霍尔效应实验报告98010

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实验报告霍尔效应

实验报告霍尔效应

实验报告霍尔效应一、前言本实验即为霍尔效应实验,目的为观察材料中的自由电子在磁场中的漂移情况,并通过测量霍尔电压、磁场强度、电流等参数计算出材料中的载流子浓度、电荷载流子的载流率和电导率等物理参数,加深对材料物理性质的理解。

二、实验原理1. 霍尔效应霍尔效应是指在垂直磁场中,导电体中的自由电子感受到的洛伦兹力使其沿着垂直于电流方向的方向漂移,从而产生一侧的电荷密度增加,另一侧的电荷密度减小,形成的电势差即为霍尔电势差(VH),如下图所示:其中,e为元电荷,IB为电流,B为磁场强度,d为样品宽度,n为电子浓度。

2. 实验装置本实验装置如下图所示:其中,UH为霍尔电势差测量电压,IB为电流源,B为电磁铁控制磁场强度,R为电阻,L1,L2为长度为d的导线,L3为长度为l的导线。

3. 实验步骤(1)将实验装置按照图中所示连接好。

(2)打开电源,调节电流源的电流大小,使其稳定在0.5A左右。

(3)打开电磁铁电源,调节磁场强度大小。

(4)读取测量电压UH值。

(5)更改电流大小、磁场强度等参数进行多次实验重复测量。

三、实验结果通过多次实验测量,我们得到了以下测量数据:IB/A B/T UH/mV0.5 0 00.5 0.1 60.5 0.2 120.5 0.3 180.5 0.4 240.5 0.5 30四、实验分析1. 计算样品电子浓度根据式子:UH=IBBd/ne,可以计算得出样品中电子浓度n,如下表所示:2. 计算材料电导率IB/A B/T UH/mV R/Ω J/A.m^-2 E/V.m^-1 σ/(S.m^-1)0.5 0 0.22 1.18 4.24E+5 0.64 3.59E+50.5 0.1 6.22 1.18 4.24E+5 0.64 3.59E+50.5 0.2 12.22 1.18 4.24E+5 0.64 3.59E+50.5 0.3 18.22 1.18 4.24E+5 0.64 3.59E+50.5 0.4 24.22 1.18 4.24E+5 0.64 3.59E+50.5 0.5 30.22 1.18 4.24E+5 0.64 3.59E+53. 计算电子的载流率通过本实验可以得到如下结论:1. 随着磁场强度的增加,霍尔电势差也随之增加。

霍尔效应实验报告(共8篇)

霍尔效应实验报告(共8篇)

篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。

3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。

4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。

5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。

由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。

与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。

随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。

这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。

设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。

同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/ (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告

一、实验目的1. 了解霍尔效应的产生原理及现象。

2. 掌握霍尔元件的基本结构和工作原理。

3. 通过实验测量霍尔系数、电导率等参数,判断半导体材料的导电类型。

4. 学习使用对称测量法消除副效应产生的系统误差。

5. 利用霍尔效应测量磁感应强度及磁场分布。

二、实验原理霍尔效应是当电流垂直于磁场通过导体时,在导体两侧会产生垂直于电流和磁场的电压差。

这种现象称为霍尔效应。

根据霍尔效应,可以推导出霍尔电压、霍尔系数、电导率等参数之间的关系。

三、实验仪器与材料1. 霍尔效应实验仪2. 直流电源3. 数字多用表4. 磁场发生器5. 半导体样品四、实验步骤1. 霍尔效应现象观察:将霍尔元件置于磁场中,调节电流和磁场方向,观察霍尔电压的变化。

2. 测量霍尔电压:使用数字多用表测量霍尔电压,记录数据。

3. 测量电流和磁场:使用数字多用表测量通过霍尔元件的电流和磁场强度,记录数据。

4. 计算霍尔系数和电导率:根据实验数据,计算霍尔系数和电导率。

5. 消除副效应:使用对称测量法消除副效应产生的系统误差。

6. 测量磁感应强度及磁场分布:利用霍尔效应测量磁感应强度及磁场分布。

五、实验结果与分析1. 霍尔效应现象观察:实验观察到,当电流和磁场垂直时,霍尔电压最大;当电流和磁场平行时,霍尔电压为零。

2. 测量霍尔电压:实验测得霍尔电压随电流和磁场强度的变化关系,符合霍尔效应的规律。

3. 计算霍尔系数和电导率:根据实验数据,计算出霍尔系数和电导率,与理论值基本一致。

4. 消除副效应:使用对称测量法消除副效应产生的系统误差,实验结果更加准确。

5. 测量磁感应强度及磁场分布:利用霍尔效应测量磁感应强度及磁场分布,结果与理论值基本一致。

六、实验结论1. 通过实验,我们了解了霍尔效应的产生原理及现象。

2. 掌握了霍尔元件的基本结构和工作原理。

3. 通过实验测量,我们验证了霍尔效应的基本规律,并计算出霍尔系数和电导率。

4. 使用对称测量法消除了副效应产生的系统误差,实验结果更加准确。

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。

2、掌握用霍尔效应测量磁场的方法。

3、学会使用霍尔效应实验仪器,测量霍尔电压、霍尔电流等物理量。

二、实验原理当电流 I 沿垂直于外磁场 B 的方向通过半导体薄片时,在薄片的垂直于电流和磁场方向的两侧面 a、b 之间会产生一个电势差 UH,这一现象称为霍尔效应。

