一种高速数据采集记录装置的设计

一种高速数据采集记录装置的设计
【摘要】文章介绍了一种基于Flash的高速数据采集记录装置的实现方案；文中采用了Flash高速存储技术与FPGA的二级缓冲技术，提高了存储速度，突破存储芯片的瓶颈，成功实现了数据存储速率与传输速率完美的匹配；同时通过设计合理的电路降低了存储模块的功耗，利用可靠的通信协议，有效保证了信号数据的可靠接收和存储。

【关键词】数据记录仪；Flash；高速存储
1.系统方案设计
本文设计的数据记录系统由以下几部分组成：两台完全相同的数据记录仪、一个地面综合测试台、上位机、配套软件以及配套电缆。

主要用于记录由雷达系统产生的视频回波、图像及遥测三路LVDS高速信号。

系统工作时，由雷达系统首先发来启动记录信号，使已处于采集状态的两台记录仪同时工作，二者互为备份。

地面测试台产生的模拟信号供记录仪存储，同时可以控制记录仪进入不同的工作状态，通过内置的USB接口读取记录仪的数据；上位机通过USB电缆与地面测试台相接，对回读的数据进行分析，同时验证记录仪是否正常工作。

2.系统硬件设计
该系统采用隔离变压器隔离接收三路LVDS数据，使得隔离前后的电路没有电气连接特性，然后再将隔离后的信号传送给存储模块；经过存储模块的均衡、解串后传给FPGA中心控制器，最后存入两片Flash中。

遥测系统输出的三路数据都有各自的启动记录信号。

当记录仪接收到启动控制信号，开始记录对应路的数据，并存储到相应的存储模块中。

飞行试验完毕后，可以利用备用读数电缆，将各个存储模块中数据通过测试台上传至上位机中进行分析，以便对记录仪的存储功能进行验证。

在飞行模式下记录仪的供电由雷达系统完成。

记录仪由三个存储模块和一个接口模块组成。

存储模块主要接收遥测系统的视频回波、图像及遥测三路LVDS信号，并对其中的有效数据进行实时存储。

该模块主要包括以下几个部分：中心逻辑控制芯片FPGA、配置芯片PROM、LVDS 电缆均衡器、LVDS解串芯片、存储芯片Flash、电源模块以及60MHz晶振等[1]。

如图2.1所示：
接口模块主要包括LVDS高速读数接口、RS-422长线接口、视频及图像遥测雷达信号输入接口、各个存储模块的LVDS输入接口以及数据上传和指令下发接口。

高速读数接口与地面测试台主控卡的相应接口连接，通过LVDS接口高速读取其中的数据；422长线接口通过双绞线电缆与地面测试台连接，主要实现记录仪与地面测试台之间的通信。

3.系统逻辑设计
3.1 Flash高速存储技术设计
由于Flash是基于页读写、块擦除的工作模式[2]，在对其进行读、写以及擦除操作都需要一定的等待时间，通过建立无效块列表，有效地提高了读写速率[3]。

由FPGA内部时序控制转换将生成的4K并行数据轮流写入两片Flash中，单片Flash采用交替双平面页编程方式，存储速率能够达到29.85MB/s。

采用两片Flash进行存储，从时间上看两个数据流同时流入两片Flash中，相当于数据总线增加了一倍，实现数据存储速率能够达到单片Flash存储速率的两倍，即有效数据存储率为59.7MB/s，大于有效数据的传输速率59MB/s，能够保证对每路数据源的可靠存储。

3.2 存储模块逻辑设计
LVDS数据流可以直接按字节方式分离并存储，该方式虽然可以降低FPGA 内部资源的消耗，但是加大了对存储数据恢复的复杂程度，并其中一路存储时出现丢数，容易影响到另一路数据的存储，造成数据结构的紊乱，导致存储数据无法恢复。

