2015第3次课 第三章 异质结的能带图
异质结的能带图剖析PPT课件
(4.17)
4.1.3 隧穿机制
J Js (T)exp(AV )
隧道电流表现出来的特点是lnJ-V 的曲线斜率和温度无关。
(4.18)
Lg(J)
T1 T2 T3
V 第22页/共34页
4.2 异质结的注入比
电子面临的势垒下降:VD-EC
空穴面临的势垒上4升. 2: V异D+质E结v 的 注 入 比
第8页/共34页
4.1突变异质结的伏安特性
ΔEC
(a) 低尖峰势垒 由n区扩散向结处的电子流可以 通过发射机制越过尖峰势垒进入 p区.因此异质pn 结的电流主要有 扩散机制决定-扩散模型.
qVD1 ΔEV
qVD2
( b) 高尖峰势垒
由n区扩散向结处的电子, 只有能量
高于势垒尖峰的才能通过发射机
qVD2
qV k0T
)
1]exp(
x1 Ln1
)
exp(
x Ln1
)
电子扩散电流密度
Jn qD | [exp( ) 1] d[n1(x)n10 ]
qDn1n10
qV
n1
dx
x x1 第1L5n页1 /共34页 k0T
(4.5)
p2从0 p型区p1价0 带ex底p到(n型(q区VDk价0T带E底v )的势垒高度(为4.6)
式中D为常数。 同质结:Eg=0,r=D。 异质结:r 随着Eg呈指数上升。 例如了E,七g=在十0.p3四-3Ge万VaA,倍s/结。N果在-A注同l0.3入样Ga比的0.7r正A高s向异达电质7.4压结×下中10,,5,可它因以们而获的注得入更比高提的高
注入电子浓度。
对于晶体管和半导体激光器等器件来说, “注人比” 是个很重要的物理量, 它决定晶体管的放大倍数 、激光器的注人效率和阐值电流密度, 因为总电流中 只有注人到基区或有源区中的少数载流子, 才对器件的 功能发挥真正的作用所以, 用异质结宽带隙材料作发射 极, 效率会很高, 这是异质结的特性之一
2015第4次课第三章异质结的能带图2解析
? The XPS technique could cause damage to the surface, but it is negligible.
X-Rays and the Electrons
3.2节 异质结的能带偏移
?异质结的形成 ?导带带阶和价带带阶 ?带阶的计算 ?实验确定 ?测量的尺
影响能带偏移的因素: 1.工艺:MBE 2.异质结界面的晶向
极性表面时,界面处存在偶极矩,影响能带偏移 3. IV 和III-V , II-VI 和III-V 时界面处,原子交 换反应.形成原子偶极距.
原理
采用光子作为探针的分析方法 .采用x线或紫外光使放在 超高真空中的固体样品内的电子向外飞出 .通过测量电 子的能量和强度就可以得到物质内固有的电子结合能 .
Sampling depth: 20-100 A
X射线光电子能谱是瑞典Uppsala大学 K.Siegbahn(西格巴恩)及其同事经过近20年 的潜心研究而建立的一种分析方法。 K.Siegbahn给这种谱仪取名为化学分析电子能 谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),简称为“ESCA”,这一称谓仍在 分析领域内广泛使用。
level the neutral solid is in its “ground state.”
Lowest state of energy
Why Does XPS Need UHV?
? Contamination of surface
– XPS is a surface sensitive technique. ? Contaminates will produce an XPS signal and lead to incorrect analysis of the surface of composition.
