实验一--TTL门电路参数测试实验复习进程
实验一 TTL、三态门电路参数测试(实验内容)_2013.04
实验一 TTL 和 三态门电路参数测试
杭州电子科技大学
电工电子实验中心
一、实验所用器件型号及管脚排列
VCC
14
4A
13
4B
12 &O &O
4Y
11
3A
10
3B
9 &O &O
3Y
8
VCC
14
4E
13
4A
12
1
EN EN
4Y
11
3E
10
3A
9
1
EN EN
3Y
8
1
1
1
2
3
4
5
6
7
0 1 0 1
4.用2输入与非门（74LS00）实现三人参加的
表决电路。
VoL 0 VI(V) VoFF VTH VoN Vo(V) VoH
90%*VoH
高电平噪声容限NH。
3、三态门功能测试
选用型号为74LS126的集
成电路，参考其引脚排列 及逻辑符号，按右边电路 图测试高阻状态，将实验 结果填入下表。
输入
输出Y(接上拉 电阻)
输出Y（接下拉电 阻）
E
A
Y
0 1
10K
&
V V
VI VO
0
0.3
0.5
0.85
0.9
0.95
1.0
1.05
1.1
1.15
1.2
1.3
1.4
1.5
TTL与非门参数测试
调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电压传输特性
曲线,并在曲线中求得以下参数: 输出高电平VOH, 关门电平VOFF, 阈值电压VTH, 输出低电压VOL, 开门电平VON, 低电平噪声容限VNL,
实验一集成ttl门逻辑功能参数测量
实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。
⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。
⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。
二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。
⒉认真阅读讲义，明确各参数的定义、测试条件及测试方法。
⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。
⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。
三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。
四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门，按缺口标志向左排列，放入实验箱多孔插座板上。
参照图14-1，再按图14-2所示接好线。
输入端分别接不同的逻辑开关K，输出接发光的二极管器L。
(2)改变逻辑开关，实现各输入端高、低电平的转换；用发光二极管观察输出端逻辑状态，并用万用表测出对应电平值。
图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。
列出真值表。
⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列，按图14－-4所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，用发光二极管观察输出状态。
(3)记录各输入与输出对应状态，并列出真值表。
⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门)，插入实验箱多孔插座板上。
参照图14-5 74LS136引脚排列，按图14-6所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，观察输出状态。
(3)记录各输入与之对应的输出状态，并列出真值表。
⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一：(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。
数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试
实验内容二：参数测试4
输入 电压 0 （V）
输出 电压 （V） 输入 电压 1.2 （V） 输出 电压 （V） 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一：逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台 万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一：逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图，7脚接地，14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时：发光二极管灯亮为逻辑 “1”，灯灭为逻辑“0” 6 完成下表，推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二：参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路 截止时的电源电流ICCH
实验内容二：参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL（灌电流）和 高电平输入电流IIH（拉电流，较小）
实验内容二：参数测试3
间接测量低电平扇出 系数：如图连线，调 节电位器，使电压表 达到0.4伏，记录电 流表示数IOLM。低电 平扇出系数 N=IOLM/IIL ， 注意，N要取整。
实验内容二：参数测试4
测试门电路的电压传输特性
实验一 TTL逻辑门的功能与参数测试
被测输入端接低电平，其余输入端悬空，输出端空载时，由 被测输入端流出的电流。(图4-1-2, c)
高电平输入_电流IiH
