MOCVD法制备金属陶瓷功能梯度材料的研究
mocvd
MOCVD概述MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种用于薄膜生长的化学气相沉积方法。
该方法利用金属有机化合物在高温下分解,从而在衬底表面沉积出所需的薄膜。
MOCVD在半导体材料、光电子学和纳米科技等领域广泛应用。
工艺流程MOCVD的工艺流程一般包括下述几个步骤:1.准备衬底:选择合适的衬底材料,并进行表面清洗和处理,以确保良好的薄膜生长条件。
2.载气流入:将所需的载气引入反应室,常用的载气有氢气、氩气等。
3.前体供应:将金属有机化合物的气体前体供应到反应室,通常通过气体输送系统控制前体的流量和浓度。
4.反应:在适当的温度和压力条件下,金属有机化合物分解并与衬底表面反应,形成所需的薄膜。
5.生长控制:对反应条件进行控制,如温度、压力、前体浓度等,以控制薄膜的成分、结构和生长速率。
6.结束和冷却:停止前体供应,并冷却样品,以结束薄膜的生长过程。
应用领域半导体材料生长MOCVD广泛应用于半导体材料的生长。
通过控制衬底、前体和反应条件,可以生长多种半导体材料,如GaAs、InP、GaN等。
这些材料在电子器件中具有重要的应用,如光电二极管、激光器、太阳能电池等。
光电子学由于MOCVD可以生长高质量的半导体材料薄膜,它被广泛应用于光电子学领域。
MOCVD生长的薄膜可以用于制备LED(发光二极管)和LD(激光二极管),这些器件在照明和通信等领域有重要应用。
纳米科技随着纳米科技的发展,MOCVD也发展出了纳米级的应用。
通过控制MOCVD的反应条件,可以生长纳米尺寸的量子点和超晶格结构,这些纳米结构在纳米电子学、纳米光学和生物医学等领域具有潜在应用。
优点与挑战优点1.高质量薄膜:MOCVD可以生长高质量、均匀的薄膜,具有较低的缺陷密度和较好的结晶特性。
2.选择性生长:通过调节反应条件和前体选择,可以实现对特定晶面和材料的选择性生长。
3.可扩展性:MOCVD方法可扩展到大面积、高通量的薄膜生长,适用于工业化生产。
MOCVD沉积Ti和TiN工艺对集成电路互联电阻的影响研究与改善
MOCVD沉积Ti/TiN工艺对集成电路互联电阻的影响研究与改善
摘要
随着大规模集成电路的发展,钨(W)以其优良化学及电学特性(其气态 的化合物在反应中容易控制且具有良好的孔洞填充能力,同时钨具有很有 抗电迁移能力及非常低的电阻率)作为层间互联金属的应用变得越来越广 泛,但是由于由化学气象淀积(CVD)而产生的钨具有很高的应力,直接 淀积在二氧化硅(SIO2)表面极易剥落而使电路中产生缺陷影响良率,故 通常在CVD淀积钨前对晶圆表面进行预处理:淀积一层比较薄的钛与氮化 钛复合结构的薄膜来缓释钨的应力并阻挡钨的扩散 ,由于这层薄膜最终是 要留在 接触窗的底部并形成低电阻的金属硅化物,故MOCVD TI/TIN 工艺 的优劣对接触窗电阻有着很大的影响。
铝制程中金属的应用
MOCVD沉积Ti/TiN工艺对集成电路互联电阻的影响研究与改善
集成电路金属互联技术概述
铜
金属 Ta/TaN充当铜的 阻挡层防止铜的扩散与 污染
金属铜是主要的导电 材料.电阻率低抗电迁 移能力强, 无法刻蚀,大马士革 工艺
TaNTa
铜制程中金属的应用
MOCVD沉积Ti/TiN工艺对集成电路互联电阻的影响研究与改善
钨插栓多层结构及其具体工艺
6层钨插栓结构简图
MOCVD沉积Ti/TiN工艺对集成电路互联电阻的影响研究与改善
钨插栓多层结构及其具体工艺
P+ ll
P+
N+ P-Well
N+
钨沉积之前示意图
MOCVD沉积Ti/TiN工艺对集成电路互联电阻的影响研究与改善
钨插栓多层结构及其具体工艺
通过IMP TI 和 MOCVD 工艺沉积一层 低于1000A的Ti/TiN 作 为钨的阻挡层和粘合层
MOCVD技术的技术特点与优势介绍及在光电薄膜中的应用
MOCVD技术的技术特点与优势介绍及在光电薄膜中的应用MOCVD技术在半导体材料和器件及薄膜制备方面取得了巨大的成功。
尽管如此,MOCVD仍是一种发展中的半导体超精细加工技术,MOCVD技术的进一步发展将会给微电子技术和光电子技术带来更广阔的前景。
一、引言近年来,随着半导体工业的发展以及高速光电信息时代的来临,LPE、VPE等技术在半导体业生产中的作用越来越小;MBE与MOCVD技术相比,由于其设备复杂、价格更昂贵,生长速度慢,且不适pC-长含有高蒸汽压元素(如P)的化合物单晶,不宜于工业生产。
而金属有机物化学气相淀积(MOCVD),1968年由美国洛克威公司的Manasevit等人提出制备化台物单晶薄膜的一项新技术;到80年代初得以实用化。
经过近20年的飞速发展,成为目前半导体化台物材料制备的关键技术之一。
广泛应用于包括半导体器件、光学器件、气敏元件、超导薄膜材料、铁电/铁磁薄膜、高介电材料等多种薄膜材料的制备。
二、MOCVD的主要技术特点国内外所制造的MOCVD设备,大多采用气态源的输送方式,进行薄膜的制备。
气态源MOCVD设备,将MO源以气态的方式输送到反应室,输送管道里输送的是气体,对送入反应室的MO源流量也以控制气体流量来进行控制。
因此,它对MO源先体提出应具备蒸气压高、热稳定性佳的要求。
用气态源MOCVD法沉积一些功能金属氧化物薄膜,要求所选用的金属有机物应在高的蒸气压下具有高的分子稳定性,以避免输送过程中的分解。
然而,由于一些功能金属氧化物的组分复杂,元素难以合成出气态MO源和有较高蒸气压的液态MO源物质,而蒸气压低、热稳定性差的MO源先体,不可能通过鼓泡器(bubbler)由载气气体输运到反应室。
然而采用液态源输送的方法,是目前国内外研究的重要方向。
采用将液态源送入汽化室得到气态源物质,再经过流量控制送入反应室,或者直接向反应室注入液态先体,在反应室内汽化、沉积。