异质结
N AND pn n ≈ k BT ln 1 2 = k BT ln 2 ni2 n1 p1 n1
即内建电势取决于两种半导体载流子浓度的比值。具体到pN结,取 决于N型半导体中的多子(电子)与p型中的少子(电子)浓度比。
§2.3 半导体异质结
根据《半导体物理》的结论,p区和N区各自的内建电势分别是 2 eN A x 2 eN N x N p , VDN = VDp = 2ε p 2ε N 若近似认为,正负电荷在耗尽层是均匀分布的,则电中性条件为
Space charge region
Vo
(f)
x
nno ni
npo
(c)
PE(x) eVo Hole PE(x)
pno
ρnet
x=0 M x
x Electron PE(x)
(g)
eNd
W 杴p Wn
x
(d)
eV 杴o
-eNa
Properties of the junction. pn
§2.3 半导体异质结
由两种性质带隙宽度不同的半导体材料通过一定的生长方法所形成一突变异质结pn1pn结的形成与能带图窄带隙的p型半导体与宽带隙的n型半导体生长一起时界面处出现了载流子的浓度差于是n中的电子向p中扩散相反p中的空穴也会向n中扩散在界面形成空间电荷内建电场e扩散迁移23半导体异质结1960年anderson用能带论分析了pn结的形成与有关问题直观而深刻并得到一些十分有用的结论称为anderson模型
3、载流子的输运 Anderson模型:零偏压时,由N向p越过势垒VDN的电子流应与从p到 N越过势垒∆Ec-VDp的电子流相等,即
∆E − eVDp eV = B2 exp − DN B1 exp − c k T k BT B D N D N B1 = e ⋅ n 2 10 , B2 = e ⋅ n1 20 Ln 2 Ln1 Ln1 = Dn1τ e1 , Ln 2 = Dn 2τ e 2
第3章 异质结构
1
突变结:在异质结界面附近,两种材料的组
分、掺杂浓度发生突变,有明显的空间电荷 区边界,其厚度仅为若干原子间距。
缓变结:在异质结界面附近,组分和掺杂浓
度逐渐变化,存在有一过渡层,其空间电荷 浓度也逐渐向体内变化,厚度可达几个电子 或空穴的扩散长度。
同型异质结:导电类型相同的异质结
如:N‐AlxGa1‐xAs/n‐GaAs, p‐GexSi1‐x/p‐Si
EC1
EC2 EC2
VDN EV 2 EV2
VDp Eg2
EDp Eg Eg2
EC
2
eND 2 2
eNA ( 21 xN 2
xp x)2 (xN x)2
x xp xp ≤x 0
0 x ≤xN xN x
x xp xp ≤x 0 0 x ≤xN
eV D F1 F2 F
依据这一分析,很容易发现异质结界面无论是导带还是价 带都会出现不连续性。导带底和价带顶的这种不连续性 分别为EC和EV:
Eg Ec Ev (Eg 2 Eg1)
Ec 1 2 Ev Eg Ec Eg
1. 异质结的带隙差等于导带差同价带差之和。 2. 导带差是两种材料的电子亲和势之差。 3. 而价带差等于带隙差减去导带差。
16
8
17
自建电场E的作用下,电子和空穴的飘移电流分别为:
ins n E ne n E
ips p E pe p E
从泊松(Poisoon)方程出发,利用D =(E)=式,推导出 电子和空穴的扩散电流分别为:
i nd
eDn
dn dx
i pd
eD p
dp dx
流经异质i结n 界i面ns 的i空nd 穴 电ne流 n等E于空eD穴n的ddn飘x 移电流:
异质结
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.2 异质结的电学特性
3.2.1 突变异质结的I-V特性
突变异质结I-V模型:扩散模型、发射模型、发射-复合模 型、隧道模型、隧道复合模型。 同质结I-V模型:扩散和发射模型
两种势垒尖峰: (a)低势垒尖峰负反向势垒 (b)高势垒尖峰正反向势垒
Dai Xianying
3.11 突变同型nn异质结平衡能带图
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
2)突变同型异质结能带图
3.12 突变同型pp异质结平衡能带图
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
2、考虑界面态时的能带图
Dai Xianying (a)单量子阱
(b)多量子阱
(c)超晶格 化合物半导体器件
3.4 多量子阱与超晶格
多量子阱(a)和超晶格(b)中电子的波函数
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.4 多量子阱与超晶格
3.4.1 复合超晶格
1、Ⅰ型超晶格
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.4 多量子阱与超晶格
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
3、渐变异质结能带图
1)渐变的物理含义 2)渐变异质结的近似分析:能带的叠加 3)渐变能级
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.3 突变反型异质结的接触势垒差及势垒区宽度
推导过程参考刘恩科等著 《半导体物理》第9章
2015第4次课 第三章 异质结的能带图(2)解析
1制样:在GaAs衬底上生长出一层厚度约为数十埃的AlAs层. 2测量:用已知波长的x光照射样品,分别由GaAs层和AlAs层中激 发出光电子,测量光电子的能量求出Ga3d和Al2p态电子的束缚能 ; 3由公式(3.2.7)式求出DEv.
