第一章 自然电位测井
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2016/6/29 测井方法 15
5、曲线形态(图1-8)
地层模型:上下围岩的岩性相同(泥岩),地
层岩性均匀。
1)、曲线关于地层中点对称; 2)、厚地层(h>4d)的SP曲线幅度近似等于地 层的实际值 ,半幅点对应地层界面; 3)、随地层变薄,曲线读数受围岩影响增加, 幅度降低,半幅点向围岩方向移动。
的关系,应用下式计算地层的泥质含量:
Vsh
psp 1 ssp
(1-6)
其中:psp为泥质砂岩的自然电位幅度; ssp为本区含水纯砂岩的静自然电位。
2016/6/29
测井方法
26
三、确定地层水电阻率Rw
地层水电阻率在评价储层流体性质方面占有相当
重要的位置。 用自然电位曲线确定Rw的依据为:
SSP K lg
2016/6/29
图1-2
扩散吸附电动势产生示意图
测井方法 9
扩散吸附电动势与两种溶液的浓度比值有关,
由下式计算:
E
其中:
da
K da
K
da
RT 2. 3 F
Cw lg Cm
(1-3)
—扩散吸附电动势系数;
当泥浆滤液和地层水的矿化度都较低时, 上式可近似写为:
E da K da lg
测井方法
2016/6/29 测井方法 14
4、异常:指相对泥岩基线,渗透性地层的SP曲线 的位置。 1)、负异常:在砂泥岩剖面井中,当井内为淡水泥 浆( Cw Cmf )时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩
基线的左侧;图1-6所示。
2)正异常:在砂泥岩剖面井中,当井内为盐水泥 浆( C C )时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩基 w mf 线的右侧。图1-7所示。
基线的右侧。
2016/6/29
测井方法
38
。
5、曲线形态特征: A、曲线关于地层中点对称; B、厚地层(h>4d)的SP曲线幅度近似等于
地层的实际值,半幅点对应地层界面;
C、随地层变薄,曲线读数受围岩影响增
加,幅度降低,半幅点向围岩方向移动。
2016/6/29
测井方法
39
3、 自然电位曲线的影响因素及应用
其中: K K d K da
Rmfe Rwe
(1-7)
Rmfe
2016/6/29
、
Rwe 分别为泥浆滤液及地层水
等效电阻率.
测井方法 27
其过程如下:
1、确定完全含水纯地层的静自然电位SSP
(图1-12) ;
2、确定泥浆滤液等效电阻率; 1)、确定地层温度 (图1-13)
t t0 dt h
生的扩散电动势可表示为:
E
d
K d lg
Rmf Rw
(1-2)
其中:
K
d
RT u v 2 .3 F uv
欧姆· 米。
Rw Rmf 分别为地层水和泥浆滤液电阻率。
单位为
K d —扩散电动势系数。
2016/6/29 测井方法 8
二、扩散—吸附电动势产生机理
1、泥浆和地层水
的矿化度不同; 2 、井壁地层具有 一定的渗透性; 3、地层颗粒对不 同极性的离子具有 不同的吸附性。
测井方法
24
用自然电位测井曲线确定泥质含量的方法:
图版法 和公式法 两种方法。 1 、图版法 1)、测定泥质砂岩的泥质含量; 2)、确定泥质地层的自然电位幅度;
3)、对其自然电位幅度进行岩层厚度及孔
隙流体性质校正;
4)、绘制泥质含量与自然电位幅度的关系曲
线。
2016/6/29 测井方法 25
2、 公式法 根据泥质地层的自然电位幅度与 泥质含量
-注入水的电阻率。
统计资料表明:
Esp >8mV 为高含水;
5mV < E sp <8mV为中含水;