被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，由 被测输入端流入的电流。(图4-1-2, d)
IiH
& &
IiL
图4-1-2, c 图4-1-2, d
主要参数
内容与实验步骤
• • • • 1.在实验箱上找到74LS20 按书上表格验证逻辑功能 2.测试参数 3. 注意事项：
• 分清引脚标号，不能接错，输出引脚不能 线与，否则烧毁芯片
扇出系数No：
门电路能驱动同类门的个数，有低电平扇出系数NOL和高电平 扇出系数NOH,通常IiH<IiL,则NOH>NOL，故常以NOL作为扇出系 数。（按图4-1-3测试）。
电压传输特性
门的输出电压Vo随输入电压Vi变化的曲线Vo=f(Vi) 4测试） (按图4-1-
N OL
&
I OL I iL
&
图4-1-3测试
图4-1-4
主要参数
平均传输延迟时间Tpd
t pd
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
输出波形对输入波形的延迟时间 (按图4-1-5测试） 与非门的逻辑功能： 输入 A 0 0 0 0 0 1 B 0 0 0 0 1 ... 1 1 1 C 0 0 1 1 0 D 0 1 0 1 0 输出 Y 1 1 1 1 1 1 0
实验一 TTL逻辑门的功能与参 数测试
实验目的
• 1. 了解TTL与非门各参数的意义 • 2. 掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参 数的测试方法。 • 3.掌握TTL器件的使用规则 • 4. 熟悉数字电路实验系统的使用方法。
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试引言:本实验通过测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数，旨在增进对TTL 逻辑门的理解和应用能力。
TTL（Transistor-Transistor Logic，双极晶体管逻辑）是一种广泛应用的数字逻辑家族，通常用于数字系统中的逻辑操作。
实验步骤:1.认识TTL集成逻辑门TTL集成逻辑门是由若干个双极晶体管和二极管组成的，具有与门、或门、非门等多种门电路。
通常在电路图中用特定的代号代替。
常见的TTL集成逻辑门有AND门（7408）、OR门（7432）、NOT门（7404）等。
2.实验材料-TTL集成逻辑门芯片（AND门、OR门、NOT门）-逻辑信号发生器-示波器/数字万用表-电压表-电阻-连线电缆3.实验步骤-步骤一：连接AND门将AND门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接AND门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤二：连接OR门将OR门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接OR门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
-步骤三：连接NOT门将NOT门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，将逻辑信号发生器的输出端连接到NOT门的输入端，示波器的探头连接NOT门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。
4.结果分析:根据实验数据和观察到的波形，可以进行以下分析：-分析AND门的逻辑功能和参数AND门在两个输入端都为1时，输出为1，否则输出为0。
通过实验可以发现，AND门的输出波形为非线性的，并且脉冲宽度与输入信号的频率有关。
ttl门电路参数测试实验报告
ttl门电路参数测试实验报告嘿，大家好！今天我们来聊聊TTL门电路的参数测试。
这可是个让人既兴奋又有点小紧张的话题。
TTL门电路，这名字听起来是不是就让人觉得很高大上？其实它就是我们平常生活中用到的逻辑电路中的一部分，简单来说，它帮助我们实现各种各样的电子功能，像是开关、计算和控制，简直就是电子世界的小魔法师。
咱们首先得了解什么是TTL。
TTL，听起来像个超炫的流行词，其实是“晶体管晶体管逻辑”的缩写。
它的工作原理就像是给小晶体管们安排任务，让它们互相配合来实现我们想要的结果。
真是有趣得很！在实验开始前，大家得先准备好一堆设备。
电源、示波器、万用表……哦，真是应有尽有，感觉像是要开启一场科技探险！开始的时候，大家先把电路搭建好。
搭电路就像拼乐高，得仔细对照图纸，别把零件拼错了哦。
然后，电源一接通，哎呀，电路居然动了起来！那一刻，真是有种“我终于做成了”的成就感。
就是进行参数测试了。
我们需要测试几个关键的参数，比如输入电压、输出电压、逻辑电平等等。
看起来简单，但其实稍不留神就可能出错，像是在走钢丝，一不小心就得重来。
在测试过程中，万用表可是我们的好朋友。
它就像个侦探，帮我们查出每个电压值的秘密。
哦，你们知道吗？TTL电路对电压的要求可严格了，过高或过低都有可能导致电路工作不正常，像个调皮的小孩儿，时不时就要闹脾气。
测试中，有的同学紧张得手心都出汗了，真是笑死人了，大家就像在参加一场紧张刺激的比赛，谁能精准地测出各项参数，谁就是今天的“电路王”。
有趣的是，测试的结果往往充满了惊喜。
哦，电压正常，逻辑电平也没问题，简直像在开派对！可出现了意外的结果，那就得认真分析了。
为什么会这样呢？可能是连接不牢，也可能是元件坏了，真是“细节决定成败”啊。
大家一起脑力风暴，讨论各种可能的原因，气氛一下子热烈起来。
仿佛整个实验室都充满了电流的活力，大家的热情像被点燃的火焰，越烧越旺。
不过，实验总是有意外的。
就在我们兴致勃勃地测试的时候，突然有个同学喊：“哎呀，电路冒烟了！”这可吓坏了我们，大家立马像逃命似的往后退。
实验一(TTL逻辑门电路的参数测试)
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能的测试方法。
3、熟悉TTL门电路主要参数的测量方法。
