。
材料分析测试技术在材料科学与工程领域具有重要的意义，对于提高材料的质量、性能和可靠性，推动材料创新和产业发展具有重要作用。
一、材料分析测试技术的分类。
1.化学分析技术，包括元素分析、化合物分析、表面分析等，常用的方法有光谱分析、质谱分析、色谱分析等。
2.结构分析技术，包括晶体结构分析、显微结构分析、电子显微镜分析等，常用的方法有X射线衍射、电子显微镜、原子力显微镜等。
3.性能测试技术，包括力学性能测试、热物性测试、电磁性能测试等，常用的方法有拉伸试验、热分析、磁性测试等。
4.损伤分析技术，包括断裂分析、磨损分析、腐蚀分析等，常用的方法有断口分析、磨损测试、腐蚀试验等。
二、材料分析测试技术的应用领域。
1.材料研究与开发，通过对材料的成分、结构、性能进行分析和测试，为新材料的研究与开发提供科学依据和技术支持。
2.材料质量控制，通过对材料的质量、性能进行测试，保证材料的质量符合要求，满足产品的生产需求。
3.产品应用与改进，通过对产品材料的分析和测试，了解产品的材料特性，为产品的应用与改进提供技术支持。
4.事故分析与预防，通过对材料损伤的分析和测试，了解损伤的原因和机理，为事故的分析与预防提供技术支持。
三、材料分析测试技术的发展趋势。
1.多元化，随着材料科学与工程的发展，材料的种类和应用领域不断扩大，对材料分析测试技术提出了更高的要求，需要开发出更多样化、多功能化的分析测试技术。
2.智能化，随着信息技术和人工智能技术的发展，材料分析测试技术也向智能化方向发展，实现数据的自动采集、处理和分析，提高测试的效率和准确性。
3.微观化，随着纳米技术和微观技术的发展，材料分析测试技术也向微观化方向发展，实现对材料微观结构和性能的精细分析和测试。
4.综合化，随着材料科学与工程的交叉融合，材料分析测试技术也向综合化方向发展，实现不同分析测试技术的融合应用，提高分析测试的综合能力。
材料光学性能的测试与分析
材料光学性能的测试与分析在现代科学研究中占据着重要地位。
光学性能是指材料对光的吸收、反射和透射等相关特性。
通过对材料的光学性能进行测试与分析，可以深入了解材料的光学特性，为材料的应用提供理论依据和技术支持。
一、材料光学性能的测试方法1. 可见光透射率测试可见光透射率是材料对可见光的透过能力，常用的测试方法有透射率计、分光光度计等。
通过测试可见光透射率，可以评估材料对可见光的透过程度，为光学材料的选择提供有力的依据。
2. 紫外可见吸收光谱分析紫外可见吸收光谱是材料在紫外可见光区域吸收光的特性，通过分析材料的紫外可见吸收光谱，可以了解材料的吸光性能和颜色特征，为材料的光学应用提供参考。
3. 光学薄膜反射率测试光学薄膜反射率是指薄膜对入射光的反射能力，通过测试光学薄膜的反射率，可以评估薄膜的反射性能，为光学镜片、光学器件等的设计提供支撑。
4. 光学材料的色散性测试色散性是光学材料对不同波长光的折射率差异，通过测试光学材料的色散性，可以了解材料对光的色散效应，为光学器件的设计和应用提供理论指导。
二、材料光学性能的分析手段1. 数据处理与分析在测试材料光学性能时，产生大量的数据，需要进行数据处理与分析。
常用的数据处理方法有统计分析、图像处理、光谱分析等，通过数据处理与分析，可以从大量的数据中提取出有用的信息，为研究提供支持。
2. 光学性能的理论分析除了实验数据的处理与分析，还需进行光学性能的理论分析。
通过光学理论模型的建立与分析，可以深入了解材料的光学特性，为材料的应用提供理论依据。
3. 光学性能的相关性分析光学性能是综合性能，与材料的组分、结构等因素密切相关。
通过光学性能与材料组分、结构等因素的相关性分析，可以揭示光学性能形成的原因，为提高材料的光学性能提供思路。
三、材料光学性能的应用1. 光学镜片与光学器件材料的光学性能直接影响光学镜片和光学器件的性能。
通过对材料光学性能的测试与分析，可以筛选出适合的材料，为光学镜片与光学器件的设计提供参考。
钛合金材料的力学性能测试与分析
钛合金材料的力学性能测试与分析钛合金材料以其高强度、低密度和优异的耐腐蚀性能，被广泛应用于航空航天、汽车、医疗和其他高端领域。
为了充分发挥钛合金的优点，我们需要对其力学性能进行测试和分析。
本文将介绍钛合金力学性能测试的常见方法和分析技术。
一、强度测试强度是评价材料抵抗外部力量破坏能力的重要指标。
钛合金的强度测试主要包括屈服强度、抗拉强度和延伸率的测量。
1. 屈服强度屈服强度是在加负荷过程中，材料开始产生塑性变形的阈值。
常用的测试方法是通过张拉试验测定，即将标准试样固定在测试机上，施加逐渐增加的拉力，记录材料产生塑性变形的拉力值。
通过获得的力值和变形的关系曲线，可以确定屈服强度。
2. 抗拉强度抗拉强度是材料在拉伸测试时承受最大力量的能力。
通过拉伸试验，可测得材料在断裂前的最大拉力，即抗拉强度。
