扫描电子显微镜27页PPT

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扫描电子显微镜ppt课件

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信号的收集效率和相应检测器的安放位置有很大关系,如果 安微镜的样品室内还配有多种附 件,可使样品在样品台上能进行加热、冷却、拉伸等试验, 以便研究材料的动态组织及性能。
二、信号的收集和图像显示系 统
信号收集和显示系统包括各种信号检测器,前置放大 器和显示装置,其作用是检测样品在入射电子作用下 产生的物理信号,然后经视频放大,作为显像系统的 调制信号,最后在荧光屏上得到反映样品表面特征的 扫描图像。
12-0引言
2、 图像景深大,富有立体感。可直接观察起 伏较大的粗糙表面(如金属和陶瓷的断口等)
3、试样制备简单。只要将块状或粉末的、导 电的或不导电的试样不加处理或稍加处理,就 可直接放到SEM中进行观察。一般来说,用 SEM观察断口时,样品不必复制,可直接进行 观察,这给分析带来极大的方便。比透射电子 显微镜(TEM)的制样简单,且可使图像更近 于试样的真实状态。
二次电子、背散射电子和透射电子的信号都可采用闪 烁计数器来进行检测。信号电子进入闪烁体后即引起 电离,当离子和自由电子复合后就产生可见光。可见 光信号通过光导管送入光电倍增器,光信号放大,即 又转化成电流信号输出,电流信号经视频放大器放大 后就成为调制信号。
二、信号的收集和图像显示系 统
如前所述,由于镜筒中的电子束和显像 管中电子束是同步扫描,而荧光屏上每 一点的亮度是根据样品上被激发出来的 信号强度来调制的,因此样品上各点的 状态各不相同,所以接收到的信号也不 相同,于是就可以在显像管上看到一幅 反映试样各点状态的扫描电子显微图像。
俄歇电子特点:
(1)俄歇电子的能量很低,能量有特征值, 一般在50eV-1500eV范围内。
(2)俄歇电子的平均自由程很小(1nm左 右).因此在较深区域中产生的俄歇电子 在向表层运动时必然会因碰撞而损失能 量,使之失去了具有持征能量的特点.

扫描电子显微镜(SEM)-PPT课件

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特征X射线发射
五、特征X射线 (characteristic X-ray)
• 若这一能量以X射线形式放出,这就是该元素的K辐射, hc 此时X射线的波长为: K EK EL2 式中,h为普朗克常数,c为光速。对于每一元素,EK、EL2 都有确定的特征值,所以发射的X射线波长也有特征值, 这种X射线称为特征X射线。 K • X射线的波长和原子序数之间服从莫塞莱定律: 2 Z
三、吸收电子 (absorption electron)
• 入射电子进入样品后,经多次非弹性散射,能量 损失殆尽(假定样品有足够厚度,没有透射电子 产生),最后被样品吸收。 • 若在样品和地之间接入一个高灵敏度的电流表, 就可以测得样品对地的信号,这个信号是由吸收 电子提供的。 • 入射电子束与样品发生作用,若逸出表面的背散 射电子或二次电子数量任一项增加,将会引起吸 收电子相应减少,若把吸收电子信号作为调制图 像的信号,则其衬度与二次电子像和背散射电子 像的反差是互补的。
• 背散射电子是指被固体样品中的原子反弹回来的一部分入 射电子。 • 其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。 • 弹性背散射电子是指被样品中原子核反弹回来的散射角大 于90的那些入射电子,其能量基本上没有变化。 • 弹性背散射电子的能量为数千到数万电子伏。 • 非弹性背散射电子是入射电子和核外电子撞击后产生非弹 性散射而造成的,不仅能量变化,方向也发生变化。 • 如果有些电子经多次散射后仍能反弹出样品表面,这就形 成非弹性背散发固体产生的 四种电子信号强度与入射电子强度之间必然满足以下 关系: i0=ib+is+ia+it 式中:ip ib is ia it 是透射电子强度。
将上式两边同除以i0 η+δ+a+τ =1 式中:η= ib/i0 δ= is/i0,为二次电子发射系数; a = ia/i0 τ = it/i0,为透射系数。