二、实验设备与器件数字电路实验箱、逻辑测试笔、万用表、74LS20三、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑符号及引脚排列如图1(a)、(b)所示。
(a) (b)图1 74LS20逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为: Y＝2、TTL与非门的主要参数与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
●低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH(通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小)ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
ICCL和ICCH测试电路如图2(a)、(b)所示。
(a) (b) (c)(d)图2 TTL与非门静态参数测试电路图●低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiHIiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
(在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。
)IiH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。
(在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望IiH小些。
由于IiH较小，难以测量，一般免于测试。
实验一_ttl门电路逻辑功能及参数测试
实验⼀_ttl门电路逻辑功能及参数测试数字电⼦技术实验（共24学时）实验⼀（实验性质：验证性学时：2 ）题⽬：ＴＴＬ门电路逻辑功能及参数的测试------⼀、实验⽬的：①熟悉常⽤TTL门电路的逻辑功能。
②了解TTL门电路参数的测试⽅法及物理意义。
⼆、实验内容：必做内容：（A）、测试SSI门电路74LS00、74LS02的逻辑功能；参照表格⼀(B)、测试74LS00与⾮门特性曲线，参照表格⼆，所有曲线必须画在坐标纸上。
①电压传输特性曲线，并从曲线上读出U OH、U OL、U ON、U OFF、、U NH、U NL、参数的值；②输⼊负载特性曲线，并从曲线上确定R ON、R OFF参数的值；选作内容：①输⼊短路电流I IS及输⼊⾼电平电流I IH的测试；②输出负载特性曲线，并从曲线上确定I OH、I OL参数的值。
三、预习报告要求：(1)、画出要测各种SSI集成电路的逻辑功能测试表格。
基本格式⼀：表格标题：（与⾮门真值表）器件名：（74LS00）输⼊输出F=（表达式）A B 标准电平Uo 实验电压Uo 理论F值实验F值0 00 11 01 1基本格式⼆：标题：（与⾮门电压传输特性曲线）器件名：（74LS00）参量1（U i）参量2（U O）(2)、查⼿册画出要测各种SSI集成电路的引脚图(3)、画出测试电路图(4)、标⽰所⽤的参数的物理意义四、参考资料：实验指导书P88：TTL门电路逻辑功能测试；P90 ：TTL与⾮门静态参数测试五、实验⽤器件：74LS00、74LS02六、实验报告要求：1．认真整理实验数据，并列出表格或画出曲线，分析实验测量数据与理论数据误差；（数值收获量变）2．写出本次实验电路⼩结（原理、概念提⾼质变）；回答书上思考题3．认真总结本次实验的⼼得体会和意见，以及改进实验的建议。
实验一基本TTL逻辑门电路功能测试
实验一 基本TTL 逻辑门电路功能测试一、实验目的1、熟悉基本TTL 逻辑门电路的功能。
2、掌握基本TTL 逻辑门功能测试方法。
二、实验仪器及材料万用表和晶体管直流稳压电源74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入四或非门 1 片三、预习要求1． 复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2． 熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
四、实验内容将以上四种集成块分别插入 ET—A 实验仪备用插座上，用万用表检查+5V电源，然 后接于+5V 接线柱上。
（一） 四种逻辑门功能测试1、测试 74LS00输入接高低电平开关，输出接高低电平指示灯，列出真值表，并填写测试结果，写出逻辑表 达式。
2、测试 74LS02输入接高低电平开关，输出接高低电平指示灯，列出真值表，并填写测试结果，写出逻辑表 达式。
3、测试 74LS20分别将 4 个输入端接高低电平指示灯，输出接高低电平指示灯，灯亮为 1，灯灭为 0，列真 值表，并真写测试结果，写出逻辑表达式。
4、测试 74LS86输入接高低电平开关，输出接高低电平指示灯，列出真值表，并填写测试结果，写出逻辑表 达式。
（二）用与非门实现其它逻辑门电路的逻辑功能1、按图组成逻辑电路，测试输入输出的逻辑关系，并列出真值表，并填写测试结果，写出 逻辑表达式实验二 计数器与译码显示电路一、实验目的1．了解计数器、译码器和数码管的逻辑功能。
2. 熟悉 74LS161、74LS48 和数码管各管脚功能。
3. 进一步掌握数字电路逻辑关系的检测方法。
二、实验仪器和器材直流稳压电源一台，双踪示波器一台，万用表一块，基本逻辑电路实验板一块，包括：74LS00 2 输入四与非门、74LS161 4位二进制码计数器、74LS48 BCD－7 段译码器、数码管、发光二极管、导线若干。
三、实验原理LTCR LTRBIBI /RBO四、实验内容按图正确接线，并将测量结果填入表格。
实验1 TTL基本门电路逻辑功能测试
平，允许输出端通过合适的电阻R接至电源Vcc。
9
实验一 TTL基本门电路逻辑功能测试