3. 延伸率延伸率是材料在拉伸过程中的塑性变形程度。
一般使用纵向延伸率和横向收缩率来表示。
测试方法是在拉伸试验中，通过测量试样断裂前的长度和断裂后的长度，计算出材料的延伸率。
二、硬度测试硬度是材料抵抗表面破坏的能力。
对于钛合金材料，常用的硬度测试方法有布氏硬度、洛氏硬度和维氏硬度。
1. 布氏硬度布氏硬度测试是通过压入试验针或球来测定材料表面硬度的方法。
布氏硬度值是通过试验中压入针尖或球尖所产生的压痕的表面印记长度与压痕长度之比来表示。
2. 洛氏硬度洛氏硬度测试是通过在材料表面压入金刚石或球形巨型钻石锥尖来测定硬度的方法。
洛氏硬度值是通过压痕的直径与已知载荷下的压入深度之间的关系来表示。
3. 维氏硬度维氏硬度测试是将压痕长度与压入钢球半径之比作为硬度值的测试方法。
维氏硬度值越高，钛合金材料的硬度越大。
三、断裂韧性测试断裂韧性是材料抵抗破裂的能力，常用的测试方法有冲击试验和拉伸试验。
1. 冲击试验（Charpy试验）冲击试验是通过给定冲击能量对试样进行击打，观察材料的断裂方式和吸收能量的能力来评估材料的抗冲击性能。
材料现代分析与测试技术-各种原理及应用
XRD ：1.X 射线产生机理：（1）连续X 射线的产生：任何高速运动的带电粒子突然减速时，都会产生电磁辐射。
①在X 射线管中，从阴极发出的带负电荷的电子在高电压的作用下以极大的速度向阳极运动，当撞到阳极突然减速，其大部分动能变为热能都损耗掉了，而一部分动能以电磁辐射—X 射线的形式放射出来。
②由于撞到阳极上的电子极多，碰撞的时间、次数及其他条件各不相同，导致产生的X 射线具有不同波长，即构成连续X 射线谱。
（2）特征X 射线：根本原因是原子内层电子的跃迁。
①阴极发出的热电子在高电压作用下高速撞击阳极；②若管电压超过某一临界值V k ，电子的动能（eV k ）就大到足以将阳极物质原子中的K 层电子撞击出来，于是在K 层形成一个空位，这一过程称为激发。
V k 称为K 系激发电压。
③按照能量最低原理，电子具有尽量往低能级跑的趋势。
当K 层出现空位后，L 、M 、N……外层电子就会跃入此空位，同时将它们多余的能量以X 射线光子的形式释放出来。
④K 系：L, M, N, ...─→K ，产生K α、K β、 K r ... 标识X 射线L 系：M, N, O,...─→L ，产生L α、L β... 标识X 射线 特征X 射线谱 M 系: N, O, ....─→M ，产生M α... 标识X 射线 特征谱Moseley 定律 2)(1αλ-•=Z a Z:原子序数，a 、α：常数2.X 射线与物质相互作用的三个效应（1）光电效应•当 X 射线的波长足够短时，X 射线光子的能量就足够大，以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来，•X 射线光子本身被吸收，它的能量传给该电子，使之成为具有一定能量的光电子，并使原子处于高能的激发态。
（2）荧光效应①外层电子填补空位将多余能量ΔE 辐射次级特征X 射线，由X 射线激发出的X 射线称为荧光X 射线。
②衍射工作中，荧光X 射线增加衍射花样背影，是有害因素③荧光X 射线的波长只取决于物质中原子的种类(由Moseley 定律决定)，利用荧光X 射线的波长和强度，可确定物质元素的组分及含量，这是X 射线荧光分析的基本原理。
材料现代测试分析方法
材料现代测试分析方法
材料现代测试分析方法是一种研究材料性能和组成的科学手段，包括多种实验技术和数学分析方法。
1. 结构分析方法：如X射线衍射（XRD）、中子衍射（ND）、电子衍射（ED）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）等，用于研究材料的晶体结构、晶格参数、晶体形貌、晶界、晶体缺陷等结构相关性能。
2. 成分分析方法：如质谱法、元素分析、分子光谱法等，用于研究材料的化学组成、元素含量、官能团、化学键等成分相关性能。
3. 物理性能测试方法：如热分析、热力学测试、电学测试、磁学测试等，用于研究材料的热性能、电性能、磁性能等物理性质。
4. 力学性能测试方法：如拉伸试验、硬度测试、冲击试验等，用于研究材料的力学性能，如强度、韧性、硬度等。
5. 表面性能测试方法：如接触角测量、光学测量、表面电位测试等，用于研究材料的表面特性，如润湿性、光学性能、电化学性能等。
以上只是部分材料现代测试分析方法，随着科技的进步，测试方法不断更新和发展，为材料研究提供更全面和准确的实验手段。
材料分析测试
材料分析测试材料分析测试是一种通过对材料进行实验和检测，以获取材料性能和特性的方法。
在工程领域和科学研究中，材料分析测试是至关重要的，它可以帮助我们了解材料的组成、结构、性能和行为，为材料的设计、选择和应用提供科学依据。