Esp <5mV可能为低水淹或岩性变化所至。
2016/6/29 测井方法 34
图1-18 水淹层测井曲线
2016/6/29 测井方法
图1-19 水淹层的SP 曲线基线 偏移示意图
35
本章小结 一 、自然电位产生的机理
Kd 与Kda 的大小。
2016/6/29 测井方法 18
五、地层的导电性 地层导电性差,测量回路的电流小,在井内泥 浆柱上产生的压差小,测量值低。
U sp
SSP rm rm rsd rsh
(1-5)
2016/6/29
测井方法
19
其中: SSP —泥岩层的等效电阻;
U sp —渗透性地层的SP幅度差;
2016/6/29
测井方法
6
F —Farady常数,96520 C/equiv;
Cw、Cm —两种溶液的浓度;
U、v —— 正、负离子的迁移率,S/(m· N)
Z 、 Z —正、负离子的离子价;
离子数;
n 、 n —每个分子离解后形成的正离子数和负
2016/6/29
测井方法
7
在砂泥岩剖面井中的纯砂岩段,在井壁附近产
用图版1-16得到地层温度下地层水电阻率 R w 0.043 m。
2016/6/29 测井方法 30
四、判断水淹层
水淹层:含有注入水的油层,称之为水淹层。 SP测井曲线能够反映水淹层的条件及现象: 当注入水与原地层水及钻井液的矿化度互不相 同时,与水淹层相邻的泥岩层的基线出现偏移。
如图1-18、1-19所示。 偏移量越大,表明水淹程度越严重。
Rmf Rw
(1-4)
2016/6/29
10
第二节自然电位测井及曲线特征
一、自然电位测井 在砂泥岩剖面井 中,当 Cw Cmf 时, 井下自然电场的分 布如图1-3所示。自 然电位测井示意图 如图1-4所示。
2016/6/29
图1-3、井内自然电场分布示意图 CW﹥Cmf
测井方法 11
图1-4、 自然电位
2016/6/29 测井方法 16
第三节
SP曲线的影响因素
一、地层水和泥浆滤液中含盐浓度的比值
地层水和泥浆滤液含盐浓度的差异,是产生扩
散电动势及扩散吸附电动势的基本原因.
二者差异越大, Ed 和E da 越大,产生的电场越
强,测井值越高;二者差异越小,产生的电场越弱, 测井值越低。
2016/6/29
的电位降低。
2016/6/29
测井方法
21
第四节
自然电位曲线的应用
一、 划分渗透层 在砂泥岩剖面 ,自然电位测井曲 线以均质泥岩段的 SP 曲 线 为 基 线 , 出 现异常的层段(偏 离基线)均可认为
2016/6/29
渗透层
泥岩基线
测井方法
图1-9 应用SP曲线划分渗透层
22
图1-10、砂岩层上部含 油下部含水时自然电位 曲线
测井方法
17
二、岩性 随地层泥质含量的增加,SP曲线异常幅度降低。 三、 地层温度 由于 Kd 与Kda 与绝对温度成正比,因此地层温 度的高低将会影响 Kd 与Kda 大小,进而影响
Ed 与Eda 的大小。
四、 地层水及泥浆滤液中含盐性质
地层水及泥浆滤液所含盐分不同,则溶液中所含 离子不同,不同离子的离子价及迁移速率不同,将影 响
rm
—井内泥浆的等效电阻;
rsd —渗透性地层的等效电阻;
rsh
2016/6/29
—泥岩层的等效电阻;
测井方法
20
六、地层厚度
地层厚度减小,围岩影响增加,测量值与实 际值的差距加大。 七、井径扩大和侵入的影响 井径扩大,造成泥浆柱的电阻减小,压差降低;
泥浆侵入,使得测量电极M与地层间的距离加大,M
2016/6/29 测井方法 23
图1-11、半幅点法示意图
含水地层的异常值高于含油气地层的异常值。如
图1-10所示.对于较厚地层(h>4d),可采用半幅点
法确定地层厚度,如图1-11所示.