一．实验目的 １．掌握常用TTL逻辑门电路的逻辑功能，熟悉其型号、 外形和外引线排列。 ２．验证基本门电路的逻辑功能；了解控制门的控制作用 二．实验设备与器件 仪器或器材名称 数字电路实验箱 二4输入与非门集成电路 四2输入或非门集成电路 四2输入异或门集成电路 与或非门集成电路 四2输入与非门 型号规格 SAC-DGII-4 74LS20 74LS02 74LS86 74LS51 74LS00 数 量 １台 １片 １片 １片 １片 2片
(1).用与非门组成其它功能门电路的方法和步骤是怎 样的？ (2).异或门可用五个与非门组成，是否可用四个与非 门组成？试用公式推导之。
20
A B
&
O
&
1
O
Y
21
数字电路实验室(B602)
请同学们不要动实验箱里的元件 想看集成块的同学到门口桌上泡 沫板上看，看完后再插回原处
1
集成电路外引线排列规律
2
注意事项
1．实验前必须充分预习，完成指定的预习任务。 2．使用仪器和实验箱前必须了解其性能、操作方法及注意事项，
使用时应严格遵守。
3．实验时接线要认真，相互仔细检查，确定无误才能接通电源， 初学或没有把握应经指导教师审查同意后再接通电源。 4．数字电路实验注意： 实验前先要读懂集成块的外引线排列，分清电源、地、输入、
输出端，读懂集成块的逻辑功能表， 然后根据集成块的逻辑
功能设计、连接电路。
3
5．实验时应注意观察，若发现有破坏性异常现象(例如有元 件冒烟、发烫或有异味)应立即关断电源，保持现场，报 告指导教师。找出原因、排除故障，经指导教师同意再继 续实验。
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试绪论：集成逻辑门是计算机电路中最基本的部件之一，广泛应用于数字电路的设计与实现。
TTL（Transistor-Transistor Logic）是一种常见的集成逻辑门技术，通过使用晶体管和电阻来实现逻辑功能。
在本实验中，我们将测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数。
实验目的：1.了解TTL集成逻辑门的基本原理和工作方式；2.测试TTL集成逻辑门的逻辑功能，包括与门、或门、非门等；3.测试TTL集成逻辑门的参数，包括输入电平、输出电平和功耗等。
实验设备：1.TTL集成逻辑门芯片（例如74系列）；2.逻辑状态测试仪；3.电源供应器；4.连接线。
实验步骤：1.连接电路：根据逻辑门芯片的引脚图，将芯片连接到电源供应器和逻辑状态测试仪上；2.逻辑功能测试：a.与门测试：将两个输入端分别接地和5V电压，测量输出电平，验证与门的功能；b.或门测试：将两个输入端分别接地和5V电压，测量输出电平，验证或门的功能；c.非门测试：将输入端接地，测量输出电平，验证非门的功能；3.参数测试：a.输入电平测试：按照逻辑门的输入电平要求，分别给输入端施加低电平和高电平，测量输出电平；b.输出电平测试：根据逻辑门芯片的DC参数表，给定适当的输入电平，测量输出电平；c.功耗测试：测量逻辑门芯片在不同输入电平下的功耗。
实验注意事项：1.在操作过程中，应注意芯片引脚的连接正确性；2.不要超过逻辑门芯片的最大电源电压和最大输入电压范围，以免损坏芯片；3.测量时，应使用适当的测量工具和方法，减少误差；4.为了保证实验结果的稳定性和可靠性，建议多次测量并取平均值。
实验结果分析：根据实验数据和测量结果，可以得出以下结论：1.TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能，能够实现与门、或门、非门等基本逻辑操作；2.TTL集成逻辑门具有较高的输入电平和输出电平容限，可以适应不同的输入和输出电平要求；3.TTL集成逻辑门具有适当的功耗，在允许的电源范围内，能够正常工作。
实验1-TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图5－2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图5－2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL＝VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL和ICCH测试电路如图5－2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图5－2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。
ttl逻辑门功能与参数测试实验报告
ttl逻辑门功能与参数测试实验报告TTL逻辑门功能与参数测试实验报告引言：逻辑门是数字电路中的基本组成单元，其功能是根据输入信号的逻辑关系产生输出信号。
TTL（Transistor-Transistor Logic）逻辑门是一种常见的数字逻辑门，其采用晶体管作为开关元件，具有高速、低功耗等优点。
本实验旨在研究TTL逻辑门的功能和参数，并进行相应的测试。
一、实验目的本实验的目的是通过测试TTL逻辑门的功能和参数，深入了解其工作原理和性能特点。
二、实验器材和原理1. 实验器材：- TTL逻辑门芯片（如74LS00、74LS02等）- 示波器- 电源- 连接线等2. 实验原理：TTL逻辑门是由晶体管、二极管和电阻等元件组成的。
其工作原理是根据输入信号的逻辑关系，控制晶体管的导通和截止，从而产生输出信号。
三、实验步骤1. 连接电路：将TTL逻辑门芯片与电源、示波器等设备连接起来，确保电路连接正确、稳定。
2. 功能测试：依次测试TTL逻辑门的各个输入端和输出端。
通过输入不同的逻辑电平（如高电平、低电平），观察输出端的变化情况。
记录下每个逻辑门的真值表，分析其逻辑功能是否正确。
3. 参数测试：测试TTL逻辑门的各项参数，包括功耗、传输延迟等。
通过测量电路的功耗和延迟时间，分析逻辑门的性能特点。
四、实验结果与分析1. 功能测试结果：根据测试数据，可以得到每个TTL逻辑门的真值表。
通过比对真值表和理论值，可以判断逻辑门的功能是否正确。
若功能正确，则说明TTL逻辑门芯片工作正常。
2. 参数测试结果：测量得到的功耗和传输延迟等参数可以用于评估TTL逻辑门的性能。