这种方式的优点是简化了源输送方式,对源材料的要求降低,便于实现多。
mocvd的原理及应用
MOCVD的原理及应用1. 简介MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种常用于半导体器件制造的薄膜沉积技术。
它通过在高温下分解金属有机化合物来沉积出具有特定性质的材料薄膜,广泛应用于光电子、电子器件、传感器等领域。
2. 工作原理MOCVD的工作原理基于热分解金属有机化合物,并在局部反应过程中生成所需的元素。
主要包括以下步骤:2.1 材料供应•这一步骤中,金属有机化合物被蒸发,以供应原子组分用于沉积薄膜。
2.2 衬底制备•在MOCVD系统中,衬底被清洗和加热,以去除污染物并提供合适的表面条件来接受沉积材料。
2.3 沉积材料生成•衬底被置于反应室中,金属有机化合物分子通过比例阀和气流送入反应室。
•在反应室中,金属有机化合物发生热分解,生成金属和有机残留物。
•金属在表面反应,生成所需材料的薄膜。
2.4 管理反应过程•反应温度、气流速度和金属有机化合物的供应速率等参数需要准确控制,以获得所需薄膜的理想特性。
3. 应用领域MOCVD技术在以下领域得到广泛应用:3.1 光电子器件制造•MOCVD可用于生长具有特定波长、高纯度和优异光电特性的半导体材料。
这些材料常用于光电子器件,如激光器、LED等。
3.2 电子器件制造•在电子器件制造中,MOCVD可用于沉积具有特定性能的绝缘体、传导薄膜和金属氧化物薄膜。
3.3 传感器制造•MOCVD也广泛应用于传感器制造。
通过调整材料组分和沉积条件,可以获得特定性能的材料,用于制造高灵敏度、高稳定性的传感器。
3.4 生物医疗•MOCVD可以用于沉积生物医疗领域的材料,如生物传感器、生物医疗器械等。
3.5 其他应用领域•MOCVD还可用于制造太阳能电池、光伏设备、显示器件等。
4. 优势与挑战4.1 优势•MOCVD可以控制沉积材料的组分和性能,以满足不同应用的要求。
•MOCVD具有高度适应性,可用于不同形状和尺寸的衬底。
•MOCVD可在较低的温度下进行材料沉积,以减少热应力。
MOCVD外延生长技术简介
MOCVD外延生长技术简介摘要:MOCVD外延技术是国内目前刚起步的技术,本文主要介绍外延的基本原理以及目前世界上主要外延生产系统的设计原理及基本构造。
外延生长的基本原理是,在一块加热至适当温度的衬底基片(主要有红宝石和SiC两种)上,气态物质In,Ga,Al,P有控制的输送到衬底表面,生长出特定单晶薄膜。
目前LED外延片生长技术主要采用有机金属化学气相沉积方法。
MOCVD金属有机物化学气相淀积(Metal-OrganicChemicalVaporDeposition,简称MOCVD),1968年由美国洛克威尔公司提出来的一项制备化合物半导体单品薄膜的新技术。
该设备集精密机械、半导体材料、真空电子、流体力学、光学、化学、计算机多学科为一体,是一种自动化程度高、价格昂贵、技术集成度高的尖端光电子专用设备,主要用于GaN(氮化镓)系半导体材料的外延生长和蓝色、绿色或紫外发光二极管芯片的制造,也是光电子行业最有发展前途的专用设备之一。
第一章外延在光电产业角色近十几年来为了开发蓝色高亮度发光二极管,世界各地相关研究的人员无不全力投入。
而商业化的产品如蓝光及绿光发光二级管LED及激光二级管LD的应用无不说明了Ⅲ-Ⅴ族元素所蕴藏的潜能,表1-1为目前商品化LED之材料及其外延技术,红色及绿色发光二极管之外延技术大多为液相外延成长法为主,而黄色、橙色发光二极管目前仍以气相外延成长法成长磷砷化镓GaAsP材料为主。
MOCVD机台是众多机台中最常被使用来制造LED之机台。
而LED或是LD亮度及特性的好坏主要是在于其发光层品质及材料的好坏,发光层主要的组成不外乎是单层的InGaN/GaN量子井SingleQuantumWell或是多层的量子井MultipleQuantumWell,而尽管制造LED的技术一直在进步但其发光层MQW的品质并没有成正比成长,其原是发光层中铟Indium的高挥发性和氨NH3的热裂解效率低是MOCVD机台所难于克服的难题,氨气NH3与铟Indium的裂解须要很高的裂解温度和极佳的方向性才能顺利的沉积在InGaN的表面。
金属陶瓷材料的制备及其应用
金属陶瓷材料的制备及其应用一、引言金属陶瓷材料作为一类新型复合材料,其独特的结构和性能使其在多个领域具有广泛的应用前景。
本文将介绍金属陶瓷材料的制备方法和应用领域,以期为其研究和应用提供一定的参考和启示。
二、金属陶瓷材料的制备方法1.粉末冶金法该方法是以金属和氧化物粉末为原料,在高温下进行反应和烧结制备而成。
其中,金属粉末是填充材料,氧化物粉末是增强材料,通过粉末混合、压制、烧结等工艺步骤进行制备。
这种方法的优点是可以控制材料的组成和结构,缺点是制备成本较高。
2.溶胶–凝胶法该方法是将金属含有的化合物和有机物等混合在一起,形成凝胶体系,在高温下进行焙烧和烧结,制备出金属陶瓷材料。
该方法制备的金属陶瓷材料具有高的密度和均匀的组织结构,但制备时间较长。
3.化学镀法该方法是将合成的金属溶液浸入陶瓷基体中,使用化学反应在基体表面沉积金属层。
该方法制备的金属陶瓷材料组织均匀,但是粘附力较差,易剥离;同时制备工艺复杂。
4.超临界流体法该方法是在超临界状态下,将金属和陶瓷原料导入反应器中,制备出金属陶瓷材料。
该方法制备时间短,但制备设备和操作难度较大。
三、金属陶瓷材料的应用领域1.航空航天领域金属陶瓷材料由于其优异的力学性能和高温抗氧化性能,在航空航天领域得到广泛应用。
比如,用于航空发动机的涡轮叶片、加力燃烧室件等高温零部件。
2.汽车工业领域金属陶瓷材料的高强度和高耐磨性能,使其成为汽车发动机部件的理想材料。