2
1
2
X光光电子发射谱方法是 一种比较准确的测量能带不连续的方 法,准确度可达到0.02电子伏,它带有基本物理测量的性质。
h3
1 C2
2( 1 N A1 2 N D 2 ) q1 2 N A1 N D 2
(VD V )
C-2
-
p n
+ 0 VD V
Ec qVD 2 (Eg1 1 )
(3.33)
3.2.3 耗尽层法测 band offset
同型异质结
Ec 1 qVD1 qVD 2 2 Ec qVD 2 1
按入射光分类:
X射线: X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA).(1-2keV) ( core level electron) 紫外光: Ultravialet photoelectron spectroscopy (UPS) (<50eV) (from valence band)
测量原理
测量装置示意图
Energy Levels
Vacumm Level Ø, which is the work function
Fermi Level
BE
At absolute 0 Kelvin the electrons fill from the lowest energy states up. When the electrons occupy up to this level the neutral solid is in its “ground state.”
第三章 异质结能带图
qVD 2 qV2 qV1 J A exp( ) exp( ) exp( ) kT kT kT
qVD1 EC
(3)第三种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
qVD1 EC
Eg2
Eg1
qVD1 此种情况伏安特性关系式为: ΔEV qVD2
伏安特性关系式为:
qVD EC qV J B exp( ) exp( ) 1 kT kT
(2)第二种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
qVD2
qVD1
ΔEC
Eg1
Eg2
伏安特性关系式为:
qV J B exp( ) 1 kT
1 2 ,1 2 , 2 1 Eg1
(1)第一种情况
第一种情况能带图的伏安特性关系式为:
EC qVD 2 qV2 qV1 J Ad exp( ) exp( ) exp( ) kT kT kT
其中,Ad
qND 2
D n1 Ln 2
(4)第四种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
qVD1 EC
Eg2 Eg1 qVD1
ΔEV
qVD2
此种情况与第三种情况能带图qVD1>ΔEc时的伏安特性关系式相同
(4)第四种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
kT 1/ 2 ) 2m p
(2)第二种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
Eg1
qVD1 ΔEV
Eg2
qVD
2
2015第4次课 第三章 异质结的能带图(2)
Three types of samples were grown on Si111 substrates for PES measurements: 1 InN/AlN heterojunctions 2 nm/100 nm in thicknesses, 2 650-nm-thick InN epilayers, 3 130-nm-thick AlN epilayers.