功耗越低，说明逻辑门的能耗越少；传输延迟越短，说明逻辑门的响应速度越快。
根据测试结果，可以对TTL逻辑门的性能进行评估和比较。
五、实验总结通过本次实验，我们深入了解了TTL逻辑门的功能和参数。
通过功能测试，我们验证了逻辑门的正确性；通过参数测试，我们评估了逻辑门的性能。
TTL门电路的逻辑功能和特性测试
实训一 TTL门电路的逻辑(luó jí)功能和特性测试一、实训目的(mùdì)1．熟悉TTL与非门逻辑(luó jí)功能的测试方法；2．熟悉(shúxī)TTL与非门特性参数的意义以及传输特性的测试方法；3．掌握(zhǎngwò)TTL门电路的使用方法。
二、实训内容1．测试TTL与非门逻辑功能；2．测试TTL与非门的特性参数。
三、实训主要元件74LS00（四二输入“与非门” ） 74LS32 ( 四二输入或门 )外引线排列图：74LS04（六反相器）外引线(yǐnxiàn)排列图：四、实训原理(yuánlǐ)在系统电路设计时，往往(wǎngwǎng)要用到一些门电路，而门电路的一些特性参数的好坏，在很大程度上影响整机工作的可靠性。
门电路的参数(cānshù)通常分两种：静态参数和动态参数。
1．TTL逻辑(luó jí)门的主要参数有：(1) 扇入系数N i和扇出系数N O：能使电路正常工作的输入端数目和电路正常工作能带动的同型号门的数目。
(2) 输出高电平V OH：一般为V OH≥2.4V(3) 输出低电平V OL：一般为V OL≤0.4V(4) 电压传输特性曲线、开门电平V On和关门电平V off(5) 输入短路电流I IS：一个输入端接地，其它输入端悬空时，流过该接地输入端的电流为输入短路电流。
(6) 空载(kōnɡ zǎi)导通功耗P on：指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功率(gōnglǜ)损耗。
(7) 空载截止(jiézhǐ)功耗P off；指输入有低电平、输出为高电平且不带负载时的功率(gōnglǜ)损耗。
(8) 抗干扰(gānrǎo)噪声容限：电路能够保持正确的逻辑关系所允许的最大干扰电压值。
(9) 平均传输延迟时间：t pd = (t pdl + t pdh ) / 2(10) 输入漏电流I IH：指一个输入端接高电平，另一个输入端接地时，流过高电平输入端的电流。
电子技术实验报告1—TTL门电路的逻辑功能测试(葛楚雄)
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与门 74LS08 逻辑表达式： Y A B
非门 74SL04 逻辑表达式： Y A
或门 74LS32
A
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11Βιβλιοθήκη 11与非门 74LS00
A
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异或门 74LS86
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或门 74LS32 逻辑表达式： Y A B
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为：
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平
显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验内容和数据记录
1. 依次选用芯片 74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86 做实验，在 实验箱 IC 插座模块找到相应管脚数目的 IC 插座，插上并保持连接正常。
部结构与引脚功能。每个逻辑门都有自己长短，逻辑门组合在一起，不同的组合会
有不同的功能。
3.将课堂所学到的知识在实验中实践,加深了同学们对知识的理解。
4.该实验存在一定测量误差，误差来源于电路箱中得误差，但是误差实验允许范围
内，故该实验有效。
成绩
教师签名 文毅
批改时间
年月日
学生实验报告
系别 电子信息学院 班级 10 通信 A 班 姓名 葛楚雄 学号 2010010101019
实验1 TTL门电路逻辑功能测试
实验1 TTL门电路逻辑功能测试一. 实验目的1.掌握常用TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法；2.熟悉数字电路实验箱的使用方法。
二. 实验原理1.门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。
本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。
2．集成电路外引线的识别使用集成电路前，必须认真查对识别集成电路的引脚，确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号，以免因接错而损坏器件。
引脚排列的一般规律为：扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3……。
扁平型多用于数字集成电路。
双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。
图 1 集成电路外引线的识别三序号名称型号与规格数量备注1数字电路实验箱1台2双踪示波器1台3万用表1台4数字信号发生器1台5集成芯片74LS002片二输入端四与非门四. 实验内容与步骤1.测试与非门的逻辑功能(1)在实验箱上选取一个14插座，按定位标记插好74L00集成块。
(2)将实验箱上＋5V直流电源接74LS00的14脚，地接7脚，将1、2脚接逻辑电平开关输出口，输出3脚接发光二极管显示。
(3)按照表1所示，改变74LS20的1、2、4、5脚输入值，观察并记录发光二极管显示情况（发光管亮，表示输出高电平“1”，发光管不亮，表示输出低电平“0”）。
2．测试逻辑电路的逻辑关系用74LS00按图2接线，将输入输出逻辑关系分别填入表2中。
