通用放大器测试

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宽带放大器测试规范

宽带放大器测试规范

宽带放大器测试规范一、需测试的指标1、输入电阻Ri=2、幅频特性即Vin f 关系3、增益控制Ap4、输出噪声5、如有必要辅助测试各级放大器放大倍数An二、测试方法1、输入电阻的测试:在输入端窜入一定值的电阻(一般几K)如图,测量电阻两端的电压值,计算其与信号源幅度的比值。

由此可以得到输入阻抗。

2、幅频特性:测试方法为,以正弦波为输入信号,在频域内研究放大特性。

选定两到三个输入信号。

测量其电压有效值,在输入信号一定的情况下,改变输入频率(带宽从设计最低频到最高频),步进可以按十到二十均分。

记下输出电压等效值。

如此,可以确定3DB带宽范围幅度是否符合要求,还可分析器件性能对设计的影响。

具体见幅频特性表。

3、增益控制测量:选择一到两个输入电压和频率,制定一表格,有输出电压和理论增益与实际增益的数据,得出设计是否和符要求。

增益步进可以按照从理论设计信号失真的最小值开始,步进值可以定为10到20等份的步进。

见增益控制表。

4、噪声测量输入交流短路,调到最大理论设计增益值,测量输出电压的值。

三、测试记录及时间进度总体测试项目参数及进度表:输入电阻幅频特(3dB带宽)增益控制(设计与实测)噪声(设计与实测)误差分析是否大于理论值是否超过设计值是否超过设计值是否超过设计值测试时间/进度多少时间多少时间多少时间多少时间建议措施幅频特性测试记录表:频率f输出电压有效值Vrms频率f输出电压有效值Vrms增益控制记录表:设计增益输出电压实际增益附:测试仪器及型号可调直流稳压电源:10M带宽函数信号发生器:数字万用表:100M带宽示波器:普通交流毫伏表:高频毫伏表:。

功率放大器主要指标测试方法

功率放大器主要指标测试方法

一、功率/1dB压缩点测试
功率计测试框图4:
小功率负载
波导大功率负载
信号源
功率放大器
波导耦合器 功率计探头
注意事项: 1、信号源输出功率包含-10dBm~+15dBm,具有脉冲信号调制; 2、功率放大器输出通过大功率射频电缆连接大功率耦合器和大功率负载; 3、耦合器及负载的承载功率和频段需要与功放的最大频率一致。 4、功率计需要使用连续波功率计或者雷达脉冲功率计,频率上限覆盖功放 的频率。耦合器为40dB或者50dB满足耦合端不损坏功率计为原则。
有用信号
杂散 f1
杂散
f0
f2
频率
三、输出失真(谐波, 交调, 杂波)
失真测试框图:
小功率负载
波导负载
信号源
功率放大器
波导耦合器
频谱分析仪
注意事项: 1、信号源输出功率包含-10dBm~+15dBm,具有连续波/脉冲信号调制; 2、功率放大器输出通过大功率射频电缆连接大功率耦合器和大功率负载; 3、耦合器及负载的承载功率和频段需要与功放的最大频率一致。 4、频谱仪至少需要覆盖功放最大频率。功率标记点分别测试主信号和其 他谐波或交调等杂散信号。
二、增益及带内平坦度测试
增益测试框图:
小功率负载
波导负载
信号源
功率放大器
波导耦合器
频谱分析仪
注意事项:
1、信号源输出功率包含-10dBm~+15dBm,具有连续波/脉冲信号调制;
2、功率放大器输出通过大功率射频电缆连接大功率耦合器和大功率负载;
3、耦合器及负载的承载功率和频段需要与功放的最大频率一致。
反射特性测量是通过测试被测件的反射损耗,或测出被测件的反射系数、 电压驻波比,反映端口的匹配情况。 回波损耗 LR、反射系数ρ、电压驻波比S 三者的关系如下:

通用集成运算放大器测试方法

通用集成运算放大器测试方法

运算放大器电参数测试方法通用集成运算放大器电路测试方法作者:李雷一、器件介绍集成运算放大器(简称运放)是模拟集成电路中较大的一个系列,也是各种电子系统中不可缺少的基本功能电路,它广泛的应用于各种电子整机和组合电路之中。

本文主要介绍通用运算放大器的测试原理和实用测试方法。

1.运算放大器的分类从不同的角度,运算放大器可以分为多类:1.从单片集成规模上可分为:单运放(如:OP07A)、双运放(AD712)、四运放(LM124)。

2.从输出幅度及功率上可分为:普通运放、大功率运放(LM12)、高压运放(OPA445)。

3.从输入形式上可分为:普通运放、高输入阻抗运放(AD515、LF353)。

4.从电参数上可分为:普通运放、高精密运放(例如:OP37A)、高速运放(AD847)等。

5.从工作原理上可分为:电压反馈型运放、电流反馈型运放(AD811)、跨倒运放(CA3180)等。

6.从应用场合上可分为:通用运放、仪表运放(INA128)、音频运放(LM386)、视频运放(AD845)、隔离运放(BB3656)等。

2.通用运放的典型测试原理图(INTERSIL公司)李雷第 1 页2008-9-10运算放大器电参数测试方法二、电参数的测试方法以及注意事项一般来说集成运算放大器的电参数分为两类:直流参数和交流参数。