EcGaAs
EvGaAs
GaAs EGa 3d
Ec
EcAlAs
EF
Ev
EvAlAs
E B
AlAs E Al 2p
GaAs GaAs AlAs AlAs EV EB (EV EGa ) ( E E 3d V Al 2 P ) (3.32)
• △EB是GaAs和AlAs中的Ga3d和Al2p芯电子的束缚 能之差,可以用光电子谱测出,
+ (E cl) InN/AlN. 17.04 57.56 71.50 3.10eV
3.2.2 C-V 截距法测 band offset
对于一个突变异质p-n结,内建势可以通 过C-V测量求出,进而求出导带带阶
异型异质结
Ec qVD 2 2 ( Eg1 qVD1 1 ) q(VD 2 VD1 ) 2 ( Eg1 1 ) Ec qVD 2 ( Eg1 1 ) (3.33)
耗尽层近似方法
C
dQ qAN (W ) dW (3.40) dV dV dC ( A dW ), dW A dC dV dV C 2 dV W 2 dV
C A W
(3.41)
C qAN (W ) dW dV (3.42) (3.43)
《半导体光电子学课件》下集2.1异质结及其能带图
将异质结泡在溶液中,在合适的条件下生长形成异质结材料。
异质结效应
拉克特效应
异质结的巨拉克特效应提供了 高灵敏度和高速度的光电转换。
异பைடு நூலகம்结电阻效应
由于材料性质差异带来的电阻 变化,用于电子器件中的控制 和调节。
热电效应
利用异质结在温度梯度下产生 的热电势差实现能量转换。
异质结失效机制
惯性效应
当异质结材料无法快速响应外界变化时,会产 生失效。
通过施加电场,改变异质结的 材料电位差,形成能带结构的 变化。
外界压力作用下的形 成
外界压力对异质结材料的物理 和结构性质的影响,使能带发 生变化。
掺杂作用下的形成
通过对材料进行掺杂,引入杂 质能级,改变能带结构。
异质结应用
1 光伏电池
异质结是光伏电池的关键构件,转换太阳能 为电能。
2 激光器
异质结的能带结构和电子能级分布是激光器 实现激光输出的基础。
损耗效应
由于能带结构和电子能级的变化,异质结材料 会发生能量损耗。
串扰效应
异质结中的电场和电子状态相互影响,导致器 件性能下降。
失效测试方法
通过对异质结性能的测试和分析,判断异质结 是否失效。
总结
异质结的重要性
异质结在半导体器件中起着重要的作用,广泛应用 于光电子学领域。
展望其未来的应用
随着技术的不断发展,异质结将在能源、通信和信 息等领域有更广泛的应用。
能带结构
能带简介
能带描述了材料中电子的能量分 布情况,直接影响半导体的导电 性能。
能带在异质结中的分布
异质结中的能带分布受到材料性 质差异的影响,形成能带弯曲或 偏移。
常见异质结的能带图
第三章 能带理论ppt课件
V1
差别越大,影响越小。
k 1 k k1 k 2
4. 布里渊边界处的态
▪ 当时,k=nπ/a 上面的微扰计算不适用
▪ 如 k=π/a 和 k’= -π/a 是简并的 ▪ 即:在布里渊区边界的态,要考虑简并问题
▪ 考虑两个态:
k n (1)
a
k' k n 2 n (1 )
a
a
n
n
a
a
.
▪ 类似于两个波形成共价键的处理方法:
二、K的值及物理意义
K的意义:K是Bloch波的波矢,但hK并不 是电子的动量。
hK被称为“晶体动量”,K是描述电子状 态的一个量子数。
.
思考复习
1. 简单说明原子的能级与固体能带间的联
系
2. 什么是Born——Oppenheimer 绝热近似?
解释该近似的根据。
3. 能带论的单电子近似采用哪些近似? 4. 简述布洛赫定理 。试说明电子布洛赫
简约波矢 k
▪ 第m个带(不含简约区)的波矢 2
k k m a.
▪ 可以把各个带的态都在简约区内表示。
E
k
.
§4-3 三维周期场中电子运动 的近自由电子近似
一维的讨论可以推广到二维、三维 一、模型
2m 2 /2V(r)(r)E(r)
V (r) V (rR n)
.
0—级近似
空盒子模型
k0(r)
2m 2 dd22tV0(x)E00(x)
.