UH 称为霍尔电压。

霍尔效应是由于运动电荷在磁场中受到洛伦兹力的作用而产生的。

设半导体薄片的厚度为 d,宽度为 b,载流子浓度为 n,载流子的电荷量为 q,它们定向移动的速度为 v,则有:洛伦兹力 F = qvB当载流子受到的洛伦兹力与电场力平衡时,有:qE = qvB其中 E 为电场强度,由于电场强度 E = UH / b,所以:UH = vBb又因为电流 I = nqbdv,所以:v = I /(nqbd)将 v 代入 UH = vBb 中,可得:UH = BI /(nqd)上式表明,霍尔电压 UH 与电流 I 和磁感应强度 B 成正比,与薄片的厚度 d 和载流子浓度 n 成反比。

通过测量霍尔电压 UH、电流 I 和磁感应强度 B,可以计算出霍尔系数 RH = 1 /(nq),从而确定载流子的浓度 n。

三、实验仪器霍尔效应实验仪、特斯拉计、直流电源、数字电压表等。

四、实验步骤1、连接实验仪器按照实验电路图连接好霍尔效应实验仪、直流电源、数字电压表等仪器。

确保连接正确无误,接触良好。

2、调整仪器参数打开直流电源,调节电流输出为一定值,例如 5mA。

同时,使用特斯拉计测量磁场强度,并记录下来。

3、测量霍尔电压将霍尔元件放入磁场中,分别测量不同磁场强度下的霍尔电压。

改变磁场方向,再次测量霍尔电压,以消除副效应的影响。

4、改变电流方向改变电流的方向,重新测量霍尔电压,进一步减小测量误差。

5、数据记录与处理将测量得到的数据记录在表格中,包括电流 I、磁场强度 B、霍尔电压 UH 等。

根据实验数据,计算霍尔系数 RH 和载流子浓度 n。

霍尔效应实验报告(附带实验结论)

霍尔效应实验报告(附带实验结论)

《霍尔效应》参考实验报告附带结论实验目的1.了解霍尔效应实验原理。

2.测量霍尔电流与霍尔电压之间的关系。

3.测量励磁电流与霍尔电压之间的关系。

4.学会用“对称测量法”消除负效应的影响。

实验仪器霍尔效应实验仪。

实验步骤1.正确连接电路,调节霍尔元件处于隙缝的中间位置。

2.测量不等位电势。

令励磁电流I=0mA,霍尔电流H I=1.00mA,M2.00mA,…,10.00mA,测量霍尔元件的不等位电势随霍尔电流的对应关系。

2.测量霍尔电流I与霍尔电压H U的关系。

令励磁电流M I=400mA,调节H霍尔电流I=1.00mA,2.00mA,…,10.00mA(每隔1.0mA改变一次),H分别改变励磁电流和霍尔电流的方向,记录对应的霍尔电压。

3.测量励磁电流I与霍尔电压H U的关系。

令霍尔电流H I=8.00mA,调M节励磁电流I=100.0mA,200.0mA,…,1000.0mA(每隔100.0mA改M变一次),分别改变励磁电流和霍尔电流的方向,记录对应的霍尔电压。

实验数据记录及处理(2)测量霍尔电流和霍尔电压的关系(M I =400mA)(3)测量励磁电流和霍尔电压的关系(H I =8.00mA)实验结论1、当励磁电流M I=0时,霍尔电压不为0,且随着霍尔电流的增加而增加,通过作图发现二者满足线性关系。

说明在霍尔元件内存在一不等位电压,这是由于测量霍尔电压的两条接线没有在同一个等势面上造成的。

2、当励磁电流保持恒定,改变霍尔电流时,测量得到的霍尔电压随霍尔电流的增加而增加,通过作图发现二者之间满足线性关系。

3、当霍尔电压保持恒定,改变励磁电流时,测量得到的霍尔电压随励磁电流的增加而增加,通过作图发现二者之间也满足线性关系。

注意事项:1.不要带电接线,中间改变电路时,一定要先关闭电源,再连接电路。

2.实验完成后要整理实验仪器,先关闭电源,再将电线拆下,捋好后放在实验仪器的右侧。

3.仪器开机前应将I、H I调节旋钮逆时针方向旋到底,使其输出电M流趋于最小,然后再开机。

霍尔效应实验报告(附带实验结论)(总3页)

霍尔效应实验报告(附带实验结论)(总3页)

霍尔效应实验报告(附带实验结论)(总3页)实验内容:实验中我们将会介绍霍尔效应,包括霍尔现象背后的原理,如何建立实验并如何分析实验结果。

霍尔效应是一个经典的材料物理学现象,主要是指当一个电流通过一块具有特殊形状的半导体晶体时,在晶体内部会产生一个垂直于电流方向和晶面法向的电场。

这个电场会导致从侧面进入材料的一个外部磁场中电荷载流子弯曲轨迹,从而引起电荷载流子的偏转和最终的偏差。

霍尔效应实验是通过使用霍尔元件来测量材料中电子的电荷密度、电阻率以及磁感应强度等物理量。

通过使用一个差分放大器来隔离高电阻元件所测量的低电压信号,实现误差最小化。

实验原理:霍尔现象是指当一个电流通过材料时,电荷载流子会遭受到一个垂直于电流方向和晶面法向的洛伦兹力。

这个力是由外磁场和载流子的运动速度所决定。

通过等效电路模型来表示这个效应,可以得出以下公式:$R_H=\frac{V_H}{IB}$其中$R_H$是霍尔系数,$V_H$是霍尔电压,$I$是传输电流,$B$是外磁场的磁感应强度。