SEM扫描电子显微镜PPT

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环保材料与工艺
采用环保材料和工艺, 降低生产过程中的环境 污染。
安全操作规程
制定严格的安全操作规 程,确保操作人员和设 备安全。
THANKS FOR WATCHING
感谢您的观看
sem扫描电子显微镜
目 录
• 简介 • 应用领域 • 技术特点 • 操作与维护 • 未来发展与挑战
01 简介
定义与特点
定义
扫描电子显微镜(SEM)是一种利用 电子束扫描样品表面并收集其产生的 二次电子、背散射电子等信号来生成 样品表面形貌和成分信息的显微镜。
特点
SEM具有高分辨率、高放大倍数、高 景深等特点,能够观察样品的表面形 貌和微观结构,广泛应用于材料、生 物医学、环境等领域。
操作步骤
01
关机步骤
02
03
04
关闭SEM软件和电脑。
关闭显微镜主机,并将显微镜 归位。
关闭电源开关,确保电源完全 断开。
常见问题与解决方案
原因
可能是由于聚焦不准确或样品表 面不平整。
解决方案
重新调整聚焦或对样品表面进行 预处理,确保表面平整。
常见问题与解决方案
原因
可能是由于样品台倾斜或扫描参数设置不正确。
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拓展多模式功能
开发具备多种模式(如透射、反射、能谱分析等) 的扫描电子显微镜,满足更多应用需求。
提高检测灵敏度与分辨率
优化电子光学系统
改进透镜、加速电压和探 测器等关键部件Biblioteka 提高成 像质量。发展超分辨技术
利用超分辨算法和纳米材 料等手段,突破光学衍射 极限,实现更高的分辨率。
提升信号处理能力
改进信号采集、处理和传 输技术,降低噪声干扰, 提高检测灵敏度。

显微镜的结构和使用 课件 (27张PPT)

显微镜的结构和使用  课件 (27张PPT)
央,怎么移动? 右下
②假如在显微镜视野中看到一个字母P,则实
际上是___d_____。
点拨精讲一(14') (二)显微镜使用过程:
(4)高倍镜的使用 1、“找”:在低倍物镜下找到目标; 2、“移”:移动装片,将目标移至视野中央; (遵循“偏向何处就往何处移动”原则)
3、“转”:转动转换器,换成高倍镜;
(一)材料:薄而透明,便于光线透过 (二)制作方法:①装片(撕和挑),②涂片(适用于液体材料),
③切片(切) (三)临时装片的制作过程:
点拨精讲 二(10') 二、临时装片的制作
植物细胞 1、植物细胞临时装片制作步骤

滴(清水)

放展



(防止产生气泡)
点拨精讲 二(5')
2.植物细胞结果观察图及结构
显微镜的结构和使用
学习目标(1')
1.显微镜的基本结构和作用 2.实验:模仿制作植物、人(或动物)的 细胞临时装片
问题导学一(5')
阅读课本5-6页,回答下列问题 1.显微镜的基本结构及所对应的功能是什么? 2.概括写出显微镜使用的基本步骤; 3.低倍物镜和高倍物镜的特点是什么? 4.为什么要先用低倍镜观察清楚后,把要放大观察的物像移到 视野中央,再换高倍镜观察? 5.如果视野亮度较暗,如何增加亮度?
洋葱鳞片叶 黄瓜表层果肉细 黑藻叶片细胞 植物细胞结构简图
内表皮细胞 胞(可见叶绿体)(可见叶绿体)
点拨精讲 二(5') 二、临时装片的制作
动物细胞
1、动物细胞临时装片制作步骤
染液
擦→滴→刮→涂→盖→染→吸
生理盐水
防止产生气泡
2、动物细胞结果观察图