本文将介绍材料分析测试的一些常用方法和技术。
一、光学显微镜分析。
光学显微镜是一种常用的材料分析测试工具，它可以通过放大和观察材料的微观结构来了解材料的组织和形貌特征。
在材料科学研究和工程实践中，光学显微镜广泛应用于金属材料、陶瓷材料、塑料材料等材料的组织分析和缺陷检测。
二、扫描电子显微镜分析。
扫描电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，它可以通过电子束对材料进行扫描，获得材料表面的形貌和结构信息。
扫描电子显微镜广泛应用于纳米材料、生物材料、复合材料等领域，可以观察到材料的微观形貌和表面特征，对材料的研究和分析具有重要意义。
三、X射线衍射分析。
X射线衍射是一种通过X射线对材料进行衍射，获取材料晶体结构和晶体学信息的方法。
X射线衍射广泛应用于金属材料、无机材料、晶体材料等领域，可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体取向，对材料的性能和行为有重要影响。
四、热分析测试。
热分析是一种通过对材料在不同温度条件下的热性能进行测试和分析的方法。
常见的热分析方法包括热重分析、差热分析、热膨胀分析等，可以了解材料的热稳定性、热分解特性和热膨胀行为，对材料的加工和使用具有指导意义。
五、力学性能测试。
力学性能测试是一种通过对材料在外力作用下的变形和破坏行为进行测试和分析的方法。
常见的力学性能测试包括拉伸试验、压缩试验、弯曲试验等，可以了解材料的强度、韧性、硬度等力学性能指标，对材料的设计和评价具有重要意义。
六、化学成分分析。
化学成分分析是一种通过化学方法对材料的成分进行测试和分析的方法。
常见的化学成分分析方法包括光谱分析、质谱分析、原子吸收光谱分析等，可以确定材料的元素组成和含量，为材料的合金设计和质量控制提供依据。
材料测试与分析技术-4.2 物相定量分析
1.) 外标法（单线条法）
用外标法获得待测相含量，是把多相混合物中待测 相的某根衍射线强度与该相纯物质的相同指数衍射线 强度相比较而进行的。适用于吸收系数相同的同素异 构体的定量分析，如-Al2O3和-Al2O3的定量分析。
待测相强度
纯j相强度
分别测出待测物相及其纯相的强度，就可以计算得该相含量
例1.在由ZnO、KCl、LiF组成的三相混合物中，加入一 定量刚玉粉作为标准物，所得实验数据和计算结果如下：
4.）直接比较法—钢中残余奥氏体含量测定
直接对比较法测定多相混 合物中的某相含量时，是 以试样中另一个相的某根 衍射线条作为标准线条作 比较的，而不必掺入外来 标准物质。因此，它可用 于粉末，又可用于块状多 晶试样，在工程上具有广 泛的应用价值。适用于由 两个化学成分相近的物相 组成的试样。如钢中残余 奥氏体含量测定。
物相定量分析应注意的问题（P58）
（1）标样的选择： ①具有良好稳定性 ②在常用辐射不产生荧光 ③衍射峰较少，不与其他物相衍射峰重叠 ④衍射强度较强
（2）样品的制备： 样品粒度应在1m左右；混样尽量均匀
（3）实验条件的选择
外标法也可用于吸收系数不相同的两相混合物的定量分析。 纯j相强度 待测相强度 若待测物由j和k两相组成,则
分别测出待测物相及其 纯相的强度，若知道两 相的质量吸收系数和密 度，就可计算得其含量。
外标法只适用于上述两 种情况，而且测量在两 个样品分别进行，要求 实验条件完全一致。否 则会产生误差。
2.) 内标法
内标法的试样是在待测试样中掺入一定含量的标准物质 的混合物，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入 试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条强度相比较， 以获得待测相含量。显然，内标法仅限于粉末试样。
材料分析测试技术
材料分析测试技术
材料分析测试技术是一项非常重要的技术，它可以帮助我们了解材料的性质和组成，以及评估其质量和性能。
以下是几种常见的材料分析测试技术。
1. 光谱分析技术：光谱分析技术通过测量材料与光的相互作用，来获取材料的组成和性质信息。
常见的光谱分析技术包括紫外可见光谱分析、红外光谱分析和拉曼光谱分析等。
2. 核磁共振技术：核磁共振技术可以通过测量材料的核磁共振信号，来获取材料的分子结构和组成信息。
常见的核磁共振技术包括质子核磁共振技术和碳-13核磁共振技术等。
3. 电子显微镜技术：电子显微镜技术可以通过对材料进行高分辨率的电子显微镜观察，来研究材料的晶体结构和表面形貌。
常见的电子显微镜技术包括扫描电子显微镜和透射电子显微镜等。
4. 热分析技术：热分析技术可以通过加热和测量材料在不同温度下的性质变化，来研究材料的热稳定性和热降解行为。