实验步骤:1、使用霍尔元件进行实验测量。

首先我们将要求对外磁场变量进行变动。

我们将会使用自制的霍尔元件来测量材料的电阻率和磁感应强度。

此外我们还需要在实验中加入一个电压测量电路和一个高阻放大器,以便测量霍尔电压。

2、调整电路和实验装置,确保高电阻元件测得的信号能够被放大器隔离并接收到计算机来进行数据采集和分析。

3、进行霍尔效应实验并测量霍尔电压。

当电流通过材料时,霍尔电压会在样品上产生。

我们会使用磁感应计来测量磁场的强度,并利用霍尔元件来测量霍尔电压。

为了确保测量精度和可靠性,我们需要在实验期间不断进行复位校准。

实验结果:我们执行了多次霍尔效应实验,每次实验中都测得了数据。

我们将测得的数据进行了计算,并绘制了以下的实验曲线。

经过分析实验结果,我们得出以下重要结论:1、随着磁感应强度的增加,电流的方向和样品中霍尔电压的值都会发生变化。

2、我们在实验中发现,霍尔元件的特性随着温度和磁场强度的变化而变化。

大学物理实验霍尔效应实验报告

大学物理实验霍尔效应实验报告

大学物理实验霍尔效应实验报告大学物理实验霍尔效应实验报告引言霍尔效应是指当电流通过一块导体时,在垂直于电流方向的磁场作用下,导体两侧会产生电势差,这种现象被称为霍尔效应。

霍尔效应不仅在理论研究中有着重要的应用,而且在实际生活中也有着广泛的应用,如磁传感器、霍尔开关等。

本实验旨在通过测量霍尔电压和磁场强度的关系,验证霍尔效应的存在并探究其特性。

实验目的1. 了解霍尔效应的基本原理和特性;2. 学习使用霍尔效应测量磁场强度;3. 熟悉实验仪器的使用和实验操作的步骤。

实验装置和原理实验装置主要包括霍尔效应实验仪、直流电源、数字电压表和磁铁。

实验仪由霍尔片、电源、数字电压表和磁铁组成。

霍尔片是一块导电材料,其两侧分别连接有电压表,可以测量霍尔电压的大小。

电源用于提供电流,磁铁则用于产生磁场。

当电流通过霍尔片时,磁场作用下,霍尔片两侧会产生电势差,即霍尔电压。

实验步骤1. 将实验仪连接好,确保电路连接正确;2. 调节电源,使电流稳定在一定数值;3. 移动磁铁,改变磁场强度;4. 记录不同磁场强度下的霍尔电压值;5. 根据实验数据,绘制霍尔电压与磁场强度的关系曲线。

实验结果与分析通过实验测量得到的数据,我们可以绘制出霍尔电压与磁场强度的关系曲线。

从曲线可以看出,霍尔电压与磁场强度呈线性关系。

这符合霍尔效应的基本原理,即霍尔电压与磁场强度成正比。

根据实验数据,我们还可以计算出霍尔系数,即霍尔电压与电流、磁场强度的比值。

霍尔系数的大小与导体的性质有关,可以用来研究导体的电荷载流子类型和浓度。

实验中可能存在的误差主要来自实验仪器的精度和实验操作的不准确。

为减小误差,我们可以多次测量取平均值,提高实验仪器的精度,严格控制实验操作的步骤。

实验结论本实验通过测量霍尔电压和磁场强度的关系,验证了霍尔效应的存在,并探究了其特性。

实验结果表明,霍尔电压与磁场强度呈线性关系,符合霍尔效应的基本原理。

通过计算霍尔系数,可以进一步了解导体的性质。

霍尔效应实验报告(共8篇)

霍尔效应实验报告(共8篇)

篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vhis,vhim曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。

3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。

4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。

5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。

如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。

由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。

与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。

随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。

这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。

设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。

同时,电场作用于电子的力为 feeehevh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,flfe vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为isne (2)由(1),(2)两式可得 vhehlib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh/ (4)式中为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。

霍尔效应实验报告RH(共10篇)

霍尔效应实验报告RH(共10篇)

篇一:大学物理实验报告系列之霍尔效应大学物理实验报告)篇二:霍尔效应及其应用实验报告霍尔效应及其应用实验报告(物理学创新实验班41306187)【摘要】 szy 本实验通过了解霍尔原理及霍尔元器件的使用,测绘vh?is和vh?im 的图像并测量霍尔系数、电导率。

试验在测量过程中,由于各种副效应会引起各种误差。

在此做以分析和修正,采用vh对称测量法以消除副效应。

经过修正后的实验,更大程度地降低了实验误差,使k的测量更加接近真实值。

【关键词】霍尔片载流子密度霍尔系数霍尔电压 mathematica 【引言】霍尔效应是霍尔于1879年发现的,这一效应在科学实验和工程技术中有着广泛的应用。

霍尔系数的准确测量在应用中有着十分重要的意义。

由于霍尔系数在测量过程中伴随着各种副效应,使得霍尔系数在测量过程中变得比较困难。

因此我们在测量过程中采取了“对称测量法”消除副效应。

【正文】一、实验原理起的偏转。

当带电粒子被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。

图(1、a)所示的n型半导体试样,若在x方向的电极d、e上通以电流is,在z方向加磁场b,试样中载流子将受洛仑兹力:f ? e v b ①其中e为载流子电量, b为磁感v应强度。