扫描电子显微镜PPT课件

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扫描电子显微镜
引言 扫描电镜结构原理 扫描电镜图象及衬度 扫描电镜结果分析示例 扫描电镜的主要特点
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引言
扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写 为 SEM (Scanning Electron Microscope)。SEM 与 电子探针(EPMA)的功能和结构基本相同,但SEM 一般不带波谱仪(WDS)。它是用细聚焦的电子束 轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二 次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行 观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以 进行成分分析。所以,SEM也是显微结构分析的主 要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等 领域。
入射电子与试样相互作用后,能量耗尽的电子称吸收 电子。吸收电子的信号强度与背散射电子的信号强度相 反,即背散射电子的信号强度弱,则吸收电子的强度就 强,反之亦然,所以吸收电子像的衬度与背散射电子像 的衬度相反。通常吸收电子像分辨率不如背散射电子像, 一般很少用。
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各种信息的作用深度
从图中可以看出, 俄歇电子的穿透 深度最小,一般 穿透深度小于 1nm,二次电子 小于10nm。
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特征X射线能级图
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俄歇过程和俄歇电子
当一束电子﹑离子﹑光子或者其它入射源照射在固体 表层时,表层原子某一芯层K 能级上的一个电子受入射粒子 撞击后飞离该能级,原子由基态进入受激状态。 原子的退 激过程包含着下述一种非辐射过程(见图7.1)。即:由不在同 一芯层L 能级上的一个电子跃迁,去填补受激后在K 层初次 产生的空穴;多余的能量诱发能级等同或低于填补电子原 来所在L能级上的另一个电子发射。原子处于退激后的状态。 这种非辐射过程被命名为俄歇过程。退激过程发射的电子 就是俄歇电子。

SEM扫描电子显微镜课件

SEM扫描电子显微镜课件

扫描电镜结构原理框图
扫描电镜结构 电子光学系统, 信号收集处理、图 像显示和记录系统, 真空系统, 三部分组成
扫描电镜结构原理
1、电子光学系统: 电子枪 电磁透镜(2个强磁1个弱磁)可使原来50μm电子束斑聚焦为6nm。 扫描线圈 样品室
电子束的滴状作用体积示意图
不同能量的电子束在样品中的作用模拟图
电子束在不同样品中的作用模拟图
但是,当电子束射入重元素样品中时,作用体积不呈滴状,而是半球状。电子束进入表面后立即向横向扩展,因此在分析重元素时,即使电子束的束斑很细小,也不能达到较高的分辨率。此时,二次电子的分辨率和背散射电子的分辨宰之间的差距明显变小。 由此可见,在其它条件相同的情况下(如信号噪音比、磁场条件及机械振动等),电子束的束斑大小、检测信号的类型以及检测部位的原子序数是影响扫描电子显微镜分辨率的三大因素。
五、特征X射线 当样品原子的内层电子被入射电子激发,原子就会处于能量较高的激发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而使具有特征能量的X射线释放出来。 用X射线探测器测到样品微区中存在一种特征波长,就可以判定这个微区中存在着相应的元素。
六、俄歇电子 在特征x射线过程中,如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以X射线的形式发射出去,而是用这部分能量把空位层内的另—个电子发射出去,这个被电离出来的电子称为~。 俄歇电子能量各有特征值,能量很低,一般为50-1500eV. 俄歇电子的平均白由程很小(1nm左右). 只有在距离表面层1nm左右范围内(即几个原子层厚度)逸出的俄歇电子才具备特征能量,因此俄歇电子特别适用于表面层的成分分析。
由于ZrO2相平均原子序数远高于Al2O3相和SiO2 相,所以图中白色相为斜锆石,小的白色粒状斜锆石与灰色莫来石混合区为莫来石-斜锆石共析体,基体灰色相为莫来石。

