固态电容寿命计算

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固态电解电容寿命计算公式

固态电解电容寿命计算公式固态电解电容的寿命计算可不是个简单的事儿，不过别担心，咱们一起来好好捋捋。

先来说说为啥要关心固态电解电容的寿命。

就拿我之前遇到的一件事来说吧，我给家里组装了一台电脑，用了没多久，电脑就频繁死机、重启。

我一开始还以为是系统出了问题，各种重装系统、更新驱动，可都没啥用。

后来找了个懂行的朋友一看，原来是主板上的固态电解电容出了毛病，寿命到了，性能不稳定。

这可把我给郁闷坏了，花了不少时间和精力去折腾。

从那以后，我就特别在意这固态电解电容的寿命问题。

要计算固态电解电容的寿命，得先搞清楚几个关键的因素。

其中最重要的就是工作温度和纹波电流。

工作温度越高，电容内部的化学变化就越剧烈，寿命也就越短；纹波电流越大，电容承受的压力也就越大，同样会缩短寿命。

一般来说，我们可以使用下面这个公式来大致计算固态电解电容的寿命：L = L0 × 2^[(T0 - T)/10] × I0^(-0.4) 。

这里的 L 就是估算的电容寿命，L0 是电容在额定温度和额定纹波电流下的标称寿命，T0 是电容的额定工作温度，T 是实际工作温度，I0 是电容的额定纹波电流。

比如说，有一个固态电解电容，它的标称寿命 L0 是 5000 小时，额定工作温度 T0 是 85℃，额定纹波电流 I0 是 1 安培。

如果它实际工作温度是 65℃，实际纹波电流是 0.8 安培，那我们来算算它的寿命。

首先，(T0 - T)/10 = (85 - 65)/10 = 2。

然后 2^[(T0 - T)/10] = 2^2 = 4 。

接着，I0^(-0.4) = 1^(-0.4) = 1 。

所以，寿命 L = 5000 × 4 × 1 = 20000 小时。

但要注意，这只是个大致的估算，实际情况可能会更复杂。

因为电容的使用环境、工作电压、制造工艺等都会对寿命产生影响。

再比如说，在一些高温高湿的环境中，电容可能会更容易受到腐蚀，从而缩短寿命。

固态硬盘的理论寿命有多长计算公式是什么

固态硬盘的理论寿命有多长计算公式是什么很多用户对固态硬盘的寿命长短一无所知，也不知道怎么计算固态硬盘理论寿命值。

实际寿命的话取决于我们的使用方法和保养习惯，所以我们必须经常维护保养。

阅读下文了解SSD固态硬盘的使用寿命和硬盘寿命计算公式。

固态硬盘的寿命有多长：首先来看看固态硬盘的原理：固态硬盘在原理构造上基本上和我们应用普通机械硬盘有很多相似的地方，比如模拟扇区、模拟磁道等。

在固态硬盘内部，最核心的部分就算控制器了，它是整个固态硬盘的核心，里面包括很多构架，比如读写算法、接口定义等。

主要影响寿命的就是读写次数，在固态硬盘的算法定义中，修改一次才算一次真正读写。

固态硬盘寿命计算公式：由于固态硬盘闪存具有擦写次数限制的问题，这也是许多人诟病其寿命短的所在，也就是说固态硬盘是有寿命限制的，当然任何硬件产品都有这个寿命概念。

固态硬盘内部闪存完全擦写一次叫做1次P/E，因此闪存的寿命就以P/E作单位。

34nm的闪存芯片寿命约是5000次P/E，而25nm的寿命约是3000次P/E。

是不是看上去寿命更短了?理论上是这样没错，但随着SSD固件算法的提升，新款SSD都能提供更少的不必要写入量。

再来一个具体的例子，一款120G的固态硬盘，要写入120G的文件才算做一次P/E。

普通用户夸正常使用，即使每天写入50G，平均2天完成一次P/E，那么一年就有180次P/E。

大家可以自行计算3000个P/E能用几年，估算一下也有长达十多年的理论寿命，相信到那时候，固态硬盘早就被你换成别的什么新奇玩意了。

使用一年后的固态硬盘依然完好无损：对于固态硬盘而言，如今用户应该关心的是容量与价格，毕竟固态硬盘如今最大也不过几百G，并且价格相比传统硬盘贵，大家选购固态硬盘应该考虑的是容量与价格，寿命方面，其实不比传统硬盘差。