无论载流子是正电荷还是负电荷,fg的方向均沿y方向,在此力的作用下,载流子发生便移,则在y方向即试样a、a′电极两侧就开始聚积异号电荷而在试样a、a′两侧产生一个电位差vh,形成相应的附加电场e—霍尔电场,相应的电压vh称为霍尔电压,电极a、a′称为霍尔电极。

g(a)(b)图(1) 原理图显然,该电场是阻止载流子继续向侧面偏移,试样中载流子将受一个与fg方向相反的横向电场力:fe=eeh ②其中eh为霍尔电场强度。

fe随电荷积累增多而增大,当达到稳恒状态时,两个力平衡,即载流子所受的横向电场力e eh与洛仑兹力evb 相等,样品两侧电荷的积累就达到平衡,故有eeh?eevb③设试样的宽度为b,厚度为d,载流子浓度为n,则电流强度is与的关系为? is bd ④由(3)、(4)两式可得ib1isbvh?ehb??ksnedd d ⑤即霍尔电压vh(a、a′电极之间的电压)与isb乘积成正比与试样厚度d成反比。

霍尔效应测磁场实验报告(共7篇)

霍尔效应测磁场实验报告(共7篇)

篇一:霍尔元件测磁场实验报告用霍尔元件测磁场前言:霍耳效应是德国物理学家霍耳(a.h.hall 1855—1938)于1879年在他的导师罗兰指导下发现的。

由于这种效应对一般的材料来讲很不明显,因而长期未得到实际应用。

六十年代以来,随着半导体工艺和材料的发展,这一效应才在科学实验和工程技术中得到了广泛应用。

利用半导体材料制成的霍耳元件,特别是测量元件,广泛应用于工业自动化和电子技术等方面。

由于霍耳元件的面积可以做得很小,所以可用它测量某点或缝隙中的磁场。

此外,还可以利用这一效应来测量半导体中的载流子浓度及判别半导体的类型等。

近年来霍耳效应得到了重要发展,冯﹒克利青在极强磁场和极低温度下观察到了量子霍耳效应,它的应用大大提高了有关基本常数测量的准确性。

在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍耳器件,会有更广阔的应用前景。

了解这一富有实用性的实验,对今后的工作将大有益处。

教学目的:1. 了解霍尔效应产生的机理,掌握测试霍尔器件的工作特性。

2. 掌握用霍尔元件测量磁场的原理和方法。

3. 学习用霍尔器件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。

教学重难点: 1. 霍尔效应2. 霍尔片载流子类型判定。

实验原理如右图所示,把一长方形半导体薄片放入磁场中,其平面与磁场垂直,薄片的四个侧面分别引出两对电极(m、n和p、s),径电极m、n 通以直流电流ih,则在p、s极所在侧面产生电势差,这一现象称为霍尔效应。

这电势差叫做霍尔电势差,这样的小薄片就是霍尔片。

图片已关闭显示,点此查看假设霍尔片是由n型半导体材料制成的,其载流子为电子,在电极m、n上通过的电流由m极进入,n极出来(如图),则片中载流子(电子)的运动方向与电流is的方向相反为v,运动的载流子在磁场b中要受到洛仑兹力fb的作用,fb=ev×b,电子在fb的作用下,在由n→m运动的过程中,同时要向s极所在的侧面偏转(即向下方偏转),结果使下侧面积聚电子而带负电,相应的上侧面积(p极所在侧面)带正电,在上下两侧面之间就形成电势差vh,即霍尔电势差。

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告

实验报告霍尔效应【实验目的】(1)了解霍尔效应的原理以及霍尔元件有关参数的含义和作用;(2)测绘霍尔元件的UH-IS,UH-IM曲线,了解霍尔电压UH与霍尔元件工作电流IS、励磁电流IM之间的关系。

(3)学习利用霍尔效应测量电磁铁气隙中的磁感应强度B及其分布。

(4)学习用“对称交换法”消除副效应产生的系统误差。

【实验原理】1. 霍尔效应把通有电流的导体置于磁场B中,磁场B垂直于样品工作电流IS方向,则在导体中垂直于B 和IS 的方向上出现一个横向电位差UH,这个现象称为霍尔效应。

霍尔效应是由于而洛仑兹力产生。

理论证明R H称为霍尔电阻。

K H称为霍尔元件的灵敏度,单位为 mV /(mA·T) 。

2. 用霍尔效应法测量电磁铁的磁场用半导体材料构成霍尔片作为传感元件,把磁信号转换成电信号,测出磁场中各点的磁感应强度,能测量交、直流磁场。

VAA-1电压测量双路恒流电源提供实验装置电源I m、I S 和显示霍尔电压的数值V H。

若霍尔器件的载流子为电子则4点电位高于2点电位;若载流子为空穴则4点电位低于2点的电位,如果知道载流子类型则可以根据UH的正负定出待测磁场的方向。

由于霍尔效应建立电场所需时间很短(约10-12~10-14s),因此通过霍尔元件的电流用直流或交流都可以,若霍尔电流I S为交流I S= I0sinωt,则V H= K H I S B =K H B I0sin w t所得的霍尔电压也是交变的,在使用交流电情况下,直流公式仍可使用,只是式中的I S和V H 应理解为有效值。

3.消除霍尔元件副效应的影响副效应包括热磁效应和不等位电势差等,通常与电流和磁场方向有关。

可采用切换开关进行双向测量削弱其影响,处理的方法是:当I H 正向、B 正向时测得U1;当I H负向、B 正向时测得U2;当I H负向、B 负向时测得U3;当I H正向、B 负向时测得U4 。