常见的热分析技术包括差示扫描量热法、热重分析和热导率测量等。
5. 表面分析技术：表面分析技术可以通过对材料表面进行分析，来研究材料的表面组成和表面特性。
常见的表面分析技术包括
X射线光电子能谱分析、原子力显微镜和扫描隧道显微镜等。
以上只是几种常见的材料分析测试技术，当然还有其他很多的
技术，如X射线衍射分析、负离子萃取法、电化学测试等。
不同的技术可以相互补充，提供更全面的材料信息。
材料分析测试技术在材料科学和工程中具有重要作用，可以用于材料的开发、制备、优化和质量控制等方面，为我们的科研和工业发展提供了重要的支持。
《材料分析测试技术》课件
在生物学领域，材料分析测试技术用于研 究生物大分子的结构和功能，以及生物材 料的性能和生物相容性。
医学领域
环境科学领域
在医学领域，材料分析测试技术用于药物 研发、医疗器械性能评价以及人体组织与 器官的生理和病理研究。
在环境科学领域，材料分析测试技术用于 环境污染物检测、生态系统中物质循环的 研究以及环保材料的性能评估。
反射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的反射率，分 析材料的表面特性、光学常数和光学性能 。
发光光谱测试技术
研究材料在受到激发后发射出的光的性质 ，包括荧光、磷光和热辐射等，以了解材 料的发光性能和光谱特性。
透射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的透射率，分 析材料的透光性能、光谱特性和光学常数 。
磁粉检测技术
总结词
通过磁粉与材料相互作用，检测其表面和近表面缺陷。
详细描述
磁粉检测技术利用磁粉与被检测材料的相互作用，通过观察磁粉的分布和排列，检测材 料表面和近表面的裂纹、折叠等缺陷。该技术广泛应用于钢铁、有色金属等材料的检测
。
涡流检测技术
总结词
通过电磁感应在材料中产生涡流，检测其表 面和近表面缺陷。
《材料分析测试技术》ppt课件
目录
• 材料分析测试技术概述 • 材料物理性能测试技术 • 材料化学性能测试技术 • 材料力学性能测试技术 • 材料无损检测技术 • 材料分析测试技术的应用与展望
01
材料分析测试技术概述
Chapter
定义与目的
定义
材料分析测试技术是指通过一系列实验手段对材料 进行物理、化学、机械等性能检测，以获取材料组 成、结构、性能等方面的信息。
电学性能测试技术
电容率测试技术
材料测试分析方法
材料测试分析方法
材料测试分析方法是用于对材料进行性能测试和分析的一系列技术方法。
常见的材料测试分析方法有：
1.力学性能测试方法：包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等测试方法，用于评估材料的强度、韧性、刚性等力学性能。
2.热性能测试方法：包括热导率、热膨胀系数、热稳定性等测试方法，用于评估材料在高温、低温等条件下的热性能。
3.化学性能测试方法：包括化学成分分析、腐蚀性能测试等方法，用于评估材料的化学稳定性和抗腐蚀性能。
4.表面性能测试方法：包括表面硬度测试、表面粗糙度测试等方法，用于评估材料的表面质量和加工性能。
5.断裂性能测试方法：包括冲击韧性测试、断裂韧度测试等方法，用于评估材料的抗冲击和抗断裂能力。
6.电学性能测试方法：包括导电性测试、介电常数测试等方法，用于评估材料的电气性能。
7.微观结构分析方法：包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜等方法，用于观察材料的微观结构和相变等现象。
以上仅为常见的材料测试分析方法，实际上还有很多其他的方法和技术用于对材料进行详细的性能测试和分析。
不同的材料和需求会选择不同的测试方法来评估其性能。
材料现代分析与测试技术课程设计 (2)
材料现代分析与测试技术课程设计一、课程目标本课程旨在教授材料现代分析与测试技术的基础原理和实践操作技能，培养学生的科学研究思维和实验操作能力，为学生今后学习与科研提供基础。
二、课程大纲1. 基础知识本部分主要介绍材料现代分析与测试技术的一些基础知识，包括材料的结构、性能和成分等。
2. 分析技术本部分主要介绍材料现代分析与测试技术中常用的分析技术，包括X射线衍射、扫描电镜、透射电镜、原子力显微镜等。
3. 实验操作本部分主要介绍材料现代分析与测试技术的操作流程和实验技巧，包括样品制备、实验设备操作、数据处理等。
4. 实践应用本部分主要介绍材料现代分析与测试技术在材料科学、环境监测、医学等领域的实践应用，为学生提供实际操作案例。
三、课程设计1. 教学方式本课程采用理论教学与实验操作相结合的方式进行。
理论教学部分包括教师的授课和学生的自主学习，学生应在课前预习相关的理论知识，并在课堂上和教师互动、讨论。