▪
零阶解:
kl
l 2,
Na
l:整数
Ek0
2k2 2m
V
k0(x)
1 eikx L
解为平面波——因为忽略了晶格势的变化
半导体异质结构
半导体异质结构1半导体异质结及其能带图异质结由两种不同的半导体单晶材料组成的结,称为异质结。
半导体异质结的能带图反型异质结指由导电类型相反的两种不同的半导体单晶材料所形成的异质结。
例如p型Ge与n型GaAs所形成的结——p-nGe-GaAs(或(p)Ge-(n)GaAs)——一般把禁带宽度较小的半导体材料写在前面。
同型异质结指由导电类型相同的两种不同的半导体单晶材料所形成的异质结。
例如n型Ge与n型GaAs所形成的结——p-pGe-GaAs(或(p)Ge-(p)GaAs)突变型异质结一种半导体材料向另一种半导体材料的过渡只发生于几个原子距离范围内不考虑界面态时的能带图突变反型异质结能带图由于n型半导体的费米能级较高,电子将从n型半导体流向p型半导体,同时空穴在与电子相反方向流动,直至Ef=Ef1=Ef2——热平衡状态。
此时,材料交界面的两边形成了空间电荷区(即势垒区或耗尽层)。
n型半导体一侧为正空间电荷区,p型半导体一侧为负空间电荷区,且电荷数相等(由于不考虑界面态),空间电荷区间产生电场,也称为内建电场,所以电子在空间电荷区中各点有附加电势能,使空间电荷区中的能带发生了弯曲。
尖峰与凹口能带突变突变同型异质结能带图形成异质结时,由于禁带宽度大的n型半导体的费米能级比禁带宽度小的高,所以电子将从前者流向后者。
结果在禁带宽度小的n型半导体一边形成了电子的积累层,而另一边形成了耗尽层。
对于反型异质结,两种半导体材料的交界面两边都成为了耗尽层;而在同型异质结中,一般必有一边成为积累层。
尖峰与凹口能带突变考虑界面态时的能带图1.形成异质结的两种半导体材料的晶格失配,需要引入界面态。
2.由于晶格失配,在两种半导体材料的交界面处产生了悬挂键,引入界面态。
3.当具有金刚石结构的晶体的表面能级密度在10¹³cm-²以上时,在表面处的费米能级位于禁带宽度的越1/3处——巴丁极限。
4.对于n型半导体,悬挂键起受主作用,因此表面处的能带向上弯曲。
2015第3次课第三章异质结的能带图详解
电子亲和势:电子由导带底跃迁到真空能级所需 的能量,=E0-Ec
f
Ec
Ef Ev
let f be the work function, which is the energy difference between the vacuum level and the Fermi level.
功函数f:电子由费米能级至自 由空间所需的能量,f=E0-F
GaAsSb InGaAs
根据半导体物理理论,这种分离效 应可以有效抑制材料载流子的俄歇 复合。任何光子探测器,随着温度 的升高,最终的效率极限都将是材 料中载流子的俄歇复合。目前最好 的红外探测器材料碲镉汞的最终性 能极限就是载流子的俄歇复合,如 果禁带错位型类超晶格结构如预期 的那样能将电子、空穴物理分离, 实现对俄歇复合的有效抑制。
它等于两种材料的费米能级差:
qVD qVD1 qVD 2 E f 2 E f 1 (3.4)
如何画接触后的异质结能带图 接触前
EC EF2
接触后
EC EF2
Eg1
EF1
Eg2
Eg1
EF1
Eg2
1. Align the Fermi level with the two semiconductor bands separated. Leave space for the transition region.
x1
x2
EC2
Ec1
DEc
Eg1
DEC 1 2 (3.1)
Ev1
DEv
DEv ( Eg 2 Eg1 ) ( 1 2 ) (3.2) DEv DEc ( Eg 2 Eg1 ) (3.3)
Ev2
第三章 异质结能带图
J A exp(
EV qVD qV ) exp( ) 1 kT kT
A qNA2
DP1 LP1
(2)第二种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
Eg2 Eg1
qVD1 ΔEV qVD2
1 2 ,1 2 , 2 1 Eg1
(1)第一种情况
第一种情况能带图的伏安特性关系式为:
EC qVD 2 qV2 qV1 J Ad exp( ) exp( ) exp( ) kT kT kT
其中,Ad
qND 2
D n1 Ln 2
1 2 , 1 2
qVD2
Eg2 Eg1
Eg2 ΔEV qVD2
Eg1 qVD1
ΔEV
qVD1
1 2 Eg 2
1 2 Eg 2
第一种情况能带图的伏安特性关系式为:
EV qVD 2 qV qV J A exp( ) exp( 2 ) exp( 1 ) kT kT kT
qVD 2 qV2 qV1 J A exp( ) exp( ) exp( ) kT kT kT
qVD1 EC
(3)第三种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