比如,在汽车缸套内涂覆金属陶瓷涂层,可以提高缸套的耐磨性和降低摩擦系数。
3.医疗应用领域金属陶瓷材料具有生物相容性良好的特点,可以用于人工骨头、牙齿和骨骼修复等医疗领域。
比如,人工髋关节、人工牙齿等。
4.电子信息领域金属陶瓷材料具有良好的导电性能和电磁屏蔽性能,广泛应用于电子信息领域。
比如,核心材料、电子元器件的制造等。
四、结论金属陶瓷材料作为一类具有广泛发展前景的新型复合材料,其制备方法和应用领域十分多样化。
MOCVD 介绍
• 金属有机化学气相沉积(MOCVD)方法不仅具有CVD
方法的全部特征,而且由于以金属有机物为蒸发 源,表现出许多独有的特点。
所用的先驱体为挥发性较高的金属有机化合物 活性较高,受热容易分解 金属有机源分解以及金属单质或其氧化物涂层形 MOCV 成均可在较低温度下完成 D优点 沉积组分可多元化 可在钢等热敏感基体上沉积,扩大基体材料选择 范围
-1
Logo
MOCVD沉积铱膜装置示意图
Logo
4
CVD铂、铱的动力学研究
Pt沉积速率在基体温度为550℃时达到最大值, 小于550℃ 时随沉积温度升高而直线上升, 而大于550℃时随沉积温度升 高而直线下降。Pt的沉积速率随沉积源加热温度的升高直线增 加, 通入氩气流速增加会降低Pt的沉积速率。Ir薄膜沉积速率
金属、半导体元素、碳化物、氮化物、 硼化物等 可控制膜的组成及晶型; 能均匀涂覆几何 形状复杂的零件; 沉积膜层纯度高、致密、 与基体结合牢固
可沉积物质 化学气相沉 积(CVD) 优点
化学气相沉积法(CVD)是目前制备具有优异性能涂层的有效方法之一, 用CVD方法,通过控制沉积参数,不但可以沉积出致密、结合力良好的 以及厚度可控的金属涂层,而且可以不受基体形状的影响。
Logo
5 MOCVD法制备多层Ir涂层的显微结构
沉积过程在竖式热壁MOCVD炉中进行。先 驱体挥发温度Tp 在170~220 ℃变动;沉积温 度即先驱体热解温度Td 在400 ~ 550 ℃变动; 真空度保持在1~10 Pa;每次使用先驱体2 g, 先驱体到温后保温0.5h;无H2、O2 等反应性气 氛。
Logo
与沉积温度之间的关系和Pt相似, 沉积温度在750℃时的沉积
MOCVD外延系统的介绍
MOCVD外延系统的介绍MOCVD之原理MOCVD(metal-organicchemicalvapordeposition)反应为一非平衡状态下成长机制,其原理为利用有机金属化学气相沉积法. MOCVD技术起源于Manaservil 等早期(1968)[2]研究。
他们在水冷却的反应室里用三乙基镓(TEGa)和砷化氢生长单晶GaAs。
随后,在1969年Manaservil 和Simpson[3],1970年Manaservil 和Hess[4]把这种技术应用到GaAsPy、GaAsSb以及含Al化合物的生长上。
组分和生长速率均由精确控制的源流量和各种不同的成分气流所控制。
III族有机源可以是液体如三甲基镓 (TMGa),也可以是固体如TMIn。
通过调节源瓶的温度,精确控制源的压力。
通过载气把它们携带到反应室。
V族源一般是气态氢化物(如GaN生长用的NH)。
通常MOVPE3使用高频或其它加热方式使反应管壁的温度大大低于内部加热的衬底的温度,这时在管壁上不成核,使管壁反应消耗降低。
但是由于当时技术条件所限,它的发展比较缓慢,直到80年代初期才成为比较成熟的外延技术,并得到了广泛应用,日益成为介观物理、半导体材料和器件研究以及生产领域最重要的外延技术之一。
MOVPE技术易实现低压外延生长,能减少自掺杂;有希望在重掺的衬底上进行窄过渡层的外延生长;能减少外延生长过程的存储效应和过渡效应,从而获得衬底—外延层界面杂质分布更陡的外延层。
MOCVD之系统MOCVD对镀膜成分、晶相等品质容易控制,可在形状复杂的基材 衬底 上形成均匀镀膜,结构密致,附着力良好之优点,因此MOCVD已经成为工业界主要的镀膜技术。
MOCVD制程依用途不同,制程设备也有相异的构造和型态。
整套系统可分为:1.自动控制部分自动控制部分为系统的核心组成.可控制参加反应原物料浓度、压力、及气流大小;同时,控制材料生长的速率及模式等。
气体反应物可用高压气体钢瓶经MFC精密控制流量,而固态或液态原料则需使用蒸发器使进料蒸发或升华,再以H2、N2气体作为carrier而将原反应物带入反应室中。
MOCVD
MOCVD概述一、MOCVD的基本概述金属有机化合物气相沉积技术(MOCVD):金属有机化学气相沉积(MOCVD)又叫金属有机化学气相外延(MOVPE),是目前应用十分广泛的气相外延生长技术。
它是马纳斯维特(Manasevit)于1968年提出来的一种制备化合物半导体薄膜单晶的方法。
80年代以来得到了迅速的发展,日益显示出在制备薄层异质材料,特别是生长量子阱和超晶格方面的优越性。
MOCVD采用Ⅲ族,Ⅱ族元素的有机化合物和Ⅴ族,Ⅵ族元素的氢化物作为源材料,以热分解反应方式在衬底上进行气相外延,生长Ⅲ-Ⅴ族,Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体及其多元固溶体的薄层单晶。
金属有机化合物大多是具有高蒸汽压的液体。
用氢气,氮气或惰性气体作载气,通过装有该液体的鼓泡器,将其携带与Ⅴ族,Ⅵ族的氢化物(PH3,AsH3,NH3等)混合,通入反应室。
当它们流经加热衬底表面时,就在上面发生热分解反应,并外延生成化合物晶体薄膜。
对于Ⅲ-Ⅴ族氮化物材料的生长,MOCVD扮演了极为重要的角色,可以说MOCVD技术推动了氮化物半导体的产业化发展。
早在1971年,Manasevit 报道了用MOCVD技术在蓝宝石衬底上外延GaN薄膜,由于GaN与蓝宝石衬底的晶格失配和热失配都很大,早期生长的样品表面形貌很差,外延薄膜存在裂纹,n型背底浓度通常在1018cm-3以上。