实验操作部分由学生进行，教师将为学生提供实验指导并进行实验结果评估。
2. 实验操作本课程的实验操作包括以下内容：1.样品制备：学生将制备不同材料的样品，并进行后续的实验分析操作。
2.X射线衍射：学生将用X射线衍射仪进行材料样品分析，了解不同晶面之间的角度和间距。
3.扫描电镜：学生将用扫描电镜观察材料表面形貌，并进行形貌分析。
4.透射电镜：学生将用透射电镜观察材料内部结构，并进行晶体结构和成分分析。
5.原子力显微镜：学生将用原子力显微镜观察材料表面的微纳米结构，并进行形貌分析。
3. 实验报告学生将在实验操作后撰写实验报告，包括以下内容：1.实验目的：介绍该实验的目的和重要性。
2.实验原理：阐述该实验所用技术的原理和基础知识。
3.实验过程：介绍学生的实验操作流程和记录结果。
4.数据分析：对实验数据进行分析和解释。
5.结论和展望：总结实验结果并展望未来研究的方向。
四、学生评估本课程的学生评估分为实验操作成绩和实验报告成绩两部分。
材料测试技术及方法原理
材料测试技术及方法原理
1. 光谱分析技术：利用物质对光的吸收、发射或散射等现象来分析材料的成分和结构。
例如，红外光谱可以分析材料中的官能团，紫外-可见光谱可以分析材料的颜色和光学性质。
2. X 射线衍射技术：通过 X 射线在材料中的衍射现象来分析材料的晶体结构和相组成。
该技术可以确定材料的晶体类型、晶格常数、晶粒尺寸等信息。
3. 电子显微镜技术：利用电子束与物质相互作用产生的信号来观察和分析材料的微观结构。
扫描电子显微镜可以观察材料的表面形貌，透射电子显微镜可以观察材料的内部结构。
4. 力学性能测试：包括拉伸试验、压缩试验、弯曲试验等，用于测定材料的强度、塑性、韧性等力学性能。
5. 热分析技术：如差热分析、热重分析等，用于研究材料在加热或冷却过程中的物理和化学变化，如相变、热分解等。
6. 光谱化学分析：利用光谱技术进行元素分析，例如原子吸收光谱、电感耦合等离子体发射光谱等。
7. 核磁共振技术：通过测定原子核在磁场中的自旋状态来分析材料的结构和化学键信息。
这些测试技术和方法原理在材料科学研究、工程设计和质量控制等领域具有重要的应用价值，可以帮助我们深入了解材料的性质和行为，为材料的开发、优化和应用提供科学依据。
材料分析测试技术2篇
材料分析测试技术2篇材料分析测试技术（一）随着科技的快速发展，材料分析测试技术也得到了卓越的进步。
这项技术可以在材料的不同阶段进行测试和分析，以评估其性能及其他相关特性。
已经有许多技术和方法的出现，可以在材料分析测试方面提供全面的解决方案。
现在，我们来看看可能使用的一些最常见的材料分析测试技术。
1.扫描电镜（SEM）扫描电镜是一种基于高能电子束相互作用原理的分析技术。
它可以检测材料的表面形貌、结构、成分、尺寸和形状。
今天，扫描电镜已经成为所有材料分析测试中最最主要的技术。
你可以使用不同模式的扫描电镜来检测不同类型的材料，例如一些更具透明性的材料，例如硅胶。
2.X射线衍射（XRD）X射线衍射是一种重要的分析技术，它主要用于检测材料的晶格结构和成分。
该技术使用X射线作为激发光源，通过样品散射所形成的衍射图谱，可以得到材料的化学组成和结晶结构。
由于其易于操作并且快速分析能力，X射线衍射成为材料鉴定中的主要技术之一。
3.拉曼光谱（Raman）拉曼光谱是一种快速、无损的分析技术，用于材料的化学分析和表征。
它可以用于检测有机、无机和混合材料的成分和结构，还可以用于检测化学分子之间的相互作用。
用于检测和分析几乎所有类型的材料，包括纳米材料、生物材料和钙化聚合物。
4.原子力显微镜（AFM）原子力显微镜是一种扫描探针显微镜，可以用于检测不同类型的材料表面形貌、摩擦和力学性质。
在许多应用中，原子力显微镜在材料表面的观察和表征方面表现出极高的分辨率。
总的来说，材料分析测试技术的应用范围非常广泛，很多技术甚至可以实现多种科学研究方法的同时测试。
了解并掌握这些技术，对于材料分析测试工作的完成和研究的准确性和可靠性都至关重要。
材料分析测试技术（二）材料分析测试是现代科学以及各种材料科学领域中的一项重要组成部分。
这是一种实践方法，用于评估、监测和确定材料的物理特性、化学成分、结构和其它各方面的相关特性。
以下是一些主要的材料分析测试技术。
材料分析测试技术
材料分析测试技术一、常用的材料分析测试技术：1.光学显微镜：光学显微镜是一种非常常用的材料分析测试技术。
它利用光学原理对样品进行观察和分析，可以获取样品的形貌特征、颜色、晶体结构等信息。
2.电子显微镜：电子显微镜是一种比光学显微镜具有更高分辨率的显微镜。
它利用高能电子束来观察和分析样品，可以获得更高分辨率的图像和更详细的样品信息。
3.X射线衍射：X射线衍射技术是一种常用的材料结构分析技术。