直流参数主要包括:失调电压、偏置电流、失调电流、失调电压调节范围、输出幅度、大信号电压增益、电源电压抑制比、共模抑制比、共模输入范围、电源电流十项。

交流参数主要包括:大信号压摆率、小信号过冲、单位增益带宽、建立时间、上升时间、下降时间六项。

而其中电源电流、偏置电流、失调电流、失调电压、输出幅度、开环增益、电源电压抑制比、共模抑制比、大信号压摆率、单位增益带宽这十项参数反映了运算放大器的精度、速度、放大能力等重要指标,故作为考核运放器件性能的关键参数。

通常运算放大器电参数的测试分为两种方法:一种是单管测试法,另一种是带辅助放大器的测试方法。

pa放大器极限指标测试方法

pa放大器极限指标测试方法

pa放大器极限指标测试方法随着通信技术的不断发展,功率放大器(PA)在无线通信系统中起着至关重要的作用。

为了确保PA的性能和可靠性,我们需要对其进行一系列的测试。

本文将介绍PA放大器极限指标测试方法,帮助读者深入了解如何评估PA的性能。

我们需要了解PA放大器的极限指标是什么。

在PA的设计和制造过程中,有几个关键参数需要特别关注:增益、线性度、功率输出和效率。

这些指标直接影响到PA的性能和工作效果。

因此,我们需要通过测试来确定PA的极限指标。

在进行PA放大器极限指标测试之前,我们需要准备一些测试设备。

常用的测试设备包括信号发生器、功率计、频谱分析仪和网络分析仪。

信号发生器用来产生测试信号,功率计用来测量输出功率,频谱分析仪用来分析信号频谱,网络分析仪用来分析S参数和频率响应。

我们来测试PA放大器的增益。

增益是衡量PA放大能力的指标,表示输入信号与输出信号之间的倍数关系。

为了测试增益,我们需要将信号发生器与PA的输入端相连,并将功率计与输出端相连。

通过逐渐增加输入信号的幅度,我们可以测量不同输入功率下的输出功率,并计算出增益。

我们需要测试PA放大器的线性度。

线性度是指PA在工作过程中输出信号与输入信号之间是否存在失真。

为了测试线性度,我们可以使用频谱分析仪来分析输出信号的谐波失真程度。

通过测量谐波功率与基波功率之比,我们可以评估PA的线性度性能。

功率输出也是衡量PA性能的重要指标之一。

为了测试功率输出,我们可以使用功率计来测量输出功率。

通过改变输入信号的幅度,我们可以得到不同输出功率对应的输入功率值。

通过绘制输入功率与输出功率之间的曲线,我们可以确定PA的功率输出特性。

我们需要测试PA放大器的效率。

效率是指PA在输出信号功率和输入信号功率之比,也是衡量PA能量利用率的指标。

为了测试效率,我们可以使用功率计来测量输入功率和输出功率,然后计算出功率转换效率。

通过改变输入功率,我们可以得到不同输入功率下的输出功率和效率。

光纤放大器测试标准

光纤放大器测试标准

光纤放大器的测试标准主要包括以下几个方面:1. 增益:这是放大器最重要的参数之一,表示放大器将输入信号放大的倍数。

测试增益时,通常会使用特定波长的光信号作为输入,然后测量输出光信号的功率。

2. 噪声系数:这是衡量放大器性能的重要参数之一。

噪声系数越低,表示放大器的噪声越小,信号质量越好。

测试噪声系数时,通常会使用特定波长的光信号作为输入,然后测量输出光信号的信噪比。

3. 带宽:这是放大器能够放大信号的频率范围。

测试带宽时,通常会测量放大器在不同波长下的增益,并确定其带宽。

4. 偏振相关损耗:这是衡量放大器对不同偏振态的光信号处理能力的参数。

测试偏振相关损耗时,通常会使用不同偏振态的光信号作为输入,然后测量输出光信号的功率。

5. 串扰:这是衡量放大器对不同波长的光信号处理能力的参数。

测试串扰时,通常会使用多个不同波长的光信号作为输入,然后测量每个输出波长下的功率。

除了以上几个方面,光纤放大器的测试标准还包括:6. 稳定性:这是衡量放大器在长时间运行和不同环境条件下的性能稳定性的参数。

测试稳定性时,通常会在不同的温度和湿度条件下运行放大器,并测量其性能的变化。

7. 可靠性:这是衡量放大器寿命和可靠性的参数。

测试可靠性时,通常会进行寿命测试和故障模式分析,以评估放大器的可靠性和寿命。

8. 光学连接器损耗:这是衡量放大器与光纤连接器之间的连接性能的参数。