表23．利用与非门控制输出用一片74LS00按图3接线，S 接任一电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
4．用与非门组成其它门电路并测试验证用一片二输入端四与非门组成或非门画出电路图，测试并填表3。
Y= B A += B A• 表3图2Y图3五. 实验报告1．按各步骤要求填表并画逻辑图。
西工大数电实验报告_实验一TTL集成逻辑门电路参数测试
西工大数电实验报告_实验一TTL集成逻辑门电路参数测试实验一TTL集成逻辑门电路参数测试姓名：同组：一、实验目的：（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。
（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。
（3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。
二、实验设备：数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器，电阻。
三、实验原理：门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL逻辑门电路。
1) 用示波器测量实验箱的电源输出。
2) 用函数信号发生器产生频率1.5KHz信号，其峰峰值为5.0V，偏移为0V。
使用示波器测量该信号（脉冲宽度、周期、幅度和占空比）。
切换示波器耦合方式（AC或DC），观察示波器波形显示的异同。
3）调节信号偏移（1V、1.2V、2.5V），切换示波器耦合方式（AC 或DC），观察示波器波形显示的异同。
分析信号偏移功能的作用。
TTL集成电路的使用规则：（1）插集成块时，要认清定位标记，不得插反。
（2）使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。
实验中要求使用Vcc=+5V。
电源极性不允许接错。
（3）空闲输入端处理方法，悬空，相当于正逻辑“1”，一般小规模集成电路的数据输入端允许悬空处理。
但易受外界干扰，导致电路逻辑功能不正常。
因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。
（4）输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处状态。
（5）输出端不允许并联使用（三态门和OC门除外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。
（6）输出端不允许直接接电源Vcc，不允许直接接地，否则会损坏器件。
四、实验内容：1) 用示波器测量实验箱的电源输出。
2) 用函数信号发生器产生频率1.5KHz信号，其峰峰值为5.0V，偏移为0V。
使用示波器测量该信号（脉冲宽度、周期、幅度和占空比）。
基本门电路逻辑功能的测试数电实验报告
实验一：TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常I CCL ＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在＋5V ±10％的范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
I iL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，I iL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL 小些。
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)
ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告引言•介绍TTL集成逻辑门的背景和作用•说明本实验旨在测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数的性能实验设计1.实验材料： TLL集成逻辑门芯片、电路板、示波器等2.实验步骤：–步骤一：搭建所需电路，将TTL集成逻辑门芯片与其他电子器件进行连接–步骤二：使用示波器进行测量和记录–步骤三：根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析1.逻辑功能测试：–对不同的输入组合进行测试，并记录输出结果–比较测试结果与预期结果的一致性2.参数测试：–测试集成逻辑门的输入电流、输出电流、工作电压等参数–记录并分析测试数据–验证芯片参数是否符合规格书上的要求结论•总结实验过程中的观察结果和数据分析•评价TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数性能•提出可能的改进和优化建议参考文献•如果有的话，列出相关参考文献附录•实验所使用的电路图•数据记录表格•其他相关数据和图表实验设计实验材料•TTL集成逻辑门芯片•电路板•示波器•逻辑分析仪实验步骤1.准备实验所需材料和设备2.按照电路图搭建TTL集成逻辑门电路3.确保电路连接正确，没有短路或接触不良的情况4.使用逻辑分析仪设置输入信号，并观察和记录输出信号5.切换不同的输入组合进行测试，并记录相应的输出结果6.使用示波器对信号进行测量和记录7.根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析逻辑功能测试•在测试过程中，我们通过改变输入信号的值，观察输出信号的变化情况。
•比较测试结果与预期结果，判断逻辑门的逻辑功能是否符合要求。
•对不同的输入组合进行测试，包括与、或、非等逻辑运算。
参数测试•我们测量了TTL集成逻辑门的输入电流、输出电流和工作电压等参数。
•记录并分析了测试数据，比较参数值与规格书上的要求。
•验证TTL集成逻辑门的参数是否在工作范围内，符合设计要求。
结论•实验结果表明，TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能和参数性能。