此后的十几年的时间里,对Ⅲ-Ⅴ族氮化物材料的研究进展不大。
直到1986年,Akasaki首先引入低温AIN作为缓冲层,用MOCVD生长得到了高质量的GaN薄膜单晶。
两步生长法即首先在较低的温度下(500~600℃)生长一层很薄的GaN或AIN作为缓冲层(buffer),经高温退火后,再将温度升高到1000℃以上生长GaN外延层。
这种方法的实质是在外延薄膜层和大失配的衬底之间插入一层“软”的薄层,以降低界面自由能。
实验结果表明,引入低温缓冲层后,外延薄膜的表面形貌和晶体质量显著提高,材料的n型背底浓度下降两个数量级以上,并且材料的光学性能(PL)也有提高。
MOCVD介绍
MOCVD介绍MOCVD,全称金属有机化学气相沉积法(Metal Organic Chemical Vapor Deposition),是一种用于制备薄膜材料的表面处理技术。
该技术广泛应用于半导体行业,并在光电子器件、太阳能电池、半导体激光、高频电子器件等领域中发挥重要作用。
MOCVD利用金属有机化合物在物质表面进行热分解的过程,通过气相沉积在基底上形成薄膜。
其基本原理是将金属有机化合物和稀释的气体反应,生成所需的金属元素,并将其输送到基底表面,随后发生表面反应形成薄膜。
MOCVD通常需要在高真空或低压环境下进行,以确保反应物质能在表面上均匀分布,并保证薄膜的致密性和均一性。
MOCVD的工艺流程包括预处理、沉积和后处理三个阶段。
首先,在预处理阶段,需要对基底进行清洗和表面修饰,以提高沉积薄膜的质量和附着力。
接下来,在沉积阶段,将基底放置在反应室中,通过管道输入所需的金属有机化合物和稀释气体,经过反应生成所需的金属元素,形成薄膜。
最后,在后处理阶段,通过加热、冷却和其他表面处理方法,对薄膜进行增韧、改性和提高质量。
MOCVD的优点之一是可以在比较低的温度下实现高质量的沉积,从而在不破坏基底的情况下制备薄膜。
此外,制备的薄膜具有良好的致密性、均匀性和较少的杂质,能够满足高性能微电子器件的要求。
同时,MOCVD还具有较高的沉积速率和较低的成本,适用于大面积和大规模的生产。
然而,MOCVD也存在一些挑战和限制。
首先,需要选择合适的金属有机化合物和稀释气体,以控制反应过程和薄膜的成分。
其次,控制沉积过程的条件和参数,如温度、压力和反应时间,对于薄膜质量和性能的影响非常重要,需要经过大量的实验和优化。
此外,大部分金属有机化合物具有毒性和易燃性,操作过程中需要严格控制安全风险。
近年来,随着半导体和光电子技术的发展,MOCVD在新兴领域的应用也在不断扩展。
例如,MOCVD被用于制备高效的光伏电池薄膜,以提高太阳能转换效率。
金属-陶瓷梯度功能材料
金属-陶瓷梯度功能材料是一种结合金属和陶瓷两种材料特性的复合材料。
它通过逐渐变化成分或结构的方式,实现材料性能的梯度变化,从而在不同区域具有不同的功能和性能。
金属-陶瓷梯度功能材料的特点包括:
梯度结构:材料在宏观上呈现出逐渐变化的组织结构,可以是成分的梯度变化,也可以是微观结构的梯度变化。
这种梯度结构可以实现不同区域之间的适应性和平衡性。
多功能性:金属-陶瓷梯度功能材料融合了金属和陶瓷两种材料的特性,同时具有金属的导电性、强度和韧性以及陶瓷的高温耐性、硬度和耐磨性。
因此,它可以在不同的应用领域发挥多种功能。
梯度性能调控:通过调控梯度结构的设计和制备,可以实现对材料性能的精确调控。
例如,在陶瓷-金属界面附近增加金属含量,可以提高材料的韧性和抗裂性能。
应变适应性:金属-陶瓷梯度功能材料的梯度结构可以提供良好的应变适应性。
在受力时,金属部分能够吸收和分散应力,而陶瓷部分则提供较高的硬度和强度。
金属-陶瓷梯度功能材料在航空航天、汽车工业、能源领域和医疗器械等多个领域具有广泛应用。
例如,它们可用于制造高温环境下的热障涂层、高强度和轻量化结构材料、耐磨和耐腐蚀部件等。
mocvd外延生产工艺
mocvd外延生产工艺MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种常用的外延生产工艺,广泛应用于半导体产业。
MOCVD工艺通过将金属有机化合物和气态前体物质在高温条件下反应沉积到衬底上,形成所需的薄膜。
MOCVD工艺的基本步骤包括:衬底准备、加热和反应、释放和冷却。
首先,衬底准备可包括清洗、附加活性物种和表面修饰等步骤。
清洗可以去除污染物和氧化物,附加活性物种可以增强表面反应活性,而表面修饰可以优化外延生长过程中的界面性能。
接下来,衬底进入反应室进行加热和反应。
在反应室中,衬底被加热到高温,通常在750°C至1100°C之间,以提供反应所需的能量。
同时,在反应室中导入金属有机化合物和气态前体物质,使其在高温下分解反应生成所需的金属元素和气体。
这些金属元素和气体通过气相传输、扩散和对流等机制被输送到衬底表面。
在衬底表面,金属元素和气体会发生反应并沉积形成薄膜。
反应过程中,金属有机化合物提供金属元素,而气态前体物质提供所需的化学物质。
通过控制反应条件(如温度、压力、流量等),可以控制沉积速率、沉积均匀性和晶格匹配等薄膜性质。
最后,释放和冷却是MOCVD工艺的最后步骤。
在反应完成后,释放表明衬底和生长薄膜已经完成。
然后,冷却过程开始,将衬底和薄膜从高温冷却到室温。
冷却速率和方式的选择可以影响薄膜的结晶质量和残余应力。
MOCVD工艺在半导体产业中有广泛的应用。
例如,用于制备GaN(氮化镓)材料,其具有优异的半导体性能,可用于制造高亮度LED(发光二极管)和激光二极管等器件。
此外,MOCVD工艺还可用于制备其他化合物半导体材料,如InP (磷化铟)、SiC(碳化硅)和GaAs(砷化镓)等。