测试光学连接器损耗时,通常会使用特定的光纤连接器连接放大器和光纤,然后测量连接器的插入损耗。

9. 温度特性:这是衡量放大器在不同温度下的性能参数。

测试温度特性时,通常会在不同的温度下测量放大器的增益、噪声系数等参数,以评估其温度稳定性。

10. 电源特性:这是衡量放大器在不同电源条件下的性能参数。

测试电源特性时,通常会在不同的电源电压和电流条件下运行放大器,并测量其性能的变化。

这些测试标准涵盖了光纤放大器的各个方面,以确保其性能和可靠性满足实际应用的需求。

运算放大器参数测试的方法

运算放大器参数测试的方法

运算放大器参数测试的方法
1979 年1 月,《电子测试》发表了一篇文章称,一款单个测试电路可执行对任何运算放大器全面检查所需的所有标准DC测试。

单个测试电路在那个时候可能够用,但今天并非如此,因为现代运算放大器具有更全面的规范。

因此,单个测试电路不再包揽所有DC测试。

 现在经常使用三种测试电路拓扑对运算放大器DC参数进行工作台及生产测试。

这三种拓扑为(1)双运算放大器测试环路、(2)自测试环路(有时称故障求和点测试环路)和(3)三运算放大器环路。

您可使用这些电路测试DC参数,其中包括静态电流(IQ)、电压失调(VOS)、电源抑制比(PSRR)、共模抑制比(CMRR)以及DC开环增益(AOL)。

 静态电流
 静态电流是指器件输出电流等于零时其所消耗的电流。

尽管IQ测试看起来相当简单,但也必须注意确保良好的结果,尤其是在处理极高或极低IQ部件时。

图1是可用来测试IQ及其它参数的三种实用电路,其必须考虑若干负载电流情况。

这包括测试环路中的反馈电流。

实际上,反馈电阻器Rf也能给器件带来负载,影响IQ 测量。

 图1这三款电路可用来测量静态电流(IQ)。

实验七集成运算放大器指标测试

实验七集成运算放大器指标测试

实验七集成运算放大器指标测试一、实验目的1、掌握运算放大器主要指标的测试方法。

2、通过对运算放大器μA741指标的测试,了解集成运算放大器组件的主要参数的定义和表示方法。

二、实验原理集成运算放大器是一种线性集成电路,和其它半导体器件一样,它是用一些性能指标来衡量其质量的优劣。

为了正确使用集成运放,就必须了解它的主要参数指标。

集成运放组件的各项指标通常是由专用仪器进行测试的,这里介绍的是一种简易测试方法。

本实验采用的集成运放型号为μA741(或F007),引脚排列如图7-1所示,它是八脚双列直插式组件,②脚和③脚为反相和同相输入端,⑥脚为输出端,⑦脚和④脚为正、负电源端,①脚和⑤脚为失调调零端,①⑤脚之间可接入一只几十KΩ的电位器并将滑动触头接到负电源端。

⑧脚为空脚。

1、μA741主要指标测试图7-1 μA741管脚图图7-2 U0S、I0S测试电路1)输入失调电压U 0S理想运放组件,当输入信号为零时,其输出也为零。

但是即使是最优质的集成组件,由于运放内部差动输入级参数的不完全对称,输出电压往往不为零。

这种零输入时输出不为零的现象称为集成运放的失调。

输入失调电压U 0S 是指输入信号为零时,输出端出现的电压折算到同相输入端的数值。

失调电压测试电路如图7-2所示。

闭合开关K 1及K 2,使电阻R B 短接,测量此时的输出电压U 01 即为输出失调电压,则输入失调电压O1F11OS U R R R U +=实际测出的U 01可能为正,也可能为负,一般在1~5mV ,对于高质量的运放U 0S 在1mV 以下。

测试中应注意:a 、将运放调零端开路。

b 、要求电阻R 1和R 2,R 3和R F 的参数严格对称。

2)输入失调电流I 0S输入失调电流I 0S 是指当输入信号为零时,运放的两个输入端的基极偏置电流之差,B2B1OS I I I -=输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级两个晶体管β的失配度,由于I B1 ,I B2 本身的数值已很小(微安级),因此它们的差值通常不是直接测量的,测试电路如图7-2所示,测试分两步进行a 、 闭合开关K 1及K 2,在低输入电阻下,测出输出电压U 01 , 如前所述,这是由输入失调电压U 0S 所引起的输出电压。