《电子显微镜》PPT课件

《电子显微镜》PPT课件

❖ 扫描电镜的放大倍数M取决于显象管荧光屏尺寸S2和 入射束在试样表面扫描距离S1之比,即:
M=S2/S1
由于荧光屏尺寸S2是固定的,因此其放大倍数的变化 是通过改变电子束在试样表面扫描距离S1来实现的。 一般放大倍数在20~20万倍之间,且连续可调。
❖ 将样品细节放大到人眼刚能看清楚(约0.2mm)的放
X射线 100~1000 500~5000
俄歇电子 06.01.2021
5~10整理ppt 0.5~2
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❖ 扫描电镜的景深是指在样品深度方向可能观察 的程度。在电子显微镜和光学显微镜中,扫描 电镜的景深最大,对金属材料的断口分析具有 特殊的优势。
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整理ppt
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二、放大倍数及有效放大倍数
整理ppt
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二、扫描电镜与透射电镜的主要区别
❖ 1. 扫描电镜电子光学部分只有起聚焦作用的会聚透镜, 而没有透射电镜里起成象放大作用的物镜、中间镜和 投影镜。这些电磁透镜所起的作用在扫描电镜中是用 信号接受处理显示系统来完成的。
❖ 2. 扫描电镜的成象过程与透射电镜的成象原理是完全 不同的。透射电镜是利用电磁透镜成象,并一次成象; 扫描电镜的成象不需要成象透镜,它类似于电视显象 过程,其图象按一定时间空间顺序逐点形成,并在镜 体外显象管上显示。
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整理ppt
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五、俄歇电子
❖ 从距样品表面几个Å深度范围内发射的并具有 特征能量的二次电子,能量在50~1500eV之间。 俄歇电子信号适用于表面化学成份分析。
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整理ppt
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六、特征X射线
❖ 样品中原子受入射电子激发后,在能级跃迁过 程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电 磁波辐射,其发射深度为0.5~5m范围。

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分辨率高
分辨率指能分辨的两点之间的最小距离。分辨率d可以 用贝克公式表示:d=0.61/nsin ,
为透镜孔径半角,为照明样品的光波长,n为透镜与 样品间介质折射率。对光学显微镜 =70-75, n=1.4。因为 nsin1.4,而可见光波长范围为: = 400nm-700nm ,所以光学显微镜分辨率 d0.5 , 显然 d 200nm。要提高分辨率可以通过减小照明波 长来实现。SEM是用电子束照射样品,电子束是一种 De Broglie 波 , 具 有 波 粒 二 相 性 , = 1 2 . 2 6 / V0.5( 伏 ) , 如 果 V=20kV 时 , 则 = 0 . 0 0 8 5 nm。 目 前 用 W 灯 丝 的 SEM, 分 辨 率 已 达 到 3nm-6nm, 场发射源SEM分辨率可达到1nm 。高分 辨率的电子束直径要小,分辨率与子
透射电子
各种信息的作用深度
从图中可以看 出,俄歇电子 的穿透深度最 小,一般穿透 深度小于1nm, 二次电子小于 10nm。
扫描电镜图象及衬度
二次电子像 背散射电子像
二次电子
入射电子与样品相互作用后,使样品 原子较外层电子(价带或导带电子)电离 产生的电子,称二次电子。二次电子能量 比较低,习惯上把能量小于50eV电子统称 为二次电子,仅在样品表面5nm-10nm 的深度内才能逸出表面,这是二次电子分 辨率高的重要原因之一。
3.电子与固体试样的交互作用
一束细聚焦的电子束轰击试样表面时,入 射电子与试样的原子核和核外电子将产生弹性 或非弹性散射作用,并激发出反映试样形貌、 结构和组成的各种信息,有:二次电子、背散 射电子、
阴极发光、特征X 射线、俄歇过程和俄歇电子、 吸收电子、透射电子等。
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