实验一 TTL门电路参数测试实验
实验一 TTL门电路参数测试实验一、实验目的1.掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。
2.掌握TTL器件的使用规则。
3.熟悉数字电路测试中常用电子仪器的使用方法。
二、实验原理本实验采用二输入四与非门74LS00（它的顶视图见附录），即一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。
其逻辑框图如下：图1-1 74LS00的逻辑图图1-2 I is的测试电路图TTL集成与非门的主要参数有输出高电平V OH、输出低电平V OL、扇出系数N0、电压传输特性和平均传输延迟时间t pd等。
（1）TTL门电路的输出高电平V OHV OH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非工作管处于截止状态。
空载时，V OH的典型值为3.4~3.6V，接有拉电流负载时，V OH下降。
（2）TTL门电路的输出低电平V OLV OL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。
空载时，它的典型值约为0.2V，接有灌电流负载时，V OL将上升。
（3）TTL门电路的输入短路电流I is它是指当被测输入端接地，其余端悬空，输出端空载时，由被测输入端输出的电流值，测试电路图如图1-2。
（4）TTL门电路的扇出系数N0扇出系数N0指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL集成与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。
因此，它有两种扇出系数，即低电平扇出系数N0L和高电平扇出系数N0H。
通常有I iH<I iL，则N0H>N0L，故常以N0L作为门的扇出系数。
N0L的测试电路如图1-3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R L，调节R L使I OL增大，V OL随之增高，当V OL达到V Olm（手册中规定低电平规范值为0.4V）时的I OL就是允许灌入的最大负载电流，则N0L＝I OL÷I is，通常N0L>8（5）TTL门电路的电压传输特性门的输出电压V o随输入电压V i而变化的曲线V o=f（V i）称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V OH、输出低电平V OL、关门电平V off、开门电平V ON等值。
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实验一--T T L门电路参数测试实验
实验一 TTL门电路参数测试实验
一、实验目的
1.掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。
2.掌握TTL器件的使用规则。
3.熟悉数字电路测试中常用电子仪器的使用方法。
二、实验原理
本实验采用二输入四与非门74LS00（它的顶视图见附录），即一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。
其逻辑框图如下：
图1-1 74LS00的逻辑图图1-2 I is的测试电路图TTL集成与非门的主要参数有输出高电平V OH、输出低电平V OL、扇出系数N0、电压传输特性和平均传输延迟时间t pd等。
（1）TTL门电路的输出高电平V OH
V OH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此
时与非工作管处于截止状态。
空载时，V OH的典型值为3.4~3.6V，接有
拉电流负载时，V OH下降。
（2）TTL门电路的输出低电平V OL
V OL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管
处于饱和导通状态。
空载时，它的典型值约为0.2V，接有灌电流负载
时，V OL将上升。
（3）TTL门电路的输入短路电流I is
它是指当被测输入端接地，其余端悬空，输出端空载时，由被测输入端
输出的电流值，测试电路图如图1-2。
（4）TTL门电路的扇出系数N0
扇出系数N0指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL集成与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。
因此，它有两种扇出系数，即低电平扇出系数N0L和高电平扇出系数N0H。
通常有I iH<I iL，则N0H>N0L，故常以N0L作为门的扇出系数。
N0L的测试电路如图1-3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R L，调节R L使I OL增大，V OL随之增高，当V OL达到V Olm（手册中规定低电平规范值为0.4V）时的I OL就是允许灌入的最大负载电流，则
N0L＝I OL÷I is，通常N0L>8
（5）TTL门电路的电压传输特性
门的输出电压V o随输入电压V i而变化的曲线V o=f（V i）称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V OH、输出低电平V OL、关门电平V off、开门电平V ON等值。
测试电路如图1-4所示，采用逐点测试法，即调节R w，逐点测得V i及V o，然后绘成曲线。
图1-3 扇出系数测试电路图1-4 电压传输特性测试电路（6）TTL门电路的平均传输延迟时间t pd
t pd是衡量门电路开关速度的参数，它意味着门电路在输入脉冲波形的作用下，其输出波形相对于输入波形延迟了多少时间。
具体的说，是指输出波形边沿的0.5Um至输入波形对应边沿0.5Um点的时间间隔，如图1-5所示。
由于传输延迟时间很短，一般为ns数量级。