固态硬盘目前广泛应用与超级本等主流电脑中，对于固态硬盘寿命普通用户完全不用担心，就算即使我们只使用5年，固态硬盘寿命依然是值得信赖的，相比较机械硬盘而言，考虑到其抗震动等特点，在开机情况下移动电脑过程中固态硬盘不会导致物理损伤，其可靠性不是降低了，而是增强了。

电容寿命计算方法如何计算

: Frequency coefficient : Rated ripple current at maximum operating temperature : Actual ripple current
2.
Ambient Temperature Calculation Formula If measuring ambient temperature (Ta) is difficult, Ta can be calculated from surface temperature of the capacitor as follows.
3.
Ripple Current Multiplier (1) Temperature coefficient Temperature coefficients are shown as below. USR, USC, USG: Ambient Temp.(°C) Coefficient Other 85°C type: Ambient Temp.(°C) Coefficient 105°C type: Ambient Temp.(°C) Coefficient
Tmax − Ta 10 2 Tjo Tj 10 - 0.25 × Tjo − 10 - 0.25 × Tj ⋅2

L = Lb ⋅
L Lb Tmax Ta Tjo

Tj
F Io I
: Life expectancy at the time of actual use. : Basic life at maximum operating temperature : Maximum operating temperature : Actual ambient temperature : Internal temperature rise when maximum rated ripple current is applied. USR, USC, USG : 10 °C VXP : 3.5 °C Other type : 5 °C : Internal temperature rise when actual ripple current is applied. 2 I/F Tj = Tj0 × I0

固态和铝电解寿命

固态和铝电解寿命
固体铝电解电容器的使用寿命长。

根据计算，固体铝电解电容器的寿命甚至超过50年，远超其他同类产品。

然而，这并不代表铝电解电容器的寿命只有几十年的限制，其寿命还与工作温度、电流和电压的超限使用等条件有关。

在确保电容质量的前提下，高温、超压是导致液态电解电容失效的重要因素。

因此，为了确保铝电解电容器的寿命，应避免过高的温度和超压条件。

此外，在使用过程中还需要注意维护和保养，及时更换老化和损坏的电容器，保证其正常运转。

电容寿命计算公式

RIFA、Nichicon、Rubycon的电解电容计算公式电解电容寿命计算是电容电路设计的最关键的一步，它直接考量电容的设计寿命，电容寿命主要受到温度的影响，所以在设计时候考虑到热源和风道，是提高电容寿命的有效方式，在设计时尽量让电容远离热源，通风好，有时利用强制风冷的方式，尽量让电容工作于低温情况下。

关于电容的寿命计算步骤这里不详述，请参考“电解电容寿命设计步骤”一文，以下主要介绍rifa ，nichicon ，Rubycon 电容寿命得计算公式。

1、nichicon 的电解电容寿命计算公式nichicon 的电解电容寿命计算公式分为两种：a 、大封装电解电容（large can type ）；b 、小封装（miniature type ）的电容，以下针对两种电容分别列出其计算公式。

A、large can type电容结算公式如下：其中：Ln: 估算之寿命（在环境温度Tn 和总纹波In ）Lo: 在最大允许工作温度To 和最大允许工作纹波Im 条件下的额定寿命To: 最大允许工作温度Tn: 环境温度to: 在最大允许工作温度To 和最大允许工作纹波电流Im 条件下内部温升量Im ：在最大允许工作温度To 条件下的最大允许工作纹波电流有效值（在标准频率条件下的正弦波）In ：实际应用的纹波电流有效值Δ tn: 在环境温度Tn 和纹波电流In 条件下致使的内部温升K: 因纹波损耗引起温升的加速系数（Tn 从实际应用环境获得，In 根据其规格书中的纹波系数将实际纹波有效值归一到标准频率上的有效值。

其它参数可从规格书中得到）以上公式给出的是一个基本寿命与环境温度函数、热点温度及纹波电流函数之积。

其内部温升Δ tn 估算并非由电阻损耗计算方式，而是提供了一个参考点值和相应的比例转换公式。

此公式关键点是归一到标准频率的等效电流有效值In 的求解。

B、miniature type对小封装的电容有两种情况，对应不同情况有两种计算公式（a）使用规格书的L 值L: 在最大允许工作温度To 和额定DC 电压条件下的额定寿命Bn: 因实际应用纹波损耗引起温升的加速系数；α：寿命常数。