二、确定地层泥质含量 泥质:地层中细粉砂和湿粘土的混合物叫泥质。
泥质含量:泥质体积占地层体积的百分比。
2016/6/29
1)、影响因素: A、Cw/Cmf; B、溶液中的盐成分; C、地层岩性、温度、厚度及导电性;
D、泥浆侵入深度及侵入特征;
E、井眼是否扩径。
2016/6/29
测井方法
40
1、地层水矿化度(Cw)不同于钻井液矿化度
(Cm); 2、盐溶液中,不同离子的迁移速度不同; 3、地层泥质颗粒对不同性质的离子具有不同 的吸附性;
4、井壁地层具有一定的渗透性。
2016/6/29
测井方法
36
二、自然电位曲线的特点:
1 、 泥岩基线:均质、巨厚的泥岩地层对应的自 然电位曲线。 2、最大静自然电位SSP:均质、巨厚的完全含水 的纯砂岩层的自然电位读数与泥岩基线读数的差。
电位测井(简称SP测井)。
2016/6/29 测井方法 2
第一节
自然电场的产生
由于泥浆和地层水的矿化度不同,在钻开岩层 后,井壁附近两种不同矿化度的溶液接触产生电化 学过程,结果产生电动势形成自然电场。在石油井 中自然电场主要是由扩散电动势和扩散吸附电动势
组成。
泥浆:钻井时,在井内流动的一种介质。 泥浆滤液:在一定压差下,进入到井壁地 层孔隙内的泥浆 。
和视电阻
率同时测
量示意图
2016/6/29
测井方法
12
图1-5、自然电 位测井曲线实例
2016/6/29
测井方法
13
二、 SP曲线的特征
SP曲线如图1-5所示。
1、泥岩基线:均质、巨厚的泥岩地层对应的自 然电位曲线。 2、最大静自然电位SSP:均质、巨厚的完全含水 的纯砂岩层的自然电位读数与泥岩基线读数的差。 3、比例尺:SP曲线的图头上标有的线性比例尺。用 于计算非泥岩层与泥岩基线间的自然电位差。
2016/6/29 测井方法 3
一
地层水:地层孔隙内的水。 溶液的矿化度:溶液含盐的浓度。溶质重量与溶 液重量之比。 离子扩散:两种不同浓度的盐溶液接触时,在渗 透压的作用下高浓度溶液中的离子,穿过渗透性
隔膜迁移到低浓度溶液中的现象。
2016/6/29
测井方法
4
一、扩散电动势产生的机理
1、泥浆和地层 水的矿化度不同; 2 、井壁地层具 有渗透性;
3 、正、负离子
的迁移速率不同。
图1-1 扩散电动势产生示意图
2016/6/29
测井方法
5
扩散电动势可由Nernst方程计算:
E
d
Cw RT n u n v 2.3 lg F Z n u Z n v C m
T—绝对温度,oK;T=273+t℃
(1-1)
其中:R—克分子气体常数,8.313 J/(K);
3、比例尺:SP曲线的图头上标有的线性比例尺。
用于计算非泥岩层与泥岩基线间的自然电位差。
2016/6/29
测井方法
37
4、异常:指相对泥岩基线而言,渗透性地层的
SP曲线的位置。
A、负异常:在砂泥岩剖面井中,当Cw>Cm
(淡水泥浆)时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩 基线的左侧; B、正异常:在砂泥岩剖面井中,当Cw<Cm (盐水泥浆)时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩
其中: t0 -地表温度; dt-地温梯度; h-地层深度。
2016/6/29 测井方法 28
3)、确定Rmfe。图1-16 当泥浆只含氯化钠、温度为 24 Rmf 0.1 m,则 R℃时: mfe R mf
(1)、Rmf 0.1 m,则Rmfe Rmf (2)、Rmf 0.1 m,
第一章 自然电位测井
自然电场的产生
自然电位测井及曲线特征 影响因素 自然电位曲线的应用 内容小结 思考题
2016/6/29 测井方法 1
井下自然电场是由钻开岩层时井内钻 井液的矿化度与地层水矿化度不同,井壁
附近出现电化学活动产生的。自然电场的
分布特点取决于井孔剖面岩层的性质。沿
井轴测量自然电位变化的测井方法叫自然
则在已知地层温度及此温度下泥浆电阻率, 用图1-16确定泥浆滤液等效电阻率。
2016/6/29
测井方法
29
3、确定地层水电阻率Rw
(1)、已知SSP、地层温度,确定 Rmfe Rwe ;
(图1-17)
(2)、根据等效ຫໍສະໝຸດ Baidu层水电阻率及地层温度,确
定地层温度下的地层水电阻率。(图1-16)。
例.SSP 87mv, t 149 0C。由图1- 17 得到 Rmfe Rwe 7.4. 若R mfe 0.3 m,则R we 0.3/ 7.4 0.04 m.