总之,MOCVD是一种有效的外延生产工艺,通过控制反应条件和优化衬底及薄膜特性,可实现高质量的薄膜生长。
随着半导体产业的发展和需求的增加,MOCVD工艺将继续发挥重要作用,并不断推动半导体器件的创新与进步。
mocvd工艺技术
mocvd工艺技术MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)是一种化学气相沉积(CVD)技术,用于制备薄膜材料,尤其是半导体材料。
它被广泛应用于制备光电子器件、纳米材料和微电子器件等领域中。
MOCVD工艺技术的过程主要分为三个步骤:预处理、生长和后处理。
在预处理阶段,首先要将基底进行表面清洗,以去除杂质和氧化物层。
然后,将基底放入洁净室中进行表面处理。
这一步骤非常关键,因为基底的表面质量直接影响着最后生长的薄膜的质量。
在这个阶段,还需要将基底进行加热,以提高生长时的表面反应速率和光滑度。
生长阶段是整个MOCVD工艺的核心步骤。
在这个阶段,需要将金属有机分子和气态衬底分子输送到反应室中。
金属有机分子通常是金属有机化合物,如金属甲基、金属酮和金属羧酸等。
而气态衬底分子则是供应反应中所需元素的气体,如三甲基镓和三甲基胂等。
这些分子在反应室中发生热解反应,生成金属和或者金属化合物,最后沉积在基底上形成薄膜。
在生长过程中,控制温度和压力是非常重要的。
温度会影响到反应的速率和选择性,而压力则会影响到反应的平衡和扩散过程。
通过调节这些参数,可以控制薄膜的成分和结构,以满足特定应用的需求。
在后处理阶段,需要对生长的薄膜进行一系列的处理,以进一步提高质量和性能。
例如,通过热处理、离子注入和退火等方法,可以增强薄膜的结晶度和光学性能。
还可以对薄膜进行刻蚀、脱模和电镀等工艺步骤,以制备出特定形状和结构的器件。
总的来说,MOCVD工艺技术是一种重要的制备薄膜材料的方法,具有高效、可控和可重复性等特点。
它在半导体、光电子器件和微电子领域中具有广泛的应用前景。
然而,随着技术的不断发展,新的工艺和方法不断涌现,对MOCVD工艺进行改进和优化,以满足更高性能和更复杂应用的需求。
MOCVD外延工艺技术
MOCVD外延工艺技术MOCVD外延工艺技术是一种用于制备高质量半导体薄膜的工艺技术。
MOCVD是金属有机化学气相沉积(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)的缩写,它是利用金属有机化合物和气相的反应来在衬底上沉积半导体材料。
MOCVD外延工艺技术具有许多优越性能,如高晶格匹配性、低线宽、低空间极化效应等,因此在半导体器件制造领域得到广泛应用。
MOCVD外延工艺技术的制备过程包括材料蒸发、加热、反应和冷却等阶段。
首先,金属有机前体物质通过加热蒸发器进行蒸发,然后进入反应室。
在反应室内,金属有机物与载气(通常为氮气)发生化学反应,产生金属有机气体和热量。
然后,金属有机气体在衬底表面发生热分解反应,生成固态半导体材料,并沉积在衬底上。
最后,冷却系统将衬底冷却至室温,完成整个外延工艺过程。
MOCVD外延工艺技术的关键是合适的金属有机前体选择和适当的工艺参数控制。
金属有机前体是外延材料的主要来源,不同金属有机前体具有不同的热解温度和反应速率,因此选择合适的金属有机前体对外延材料的质量至关重要。
同时,工艺参数的控制也非常重要,如反应温度、气体流量、反应时间等都会影响外延材料的物理和电学性质。
因此,通过合理调整这些参数,可以优化薄膜的晶体结构和材料性能。
MOCVD外延工艺技术具有许多优势,使其成为制备高质量半导体材料的首选工艺。
首先,MOCVD外延工艺可以在较低的工作温度下进行,这有助于减少杂质的掺入和晶格畸变,从而提高外延材料的质量。
其次,MOCVD外延工艺可以实现多层外延材料的沉积,使得制备复杂结构的半导体器件成为可能。
此外,MOCVD外延工艺技术还可以实现大规模生产,提高半导体器件的制造效率。
然而,MOCVD外延工艺技术也存在一些挑战和问题。
首先,金属有机前体物质的选择和净化是一个复杂的过程,需要耗费大量的时间和资源。
其次,工艺参数的调控比较复杂,对工艺技术人员的要求较高。
mocvd工作原理
mocvd工作原理MOCVD工艺是金属有机物化学气相沉积的英文缩写,指的是利用金属有机物前驱体在高温下进行化学反应,在基片表面生长所需要的薄膜材料。
这种沉积方式具有优良的步覆盖性、可控性和均匀性,已广泛应用于外延生长半导体器件的关键材料制备。
金属有机物前驱体是指含有金属元素和有机基团的化合物,通常呈气态或可挥发。
常用的金属有机物前驱体包括三甲基镓、三甲基铝、三乙基铟等。
它们能够在较低温度下就具有足够的蒸气压,易于输送进入反应室。
同时,有机基团的存在降低了分子的离解能,使得前驱体在较低温度下就能发生分解反应。
MOCVD设备主要由气源系统、反应室、排气系统和controler 等部分组成。
气源系统负责存储和供给各种反应所需的气体源,包括金属有机物前驱体、载气以及其他掺杂源气体。
反应室内有加热到一定温度的衬底,前驱体气体在其表面发生化学反应而生长出所需的薄膜材料。
排气系统将反应尾气抽出,避免对生长造成污染。
Controler主要负责系统的运行控制和工艺参数的精确调节。
生长过程中,金属有机物前驱体和其他反应气体被载气如氢气携带,通过紧密设计的管路和流场进入预热到一定温度的反应室。
在衬底加热到的合适温度下,前驱体分子发生热解离、吸附、扩散等过程,金属元素与其他反应物发生化学反应,最终在衬底表面形成期望的材料。
调节温度、气体组成和流量比例等参数,可以有效控制薄膜的生长速率、组分、晶体取向和缺陷浓度等,从而获得所需的材料性能。
合理的温场设计和流场优化有助于提升生长均匀性,极大地提高芯片批量制造产能。
MOCVD技术的发展应用离不开对反应动力学和输运机制的深入理解。