电容寿命计算方式

Point estimates, confidence intervals, prediction intervals and tolerance intervals mL1: Lower one-sided limit for the mean time to failure (MTTF) mL1 =
ACT-RX Technology Corporation MTTF&L10 Life Test Report
Model No. TM31 Current Bearing System Test Sample (pcs) Test Hours/Each Over Total Test Hours Failure Criteria 50 3000 150000 Test Condition Input Voltage 12VDC Test Temp. Direction Start Date 70℃ Vertical 2/13'04 Number of Failure Confidence Level Get MTTF at 70℃ Get L10 at 70℃ 65143 6863 0 90﹪ Electrical Specification Speed 5800RPM 0.11Amp
Helen Tsai
0 90﹪ Hours Hours
3 Hours(IEC-60605-4:2001 section 5.1) Failure mode
Test; F/R: Failure Rate, Datum, Stastics…etc.)
（0.9）】*mL1
Part 4：Statistical procedures for
CeraDyna A
Finish Date 6/21'04 Total Test Hours =50*3000 = 150000Hours The Estimated MTTF =150000/2.3026=65143 Hours(IEC-60605-4:2001 section Failure mode

电容寿命推算公式

肇庆绿宝石电子科技股份有限公司
ZHAOQING BERYL ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD.
一、寿命推算公式 E-CAP Life Formula
式中：
LL 2
r
T0T ( ) 10
K
(
I 2 T [ ) 1 ( ) ] 5 I0
L：温度T时的寿命 LIFE ar tenmperature T Lr：工作在额定工作电压、施加最大允许纹波电流、和最高工作温度下的寿命 LIFE IN rated Ripple current and max temperature T0：电容额定工作温度 highest temperature T：电容器工作温度 work temperature K：为纹波加速系数 K=2（纹波电流允许范围内 in allowable ripplecurrent）； K=4（超纹波电流允许范围时） out of the allowable ripple current △T0=5：最高工作温度下施加最大允许纹波电流时的电容器中心容许温升 allowable increasing temp in the highest work temperature
产品系列
产品的技术参数产品规格 Lr (小时)
100μF100V Φ10*20
假设工作状态 K I T
105 95 85 75 65
工作寿命
T0 I0 △T0 (℃) (A) (℃)
L
12000 24000 48000 96000 192000
(A) (℃) (小时)
RK
12000
105
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
0.58
5
2
0.58

固态电容参数

固态电容参数固态电容是一种电子元件，其参数对于电路设计和性能至关重要。

本文将介绍固态电容的一些重要参数，并解释它们的作用。

我们来谈谈固态电容的容量。

容量是固态电容的一个基本参数，用单位法拉（F）来表示。

容量决定了电容器可以存储的电荷量，也就是电容器可以容纳的电荷量。

当电压施加在电容器上时，电容器会存储电荷，并且电容器的容量越大，它可以存储的电荷量也越大。

除了容量，固态电容的工作电压也是一个重要参数。

工作电压是电容器可以承受的最大电压。

如果超过了电容器的工作电压，电容器可能会损坏。

因此，在选择固态电容时，需要根据具体的电路设计和工作条件来确定所需的工作电压范围。

另一个重要的参数是固态电容的漏电流。

漏电流是指在电容器两极之间施加电压时，流过电容器的电流。

理想情况下，固态电容的漏电流应该非常小，以确保电容器的性能稳定。

较大的漏电流可能会导致电容器性能下降，甚至影响整个电路的工作。

固态电容的温度特性也是需要考虑的一个参数。

温度特性描述了电容器在不同温度下的性能表现。

一些固态电容器在高温下容量可能会下降，而在低温下漏电流可能会增加。

因此，在一些特殊的工作环境下，需要选择具有良好温度特性的固态电容。

最后一个要提及的参数是固态电容的寿命。

固态电容器的寿命取决于其内部材料和结构，以及工作条件。

固态电容器的寿命通常以小时、年或循环次数来表示。

在一些长寿命要求的应用中，需要选择具有高寿命的固态电容器。

总的来说，固态电容的参数包括容量、工作电压、漏电流、温度特性和寿命等。

在选择固态电容时，需要综合考虑这些参数，根据具体的应用需求来进行选择。

固态电容在电子设备中起着至关重要的作用，正确选择合适的固态电容对于电路性能和稳定性至关重要。

希望本文能够帮助读者更好地了解固态电容的参数及其作用。

铝电解电容寿命计算方法

铝电解电容寿命计算方法1.液体电解电容寿命计算方法：液体电解电容的寿命通常由电解液的电导率、厚度以及电解液中氧化铝颗粒的电导率等因素决定。

根据经验公式可计算如下：寿命（小时）=1.440×10^15×（C/V）^n×Z/T其中，C为电容值（μF），V为工作电压（V），n为电压系数（可参考铝电解电容厂商提供的数据），Z为电解液电导率（S/cm），T为工作温度（℃），常温下Z一般取0.1-2 S/cm之间。