声频功率放大器基本参数测试方法

声频功率放大器基本参数测试方法

声频功率放大器基本参数测试方法旋钮设置:音量旋钮最小,ECHO最小,其余置中。

各声场处理关闭,静音取消。

额定条件:功放机电源为额定(AC 220V),输入信号为额定源电动势(500MV/1KH Z 600Ω)。

输出负载为额定负载8Ω,输出功率为额定功率(技定)。

(MIC的额定源电动势为50MV/1KHZ,600Ω。

)正常工作条件:将放大器置于额定条件下,把输入信号(额定源电动势)衰减10DB。

1.静太中点电压测量:在通电情况下不接输入和输出,用数字万用表直流200MV检测输出对地电压值。

2.最大噪声电平(MV):输入0信号,音量至最大,输出接额定负载8Ω,用毫伏表测输出电平。

3.信号比(DB):额定条件下将输入信号降为0V(接短接插),用毫伏表测试输出电平与额定输出电平之差(可直接读出DB值)。

4.增益差(DB):正常工作条件下,调音量电位器从最大odB计调至最小—46dB。

此过程中毫伏表L/R的最大差值(dB)。

5.输出功率(W/V):额定条件下L/R输入500MV/1KHZ同相信号,主声道输出失真为1%时输出功率为主声道功率。

中置输出失真1%之功率为中置功率。

R/L输入500MV/1KHZ反相信号(模拟),或AC-3直接输入500MV/1KHZ同相信号,环绕输出失真1%之功率为环绕功率。

6.分离度(DB):L或R输入500MV/1KHZ信号,示波器最大不失真输出。

再把L或R输入信号去掉,接上10KΩ对地电阻,从毫伏表读出L/R的差值。

7.频响:放大器置正常工作条件下,再把信号限至10K,16K,100HZ,40HZ时,看输出与1KHZ时之差值dB,中置环绕依据技术要求而定。

8.音调范围:正常工作条件下,输出2.5V再把信号频率限至100HZ,10KHZ调整BASS/TREBLE电位器,从毫伏表上看其最大提升和衰减值(与旋钮中点值相比)。

(数码调节类似)9.灵敏度:音量开至最大,输入信号1KHZ,幅度由小到大至示波器最大不失真输出止,再用毫伏表测输入信号的幅度。

iec中放大器测试标准

iec中放大器测试标准

iec中放大器测试标准国际电工委员会(International Electrotechnical Commission,简称IEC)是一个由国际标准制定机构,负责制定和推广电工和电子技术领域的国际标准。

在放大器测试领域,IEC制定了一系列的标准,以确保放大器的性能和质量符合国际标准。

一、IEC 60094:电声设备的标准方法IEC 60094规定了放大器的一般测试方法和参数。

这个标准包括了对放大器输入输出灵敏度、频率响应、总谐波失真等参数的测试方法。

通过这些测试,可以评估放大器的总体性能和质量。

二、IEC 60268-3:电声设备的声音质量评估IEC 60268-3规定了如何评估放大器的声音质量。

这个标准使用一系列客观和主观测试方法,以确定放大器的声音表现是否达到预期的音质标准。

其中包括对频率响应、失真、信噪比等参数的测试,并使用技术和非技术人员进行声音质量的主观评估。

三、IEC 60268-5:电声设备的音频测量方法明了各种音频参数的测量方法,包括频率响应、失真、信噪比、动态范围等。

这些测量可以帮助评估放大器的音频性能,以及在设计阶段进行合理调整。

四、IEC 60268-21:电声设备的测量方法IEC 60268-21规定了放大器测试中的其他测量方法。

这个标准详细说明了各种其他参数的测量方法,包括输出功率、交叉谐波失真、噪声功率比等。

通过这些测量,可以获得放大器的其他重要性能参数,以评估其质量和适用性。

五、IEC 60268-8:电声设备的信噪比测量方法IEC 60268-8规定了放大器测试中的信噪比测量方法。

信噪比是一个用来衡量音频设备性能的重要指标,特别是在低音频信号环境下。

该标准详细说明了如何测量和计算信噪比,并提供了一些实用的技术指南和计算公式。

六、IEC 60268-13:电声设备的音频功率测量率是衡量放大器输出能力的重要指标,特别是在高功率输出情况下。

该标准详细说明了如何测量和计算音频功率,并提供了一些实用的方法和建议。

测量放大器实验报告

测量放大器实验报告

测量放大器实验报告一、系统功能及性能指标500~1A VD = V 10U 0±= f =0~10HZ ΩM R id 2≥id U =V V 5.7~5.7-+时,510>CMR K 500=VD A 时,噪声电压峰峰值< 1V电路类型:测量放大器二、实验目的本实验是学习测量放大器的设计方法和掌握测量放大器的调试方法。

其中,测量放大器称为仪表放大器或数据放大器,是对微信号进行测量,主要通过运用集成运放组成测量放大电路实现对微弱电压信号的放大,要求有较高的输入电阻来减少测量的误差和被测电路的影响。

通过实验,熟悉OP07的参数和应用,掌握电路设计调试的基本流程和方法,通过分析和计算完成实验的内容。

三、实验要求图(1)1、差模电压放大倍数500A=,可手动调节;1~VD2、最大输出电压为±10V,非线性误差< 0.5%;3、在输入共模电压+7.5V~-7.5V范围内,共模抑制5K;>10CMR4、在500=A时,输出端噪声电压的峰-峰值小于1V;VD4、通频带0~10Hz;5、直流电压放大器的差模输入电阻≥2MΩ(可不测试,由电路设计予以保证)。