人们对反应路径、速率决定步骤、中间产物、吸附行为等做了大量研究,并建立了相应模型,指导了MOCVD系统改良和工艺开发。
该工艺的主要优点是生长温度相对低、均匀性好、可实现精确掺杂、可大面积外延等。
但局限性也存在,如部分金属有机物稳定性差、产物对环境有害、前驱体使用量大等。
MOCVD法制备氧化镁薄膜及其光学性能测试
MOCVD法制备氧化镁薄膜及其光学性能测试MOCVD(金属有机化学气相沉积)法是一种常用的制备氧化镁(MgO)薄膜的方法。
该方法基于金属有机化合物在高温下分解产生金属元素和有机物,然后再通过热反应生成所需的氧化物薄膜。
MOCVD法制备的氧化镁薄膜具有良好的结晶性、较高的纯度和均匀性,被广泛应用于光学和电子器件等领域。
MOCVD法的制备过程主要包括前驱体制备、化学反应和薄膜沉积三个步骤。
首先,将金属有机化合物和溶剂混合,生成MgO的前驱体。
常用的金属有机化合物有镁肽、镁二甲基二异丙酰胺等。
其次,在高温下,将前驱体蒸发并进入反应室,与加载在基底上的衬底反应,生成MgO薄膜。
最后,通过控制反应温度、气体流量和反应时间等参数,可以控制薄膜的生成速度和厚度。
MOCVD法制备的氧化镁薄膜具有优良的光学性能。
氧化镁具有宽能隙(7.8eV),因此其薄膜在可见光到紫外光范围内具有很好的透明性。
此外,氧化镁薄膜还具有良好的抗反射性能和高的折射率。
抗反射性能使得氧化镁薄膜在太阳电池、光伏设备和光学仪器等领域有广泛应用;而高的折射率则为制备光学波导器件提供了基础。
为了评价MOCVD法制备的氧化镁薄膜的光学性能,通常采用多种测试方法。
其中,传统的测试方法包括UV-Vis-NIR吸收光谱、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、拉曼光谱和X射线衍射(XRD)等。
UV-Vis-NIR吸收光谱可以用来检测薄膜的光学透过率,通过透射光谱可以得到透明度和抗反射性能等信息。
FTIR可以用来研究薄膜的化学成分和结构。
拉曼光谱则可以提供薄膜的晶格振动信息,从而进一步了解其结晶性。
XRD可用于分析薄膜的晶体结构和晶格常数等。
与传统测试方法相比,近年来,人们还开发了一些新的测试方法来评价氧化镁薄膜的光学性能。
例如,椭偏测量、透射电子显微镜(TEM)和原子力显微镜(AFM)等。
椭偏测量是利用光线的旋光性质来研究薄膜的光学吸收、透过和反射特性。
TEM可以提供薄膜的显微结构信息,如晶体形貌和晶界等。
陶瓷颗粒增强金属基复合材料的制备方法及研究进展
陶瓷颗粒增强金属基复合材料的制备方法及研究进展陶瓷颗粒增强金属基复合材料是一种具有优异性能和广泛应用前景的新型材料。
它通过在金属基体中添加陶瓷颗粒来增强材料的硬度、强度和耐磨性,同时保持金属基体的良好导电性和导热性能。
本文将介绍陶瓷颗粒增强金属基复合材料的制备方法以及在研究中取得的一些进展。
制备陶瓷颗粒增强金属基复合材料的方法主要有粉末冶金法、溶液浸渗法、电沉积法、电子束熔化沉积法等。
其中粉末冶金法是最常用的制备方法之一。
该方法将金属粉末和陶瓷颗粒混合后进行压制成型,再通过烧结或熔化处理将其获得一定形状的复合材料。
溶液浸渗法是将金属基体浸渍在含有陶瓷颗粒的溶液中,通过溶液中陶瓷颗粒的沉淀在金属基体上形成复合材料。
电沉积法是在金属基体表面通过电极或电解质中的陶瓷颗粒进行沉积。
电子束熔化沉积法是将金属粉末和陶瓷粉末进行混合后,通过电子束熔化沉积在金属基体上形成复合材料。
以上方法各有优劣,研究人员可以根据需要选择适合的方法进行制备。
陶瓷颗粒增强金属基复合材料在材料科学领域中有着广泛的应用。
钛基复合材料在航空航天、汽车制造和医疗器械等领域中有着重要的应用,陶瓷颗粒的添加可以提高材料的硬度和强度,增加材料的耐磨性和耐腐蚀性。
陶瓷颗粒增强金属基复合材料还可以用于制备高温结构材料,例如钨铁合金和钨铜合金等。
在陶瓷颗粒增强金属基复合材料的研究中,主要关注材料的成分设计、制备工艺和性能表征等方面。
研究人员通过优化金属基体和陶瓷颗粒的配比、粒度和分布等参数来调控材料的力学性能和热物理性能。
研究人员还对材料的界面结构和界面相互作用进行了深入的研究,以提高材料的界面连接强度和阻尼性能。
通过这些研究工作,陶瓷颗粒增强金属基复合材料的性能得到了显著的改善,为其在工程实践中的应用提供了有力支持。
陶瓷颗粒增强金属基复合材料具有广泛的应用前景,其制备方法和研究进展一直是材料科学领域的研究热点。
随着研究工作的不断深入,相信陶瓷颗粒增强金属基复合材料将在各个领域中展现出更大的潜力和价值。
mocvd工艺技术难点
mocvd工艺技术难点MOCVD(金属有机化学气相沉积)是一种常用的热化学气相沉积技术,用于生长半导体材料和器件。
它是一种使不同金属有机化合物在高温下分解并沉积在基底上的方法。
然而,尽管MOCVD在半导体行业中取得了巨大的成功,但它仍然面临着一些技术难点。
首先,MOCVD工艺技术的一个主要难点是如何选择合适的金属有机前体和载气组合。
不同的金属有机前体在分解温度和分解产物中的形成速率上有很大差异。
因此,选择正确的金属有机前体对于获得理想的沉积速率和材料特性至关重要。
此外,选择合适的载气可以调节沉积速率和改变材料的性质。
因此,研究者需要花费大量的时间和精力来评估和优化金属有机前体和载气的选择。
其次,MOCVD工艺技术的另一个挑战是如何实现均匀的沉积。
在MOCVD过程中,金属有机前体通过热分解产生活性金属原子,然后在基底表面上重新组合形成固态材料。
然而,由于气流和热传导等因素的影响,往往会导致沉积层的厚度和成分不均匀。
为了获得均匀的沉积,研究者们需要优化反应室的流动设计和温度分布,并调整金属有机前体的供应和分解速率。
此外,MOCVD的另一个难点是如何控制沉积过程中的杂质和缺陷。