V H = (∣U1∣+∣U2∣+∣U3∣+∣U4∣ )/4【实验内容】1,保持I m不变,测绘V H- I S曲线;注意用“对称交换法”消除系统误差,将数据填入下表。

(完整版)大学物理实验报告系列之霍尔效应.doc

(完整版)大学物理实验报告系列之霍尔效应.doc

大学物理实验报告【实验名称】霍尔效应【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。

2.学习用“对称测量法”消除付效应的影响,测量试样的VH — IS;和 VH — IM 曲线。

3.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。

【实验仪器】霍尔效应实验仪【实验原理】霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子 (电子或空穴 )被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。

对于图 1( a)所示的 N 型半导体试样,若在 X 方向通以电流 1s,在 Z 方向加磁场 B,试样中载流子(电子)将受洛仑兹力F B = ev B ( 1)则在 Y 方向即试样A、A电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的附加电场一霍尔电场。

电场的指向取决于试样的导电类型。

对N 型试样,霍尔电场逆Y 方向, P 型试样则沿 Y方向,有:Is (X)、 B (Z) E (Y) <0 (N 型)HE (Y) >0 (P 型)H显然,该电场是阻止载流子继续向侧面偏移,当载流子所受的横向电场力eEH 与洛仑兹力 eVB相等时,样品两侧电荷的积累就达到平衡,故有eE H = evB ( 2)其中 E H为霍尔电场, v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度。

设试样的宽为 b ,厚度为 d ,载流子浓度为n ,则Is nevbd ( 3)由( 2 )、( 3)两式可得V H E H b1 I S B I S B( 4)R Hne d d即霍尔电压 V H(A、A电极之间的电压)与IsB 乘积成正比与试样厚度成反比。

1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,比例系数 R HneR H V H d 810 IsB1、由 R H的符号 (或霍尔电压的正、负)判断样品的导电类型判断的方法是按图一所示的Is 和 B 的方向,若测得的 V H AA’= V 触 f <0,(即点 A 的电位低于点A′的电位 ) 则 R H为负,样品属N 型,反之则为P 型。

霍尔效应实验报告(共8篇).doc

霍尔效应实验报告(共8篇).doc

霍尔效应实验报告(共8篇).doc
实验名称:霍尔效应实验
实验目的:通过测量半导体中霍尔电压和霍尔电流,了解半导体中的电子输运性质。

实验器材:霍尔电流源、霍尔电压计、半导体样品、直流电源、数字万用表等。

实验原理:当一个导电材料中存在磁场时,载流子将在该磁场下发生偏转,从而导致材料的横向电场。

这种结果被称为霍尔效应。

V_H = KBIB/Tne
其中V_H为霍尔电压,B为外磁场强度,I为霍尔电流,n为携带载流子的数量密度。

实验步骤:
1. 将半导体样品制成薄片,并对其进样操作。

2. 通过在泳道中流动电流,产生磁场,测量霍尔电压和磁场。

3. 通过改变霍尔电流来改变携带量子的数量密度。

4. 通过改变温度来研究电子输运性质。

实验数据:
实验中测得的数据如下表所示:
B(T) | I(mA) | V_H(mV) | n(cm^-3)
0.002 | 3 | 3.5 | 2.2*10^12
0.004 | 5 | 7.0 | 2.5*10^12
0.006 | 7 | 10.5 | 2.8*10^12
0.008 | 9 | 14.0 | 3.5*10^12
0.01 | 10 | 17.5 | 4.0*10^12
实验结果:
通过上述数据,我们可以绘制出霍尔电压与磁场的曲线,通过分析该曲线,可以获得半导体的部分参数,如携带载流子的数量密度、迁移率和磁场的线性范围。

除了以上的结论,该实验还可以用于检测半导体的杂质和掺杂浓度等质量因素,并可用于研究半导体中的输运行为(例如迁移率),以便确定相应观察特性的重要性及其与材料的性质之间的关联性。

霍尔效应实验报告(附带实验结论)

霍尔效应实验报告(附带实验结论)

霍尔效应实验报告(附带实验结论)
霍尔效应实验是研究磁场穿过电路时电流的结果,它由瑞典物理学家弗里德里克•霍
尔创造并命名于1879年,以他揭示磁场中线圈电流方向的发现而获得了诺贝尔物理学奖。

它可以证明磁性作用和电流之间的关系,用于显示物体的磁性特性而被广泛应用到有无线
电电子设备研究中。

本次实验是以霍尔效应量测磁场强度(脉冲电压)的发生情况,以及
它们相互之间的关系,从而测量磁场的方向。

本次实验的目的是测试霍尔效应并且量测磁场强度和方向。

此外,实验综合使用计算
机科学和物理学,电子技术等方法,采用标准实验设备建立实验系统,对磁场和脉冲电压
进行测量,具体实验过程如下。

1.设置实验材料:仪器、电源、低阻抗负载和校正磁场线圈;
2.设定测量参数:动圈圈特征电阻、容性和无源性串联电阻;
3.将被测物体放置在磁场线圈中;
4.将阻抗电源的输出电压调整至0.5V;
6.检查阻抗电源的输出参数以确保它不超出安全容量;
7.用电路模拟器测量脉冲电压,记录和分析测量结果;
8.根据实验结果制定结论。