2.固体电解电容寿命计算方法：固体电解电容的寿命通常由陶瓷介质的电导率、电容值和工作电压等因素决定。

根据经验公式可计算如下：寿命（小时）=0.1×10^6×[(C×V)/(I×T)]^(1/3)其中，C为电容值（μF），V为工作电压（V），I为等效串联电阻（Ω），T为工作温度（℃），I值可通过测试或参考铝电解电容厂商提供的数据得到。

3.等效串联电阻计算方法：等效串联电阻是指电容器在工作状态下所表现出的电阻，其值与寿命成正相关。

可以通过测试或参考铝电解电容厂商提供的数据得到。

需要注意的是，上述计算方法是根据经验公式得出的估算值，在实际应用中可能存在误差。

因此，工程师在设计电路时，应综合考虑电容器的额定参数、使用环境和寿命要求等因素，选择合适的铝电解电容器，并进行合理的设计和布局，以确保电路的可靠性和稳定性。

此外，还需要注意以下几点：1.工作电压不应超过电容器的额定电压，以避免击穿和损坏电容器。

2.工作温度应在电容器能够承受的范围内，过高的温度会加速电容器老化，缩短寿命。

3.合理选择电解液类型和固体介质，不同的材料具有不同的寿命和性能特点，需根据具体需求进行选择。

综上所述，铝电解电容寿命的计算方法主要是根据电容器的工作参数和材料特性进行估算，具体的计算公式和方法可根据实际情况和厂商提供的数据进行合理选择和应用。

电解电容寿命推算

3．寿命计算条件
请注意推算出来的结果并不是保证值。
在对设备进行寿命设计的时候，请检讨使用寿命充裕的电容器。推定寿命计算结果超过15 年的场合，按15 年为上限。如果需要推定寿命15 年以上的产品，请与弊司联系。
目录中记载的内容有可能未经提示而变更。贵司在购买、使用时请要求敝司提供规格书，并以此为基准去使用。
1．寿命推算式
考虑过周围温度和纹波电流的自身温度上升的影响后的寿命推算式用如下公式（1）表示。
Lx=Lo×2
To-Tx 10
×2 10
-Δ T
� � � � � � � � � � � � � � 1）（
Lx ：在实际使用条件中推算的寿命（小时） Lo ：工作温度为最大，施加额定电压时的规定寿命（小时） To ：制品的工作上限温度（℃） Tx ：实际使用时的周围温度（℃） ΔT ：叠加纹波电流时的自我温升（℃）通过降低周围温度和减小实际使用的纹波电流，可以延长导电性高分子固体铝电解电容器的寿命。关于上限温度为125℃以上产品的寿命计算式，请与弊司联系。对象系列： PXD、PXH 叠加纹波电流时的大致的自我温升ΔT可以用如下公式（2）算出。
频率[Hz]
贴片型引线型
120
0.05 0.10
1k
0.30 0.35
10k
0.55 0.60
50k
0.70 0.80
100k
1.00 1.00
导电性高分子固体铝电解电容器是一种以在高频领域ESR非常低的产品。因此，在低频领域ESR会相对变高。所以，在低频领域，可以叠加的纹波电流值会变小。在低频领域使用时，请注意叠加纹波电流值的大小。
2．额定纹波电流频率修正系数
导电性高分子固体铝电解电容器虽然比铝电解电容器ESR更低，但同铝电解电容器一样，叠加纹波电流会产生自我温升。因为频率不同，ESR的值也不同，所以自我温升的大小也随着纹波电流频率的不同而不同。因此，实际使用的纹波电流的频率与标准品一览表的规定值不同时，请按乘以下表所示的额定纹波电流频率修正系数之后的值变换额定纹波电流值。额定纹波电流频率修正系数

电容寿命计算公式

RIFA、Nichicon 、Rubycon的电解电容计算公式电解电容寿命计算是电容电路设计的最关键的一步，它直接考量电容的设计寿命，电容寿命主要受到温度的影响，所以在设计时候考虑到热源和风道，是提高电容寿命的有效方式，在设计时尽量让电容远离热源，通风好，有时利用强制风冷的方式，尽量让电容工作于低温情况下。