2016/6/29
测井方法
31
偏移量的计算
在未被水淹的上部砂岩和泥岩交界处的电动
势为
Cw E1 K lg( ) Cmf
在砂岩内水淹部分和未被水淹部分交界 面处的总电动势为
C注 Cw Cw E2 Ed Ed 注界 Ed 注 Kd lg( ) Kd lg( ) K d lg( ) Cmf C注 Cmf
2016/6/29
测井方法
32
在被水淹的下部砂岩和泥岩交界处的电动势
为
C注 Cw E3 Ed 注 Eda Kd lg( ) Kda lg( ) Cmf Cmf
2016/6/29
测井方法
33
R注 Cw Esp E1 E3 Kd lg Kd lg C注 Rw
其中:
R注
5、曲线形态(图1-8)
地层模型:上下围岩的岩性相同(泥岩),地
层岩性均匀。
1)、曲线关于地层中点对称; 2)、厚地层(h>4d)的SP曲线幅度近似等于地 层的实际值 ,半幅点对应地层界面; 3)、随地层变薄,曲线读数受围岩影响增加, 幅度降低,半幅点向围岩方向移动。
的关系,应用下式计算地层的泥质含量:
Vsh
psp 1 ssp
(1-6)
其中:psp为泥质砂岩的自然电位幅度; ssp为本区含水纯砂岩的静自然电位。
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测井方法
26
三、确定地层水电阻率Rw
地层水电阻率在评价储层流体性质方面占有相当
重要的位置。 用自然电位曲线确定Rw的依据为:
SSP K lg
2016/6/29
图1-2
扩散吸附电动势产生示意图
测井方法 9
扩散吸附电动势与两种溶液的浓度比值有关,
由下式计算:
E
其中:
da
K da
K
da
RT 2. 3 F
Cw lg Cm
(1-3)
—扩散吸附电动势系数;
当泥浆滤液和地层水的矿化度都较低时, 上式可近似写为:
E da K da lg
测井方法
2016/6/29 测井方法 14
4、异常:指相对泥岩基线,渗透性地层的SP曲线 的位置。 1)、负异常:在砂泥岩剖面井中,当井内为淡水泥 浆( Cw Cmf )时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩
基线的左侧;图1-6所示。
2)正异常:在砂泥岩剖面井中,当井内为盐水泥 浆( C C )时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩基 w mf 线的右侧。图1-7所示。
基线的右侧。
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测井方法
38
。
5、曲线形态特征: A、曲线关于地层中点对称; B、厚地层(h>4d)的SP曲线幅度近似等于
地层的实际值,半幅点对应地层界面;
C、随地层变薄,曲线读数受围岩影响增
加,幅度降低,半幅点向围岩方向移动。
2016/6/29
测井方法
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3、 自然电位曲线的影响因素及应用
其中: K K d K da
Rmfe Rwe
(1-7)
Rmfe
2016/6/29
、
Rwe 分别为泥浆滤液及地层水
等效电阻率.
测井方法 27
其过程如下:
1、确定完全含水纯地层的静自然电位SSP
(图1-12) ;
2、确定泥浆滤液等效电阻率; 1)、确定地层温度 (图1-13)
t t0 dt h
生的扩散电动势可表示为:
E
d
K d lg
Rmf Rw
(1-2)
其中:
K
d
RT u v 2 .3 F uv
欧姆· 米。
Rw Rmf 分别为地层水和泥浆滤液电阻率。
单位为
K d —扩散电动势系数。
2016/6/29 测井方法 8
二、扩散—吸附电动势产生机理
1、泥浆和地层水
的矿化度不同; 2 、井壁地层具有 一定的渗透性; 3、地层颗粒对不 同极性的离子具有 不同的吸附性。
测井方法
24
用自然电位测井曲线确定泥质含量的方法:
图版法 和公式法 两种方法。 1 、图版法 1)、测定泥质砂岩的泥质含量; 2)、确定泥质地层的自然电位幅度;
3)、对其自然电位幅度进行岩层厚度及孔
隙流体性质校正;
4)、绘制泥质含量与自然电位幅度的关系曲
线。
2016/6/29 测井方法 25
2、 公式法 根据泥质地层的自然电位幅度与 泥质含量