qVD1 EC
Eg2
Eg1
qVD1 此种情况伏安特性关系式为: ΔEV qVD2
(1)第一种情况
1 2 ,1 2 , 1 Eg1 2 Eg 2
Eg2
Eg1
qVD1
伏安特性关系式为:
ΔEV
qVD
2
能带图画法
Ee分布
ΔEe=‒qΔV
能带图
移带
定界
补齐费米
快速画法
想象能带是一块长方形粘土并运用以下法则。和传统画法口诀有重复,纯粹为押韵。
扭带定端
像扭动粘土一样扭动能带,保持能带深处(远端)平直、禁带宽度不变和能带接触端面(近端)落差不变。
浓窄浅宽
载流子浓度大的地方能带扭曲区( =势垒/阱区=空间电荷区)窄,且曲率大(根据泊松方程)。反之宽且曲率小。因为浓度大处电阻小承担压降小,反之同理。金属永远几乎不弯。
可崩可穿
雪崩和隧穿都会产生破坏正常→电场E分布→电压V分布→电势能Ee分布→结构能带图
依据原理
P-N结
异质结(某例)
金半接触(某例)
半导体-绝缘体
材料能带图
费米能级高流低
净电荷密度ρ
分布
电中性,
掺杂/载流子浓度
电场E
分布
高斯定律
dE/dx=ρ/ε
(一维)
泊松方程
电压V
分布
电压定义
E=‒dV/dx
(一维)
费米齐全
扭动结果是两边费米能级齐平。根据费米能级与导/价带关系,补全电子和空穴在能带图上的浓度分布图,形成可直接用来分析结构行为的热平衡能带图。
画到这一步时,达到与传统画法相同的结果。接下来是快速定性分析。
阻直通弯
在异质材料互连时,定端原则会形成两种端面形状,直角端面和弯角端面。在端面两侧允能带上都有多数载流子且形成肖特基势垒接触形态时,直角侧载流子向对面的注入电流几乎为零且不随结电压变化而变化,弯角侧载流子注入电流随结电压指数变化。都弯就都指数。
化合物半导体器件第三章半导体异质结全解
图3.3 晶格失配形成位错缺陷 (张)应变Si示意图
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
图3 半导体能带边沿图
Dai Xianying
图4 孤立的n型和p型半导体能带图
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
(以突变异质结为例)
2、考虑界面态时的能带图
3)降低界面态 4)界面态的类型 5)巴丁极限
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
2、考虑界面态时的能带图
6)考虑界面态影响的异质结能带示意图
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
3、渐变异质结能带图
Dai Xianying
化合物半导体器件
第三章
• • • • •
半导体异质结
异质结及其能带图 异质结的电学特性 量子阱与二维电子气 多量子阱与超晶格 半导体应变异质结
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.2 异质结的电学特性
3.2.1 突变异质结的I-V特性
突变异质结的I-V模型:扩散模型、发射模型、发射-复合 模型、隧道模型、隧道复合模型。
两种势垒尖峰: (a)低势垒尖峰负反向势垒 (b)高势垒尖峰正反向势垒
Dai Xianying
(a) (b) 图3.8 异型异质结的两种势垒示意图 (a)负反向势垒;(b)正反向势垒
化合物半导体器件
3.2 异质结的电学特性
1、低势垒尖峰(负反向势垒异质结)的I-V特性
特征:势垒尖峰低于p区的EC
2015第4次课 第三章 异质结的能带图(2)
has been determined by photoelectron spectroscopy to be 3.10±0.04 eV.
Three types of samples were grown on Si111 substrates for PES measurements: 1 InN/AlN heterojunctions 2 nm/100 nm in thicknesses, 2 650-nm-thick InN epilayers, 3 130-nm-thick AlN epilayers.
2
1
1
2
X光光电子发射谱方法是 一种比较准确的测量能带不连续的方 法,准确度可达到0.02电子伏,它带有基本物理测量的性质。
Valence band offset of wurtzite InN/AlN heterojunction determined by photoelectron spectroscopy
q12N A 1N D 2
D
C-2
- pn +
0 VD
V
E c q V D 2 ( E g 1 1 ) ( 3 .3 3 )
3.2.3 耗尽层法测 band offset
同型异质结
Ec 1 qVD1 qVD2 2
Ec qVD 2 1
(3.34)
2
Ec
EF
kT
ln
Lowest state of energy
Why Does XPS Need UHV?