四、方案论证在测量放大器的设计中,第一级应采用两个集成运放OP07同向并联接入,组成同相的差动放大器,因为这样可以增强共模抑制能力。

其中,要求两个运放的输入阻抗,共模抑制比,开环增益一致,这样才能保证具有差模和共模电阻大,还能保证使两运放的共模增益和失调及漂移产生的误差相互的抵消。

在第二级中,为了阻止共模信号的传递,差分放大电路在同向并联电路之后再接上一个OP07,从而使双端输出变成单端输出。

在输出端接一个电位器,使得电压放大倍数改变,实现放大倍数500A1~=可调,从而完成本实验的要求。

VD六、OP07芯片手册OP07简介:OP07芯片是一种低噪声,非斩波稳零的双极性运算放大器集成电路。

具有低失调、低漂移、低噪声、偏置电流小等优点。

音响放大器主要技术指标及测试方法

音响放大器主要技术指标及测试方法

音响放大器主要技术指标及测试方法1.额定功率音响放大器输出失真度小于某一数值(如<5%)时的最大功率称为额定功率。

其表达式为式中,R L 为额定负载阻抗;V o(有效值)为R L 两端的最大不失真电压。

V o 常用来选定电源电压V CC测量P o 的条件如下:信号发生器的输出信号(音响放大器的输入信号)的频率fi=1kHz ,电压Vi=5mV ,音调控制器的两个电位器RP1、RP2置于中间位置,音量控制电位器置于最大值,用双踪示波器观测v i 及v o 的波形,失真度测量仪监测v o 的波形失真。

注意 在最大输出电压测量完成后应迅速减小V i ,否则会因测量时间太久而损坏功率放大器。

测量P o 的步骤是:功率放大器的输出端接额定负载电阻R L(代替扬声器),逐渐增大输入电压V i ,直到v o 的波形刚好不出现削波失真(或<3%),此时对应的输出电压为最大输出电压,由式(3-7-22)即可算出额定功率P o 。

2.音调控制特性输入信号v i (=100mV)从音调控制级输入端的耦合电容加入,输出信号v 0从输出端的耦合电容引出。

先测1kHz 处的电压L2oo R V P =occ 22V V ≥增益A v0(A v0=0dB),再分别测低频特性和高频特性。

同样,测高频特性是将RP2的滑臂分别置于最左端和最右端,频率从1kHz至50kHz变化,记下对应的电压增益。

最后绘制音调控制特性曲线,并标注与f L1、fx、f L2、f0(1kHz)、f H1、f H x、f H2等频率对应的电压增益。

3.频率响应放大器的电压增益相对于中音频f o(1kHz)的电压增益下降3dB时对应低音频截止频率f L和高音频截止频率f H,称f L ~ f H 为放大器的频率响应。

测量条件同上,调节RP3使输出电压约为最大输出电压的50%。

测量步骤是:音响放大器的输入端接v i (等于5mV),RP1和RP2置于最左端,使信号发生器的输出频率f i从20Hz至50kHz变化(保持v i=5mV不变),测出负载电阻RL上对应的输出电压V o,用半对数坐标纸绘出频率响应曲线,并在曲线上标注f L与f H值。

功率放大器S22测试

功率放大器S22测试

功率放大器热态S22测试是德射频高级应用工程师王创业在射频微波论坛上面经常会看到关于功率放大器热态S22测试的问题。

大家有很多疑惑甚至会步入一个误区。

为回答这些问题,本文首先回顾了S参数的定义,然后介绍了热态S22测试的方法。

对于S参数是线性系统对射频微波系统端口的表征。

大家为什么对功率放大器输出端口的阻抗这么关心呢?主要还是由于功率放大器输出端口还要接后级电路或者是天线。

而实际上,测出来的S22参数对实际又有什么意义呢?这个问题大家一定要搞清楚。

1.S参数的定义 [1]S参数即散射参数。

对于任意一个N 端口的射频网络,我们把它当作一个“黑盒子”,不用管内部是一个什么样的电路结构。

当射频信号输入到一个端口时,信号在传播的时候会有三种情况。

其中一部分信号会从输入端被反射回来,一部分信号会出现在其它端口(这部分信号也有可能被放大),还有一部分信号在传输过程中通过热辐射或电磁辐射的方式耗散掉了。

当信号通过网络后,其幅度和相位均发生了变化,用S 参数可以精确描述上述多端口网络中射频能量的传播和反射特性。

S 参数被定义为在给定频率和系统阻抗的条件下,任何非理想多端口网络的传输和反射特性。

S 参数描述了输入到一个N 端口的信号到其中每个端口的响应。

S 参数下标中的第一位数字代表响应端,第二位数字代表激励端。

如S21 表示端口2相对于端口1 输入信号的响应;S11 代表端口1 相对于端口1 的输入信号的响应。

我们以图1所示的通用二端口网络为例来说明S 参数的定义。

其中输入到网络的信号标注为a,离开网络的信号标注为b。

图1 双端口S参数网络如果信号发生器接到端口1,端口2 接匹配负载,则二端口网络的入射波为a1,从网络返回端口1 的反射波为b1;通过网络到端口2 的信号为b2,从负载返回网络的反射波为a2(对于匹配负载,这个反射波数值为零)。