因此采用FPGA内部双口RAM资源，实现8Kbyte数据的缓冲，之后增加两个4K双口RAM，构成了二级缓冲。

对于单路的I/P/Q信号，数据在60M 的时钟下写入一级缓冲（8K）中，当判断写入数据大于7106后，以60M的速率连续读取4096个数据给二级缓冲A，同时控制Flash（A）模块对二级缓冲A 中的数据进行判断，当写入数据大于10个后，以30M的速率连续读取4096个并写入Flash（A）中；当再次判断一级缓冲（8K）中读写地址差值大于7106后，同样以60M的速率连续读取4096个数据，并写入二级缓冲B，当控制Flash（B）模块判断二级缓冲B中数据大于10个后，同样以30M的速率读取4096个后写满Flash（B）中的一页。

上述操作交替进行，实现LVDS数据流中的有效数据轮流有序地存入两片Flash中。

存储模块内部实现两级缓冲的逻辑原理框图见图：
4.系统可靠性设计
记录仪的正常工作离不开其可靠性设计。

若电路设计的不合理，记录仪的工作性能得不到保障，严重时会损坏设备，可见电路的可靠性设计[4]是记录仪正常运行的首要保障。

4.1 降低存储模块功耗的可靠性设计
存储模块的供电经过电源芯片进行电压转换，给存储模块内部芯片供电。

在未灌封之前进行多次常温测试发现，工作时电源芯片和XC3S200表面温度较高，而且由于对记录仪小体积的要求，要求内部芯片焊接很集中；而且记录仪在高空试验环境中会受到高冲击、高过载的影响，必须对记录仪存储模块进行灌封，增加抗冲击能力。

为了解决上述问题，降低消耗在存储模块电源芯片本身的功耗。

下面对存储模块进行温度测试试验。

为了获得存储单元灌封后的内部温度，我们
使用热电偶对内部多点进行测量，实时显示温度。

在试验一和试验二中，我们选定以下七个点，试验三中增加了中壳体外壁一点。

通过以上设计的试验可以看出，当存储模块的供电电源输入为3.6V左右时，测试各点的温度都所有下降，在芯片正常工作范围内，且存储模块在长达十几小时的高温环境中仍能正常工作，说明存储模块输入电源采用3.6V供电的可靠性。

4.2 记录仪通信的可靠性设计
在整个存储设备中，RS-422传输协议主要实现记录仪与测试台之间的通信功能，控制记录仪的工作状态，另外，还可以完成记录仪的长线读数功能。

数据是以串行差分形式传输，测试台主控卡向记录仪下发传输命令的长度都是以6个字节为基本单位，其中，前两个字节为固定帧头“55H”、“AAH”；第3个字节为命令长度，为固定的“02H”；第4、5个字节为命令字，针对不同的命令会有对应的命令字；第6个字节是校验和，大小等于两个命令字的和。

记录仪也采用相同的命令格式进行返回命令的上传[5]。

为保证控制指令传输的可靠性，数据校验是必不可少的，因此，我们在协议中设计了校验码。

同时，协议中还设计了命令信号从测试台、接口板、存储板、接口板，最后返回测试台指令反馈机制，增强了系统对错误命令的识别能力，提高了系统执行命令的抗干扰能力。

5.结论
文中研究的高速数据记录仪设备采用了双片选、双平面交替编程进行数据存储，并通过FPGA内部的二级缓冲技术，使得记录仪的总体写入速度加倍，采用合理的电路降低存储模块的功耗，利用可靠的通信协议，有效保证了信号数据的可靠接收和存储，完全满足设计的高速存储要求。

目前该系统通过了高低温、振动、冲击及电磁兼容等环境试验，能够满足实际的工程要求。

参考文献
[1]Gyu Sang Choi，Byung-Won On.Study of the performance impact of a cache buffer in solid-state disks[J].Microproc-essors and Microsystems，2011，35（3）：359-369.
[2]高怡祯.基于闪存的星载大容量存储器的研究和实现[J].电子技术应用，2003，8：75-78.
[3]Jeong-Uk Kang，Jin-Soo Kim，Chanik Park，Hyoungjun Park，Joonwon Lee.A multi-channel architecture for high-performance NAND flash-based storage system[J].Journal of Systems Architecture，2007，52（9）：644-658.
[4]李煊，丁为.常用设备串口通信协议及其应用[J].自动化仪表，2011，32
（10）：82-86.。