实验结果表明,该实验可以有效的测量磁场的强度(脉冲电压)和方向,而且它可以
有效地检测磁场的变化。

根据实验结果,得出实验结论:当磁场穿过电路时,会出现脉冲
电压,这也证明了磁性作用和电流之间的关系。

总之,本次实验圆满成功。

我们测出脉冲电压,研究了磁场强度和方向与脉冲电压之
间的关系,从而明确了霍尔效应的物理原理。

实验结果可以为智能电子元件、磁性感应装
置和电机设计等方面的应用提供有效的参考依据。

大学物理实验报告霍尔效应

大学物理实验报告霍尔效应

大学物理实验报告霍尔效应第一篇:大学物理实验报告霍尔效应大学物理实验报告霍尔效应一、实验名称:霍尔效应原理及其应用二、实验目的:1、了解霍尔效应产生原理;2、测量霍尔元件的、曲线,了解霍尔电压与霍尔元件工作电流、直螺线管的励磁电流间的关系;3、学习用霍尔元件测量磁感应强度的原理和方法,测量长直螺旋管轴向磁感应强度及分布;4、学习用对称交换测量法(异号法)消除负效应产生的系统误差。

三、仪器用具:YX-04 型霍尔效应实验仪(仪器资产编号)四、实验原理:1、霍尔效应现象及物理解释霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场。

对于图1 所示。

半导体样品,若在x 方向通以电流,在z 方向加磁场,则在y 方向即样品A、A′电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的电场,电场的指向取决于样品的导电类型。

显然,当载流子所受的横向电场力时电荷不断聚积,电场不断加强,直到样品两侧电荷的积累就达到平衡,即样品A、A′间形成了稳定的电势差(霍尔电压)。

设为霍尔电场,是载流子在电流方向上的平均漂移速度;样品的宽度为,厚度为,载流子浓度为,则有:(1-1)因为,又根据,则(1-2)其中称为霍尔系数,是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。

只要测出、以及知道和,可按下式计算:(1-3)(1-4)为霍尔元件灵敏度。

根据RH 可进一步确定以下参数。

(1)由的符号(霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。

判别的方法是按图1 所示的和的方向(即测量中的+,+),若测得的 <0(即A′的电位低于A 的电位),则样品属N 型,反之为P 型。

(2)由求载流子浓度,即。

应该指出,这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的。

严格一点,考虑载流子的速度统计分布,需引入的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半导体物理学》)。

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。

2、学会用“对称测量法”消除副效应的影响。

3、测量霍尔元件的霍尔系数和电导率。

二、实验原理1、霍尔效应当电流 I 沿 X 方向通过导体时,如果在 Z 方向加上磁场 B,那么在Y 方向上会产生电动势,这种现象称为霍尔效应。

产生的电动势称为霍尔电动势,用 UH 表示。

霍尔电动势的大小与电流I、磁场B 以及导体在磁场中的位置有关,其关系式为:UH = KH·I·B ,其中 KH 为霍尔系数。

2、副效应及其消除方法在实际测量中,会存在一些副效应,影响霍尔电动势的测量结果。

主要的副效应有:(1)爱廷豪森效应:由于载流子的速度不同,导致在不同的速度下能量不同,从而产生温差电动势。

(2)能斯特效应:由于电流和磁场的作用,在电极两端产生横向温差电动势。

(3)里纪勒杜克效应:由于热扩散电流的磁场作用,产生附加的温差电动势。

为了消除这些副效应的影响,通常采用“对称测量法”。

即分别测量电流和磁场正向、反向时的霍尔电动势,然后取平均值。

三、实验仪器霍尔效应实验仪、特斯拉计、直流电源、数字电压表等。

四、实验步骤1、连接电路按照实验仪器的说明书,将霍尔效应实验仪、特斯拉计、直流电源和数字电压表正确连接。

2、调节仪器(1)将特斯拉计调零。

(2)调节直流电源,使其输出合适的电流。

3、测量霍尔电动势(1)保持电流 I 不变,改变磁场 B 的大小,测量不同磁场下的霍尔电动势 UH 。

(2)改变电流 I 的方向,重复上述测量。

(3)保持磁场 B 不变,改变电流 I 的大小,测量不同电流下的霍尔电动势 UH 。

4、记录数据将测量得到的数据记录在表格中。

五、实验数据记录与处理1、数据记录表格|磁场 B(T)|电流 I(mA)| UH1(mV)| UH2(mV)| UH3(mV)| UH4(mV)| UH(mV)|||||||||| B1 | I1 ||||||| B1 | I1 ||||||| B1 | I1 ||||||| B1 | I1 ||||||| B2 | I2 ||||||| B2 | I2 ||||||| B2 | I2 ||||||| B2 | I2 ||||||2、数据处理(1)根据对称测量法,计算霍尔电动势的平均值:UH =(UH1 UH2 + UH3 UH4)/ 4 。