用这些电压波定义的端口1 的S 参数为:其中S11 表示当端口2 接匹配负载时,端口1 的电压反射系数;S21 表示当端口2 接匹配负载时,从端口1 到端口2 的传输系数,即增益或损耗。

几种常用运算放大器举例

几种常用运算放大器举例

运算放大器分类总结报告1、通用型运算放大器通用型运算放大器就是以通用为目的而设计的。

这类器件的主要特点是价格低廉、产品量大面广,其性能指标能适合于一般性使用。

例μA741(单运放)、LM358(双运放)、LM324(四运放)及以场效应管为输入级的LF356都属于此种。

它们是目前应用最为广泛的集成运算放大器。

下面就实验室里也常用的LM358来做一下介绍:LM358 内部包括有两个独立的、高增益、内部频率补偿的双运算放大器,适合于电源电压范围很宽的单电源使用,也适用于双电源工作模式,在推荐的工作条件下,电源电流与电源电压无关。

它的使用范围包括传感放大器、直流增益模块和其他所有可用单电源供电的使用运算放大器的场合。

:外观管脚图它的特点如下:·内部频率补偿·直流电压增益高(约100dB)·单位增益频带宽(约1MHz)·电源电压范围宽:单电源(3—30V)双电源(±1.5 一±15V)·低功耗电流,适合于电池供电·低输入偏流·低输入失调电压和失调电流·共模输入电压范围宽,包括接地·差模输入电压范围宽,等于电源电压范围·输出电压摆幅大(0 至Vcc-1.5V)常用性能指标:性能图表:大信号频率响应 大信号电压开环增益电压跟随器对小信号脉冲的响应常用电路: (1)、正向放大器根据虚短路,虚开路,易知:1(1)2R Vo Vi R =+ (2)、高阻抗差分放大器电路左半部分可以看作两个同向放大器,分别对e1,e2放大(a+b+1)倍,右半部分为一个差分放大器放大系数为C ,因此得到结果:0(21)(1)e C e e a b =-++(3)、迟滞比较器将输入电平与参考电平作比较,根据虚短路,虚开路有:121()()O REF IN R R V V V R +=- ,则: 112112()()inL OL REF REFinHOH REF REFR V V V V R R R V V V V R R =-++=-++2、高精度运算放大器所谓高精度运放是一类受温度影响小,即温漂小,噪声低,灵敏度高,适合微小信号放大用的运算放大器。

手机信号放大器测试标准

手机信号放大器测试标准

环球微波手机信号放大器测试规范流程设备编号:XXXXXXXXXXXXX测试内容包括:指标内容结果频率 下行:890-910MHz上行:935-945MHz(可选频段)OK增益 下行:≥70dB上行:≥65dBOK 最大功率 ≥27dbm(可选)OK ALC ≥20 dBOK 噪音系数 ≥4DB杂散 <-40dBm OK 三阶互调 ≤-36dbm ok隔离度 >90dB OK驻波 ≤1.4 dB OK 带内波动 ≤+3.5dB OK 电源 AC220V OK分类测试方法:一.频率带宽:采用爱德万3361B频普分析仪加扫频信号发生器给定-50dbm的信号测试结果符合下行:930-954MHz 上行:885-909MHz的标准,带外抑制符合移动标准(f2+400KHz ≥25dBf2+600KHz ≥40dBf2+1MHz ≥50dBf2+2MHz≥60dB)。

二.增益:采用爱德万3361B 频普分析仪加点频信号发生器测试结果。

点频信号发生器输出-70DBM信号,测得下行增益:70DB,上行增益65DB 。

三.最大功率。

采用HM5014频普分析仪自带的跟踪发生器加外接20DB 衰减器测试结果。

最大功率未超过+27dbm四.ALC:HM5014频普分析仪加信号源。

测试结果合格四.ATT:HM5011频普分析仪加信号源。

测试结果合格五.杂散:.频率:896M电平:-43dbm 3361B 频普分析仪测试结果为<-43dBm :明显优于国家标准。

六.隔离度:爱德万3361B 频普分析仪加信号发生器2台,测试结果>70dB , 七.驻波:XCDT-5型驻波比测试仪,测试结果合格八.三阶互调测试仪器为爱德万R3361频普分析仪加双音频率合成器。

测试频率942MHZ 和897MHZ,双音带宽设置为600K。

将直放站上下行功率推到饱和(20dbm)状态,测试结果小于-36dbm,优于国家标准。

运算放大器性能测量方法图解

运算放大器性能测量方法图解

运算放大器性能测量方法图解运算放大器是差分输入、单端输出的极高增益放大器,常用于高精度模拟电路,因此必须精确测量其性能。

但在开环测量中,其开环增益可能高达107或更高,而拾取、杂散电流或塞贝克(热电偶)效应可能会在放大器输入端产生非常小的电压,这样误差将难以避免。

通过使用伺服环路,可以大大简化测量过程,强制放大器输入调零,使得待测放大器能够测量自身的误差。

图1显示了一个运用该原理的多功能电路,它利用一个辅助运放作为积分器,来建立一个具有极高直流开环增益的稳定环路。

开关为执行下面所述的各种测试提供了便利。

图1. 基本运算放大器测量电路图1所示电路能够将大部分测量误差降至最低,支持精确测量大量直流和少量交流参数。

附加的“辅助”运算放大器无需具有比待测运算放大器更好的性能,其直流开环增益最好能达到106或更高。

如果待测器件(DUT)的失调电压可能超过几mV,则辅助运放应采用±15 V电源供电(如果DUT 的输入失调电压可能超过10 mV,则需要减小99.9 kΩ电阻R3的阻值。