它利用X射线与样品相互作用，通过分析衍射图样中的衍射峰位置和强度来推断样品的晶体结构、晶格参数等信息。
4.热分析技术：热分析技术包括热重分析、差热分析和热膨胀分析等。
它们利用样品在不同温度下的热物理性质的变化来推断材料的热稳定性、热解行为、热性能等信息。
5.光谱分析技术：光谱分析技术包括紫外可见吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱等。
它们利用材料对不同波长的光的吸收、散射等现象来推断样品的组成、化学键信息、分子结构等。
6.表面分析技术：表面分析技术包括扫描电子显微镜、原子力显微镜、表面X射线衍射等。
它们通过分析样品表面的形貌、化学组成、原子排列等信息来了解材料的表面特性和性能。
7.能谱分析技术：能谱分析技术包括电子能谱、质谱、中子活化分析等。
它们通过分析样品中不同能量的粒子和辐射的能谱图样来推断样品的元素组成、同位素含量等。
二、材料分析测试技术的应用：1.材料研发和合成：材料分析测试技术可以帮助研究人员了解材料的组成、结构和性能，从而指导材料的设计、合成和改进。
2.质量控制和品质检验：材料分析测试技术可以帮助企业对原材料和成品进行质量控制和品质检验，确保产品的合格性和稳定性。
3.故障分析和事故调查：材料分析测试技术可以帮助工程师和科学家对发生故障和事故的材料进行分析和鉴定，并找出故障原因和事故责任。
4.工程应用和材料性能评估：材料分析测试技术可以帮助工程师评估材料的性能和可行性，为工程应用提供科学依据和技术支持。
5.文物保护和文化遗产研究：材料分析测试技术可以帮助文物保护人员对古代文物进行分析和鉴定，了解其材料组成和制作工艺，从而保护和研究文化遗产。
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计算机标准化考试试题第一章X射线衍射分析一、填空（每空1分）1.X射线从本质上说，也是[ 电磁波]，其波长范围大约在[0.01～1000Ǻ]。
2.X射线管发出的X射线，可得到面积为1mm×1mm的[ 点]焦点和面积为0.1mm×10mm的[线]焦点。
从[线]焦点窗口发出的X射线适用于衍射仪的工作。
3.标识X射线谱中，对一定线系的某条谱线而言，其波长与原子序数的平方近似成[反比]关系，这就是著名的[ 莫塞莱]定律。
4.伴随光电吸收而发生的有[荧光X射线]和[俄歇电子]。
5.布拉格方程2dsinθ=λ是X射线晶体学中最基本的公式，其中d是[晶面间距]，θ是[布拉格角（半衍射角）]，λ是[入射X射线波长]。
6.通常将入射线与晶面的交角θ称为[布拉格角（半衍射角）]，入射线与衍射线的交角2θ称为[衍射角]。
7.X射线衍射方法有[劳厄法]、[转动晶体法（转晶法）]、[粉晶法]和[衍射仪法]四种方法。
8.从粉末衍射线束强度的测量中，可以得到有关[晶体结构]，多相混合物中各物质的[相对含量]等多种信息。
9.衍射仪的工作方式有[连续扫描]和[步进扫描]两种。
10.进行定性相分析时，必须先将试样用粉晶法或衍射仪法测定各衍射线的[衍射角]，将它换算为晶面间距d，再测出各条衍射线的[相对强度]，然后与各种结晶物质的标准衍射花样进行比较鉴别。
11.粉末衍射标准联合委员会专门负责收集、校订各种物质的衍射数据，将它们进行统一的分类和编号，编织成卡片出版，这种卡片组被命名为[粉末衍射卡组]，简称[PDF]卡。
二、判断题(每题1分)1标识X射线（特征X射线）的波长只决定于元素，不同元素将发出不同波长的谱线。
[对]2X射线的相干散射不损失能量，只改变方向，它们可以相互干涉形成衍射图样。
[对]3布拉格公式是X射线晶体学中最基本的公式，它与光学反射定律加在一起就是布拉格定律。
[对]4劳厄法是用连续X射线照射多晶体的衍射方法。
[错]5连续扫描无滞后及平滑效应，因此衍射峰位正确、分辨率好。
[错]6在确定衍射峰位时，切线法适用于线形尖锐的情况。
[错]7在进行定性物相分析时，d值的数据比相对强度的数据重要。
[对]8在进行定性物相分析时，高角度区域的数据比低角度区域的数据重要。
[错] 9X射线物相定量分析，是根据混合试样中各相物质的衍射线强度来确定各相物质的相对含量。
[对]10用谢乐方程可以计算颗粒尺寸。
[错]三、单项选择题(每题1分)1. X射线衍射分析的缩写是[ A ]A.XRD；B.TEM；C.SEM；D.DTA。
2. X射线衍射分析方法中，应用最广泛、最普遍的是[ D ]A.劳厄法；B.转动晶体法；C德拜法；D.衍射仪法。
3. X射线衍射仪的核心部件是[ B ]A. X射线管；B.测角仪；C.探测器；D.高压电源。
4.在进行X射线衍射谱分析时，确定衍射峰位的方法中，适用于线形尖锐情况的是[ A ]A.峰顶法；B.切线法；C.半高宽中点法；D.中点连线法。