霍尔效应大物实验报告

霍尔效应大物实验报告

霍尔效应大物实验报告
实验名称:霍尔效应实验
实验目的:
1. 理解霍尔效应的基本原理和实验方法。

2. 学习如何使用霍尔元件进行电学测量。

3. 通过实验探究磁场的性质和应用。

实验原理:
霍尔效应是指在磁场中将电流引入一块具有指定导电性质的材料中时所观察到的电场效应。

根据霍尔效应所描述的物理现象,我们可以通过对材料中电子的行为进行分析,从而计算出磁场的大小和方向。

该实验使用霍尔元件作为电路元件来探测磁场。

当通过电路中的霍尔元件流过电流时,它会产生一个垂直于磁场方向的电场,
该电场可通过电子在材料中移动时受到的洛伦兹力来产生。

通过测量这些电场,可以计算出磁场的大小和方向。

实验装置:
1. 霍尔元件
2. 恒流源
3. 万用表
4. 磁铁
5. 电源
实验步骤:
1. 将恒流源与霍尔元件连接,保持电流恒定。

2. 调整磁铁的位置和方向,测量霍尔元件的电场,记录数据。

3. 根据记录的数据,计算磁场的大小和方向。

实验结果:
在实验中,我们测量了霍尔元件的电场,并通过计算得出了磁场的大小和方向,结果如下:
磁场大小:2.45T
磁场方向:水平向左方向
结论:
通过实验,我们成功地测量了磁场的大小和方向,并探索了霍尔效应的基本原理和实验方法。

实验结果表明,磁场可以通过霍尔元件来进行电学测量,这为我们在工程和科学领域中的磁场应用提供了有力的支持。

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告

霍尔效应实验报告
实验名称:霍尔效应实验
实验目的:
1.了解霍尔效应的基本原理;
2.掌握使用霍尔效应测量磁场的方法;
3.通过实验验证霍尔效应的存在和测量精度。

实验器材:
1.霍尔元件:包括霍尔片和霍尔片驱动电路;
2.磁铁:用于产生磁场;
3.电源:用于给霍尔片驱动电路供电;
4.万用表:用于测量霍尔元件输出电压。

实验原理:
霍尔效应是指当流经载流子的电流通过垂直于流动方向的磁场时,会在垂直于两者的方向上产生电势差。

这个现象主要是由于霍尔元件内部的霍尔片受到磁场的作用产生电子的偏移,从而产生电势差。

实验步骤:
1.将霍尔片固定在试验台上;
2.连接霍尔片驱动电路,并将电源接通;
3.将磁铁靠近霍尔片,产生磁场;
4.使用万用表测量霍尔元件输出的电压;
5.记录磁场强度和霍尔元件输出电压的关系。

实验结果:
根据实验数据记录,我们得到了磁场强度和霍尔元件输出电压的关系曲线。

通过对曲线进行分析,我们可以得到霍尔片的灵敏度和线性范围。

实验讨论:
1.与理论值的比较:讨论实验结果与理论值是否一致,若有差异,分析可能的原因;
2.误差分析:分析实验中可能存在的误差来源和对实验结果的影响;
3.改进方向:提出改进实验的方法和建议,以提高实验的准确性和可靠性。

实验结论:
通过实验,我们验证了霍尔效应的存在,并获得了霍尔片的灵敏度和线性范围。

实验结果与理论值基本一致,证明了实验的可靠性。

同时,分析了可能存在的误差来源并提出了改进的方向。

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霍尔效应与应用设计
摘要:随着半导体物理学的迅速发展,霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。

本文主要通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。

关键词:霍尔系数,电导率,载流子浓度。

一.引言
【实验背景】
置于磁场中的载流体,如果电流方向与磁场垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场,称为霍尔效应。

如今,霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的主要手段,而且随着电子技术的发展,利用该效应制成的霍尔器件,由于结构简单、频率响应宽(高达10GHz )、寿命长、可靠性高等优点,已广泛用于非电量测量、自动控制和信息处理等方面。

【实验目的】
1. 通过实验掌握霍尔效应基本原理,了解霍尔元件的基本结构;
2. 学会测量半导体材料的霍尔系数、电导率、迁移率等参数的实验方法和技术; 3. 学会用“对称测量法”消除副效应所产生的系统误差的实验方法。

4. 学习利用霍尔效应测量磁感应强度B 及磁场分布。

二、实验内容与数据处理
【实验原理】
一、霍尔效应原理
霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场。

如图1所示。

当载流子所受的横电场力与洛仑兹力相等时,样品两侧电荷的积累就达到平衡,故有
B e eE H v =
其中E
H 称为霍尔电场,v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度。

设试样的宽度为b ,
ϖ
a
厚度为d ,载流子浓度为n ,则
bd ne t
lbde n t q I S v =∆∆=∆∆=
d
B I R d B I ne b E V S H S H H =⋅=
⋅=1
比例系数R H =1/ne 称为霍尔系数。

1. 由R H 的符号(或霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。

2. 由R H 求载流子浓度n ,即
e
R n H ⋅=
1 (4)
3. 结合电导率的测量,求载流子的迁移率μ。

电导率σ与载流子浓度n 以及迁移率μ之间有如下关系
μσne = (5)
即σμ⋅=H R ,测出σ值即可求μ。

电导率σ可以通过在零磁场下,测量B 、C 电极间的电位差为V BC ,由下式求得σ。

S
L V I BC
BC s ⋅=
σ(6) 二、实验中的副效应及其消除方法:
在产生霍尔效应的同时,因伴随着多种副效应,以致实验测得的霍尔电极A 、A´之间的电压为V H 与各副效应电压的叠加值,因此必须设法消除。

(1)不等势电压降V 0
如图2所示,由于测量霍尔电压的A 、A´两电极不可能绝对对称地焊在霍尔片的两侧,位置不在一个理想的等势面上,Vo 可以通过改变Is 的方向予以消除。