图1-5（a）传输延迟特性图1-5（b）tpd的测试电路
图1-5（a）中的t pdL为导通延迟时间，t pdH为延迟截止时间，平均传输时间为：
t pd=(t pdL+t pdH)/2
t pd的测试电路如图1-5（b）所示，由于门电路的延迟时间较小，直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高，故实验采用测量有奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。
其工作原理是：假设电路在接通电源后某一瞬间，电路中的A点为逻辑“1”，经过三级门的延时后，使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”；再经过三级门的延时后，A点重新回到逻辑“1”。
电路的其它各点电平也随着变化。
说明使A点发生一个周期的振荡，必须经过6级门的延迟时间。
因此平均传输延迟时间为：
t pd=T/6
三、实验设备与器件
1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、芯片74LS00。
4、5.1K，100Ω，200Ω，500Ω，1K电阻；1K，10K可调电阻。
5、数字万用表。
四、实验预习要求
1．复习TTL门电路的工作原理。
2．熟悉实验所用集成门电路引脚功能。
3．画出实验内容中的测试电路与数据记录表格。
五、实验内容及实验步骤
1、将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置，并固定好，找一个
14PIN的插座插上芯片，并在14PIN插座的第7脚接上实验箱的地
（GND），第14脚接上电源（VCC）。
其它脚的连线参考个具体的
线路图，实验所需要的电阻和可调使用实验箱主电路板中的元件库。
2、按照实验原理第一、二部分用万用表测出TTL门电路的输出高电平
V OH，输出低电平V OL。
3、按图1-2所示连线，测出TTL门电路的输入短路电流I is。
4、按图1-3所示连线，测出I OL，求得扇出系数N0。
5、按图1-4所示连线，调节电位器R W，使V i从0V向高电平变化，逐点测
量V i和V o,将结果记入下表中。
6、按图1-5所示连线，测得t pd。
六、实验报告要求
1、记录整理实验结果，并对结果进行分析。
2、画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。
3、思考：TTL门电路的无用输入端是否能悬空或接高电平？为什么？
七、TTL门电路的使用规则
1、接插集成块时，要认清定位标记，不能插反。
2、对电源要求比较严格，只允许在5V+10％的范围内工作，电源极性不可
接错。
3、普通TTL与非门不能并联使用（集电极开路门与三态输出门电路除
外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。
4、须正确处理闲置输入端。
闲置输入端处理方法：
i.悬空，相当于正逻辑“1”，对于一般小规模集成电路的数据输入端，
实验时允许悬空处理。
但易受外界干扰，导致电路的逻辑功能不正
常。
因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用
集成电路较多的复杂电路，所有的控制输入端必须按逻辑要求接入
电路，不允许悬空。
ii.直接接电源电压Vcc（也可串入一只1~10K的固定电阻）或接至某一固定电压（+2.4V<V<4.5V）的电源上，或与输入端为接地的多余
与非门的输出端相接。
iii.若前级驱动能力允许，可以与使用的输入端并联。
5、负载个数不能超过允许值。
输出端不允许直接接地或直接接＋5V电源，否则会损坏器件。
有时为了使后极电路获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻接至V CC，一般取
电阻值为3～5.1K。
沁园春·雪
北国风光，千里冰封，万里雪飘。
望长城内外，惟余莽莽；大河上下，顿失滔滔。
山舞银蛇，原驰蜡象，欲与天公试比高。
须晴日，看红装素裹，分外妖娆。
江山如此多娇，引无数英雄竞折腰。
惜秦皇汉武，略输文采；唐宗宋祖，稍逊风骚。
一代天骄，成吉思汗，只识弯弓射大雕。
俱往矣，数风流人物，还看今朝。
出师表
两汉：诸葛亮
先帝创业未半而中道崩殂，今天下三分，益州疲弊，此诚危急存亡之秋也。
然侍卫之臣不懈于内，忠志之士忘身于外者，盖追先帝之殊遇，欲报之于陛下也。
诚宜开张圣听，以光先帝遗德，恢弘志士之气，不宜妄自菲薄，引喻失义，以塞忠谏之路也。
宫中府中，俱为一体；陟罚臧否，不宜异同。
若有作奸犯科及为忠善者，宜付有司论其刑赏，以昭陛下平明之理；不宜偏私，使内外异法也。
侍中、侍郎郭攸之、费祎、董允等，此皆良实，志虑忠纯，是以先帝简拔以遗陛下：愚以为宫中之事，事无大小，悉以咨之，然后施行，必能裨补阙漏，有所广益。
将军向宠，性行淑均，晓畅军事，试用于昔日，先帝称之曰“能”，是以众议举宠为督：愚以为营中之事，悉以咨之，必能使行阵和睦，优劣得所。
亲贤臣，远小人，此先汉所以兴隆也；亲小人，远贤臣，此后汉所以倾颓也。
先帝在时，每与臣论此事，未尝不叹息痛恨于桓、灵也。
侍中、尚书、长史、参军，此悉贞良死节之臣，愿陛下亲之、信之，则汉室之隆，可计日而待也。
臣本布衣，躬耕于南阳，苟全性命于乱世，不求闻达于诸侯。
先帝不以臣卑鄙，猥自枉屈，三顾臣于草庐之中，咨臣以当世之事，由是感激，遂许先帝以驱驰。
后值倾覆，受任于败军之际，奉命于危难之间，尔来二十有一年矣。
先帝知臣谨慎，故临崩寄臣以大事也。
受命以来，夙夜忧叹，恐托付不效，以伤先帝之明；故五月渡泸，深入不毛。
今南方已定，兵甲已足，当奖率三军，北定中原，庶竭驽钝，攘除奸凶，兴复汉室，还于旧都。
此臣所以报先帝而忠陛下之职分也。
至于斟酌损益，进尽忠言，则攸之、祎、允之任也。
愿陛下托臣以讨贼兴复之效，不效，则治臣之罪，以告先帝之灵。
若无兴德之言，则责攸之、祎、允等之慢，以彰其咎；陛下亦宜自谋，以咨诹善道，察纳雅言，深追先帝遗诏。
臣不胜受恩感激。
今当远离，临表涕零，不知所言。
6、。