• Contamination of surface
– XPS is a surface sensitive technique. • Contaminates will produce an XPS signal and lead to incorrect analysis of the surface of composition.
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) (3.14)
2 qN D( 2 ( x 2 x0 ) 2 2
qN A1 (x 0 x1 )2 2ε 1
2 qN D( 2 ( x 2 x0 ) 2 2
(3.15)
耗尽层宽度和掺杂的关系
势垒区内正负电荷总量相等。
qN A1 ( x0 x1 ) qND 2 ( x2 x0 ) ( x0 x1 ) N D 2 ( x2 x0 ) N A1 (3.16)
(3.21) (3.22)
内建电场计算
f1
E EF n0 N C exp C k BT
x2
x1
DEc
f2
EC2 EF2
E EV p0 NV exp F k BT
NV
Eg1
EF1
Ev1
Eg2
2m k T 2
* h
3/ 2
V2 VD
} (x0 x x2 ) (((3.13)
(x1 x x0 )
VD1 V1 ( x0 ) VD (VD VD 2 VD
qN A1 (x 0 x1 )2 2ε 1
VD 2 V2 ( x2 ) V2 ( x0 )
2 qN D( 2 x 2 x0 ) 2 2
电子从一种半导体大量流入到另一种 半导体,使一种半导体存在大量电子 ,而另一种存在大量空穴。使它们具 有导电能力,具有半金属性质。
GaSb
InAs
利用分子束外延生长高质量GaAs基GaSb体材料和 InAs/GaSb超晶格材料技术伏电池、新一代焦平面 多色红外探测器件等提供了重要的技术基础。
假定:
1,在异质结界面处不存在界面态和偶极态;
2 ,异质结界面两边的空间电荷层(或耗尽层 中),空间电荷的符号相反、大小相等;
3 ,异质结界面两边的介电常数分别为 1 和 2, 12,界面处的电场不连续: 1E1=2E2 E1 E2 。
泊松方程
dD ( x ) dx
( x)
2 ( 1 N A1 2 N D 2 ) q 1 2 N A1 N D 2
典型的能带突变形式
EC1 EC1 Ev1 EC2 EC1 Ev1 EC2 EC2
Ev1
Ev2
Ev2
Ev2
(a)Straddling
跨立型
(b) Staggered 错开型
(c) Broken gap 破隙型 GaSb
AlGaAs
GaAs
GaAsSb InGaAs
InAs
AlGaAs
GaAs
电子和空穴在空间分离
dV dx
dE dx
(3.5)
(3.6)
D( x) E
E
dD ( x ) dx
(3.7)
( x)
d dx
(
dV dx
) ( x)
dV 2 dx 2
3.8
势垒区中的电荷密度分布
x1 x x0 , x0 x x2 ,
1 ( x) qNA1 } 2 ( x) qND 2
能带突变的应用
a) b) c) d)
可以产生热电子 能使电子发生反射的的势垒 提供一定厚度和高度的势垒 能造成一定深度和宽度的势阱
DEc=0.07eV
DEv=0.69eV
DEc+ DEv= =0.76eV
3.1.2突变反型异质结的接触 电势差势垒区宽度
影响能带突变的因素
一 工艺过程 生长方法, 界面态 能带弯曲
Anderson's rule
• states that when constructing an energy band diagram, the vacuum levels of the two semiconductors on either side of the heterojunction should be aligned
GaAsSb InGaAs
根据半导体物理理论,这种分离效 应可以有效抑制材料载流子的俄歇 复合。任何光子探测器,随着温度 的升高,最终的效率极限都将是材 料中载流子的俄歇复合。目前最好 的红外探测器材料碲镉汞的最终性 能极限就是载流子的俄歇复合,如 果禁带错位型类超晶格结构如预期 的那样能将电子、空穴物理分离, 实现对俄歇复合的有效抑制。
1 2
d dV
[(VD V ) ]
1 2
(
2 q 1 2 N A1 N D 2 1 N A1 2 N D 2
) (VD V ) )
1 2
1 2