5.JCPDS编制出的索引共有三种，适用于已知试样中含有某种元素或某几种元素的情况的索引是[ A ]A.字顺索引；B.哈那瓦特索引；C.芬克索引。
四、多项选择题(每题2分)1. X射线衍射分析在无机非金属材料研究中可用于[ ABCD ]。
A.物相分析；B.测定晶格常数；C.判定晶体的对称性和取向；D.测定晶粒大小。
2. 由波的干涉加强条件出发，推导出衍射线的方向与点阵参数、入射线相对于点阵方位及X射线波长之间的关系（X射线衍射的几何条件），这种关系的具体表现为[ AB ]A.劳厄方程；B.布拉格定律；C.莫塞莱定律；D.谢乐方程。
3. 在X射线衍射研究晶体的方法中，用于研究单晶体的方法是[ AB ]A.劳厄法；B.转动晶体法；C德拜法；D.衍射仪法。
4. X射线与物质相互作用中，伴随光电吸收发生的有[ CD ]A.相干散射；B.不相干散射；C.荧光X射线；D.俄歇电子。
5. 在下列方法中，用于确定X射线衍射谱中衍射峰位的方法是[ ABC ]A.峰顶法；B.半高宽法；C.抛物线模拟法；D.外推法。
第二章电子显微分析一、填空（每空1分）1.电子显微分析是利用[聚焦电子束]与试样物质相互作用产生的[各种物理信号]，分析试样物质的[微区形貌]、[晶体结构]和[化学组成]。
2. TEM的分辨率是[0.104—0.25]nm，放大倍数是[100—800000]倍；SEM的分辨率是[3—6]nm，放大倍数是[15—300000]倍。
3. 电磁透镜的像差有[球差]、[色差]、[轴上像散]和[畸变]。
4. 透射电子显微镜的结构分为[光学成像]系统、[真空]系统和[电气]系统。
5. 透射电镜分析中，电子图像的衬度按其形成机制有[质厚衬度]、[衍射衬度]和[相位衬度]三种衬度。
4. 解释扫描电子显微像镜的衬度有[形貌衬度]、[原子序数衬度]和[电压衬度]三种衬度。
6. 电子探针X射线显微分析（EPMA）是一种[显微]分析和[成分]分析相结合的微区分析，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有力的分析方法。
其中常用的X射线谱仪有[波谱仪]和[能谱仪]两种。
7.电子探针分析有四种基本分析方法：[定点定性分析]、[线扫描分析]、[面扫描分析]和[定点定量分析]。
二、判断题(每题1分)1.观察纳米粒子必须用电子显微镜，不能用光学显微镜。
[错]2.电子波长与其加速电压平方根成正比，加速电压越高，电子波长越长，电子的能量越小。
[错]3.电磁透镜是一种可变焦距或可变倍数的会聚透镜，这是它有别于光学玻璃凸透镜的一个特点。
[对]4.弹性散射电子由于其能量等于或接近于入射电子能量E0，因此是透射电镜中成像和衍射的基础。
[对]5.透射电镜是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜，是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具。
[对]6.扫描电镜电子图像的衬度按其形成机制有质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
[错]7.质厚衬度理论适用于一般成像方法的非晶态薄膜和复型膜试样所成图像的解释。
[对]8.多晶电子衍射得到的电子衍射花样是一系列按几何图形配置的衍射斑点。
[错]9.扫描电镜具有场深大（三百倍于光学显微镜）的特点，适用于粗糙表面和断口的分析观察。
[对]10. 扫描电镜试样制备时要进行镀膜处理，其目的是避免在电子束照射下产生点和积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。
[对]11.二次电子像主要反映试样表面的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，图像中凸尖和台阶边缘处二次电子发射最多，亮度最高；平坦部或凹谷发射的二次电子最少，亮度最暗。
[对]12.能谱仪分析的元素范围广（4Be～92U）、探测极限小、分辨率高，适用于精确的定量分析。
[错]三、单项选择题(每题1分)1.透射电子显微分析的缩写是[ A ]。
A.TEM；B. SEM；C. EPMA；D.DTA。
2.扫描电子显微分析的缩写是[ B ]。
A.TEM；B. SEM；C. EPMA；D.DTA。
3.电子探针X射线显微分析的缩写是[ C ]。
A.TEM；B. SEM；C. EPMA；D.DTA。
4. 分辨率（分辨本领）是电磁透镜的最重要的性能指标，它受到衍射效应、球差、色差和轴上像散等因素的影响，其中衍射效应和[ A ]是最主要的。
A.球差；B.色差；C.轴上像散；D.畸变。
5.透射电镜是应用[ A ]来成像。