关于电容的寿命计算步骤这里不详述，请参考“电解电容寿命设计步骤”一文，以下主要介绍rifa ，nichicon ，Rubycon 电容寿命得计算公式。

1、nichicon 的电解电容寿命计算公式nichicon 的电解电容寿命计算公式分为两种： a 、大封装电解电容（large can type ）；b 、小封装（miniature type ）的电容，以下针对两种电容分别列出其计算公式。

A 、large can type电容结算公式如下：其中：Ln: 估算之寿命（在环境温度Tn 和总纹波In ）Lo: 在最大允许工作温度To 和最大允许工作纹波Im 条件下的额定寿命To: 最大允许工作温度Tn: 环境温度to: 在最大允许工作温度To 和最大允许工作纹波电流Im 条件下内部温升量Im ：在最大允许工作温度To 条件下的最大允许工作纹波电流有效值（在标准频率条件下的正弦波）In ：实际应用的纹波电流有效值Δtn: 在环境温度Tn 和纹波电流In 条件下致使的内部温升K: 因纹波损耗引起温升的加速系数（Tn 从实际应用环境获得，In 根据其规格书中的纹波系数将实际纹波有效值归一到标准频率上的有效值。

其它参数可从规格书中得到）以上公式给出的是一个基本寿命与环境温度函数、热点温度及纹波电流函数之积。

其内部温升Δtn 估算并非由电阻损耗计算方式，而是提供了一个参考点值和相应的比例转换公式。

此公式关键点是归一到标准频率的等效电流有效值In 的求解。

B 、miniature type对小封装的电容有两种情况，对应不同情况有两种计算公式（a）使用规格书的L 值L: 在最大允许工作温度To 和额定DC 电压条件下的额定寿命Bn: 因实际应用纹波损耗引起温升的加速系数；α：寿命常数。

电容寿命计算公式

电容寿命计算公式RIFA、Nichicon、Rubycon的电解电容计算公式电解电容寿命计算是电容电路设计的最关键的一步，它直接考量电容的设计寿命，电容寿命主要受到温度的影响，所以在设计时候考虑到热源和风道，是提高电容寿命的有效方式，在设计时尽量让电容远离热源，通风好，有时利用强制风冷的方式，尽量让电容工作于低温情况下。

关于电容的寿命计算步骤这里不详述，请参考“电解电容寿命设计步骤”一文，以下主要介绍rifa ，nichicon ，Rubyco n电容寿命得计算公式。

1、nichico n 的电解电容寿命计算公式nichicon 的电解电容寿命计算公式分为两种：a 、大圭寸装电解电容(large can type ); b 、小圭寸装(miniature type ) 的电容，以下针对两种电容分别列出其计算公式。

A、large can type电容结算公式如下其中:Ln:估算之寿命(在环境温度Tn和总纹波In )Lo:在最大允许工作温度To和最大允许工作纹波Im条件下的额定寿命To:最大允许工作温度Tn:环境温度to:在最大允许工作温度To和最大允许工作纹波电流Im条件下内部温升Im :在最大允许工作温度To条件下的最大允许工作纹波电流有效值（在标准频率条件下的正弦波）In : 实际应用的纹波电流有效值△ tn:在环境温度Tn和纹波电流In条件下致使的内部温升K:因纹波损耗引起温升的加速系数（Tn从实际应用环境获得，In根据其规格书中的纹波系数将实际纹波有效值归一到标准频率上的有效值。

其它参数可从规格书中得到）以上公式给出的是一个基本寿命与环境温度函数、热点温度及纹波电流函数之积。

其内部温升△ tn估算并非由电阻损耗计算方式，而是提供了一个参考点值和相应的比例转换公式。

此公式关键点是归一到标准频率的等效电流有效值In的求解。

B、min iature type对小封装的电容有两种情况，对应不同情况有两种计算公式（a）使用规格书的L值L:在最大允许工作温度To和额定DC电压条件下的额定寿命Bn:因实际应用纹波损耗引起温升的加速系数；a :寿命常数其它参数与“ Large Can type ”相同。