在MOCVD过程中,由于金属有机前体的分解和基底表面的反应,可能会产生杂质和缺陷,这些会降低材料的性能。
因此,研究者需要开发合适的工艺参数,如温度、压力、反应时间和气氛等,以最小化杂质和缺陷的形成。
最后,MOCVD工艺技术还面临着材料选择和生长模式的挑战。
不同的半导体材料具有不同的物理和化学性质,因此需要调整工艺条件来适应不同的材料。
此外,生长模式的选择也会对材料的性质产生影响。
例如,外延生长模式(epitaxial growth)可以提高材料的晶格匹配性,从而改善其电子传输性能。
综上所述,尽管MOCVD工艺技术已经取得了很大的进展,但仍然存在一些技术挑战。
这些包括金属有机前体和载气的选择,沉积过程的均匀性,杂质和缺陷的控制,以及材料选择和生长模式的优化。
MOCVD介绍范文
MOCVD介绍范文MOCVD即金属有机化学气相沉积(Metal Organic Chemical Vapor Deposition),是一种常用的薄膜制备技术。
在MOCVD过程中,使用金属有机化合物和惰性气体作为前驱体,在高温条件下使之分解,生成金属原子或化合物,然后将其传输到衬底表面进行沉积,形成薄膜。
1.高质量薄膜:MOCVD技术能够以单层的形式控制原子堆积序列,使得沉积的薄膜具有优良的结晶质量和光学性能。
此外,通过调节前驱体的浓度和反应条件,可以实现杂质控制和缺陷控制,提高薄膜的质量和纯度。
2.复杂结构控制:MOCVD技术可制备各种复杂薄膜结构,包括多层膜、量子阱和异质结构等。
这些结构对于器件性能的优化至关重要。
通过调节前驱体的流量和沉积参数,可以实现不同材料的交错堆积和界面控制。
3.宽范围成长:MOCVD技术适用于多种衬底类型,包括硅、石英、蓝宝石和氮化硅等。
此外,MOCVD技术可在高温度下进行沉积,从而适用于高熔点材料的制备。
4.连续大面积生长:MOCVD技术具有高生长速率,可实现大面积均一覆盖。
这使得MOCVD广泛应用于LED、半导体激光器和太阳能电池等大面积薄膜器件的制备。
1.前驱体供给:有机金属化合物和惰性气体通过气体输送系统输送到反应室中。
有机金属化合物可为金属的有机配合物,例如金属有机酮盐、金属有机胺盐和金属有机乙酮盐等。
3.输运:通过气流将分解后的金属原子和有机气体输送到衬底表面。
在输运过程中,要保持液滴和固体颗粒的均匀分布,以避免非均匀沉积和成键问题。
4.沉积:金属原子在衬底上进行重组和扩散,形成薄膜结构。
沉积过程中,需要控制沉积速率、温度和气氛的反应性,以实现所需的薄膜特性。
MOCVD技术在许多领域有着广泛的应用。
LED是其中最重要的应用之一、通过MOCVD制备的薄膜能实现纯度较高的发光材料和高质量的晶体结构,提高LED的性能和效率。
此外,MOCVD还广泛用于半导体激光器、太阳能电池、显示器和光电子器件等领域。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
酸乙酯分子在进入反应器过程中不凝结 , 在通气管周围要包上加热带 , 以保持一定的温度. 用于制备金属
材料的原料为六羰基钼 (Mo (CO) 6 ) , 它在常温下为白色固体 , 水浴加热 50 ℃以上可以升华. 在较高温度
下 , 这两种源物质极易发生分解反应[9] , 生成 SiO2 和 Mo , 相关的化学反应方程式为
Fe K2 , 管压 40 kV , 管流 30 mA , 狭缝 LRS = 0115 mm , LSS = 1 mm , LDS = 1 mm , 扫描速度 4°/ min , 扫描步进 0102. 用 S2450 型电子扫描显微镜对材料进行表面形态观测.
2 结果与讨论
21 1 原材料的选择
本实验用于制备陶瓷材料的原料为正硅酸乙酯 ( Si (OC2 H5 ) 4 ) , 沉积膜时对源物质油浴加热 , 为使正硅
14
71 0
73
01 171
-
1 ×1020
11 2 梯度材料的制备
试样采用 Al2 O3 陶瓷基片 (四川仪表六厂提供 , 规格为 16
mm ×12 mm ×01 6 mm) , 实验在引进俄罗斯的 Mo Ⅱ型羰基金
属冷壁式气相沉积反应器中进行. 基片经化学除杂去油和超声
波清洗 , 烘干后 , 放入 Mo Ⅱ反应室的加热基座上 , 将反应室抽
2005 年 8 月 Aug. 2005
MOCVD 法制备金属 陶瓷功能梯度材料的研究①
章娴君1 , 郑慧雯1 ,2 , 张庆熙1 , 王显祥3
11 西南师范大学 化学化工学院 , 重庆 400715 ; 21 巴蜀中学 , 重庆 400013 ; 31 四川农业大学 生命科学与理学院 , 四川 雅安 625014
1 实 验
11 1 材料的成分设计 SiO2 和 Mo 的热学和物理性能如表 1. 由表 1 可见 , SiO2 和 Mo 物理性质相差很大 , 尤其是热性能不
匹配 , 会使不连续的梯度层间产生很大热应力. 采用功能梯度材料 ( F GM) 的逆设计思想 , 能获得合理组分 构成的梯度层设计 , 有利于材料结构性能的平缓过渡 , 即可解决上述难题. 设计中 , 假定 Mo/ SiO2 功能梯 度材料由 5 层组成 , 每层梯度材料是由均匀的 SiO2 和 Mo 构成 , 表面层为纯金属 Mo , 最底层为纯陶瓷 SiO2 , 中间为过渡层. 采用公式 C = ( x/ d) p 计算不同梯度层各成分的含量[7] , 其中 : C 为体积分数 , x 为各 梯度层与表面层之间的距离 , d 为样品的厚度 , p 为成分分布指数. 在本实验中 , 经理论分析 p = 1 为最佳 取值 , 计算所得各梯度层的最佳成份分布如图 1 所示.
5301 3 eV 峰对应的是 SiO2 , MoO3 和 MoO2 的 O1S峰.