)DUT的电源电压+V和–V幅度相等、极性相反。

总电源电压理所当然是2 × V。

该电路使用对称电源,即使“单电源”运放也是如此,因为系统的地以电源的中间电压为参考。

作为积分器的辅助放大器在直流时配置为开环(最高增益),但其输入电阻和反馈电容将其带宽限制为几Hz。

这意味着,DUT输出端的直流电压被辅助放大器以最高增益放大,并通过一个1000:1衰减器施加于DUT的同相输入端。

负反馈将DUT输出驱动至地电位。

(事实上,实际电压是辅助放大器的失调电压,更精确地说是该失调电压加上辅助放大器的偏置电流在100 kΩ电阻上引起的压降,但它非常接近地电位,因此无关紧要,特别是考虑到测量期间此点的电压变化不大可能超过几mV)。

测试点TP1上的电压是施加于DUT输入端的校正电压(与误差在幅度上相等)的1000倍,约为数十mV或更大,因此可以相当轻松地进行测量。

放大器S参数测试的几种方法浅析

放大器S参数测试的几种方法浅析

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通用运算放大器主要参数测试方法说明运算放大器是模拟器件的核心,熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础,掌握了运放的测试,其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚,所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位,故劝各位熟悉并掌握它,现将其各项参数测试具体说明如下:1. 运算放大器测试方法基本原理采用由辅助放大器(A)与被测器件(DUT)构成闭合环路的方法进行测试,基本测试原理图如图1所示。

图 1辅助放大器应满足下列要求:(1) 开环增益大于60dB;(2) 输入失调电流和输入偏置电流应很小;(3) 动态范围足够大。

环路元件满足下列要求:(1) 满足下列表达式Ri·Ib<VosR<RidR·Ib >VosRos<Rf<RidR1=R2R1>RL式中:Ib:被测器件的输入偏置电流;Vos:被测器件的输入失调电压;Rid:被测器件的开环差模输入电阻;Ros:辅助放大器的开环输出电阻;(2) Rf/ Ri值决定了测试精度,但须保证辅助放大器在线性区工作。

2.运算放大器测试适配器SP-3160Ⅲ数/模混合集成电路测试系统提供的运算放大器测试适配器便是根据上述基本原理设计而成。

它由运放测试适配板及一系列测试适配卡组成,可以完成通用单运放、双运放、四运放及电压比较器的测试。

运算放大器适配器原理图如附图所示。

3.测试参数以OP-77G为例,通用运算放大器主要技术规范见下表。

3.1参数名称:输入失调电压Vos (Input Offset Voltage)。

3.1.1参数定义:使输出电压为零(或规定值)时,两输入端间所加的直流补偿电压。

3.1.2测试方法: 测试原理如图2 所示。

图2(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;(2) 电源端施加规定的电压;(3) 开关“K4”置地(或规定的参考电压);(4) 在辅助放大器A的输出端测得电压Vlo;(5) 计算公式:Vos=(Ri/(Ri+Rf))*VLo。

3.1.3编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)----测试名称:vos----测量方式:VosBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=0.0001V测量低限=____V测量延迟:50mS箝位延迟:50mSSKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCVDCV量程:+/-2V3.2参数名称:输入失调电流Ios (Input Offset Current)。

3.2.1参数定义:使输出电压为零(或规定值)时,流入两输入端的电流之差。

3.2.2测试方法:测试原理如图3 所示。

图3(1)在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;(2) 电源端施加规定的电压;(3) 开关K4置“地”(或规定的参考电压);(5) 开关K1、K2断开,在辅助放大器A的输出端测得电压VL1;(6) 计算公式:Ios=(Ri/(Ri+Rf))*((VL1-VL0)/R) 。

3.2.3编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)测试条件详见下一参数。

3.3参数名称:输入偏置电流Ib (Input Bias Current)。

3.3.1参数定义:使输出电压为零(或规定值)时,流入两输入端电流的平均值。

3.3.2 测试方法:测试原理如图4 所示。

图4 (1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;(2) 电源端施加规定的电压;(3) 开关K4置“地”(或规定的参考电压);(4) 开关K1断开、K2闭合,在辅助放大器A的输出端测得电压VL2;(5) 开关K1闭合、K2断开,在辅助放大器A的输出端测得电压VL3;(6) 计算公式:Ib=(Ri/(Ri+Rf))*((VL2-VL3)/2R) 。