A.透射电子；B.背散射电子；C.二次电子；D.俄歇电子。
6.无机非金属材料大多数为多相、多组分的非导电材料，直到60年代初产生了[ D ]后，才使无机非金属材料的薄膜制备成为可能。
A.超薄切片方法；B.电解抛光方法；C.化学抛光方法；D.离子轰击减薄方法。
7.适合透射电镜观察的试样是厚度小于[ C ]的对电子束“透明”的试样。
A.50nm；B.100nm；C.200nm；D.500nm。
8.扫描电镜用不同信号成像时分辨率是不同的，分辨率最高的是[ B ]。
A.背散射电子像；B.二次电子像；C.X射线像；D.吸收电子像。
9. 扫描电镜分析中，适用于解释形貌像的衬度是[ A ]A.形貌衬度；B.原子序数衬度；C.电压衬度；D.质厚衬度。
10.四、多项选择题(每题2分)1.电子显微分析包括[ BCD]A.X射线衍射分析；B.透射电子显微分析；C.扫描电子显微分析；D.电子探针X 射线显微分析。
2.在电子与固体物质相互作用中，从试样表面出射的电子有[ ACD ]A.背散射电子；B.透射电子；C.二次电子；D.俄歇电子。
3.透射电镜电子图像的衬度按其形成机制有[ ABC ]。
A. 质厚衬度；B. 衍射衬度；C. 相位衬度；D.形貌衬度。
4.透射电子显微分析中，用于晶体薄膜试样所成图像解释的衬度是[ BC ]A.质厚衬度；B.衍射衬度；C.相位衬度；D.原子序数衬度。
5.扫描电镜的衬度，根据其形成的依据可分为[ BCD ]。
A.质厚衬度；B.形貌衬度；C.原子序数衬度。
D.电压衬度。
第三章、第四章第五章一、多选题：（每题2分）1.多原子分子的振动模型的基本类型可分为：（a，c）（第四章）（a）伸缩振动（b）扭动（c）弯曲振动（d）摇摆2. 伸缩振动的基本类型有：（a，d）（第四章）（a）对称伸缩振动（b）剪式弯曲振动（c）旋转振动（d）非对称伸缩振动3. 多原子分子的弯曲振动可分为：（a，b，c，d）（第四章）（a）变形或剪式振动（b）摇摆或面内弯曲（c）摇摆或面外弯曲（d）扭动4. 对红外光谱来讲，产生吸收振动需要满足：（a，b）（第四章）（a）振动频率与红外光光谱段的某频率相等。
（b）偶极矩的变化（c）非红外活性振动（d）振动的简并5. 红外光按波长的不同可划分为以下区域：（a，b，c）（第四章）（a）近红外区域（b）中红外区域（c）远红外区域（d）极远红外区域6. 影响红外光谱图中谱带位置的因素有：（a，b，c，d）（第四章）（b）键应力（c）氢键（d）物质状态7. 影响红外光谱图中谱带强度的因素有：（a，c）（第四章）（a）偶极矩的变化（b）物质的状态（c）能级的跃迁几率（d）键应力8. 红外光谱带可划分为：（a，b）（第四章）（a）官能团区（b）指纹谱带区（c）不对称振动区（d）对称振动区9. 红外分光光度计由以下部分组成：（a，b，c）（第四章）（a）红外辐射光源（b）单色器（c）检测器（d）衍射光栅10. 红外分光光度计中的单色器包括以下元件：（a，b，c）（第四章）（a）狭缝（b）准直镜（c）色散元件（d）棱镜11. 红外分光光度计中的热检测器有以下种类：（a，b，c，d）（第四章）（a）热电偶（b）热电检测器（c）高莱槽（d）测辐射热计12. 影响红外分光光度计测量准确度的主要因素有：（a，b，c）（第四章）（a）噪音（b）杂散光（c）仪器的动态响应（d）扫描速度13. 红外光谱实验中固体样品制备的主要方法有：（第四章）（b）悬浮法（c）卤化物压片法（d）薄膜法14. 光电子能谱测量中化学位移的解释有以下模型：（a，b，c）（第五章）（a）离子型化合物静电模型（b）分子电位—电荷热能模型（c）等效原子核心－等价电子壳层模型（d）振动模型15. 光电子能谱仪由以下部分构成：（a，b，d）（第五章）（a）激发光源（b）光电子能谱分析器（c）电子倍增管（d）测试和记录系统16. 以下选项中属于光电子能谱粉末试样制备方法的有：（a，c）（第五章）（a）压片法（b）点焊法（c）溶剂处理法（d）冷凝法17. 光电子能谱可用于以下方面的分析：（a，b，d）（第五章）（a）化学分析（b）固体表面相的研究（c）形貌分析（d）化合物结构的鉴定18. 俄歇电子能谱可以用于以下方面的分析：（a，b，c）（第五章）（a）定性分析（b）定量分析（c）状态分析（d）断口分析19. 红外光谱实验中的薄膜法包括以下方法：（a，b，c，d）（第四章）（a）剥离薄片法（b）熔融法（c）溶液法（d）沉淀薄片法20. 以下方法中属于特殊红外光谱分析技术的有：（a，b，c，d）（第四章）（a）微量样品红外测量法（b）偏振红外光谱技术（c）内反射法（d）傅立叶变换红外光谱法二、填空题：（每空1分）1. 将透过物质的光辐射按波长长短排列，并测量不同波长处的辐射强度，得到的是（1）。