-注入水的电阻率。
统计资料表明:
Esp >8mV 为高含水;
5mV < E sp <8mV为中含水;
Esp <5mV可能为低水淹或岩性变化所至。
2016/6/29 测井方法 34
图1-18 水淹层测井曲线
2016/6/29 测井方法
图1-19 水淹层的SP 曲线基线 偏移示意图
35
本章小结 一 、自然电位产生的机理
Kd 与Kda 的大小。
2016/6/29 测井方法 18
五、地层的导电性 地层导电性差,测量回路的电流小,在井内泥 浆柱上产生的压差小,测量值低。
U sp
SSP rm rm rsd rsh
(1-5)
2016/6/29
测井方法
19
其中: SSP —泥岩层的等效电阻;
U sp —渗透性地层的SP幅度差;
2016/6/29
测井方法
6
F —Farady常数,96520 C/equiv;
Cw、Cm —两种溶液的浓度;
U、v —— 正、负离子的迁移率,S/(m· N)
Z 、 Z —正、负离子的离子价;
离子数;
n 、 n —每个分子离解后形成的正离子数和负
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测井方法
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在砂泥岩剖面井中的纯砂岩段,在井壁附近产
用图版1-16得到地层温度下地层水电阻率 R w 0.043 m。
2016/6/29 测井方法 30
四、判断水淹层
水淹层:含有注入水的油层,称之为水淹层。 SP测井曲线能够反映水淹层的条件及现象: 当注入水与原地层水及钻井液的矿化度互不相 同时,与水淹层相邻的泥岩层的基线出现偏移。
如图1-18、1-19所示。 偏移量越大,表明水淹程度越严重。
Rmf Rw
(1-4)
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第二节自然电位测井及曲线特征
一、自然电位测井 在砂泥岩剖面井 中,当 Cw Cmf 时, 井下自然电场的分 布如图1-3所示。自 然电位测井示意图 如图1-4所示。
2016/6/29
图1-3、井内自然电场分布示意图 CW﹥Cmf
测井方法 11
图1-4、 自然电位
2016/6/29 测井方法 16
第三节
SP曲线的影响因素
一、地层水和泥浆滤液中含盐浓度的比值
地层水和泥浆滤液含盐浓度的差异,是产生扩
散电动势及扩散吸附电动势的基本原因.
二者差异越大, Ed 和E da 越大,产生的电场越
强,测井值越高;二者差异越小,产生的电场越弱, 测井值越低。
2016/6/29
的电位降低。
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测井方法
21
第四节
自然电位曲线的应用
一、 划分渗透层 在砂泥岩剖面 ,自然电位测井曲 线以均质泥岩段的 SP 曲 线 为 基 线 , 出 现异常的层段(偏 离基线)均可认为
2016/6/29
渗透层
泥岩基线
测井方法
图1-9 应用SP曲线划分渗透层
22
图1-10、砂岩层上部含 油下部含水时自然电位 曲线
测井方法
17
二、岩性 随地层泥质含量的增加,SP曲线异常幅度降低。 三、 地层温度 由于 Kd 与Kda 与绝对温度成正比,因此地层温 度的高低将会影响 Kd 与Kda 大小,进而影响
Ed 与Eda 的大小。
四、 地层水及泥浆滤液中含盐性质
地层水及泥浆滤液所含盐分不同,则溶液中所含 离子不同,不同离子的离子价及迁移速率不同,将影 响
rm
—井内泥浆的等效电阻;
rsd —渗透性地层的等效电阻;
rsh
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—泥岩层的等效电阻;
测井方法
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六、地层厚度
地层厚度减小,围岩影响增加,测量值与实 际值的差距加大。 七、井径扩大和侵入的影响 井径扩大,造成泥浆柱的电阻减小,压差降低;
泥浆侵入,使得测量电极M与地层间的距离加大,M
2016/6/29 测井方法 23
图1-11、半幅点法示意图
含水地层的异常值高于含油气地层的异常值。如
图1-10所示.对于较厚地层(h>4d),可采用半幅点
法确定地层厚度,如图1-11所示.