固态电容寿命计算

固态电容寿命计算固态电容器是一种电子元件，用于储存和释放电荷。

它们通常用来作为电子系统的电源电容器，但是它们也可以用于其他应用，如滤波和耦合。

固态电容器的寿命是指其在特定条件下能够可靠工作的时间。

这个时间通常以小时或年来表示。

寿命的计算通常依赖于几个要素，包括电容器的使用环境、电流载荷和电压应力。

首先，使用环境对固态电容器的寿命有很大影响。

温度是影响固态电容器寿命的主要因素之一、温度过高会导致电容器内部的电解液蒸发，从而降低电容器的电容值和寿命。

因此，要尽量将固态电容器的工作温度控制在其额定温度以下，以延长其寿命。

其次，电流载荷也会影响固态电容器的寿命。

过大的电流会产生过多的热量，增加电容器内部元件的老化速度。

因此，在设计中应根据电容器的额定电流和工作电流来选择合适数值的电容器，以确保其寿命不会过早结束。

此外，电压应力也会对固态电容器的寿命产生影响。

电压应力是指电容器所承受的电压水平。

当电压超过电容器额定电压时，电容器可能会损坏或失效。

因此，电容器的额定电压需要与电路中的最大电压匹配，以确保固态电容器可以长时间稳定工作。

除了以上因素外，固态电容器的寿命还受到生产工艺和材料质量的影响。

不同厂家生产的电容器可能有不同的寿命，因此，在选择固态电容器时应注意选择质量可靠的产品。

计算固态电容器寿命的方法有很多种，其中一种常见的方法是使用Arrhenius方程。

Arrhenius方程是寿命与温度之间关系的数学模型，可以用来估算在不同温度下电容器的寿命。

另外，一些厂商也会提供电容器寿命的估计值。

这些估计值通常基于实验数据和电容器的设计规格。

但是需要注意的是，这些估计值通常是在特定条件下获得的，实际使用情况可能有所不同。

总结起来，固态电容器的寿命计算需要考虑多个因素，包括使用环境、电流载荷和电压应力。

通过准确估计这些因素，并使用合适的数学模型，可以得出比较准确的固态电容器寿命预测。

因此，在设计电子系统时，应根据具体的工作条件和要求，选择适当的固态电容器，以确保系统的可靠性和持久性。

SSD固态硬盘寿命论

从去年中旬开始，国内的大小城市陆续开始着家庭网络提速。

以北京为例，近2个月的时间联通ADSL已将原有的2M4M免费升级为10M光钎，原有的10M则升级为20M，意味着一部1080P高清电影只需要不到2小时的时间便可以下载完毕，如此大的下载写入再次将我们不愿重复提起的固态硬盘寿命问题搬了出来。

下载究竟伤不伤硬盘的故事流传至今已经有口难辩了，我们暂且就当它不伤吧。

可当每个人都将拥有2MB/s的下载速度时，难免和笔者一样对于SSD的文件覆盖能力担忧起来，我们将面对的是比以往高10倍的下载速度负荷，简单的通过提高系统缓存的方式还有用吗？固态硬盘的颗粒运算方式可以承担多大的写入容量？纠结探讨由宽带提速引SSD寿命问题关于固态硬盘的寿命问题，普通消费者的担忧主要是来自于对于写入方式的理解错误，高端玩家又是纠结于这种闪存读写方式的可靠性，NADA必须通过先擦出在写入的方式让长期使用导致性能下降的问题屡次搬上桌面。

固态硬盘具有擦写限制的问题，这也是人们对于其寿命担忧的一点，目前的消费级SSD的颗粒工艺分别为32nm和25nm，官方给出的限制也在5000次（P/E）和3000次，如果每天使用SSD下载一部10GB的高清电影，你认为自己的固态硬盘多久会垮掉呢？固态硬盘能否抗住高速下载大旗纠结下载，纠结开机，纠结根本不用纠结的一系列问题，所以笔者今日也希望通过一些关键的技术点来为读者朋友打开谜团，借由下载的话题将固态硬盘的颗粒寿命进行一次剖析，用最粗暴的公式将固态硬盘的真实寿命展现出来。

流言终结者焦点问题解析：寿命；极限写入；性能降低；官方MWI准确性；固件更新阴影。

脑纠结：固态硬盘寿命粗略估算我们看到随着固态硬盘技术发展，写入限制反而变少了，这是为什么？从表面上看，闪存的寿命的确是在减少，但随着固件算法的提升，当下的SSD采用着更为先进的写入辆计算，减少不必要的写入量从而提高产品的寿命。

什么是P/E，这也是普通消费者对于固态硬盘的误解之一，多数人认为所指的一次P/E写入就是文件擦除，所以认为下载对于硬盘的读写能力损耗非常的大。