表 3 材料中各元素含量随刻蚀层数的变化
Table 3 Dist ributio n of Element in t he Material s Against t he Carved Layer
刻蚀层数
第1层 第2层 第3层 第4层 第5层
60
3
60
40
4
80
20
5
100
0
Si (OC2 H5 ) 4 气源 源温/ ℃ 载气流量
-
-
60
小
60
中
60
较大
70
大
Mo (CO) 6 气源
源温/ ℃ 载气流量
70
大
60
较大
55
中
55
小
-
-
沉积温度 /℃ 500 550 550 550 600
沉积压强
/ Pa 170~350 170~350 170~350 170~350 170~350
密度 / g ·cm - 1
熔点
导热率
热膨胀系数α
/ ℃ / W ·m - 1 ·K- 1 / ×10 - 6 ·K- 1
杨氏模量 E / Gpa
泊松比 拉伸强度 电阻率
μ
/ Mpa / ×10 - 6Ω ·cm
Mo
101 22 2 617
140
51 0
32901 31源自65551 03SiO2
21 64 1 610
△
Si (OC2 H5 ) 4
SiO2 + 4C2 H4 + 2 H2 O
△
Mo ( CO) 6
Mo + 6CO
为保证这两种反应物在一定条件下以分子状态沉积于基上 , 沉积温度不能低于 500 ℃[9] .
本实验是利用 Si (OC2 H5 ) 4 的热解反应 , 而不采用 Si ( OC2 H5 ) 4 与 H2 O 的气相合成或与 O2 的气相氧
图 2 梯度材料的 XPS 全谱图 Fig1 2 XPS Spect ra of t he Material s 用 XPS 将材料刻蚀 5 次后得到表 3 所列的数据. 根据表 3
的数据 , 拟合可得图 3. 该图是功能梯度材料中 Si ,Mo ,O 的实
际含量随刻蚀深度的变化曲线. 从图 3 可以看出 : ①随刻蚀深 度的增加 , Si 的含量逐渐升高 , Mo 的含量逐渐降低 , 与设计要 求基本一致 ; ②元素的组成是逐渐变化的 , 符合梯度材料的变
① 收稿日期 : 2004 07 25 基金项目 : 重庆市攻关资助项目. 作者简介 : 章娴君 (1944 ) , 女 , 四川成都人 , 教授 , 主要从事有机新材料研究.
第 4 期 章娴君 , 等 : MOCVD 法制备金属 陶瓷功能梯度材料的研究
683
表 1 SiO2 和 Mo 的热学和物理性能[ 8] Table 1 Data fo r t he Mechanical and Thermal Properties of SiO2 and Mo
真空并加热至 500 ℃以上 , 分别按图 1 计算的梯度含量变化 ,
控制不同温度下 Mo ( CO) 6 , Si ( OC2 H5 ) 4 的蒸汽流量 , 此时反
应室壁和电极夹层通水冷却. 每一梯度层的主要沉积条件见表 2. 沉积完毕后将试样恒压保温 6 h , 进行热扩散稳定退火 ; 取 出 Mo/ SiO2 功能梯度材料试样. 为测试方便 , 可在完全相同的 条件下 , 多层制备试样.
图 1 计算而得的最佳成份分布 Fig1 1 The Best Dist ributio n of
Co mpo nent by Calculatio n
表 2 MOCVD 条件 Table 2 The Co nditio n of MOCVD
层数 SiO2 / % Mo/ %
1
0
100
2
40
元素 Si/ %
0 81 4 161 9 211 8 261 8
元素 Mo/ % 391 7 281 8 181 0 81 1 0
元素 O/ %
601 3 621 8 651 1 701 1 731 2
第 4 期 章娴君 , 等 : MOCVD 法制备金属 陶瓷功能梯度材料的研究
685
1021 5 eV . 结合图 4 (c) 的分析 , 可知这是 SiO2 的 Si2 p 峰. 图 4
图 3 材料中各组分实际
( b) 谱线上出现 3 个卫星峰. 其中结合能为 2361 1 eV 和 2321 8
含量随刻蚀时间的变化
eV 的两峰是 MoO3 的 Mo3d3/ 2 和 Mo3d5/ 2 峰 , 而结合能为 2291 6
化规律 ; ③O 的含量变化不显著 , 并不是和 Si 的变化成一定
比例 , 这可能是由于测试系统真空度不高 , Mo 部分形成氧化 物和材料放置在空气中吸附氧的缘故[9 11] .
图 4 (a) (b) (c) 分别是硅元素 、钼元素 、氧元素的 X 射线光
电子能谱. 从图 4 (a) 可以看出 XPS 上只出现 1 个峰 , 结合能为
关 键 词 : 功能梯度材料 ( F GM) ; 金属有机化学气相沉积 (MOCVD) ; X 射线光电子能谱 ( XPS) ; 表面形貌
中图分类号 : TB34
文献标识码 : A
金属 陶瓷功能梯度材料 ( F GM) 是针对高温 、热循环和大温度落差的工作条件而开发的一类新型超耐 热材料[1 4] . 材料一侧为耐高温 、耐热冲刷特性的陶瓷材料 , 另一侧为具有高强度 、高韧性的金属材料 , 其 间为金属/ 陶瓷过渡层. 由于材料微观结构沿某一个或某几个特定的方向呈连续变化 , 从而消除了由于金 属和陶瓷物性参数的巨大差异而在材料内部产生的热应力界面 , 达到缓和热应力和耐热隔热的目的. 因 而 , 金属 陶瓷功能梯度材料 ( F GM) 是一类很有希望用于宇航 、核能等高技术领域的新型复合材料[5] . 目 前国内外已制备出的金属/ 陶瓷 F GM 有 TiN2TiC , ZrO22Ni , TiAl2Cu , ZrO22Ti6 Al4 , SiC2Al , TiC2Ni , YSZ2 Ni , YSZ2 Ni2N b 等[6] . 但还未见用化学气相沉积的方法制备 Mo/ SiO2 功能梯度材料的相关报道.
摘要 : 利用金属有机化学气相沉积 (MOCVD) 方法 , 以 Mo (CO) 6 ,Si (OC2 H5 ) 4 为物源 , 在 Al2 O3 陶瓷基片上制备
了金属 陶瓷功能梯度材料 , 并用 XPS ,XRD ,SEM 等技术对其成分分布 , 物相组成和表面形貌进行测试和表征. 结
果表明 : 材料的组成沿厚度方向呈连续梯度变化 , 符合功能梯度材料的变化规律.
沉积时间
/ min 60 60 60 60 60
真空保温
/h 6 6 6 6 6
11 3 试样的测定 采用 XSAM2800 型 XPS 谱仪 , 逐层刻蚀来测量功能梯度材料中 SiO2 和 Mo 沿厚度方向的成分分布.