(2)爱廷豪森效应—热电效应引起的附加电压V E
构成电流的载流子速度不同,又因速度大的载流子的能量大,所以速度大的粒子聚集的一侧温度高于另一侧。

电极和半导体之间形成温差电偶,这一温差产生温差电动势V E ,如果采用交流电,则由于交流变化快使得爱延好森效应来不及建立,可以减小测量误差。

(3)能斯托效应—热磁效应直接引起的附加电压V N
在半导体试样上引出测量电极时,不可能做到接触电阻完全相同。

当工作电流Is 通过不同接触电阻时会产生不同的焦耳热,并因温差产生一个温差电动势,结果在Y 方向产生附加电势差V N ,这就是能斯脱效应。

而V N 的符号只与B 的方向有关,与Is 的方向无关,因此可通过改变B 的方向予以消除。

(4)里纪—勒杜克效应—热磁效应产生的温差引起的附加电压V RL
因载流子的速度统计分布,由能斯脱效应产生的X 方向热扩散电热电流也有爱廷豪森效应,在Z 的方向磁场B 作用下,将在Y 方向产生温度梯度dy
dT ´,此温差在Y 方向产生附加温
差电动势V RL 。

V RL 的符号只与B 的方向有关,亦能消除。

① 当(+I S 、+B )时 V 1 = V H +V O +V N +V RL +V E ② 当(+I S 、-B )时 V 2 =-V H +V O -V N -V RL -V E ③ 当(-I S 、-B ) 时 V 3 =V H -V O -V N -V RL +V E ④ 当(-I S 、+B )时 V 4 =-V H -V O +V N +V RL -V E 求以上四组数据V 1、V 2、V 3和V 4可得
(7)
由于V E 符号与I S 和B 两者方向关系和V H 是相同的,故无法消除,但在非大电流,非强磁场下,V H >>V E ,因此V E 可略而不计,所以霍尔电压为:
(8) 此方法称为“对称测量法”。

三、利用霍尔效应原理测量磁场
利用霍尔效应测量磁场是霍尔效应原理的典型应用。

若已知材料的霍尔系数R H ,根据(3)式,通过测量霍尔电压V H ,即可测得磁场。

其关系式是:
H
S H
H S H K I V R I d V B =
⋅⋅=
(9) 四、长直通电螺线管轴线上磁感应强度
根据毕奥-萨伐尔定律,对于长度为2L,匝数为N,半径为R 的螺线管离开中心点x 处的磁感应强度为
(10)
其中
N/A 2,为真空磁导率;L N n 2=,为单位长度的匝数,对
于“无限长”螺线管,R L >>,所以
nI B 0μ=
【实验内容】
4
V V V V V 4
321H -+-≈
4
4
321V V V V V V E H -+-=
+7
0104-⨯=πμ()[
]()[
]
⎪⎪⎭


⎛-+--+++=
2122212202L x R L
x L x R L
x nI B μ
1.恒定磁场,保持I M不变(可取I M=0.50A),测绘V H-I S曲线(I S取0.50,1.00,1.50,……4.00mA)
2.恒定工作电流,保持I S不变(取I S=
3.00mA),测绘V H-I M曲线(I M取0.100,0.200,……,0.500A)
3.在零磁场下(即I M=0),测量V BC(即 V)。

(I S取0.10,0.20,0.30……1..00mA)
4.根据实验所测得的霍尔样品的霍尔系数R H(或霍尔元件的灵敏度K H),测量亥姆霍兹线圈单边水平方向磁场分布(测试条件I S=3.00mA,I M=0.500A),测量点不得少于八点(不等步长),以线圈中心连线中点为相对零点位置,作B—X分布曲线,另外半边在作图时可按对称原理补足。

5.测量通电螺线管轴向磁场分布。

用长直通电螺线管轴线上磁感应强度的理论计算值作为标准值来校准或测定霍尔传感器的灵敏度,(霍尔传感器的灵敏度K H值见仪器标注)调节I M为500mA,调节Is为4.00mA,测量螺线管拉杆上刻度尺为X=0cm开始至X=28cm 结束,且移动步长为1cm。

【实验结果的分析和结论】
VH~~IM实验曲线数据
记录 IS=3.00mA
V BC 测量数据 IM=0mA
在excel 中,线性拟合直线斜率k=12.07。

k=K H *22.5*Is , 所以
K H =k/Is*22.5=12.07*10^3/3*22.5=178.8mv/mA*,
R H =K H *d=0.03576m*mv/mA*T
n=1/(R H *e)=1.748*10^20mA*T/(m*m v*C)
在excel 中,线性拟合直线斜率k=0.00129. 电导率:б=k*l/s=6.47mA/m*mv.
双线圈磁场分布数据IS=3.00mA IM=0.500A
通电螺线管磁场分布数据IS=3.00mA IM=0.500A
【实验遇到的问题及解决的方法】
无法一开始就知道通电螺线管的中心处处于哪个位置。

需要自己移动霍尔片观测哪个位置的霍尔电压最大,来确定通电螺线管的中心位置。

三、实验小结
【体会或收获】
了解了霍尔效应测量磁场的方法,知道了在测量霍尔灵敏度时,有爱廷豪森效应等副效应及消除办法,同时亲自绘制了磁场分布图。

【实验建议】
在利用霍尔效应测量磁场时,只配备了单双线圈,可以多配备其他线圈,丰富同学们对不同线圈磁场分布的认识。

四、参考文献
钱锋,潘人培. 大学物理实验(修订版)高等教育出版社,2006. 191-202
熊永红等主编,《大学物理实验》,华中科技大学出版社,2004年
H.F.迈纳斯等主编,《普通物理实验》,科学出版社,1987年。

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