二、确定地层泥质含量 泥质:地层中细粉砂和湿粘土的混合物叫泥质。
泥质含量:泥质体积占地层体积的百分比。
2016/6/29
1)、影响因素: A、Cw/Cmf; B、溶液中的盐成分; C、地层岩性、温度、厚度及导电性;
D、泥浆侵入深度及侵入特征;
E、井眼是否扩径。
2016/6/29
测井方法
40
1、地层水矿化度(Cw)不同于钻井液矿化度
(Cm); 2、盐溶液中,不同离子的迁移速度不同; 3、地层泥质颗粒对不同性质的离子具有不同 的吸附性;
4、井壁地层具有一定的渗透性。
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测井方法
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二、自然电位曲线的特点:
1 、 泥岩基线:均质、巨厚的泥岩地层对应的自 然电位曲线。 2、最大静自然电位SSP:均质、巨厚的完全含水 的纯砂岩层的自然电位读数与泥岩基线读数的差。
电位测井(简称SP测井)。
2016/6/29 测井方法 2
第一节
自然电场的产生
由于泥浆和地层水的矿化度不同,在钻开岩层 后,井壁附近两种不同矿化度的溶液接触产生电化 学过程,结果产生电动势形成自然电场。在石油井 中自然电场主要是由扩散电动势和扩散吸附电动势
组成。
泥浆:钻井时,在井内流动的一种介质。 泥浆滤液:在一定压差下,进入到井壁地 层孔隙内的泥浆 。
和视电阻
率同时测
量示意图
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测井方法
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图1-5、自然电 位测井曲线实例
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测井方法
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二、 SP曲线的特征
SP曲线如图1-5所示。
1、泥岩基线:均质、巨厚的泥岩地层对应的自 然电位曲线。 2、最大静自然电位SSP:均质、巨厚的完全含水 的纯砂岩层的自然电位读数与泥岩基线读数的差。 3、比例尺:SP曲线的图头上标有的线性比例尺。用 于计算非泥岩层与泥岩基线间的自然电位差。
2016/6/29 测井方法 3
一
地层水:地层孔隙内的水。 溶液的矿化度:溶液含盐的浓度。溶质重量与溶 液重量之比。 离子扩散:两种不同浓度的盐溶液接触时,在渗 透压的作用下高浓度溶液中的离子,穿过渗透性
隔膜迁移到低浓度溶液中的现象。
2016/6/29
测井方法
4
一、扩散电动势产生的机理
1、泥浆和地层 水的矿化度不同; 2 、井壁地层具 有渗透性;
3 、正、负离子
的迁移速率不同。
图1-1 扩散电动势产生示意图
2016/6/29
测井方法
5
扩散电动势可由Nernst方程计算:
E
d
Cw RT n u n v 2.3 lg F Z n u Z n v C m
T—绝对温度,oK;T=273+t℃
(1-1)
其中:R—克分子气体常数,8.313 J/(K);
3、比例尺:SP曲线的图头上标有的线性比例尺。
用于计算非泥岩层与泥岩基线间的自然电位差。
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测井方法
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4、异常:指相对泥岩基线而言,渗透性地层的
SP曲线的位置。
A、负异常:在砂泥岩剖面井中,当Cw>Cm
(淡水泥浆)时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩 基线的左侧; B、正异常:在砂泥岩剖面井中,当Cw<Cm (盐水泥浆)时,渗透性地层的SP曲线位于泥岩
其中: t0 -地表温度; dt-地温梯度; h-地层深度。
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3)、确定Rmfe。图1-16 当泥浆只含氯化钠、温度为 24 Rmf 0.1 m,则 R℃时: mfe R mf
(1)、Rmf 0.1 m,则Rmfe Rmf (2)、Rmf 0.1 m,
第一章 自然电位测井
自然电场的产生
自然电位测井及曲线特征 影响因素 自然电位曲线的应用 内容小结 思考题
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井下自然电场是由钻开岩层时井内钻 井液的矿化度与地层水矿化度不同,井壁
附近出现电化学活动产生的。自然电场的
分布特点取决于井孔剖面岩层的性质。沿
井轴测量自然电位变化的测井方法叫自然
则在已知地层温度及此温度下泥浆电阻率, 用图1-16确定泥浆滤液等效电阻率。
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3、确定地层水电阻率Rw
(1)、已知SSP、地层温度,确定 Rmfe Rwe ;
(图1-17)
(2)、根据等效ຫໍສະໝຸດ Baidu层水电阻率及地层温度,确
定地层温度下的地层水电阻率。(图1-16)。
例.SSP 87mv, t 149 0C。由图1- 17 得到 Rmfe Rwe 7.4. 若R mfe 0.3 m,则R we 0.3/ 7.4 0.04 m.
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偏移量的计算
在未被水淹的上部砂岩和泥岩交界处的电动
势为
Cw E1 K lg( ) Cmf
在砂岩内水淹部分和未被水淹部分交界 面处的总电动势为
C注 Cw Cw E2 Ed Ed 注界 Ed 注 Kd lg( ) Kd lg( ) K d lg( ) Cmf C注 Cmf
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在被水淹的下部砂岩和泥岩交界处的电动势
为
C注 Cw E3 Ed 注 Eda Kd lg( ) Kda lg( ) Cmf Cmf
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R注 Cw Esp E1 E3 Kd lg Kd lg C注 Rw
其中:
R注