(
1 C2
q 1 2 N A1 N D 2 2 ( 1 N A1 2 N D 2 )(VD V )
(3.25) (3.26)
VD 2
ε 1N A1 2ND2 ε 1N A1
VD
(3.17) (3.18)
2 N D2 VD1 2 Nε VD ε D2 1N A1
(x 2 x0 ) (x 0 x1 )
2 2 1 N A1VD qN D 2 1 N A1 2 N D 2 2 1 2 N D 2VD qN A1 1 N A1 2 N D 2
二 异质结晶面的取向
极性半导体,组成半导体的两种原子具有不同的负电性 例如,GAAs, 半 导体中Ga和As对电子的束缚能力不同,当组成晶体时,电子更多地 偏向As原子一方. (110) : 电中性 (111) 极性- 偶极距 三 组成异质结的半导体特性 偶极距 应变
安德森(Anderson)能带模型
不考虑界面态时的能带结构
(一)能带图
1
2
A 突变反型
f1
x1 DE c Eg1
x2
f2
EC EF
由电子亲和能、禁 带宽度、导电类型、 掺杂浓度决定
Eg2 DE v
EF Ev
未组成异质结前的能带图
1异质结的带隙差等于导带差同价带差之 和。 2导带差是两种材料的电子亲和势之差。 3而价带差等于带隙差减去导带差。
h
B 3
价带有效状态密度 NC 导带有效状态密度
DEv
eVD [ Eg1 DEc ( E f 1 Ev1 ) ( Ec 2 E f 2 )] / q (3.23)
突变反型异质结的势垒电容
势垒区内电荷总量相等
Q qN A1 ( x0 x1 ) qND 2 ( x2 x0 ) Q qN A1 C
(3.1.1)能带图
Ec
Ec
A
B
Ev
Ev
Ec A B
Ec
Ev
Ev
什么是能带图?
能带结构 异质结界面两侧的导带极小值和价带最高值随坐标的变化。
vacuum level
Ec Ev
Let x be the electron affinity, which is the energy required to take an electron from the conduction band edge to the vacuum level,
(3.19) (3.20)
耗尽层主要落在杂质能度低的一侧。
有外加偏压时:
(x 2 x0 ) (x 0 x1 )
2 2 1 N A1 (VD V ) qN D 2 1 N A1 2 N D 2 2 1 1 N D 2 (VD V ) qN A1 1 N A1 2 N D 2
x1
x2
EC2
Ec1
DEc
Eg1
DEC 1 2 (3.1)
Ev1
DEv
DEv ( Eg 2 Eg1 ) ( 1 2 ) (3.2) DEv DEc ( Eg 2 Eg1 ) (3.3)
Ev2
p
n
P-GaAs
n-GaAs
当两种单晶材料组成在一起构成异质结后,它们处于平衡 态,费米能级应当相同。 为了维持各自原有的功函数 f和电子亲和势不变,就会形 成空间电荷区,在结的两旁出现静电势,相应的势垒高 度为eVD,e为电子电荷,VD为接触电势。
E dx
V1
2 qN A ( 1 x x1 ) 2 1 2 qN D( 2 x2 x ) 2 2
V2 VD
(x1 x x0 ) } (x0 x x2 )
(3.12)
接触电势差
VD VD1 VD 2
V1
2 qN A ( 1 x x1 ) 2 1 2 qN D( 2 x2 x ) 2 2
Thus the electric field is given by two in the depletion region and zero outside.
(x1 x x0 ) } (x0 x x2 )
(3.11)
p
n
x1
x0
x2
线性,在交界处不连续
电势分布
If we choose the reference potential to be zero for x <x1 we have dV
(3.9)
where again NA1 is the net acceptor concentration in the p side, and ND2 is the net donor concentration on the N side.
突变反型异质结的泊松方程
where 1 and 2 are the permittivity in the p and N regions,
内建电场=》空间电荷区中各点有附加电势能,使 空间电荷区的能带发生弯曲。