3.3.3编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)----测试名称:Ib/Ios----测量方式:Ib/IosBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=2.8nA测量低限=2.8nA测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCVDCV量程:+/-2V3.4参数名称:开环电压增益Avo (Large Signal Voltage Gain)。

3.4.1参数定义:器件开环时,输出电压变化与差模输入电压变化之比。

3.4.2测试方法:测试原理如图5 所示。

图5(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;(2) 电源端施加规定的电压;(3) 开关K4置“1”,在辅助放大器A的输出端测得电压VL4;(4) 开关K4置“2”,在辅助放大器A的输出端测得电压VL5;(5) 计算公式:Avo=((Vref+-Vref-)/(VL4-Vl5))*((Ri+Rf)/Ri) 或Avo=20lg(((Vref+-Vref-)/|(VL4-Vl5)|)*((Ri+Rf)/Ri))(dB) 。

3.4.3编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)----测试名称:Avo----测量方式:Op_AvoBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=____dB测量低限=126dB测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,11,12,13,17,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=-5_5V电压基准源3量程+/-10V测试通道TP1测量单元DCVDCV量程:+/-2V3.5参数名称:共模抑制比CMRR (Common-Mode Rejection Ratio)。

3.5.1参数定义:差模电压增益与共模电压增益之比。

3.5.2测试方法:测试原理如图6 所示。

图6(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;(2) 电源端施加规定的电压;(3) 输入端施加规定的直流共模信号电压Vic+,在辅助放大器A的输出端测得电压VL6;(4) 输入端施加规定的直流共模信号电压Vic-,在辅助放大器A的输出端测得电压VL7;(5) 计算公式:CMRR=((Vic+-Vic-)/(VL6-VL7)*((Ri+Rf)/Ri)或CMRR=20lg(((Vic+-Vic-)/(VL6-VL7)*((Ri+Rf)/Ri))(dB) 。

3.5.3编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)----测试名称:CMRR----测量方式:CmrrBias 1=-5_-25 VClamp1=-10.000mABias 2=25_5 VClamp2=10.000mA测量高限=____dB测量低限=116dB测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,11,12,13,18,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=-5_5V电压基准源3量程+/-10V测试通道TP1测量单元DCVDCV量程:+/-2V运算放大器是模拟器件的核心,熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础,掌握了运放的测试,其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚,所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位,故劝各位熟悉并掌握它,现将其各项参数测试具体说明如下:3.6参数名称:电源电压抑制比PSRR (Power Supply Rejection Ratio)。

3.6.1参数定义:电源的单位电压变化所引起的输入失调电压的变化率。

3.6.2测试方法:测试原理如图7所示。

图7∙在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;∙开关K4置“地”(或规定的参考电压);∙开关K置“1”,在辅助放大器A的输出端测得电压VL8;∙正电源电压变化?V,负电源电压为V-,在辅助放大器A的输出端测得电压VL9;计算公式:PSRR+=((VL9-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf))或PSRR+=20lg(((VL9-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf)))(dB) ;(5) 负电源电压变化?V,正电源电压为V+,在辅助放大器A的输出端测得电压VL10;计算公式:PSRR-=((VL10-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf))或PSRR-=20lg(((VL10-Vl8)/ ?V)*(Ri/(Ri+Rf)))(dB) 。

3.6.4编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)----测试名称:psrr+----测量方式:PsrrBias 1=-15 VClamp1=-10.000mABias 2=15_5 VClamp2=10.000mA测量高限=____dB测量低限=110dB测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCVDCV量程:+/-2V----测试名称:psrr- ----测量方式:PsrrBias 1=-15_-5 VClamp1=-10.000mABias 2=15 VClamp2=10.000mA测量高限=____dB测量低限=110dB测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCVDCV量程:+/-2V3.7参数名称:输出电压摆幅Vo (Output Voltage Swing)。

3.7.1参数定义:器件在规定电源电压和负载下,所能输出的最大电压。

3.7.2测试方法:测试原理如图8所示。

图8(1) 在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中;(2) 电源端施加规定的电压;(3) 输入端施加规定的正电压。

在被测器件输出端测得电压Vo+;(4) 输入端施加规定的负电压。

在被测器件输出端测得电压Vo-。

3.7.3编程举例:(测试对象:OP-77G,测试系统:SP3160)----测试名称:vo+----测量方式:MeterBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=____V测量低限=12.5V测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,9,11,13,17,19,23,27]电压基准源1电压=1V电压基准源1量程+/-2.5V电压基准源4电压=1V电压基准源4量程+/-2.5V测试通道TP2测量单元DCVDCV量程:+/-20V----测试名称:vo- ----测量方式:MeterBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=-12.5V测量低限=____V测量延迟:10mS箝位延迟:10mSSKon=[0,4,9,11,13,17,19,23,27]电压基准源1电压=-1V电压基准源1量程+/-2.5V电压基准源4电压=-1V电压基准源4量程+/-2.5V测试通道TP2测量单元DCVDCV量程:+/-20V3.8参数名称:增益带宽积GBP (Closed-loop Bandwidth Product)。

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