[自然科学]第5章 X射线衍射原理第二节
第五章X射线衍射方法107
特殊试样的制备方法:
当样品很少时,可将粉末和胶调匀徐在平玻片上制成。
对一些多晶质的固体样品,如果其中的晶粒足够细, 也可不必研磨成粉末。只要切磨出一个平整的面, 且样品的大小合适即可。如一些金属块、陶瓷片。
L
d/d
晶面间距的变化引起的衍射线条的位置改变
L = 2R d/d -ctg
-2R sin =-2R sin =-2R n/2d
cos
1- sin2
1-(n/2d)2
-2R sin =-2R sin =-2R n/2d
cos
(2)将晶体粉末与适量的树胶混合均匀,调成面团状,然后夹 在两片毛玻璃之间,搓成所是粗细的粉末柱。
(3)试样粉末装填于预先制备的胶管或含轻元素的玻璃毛细管 中,制成粉末柱。
4. 衍射花样的测量和计算
衍射角度的测量
主要是通过测量底片上衍射线条的相对位置计算角
衍射弧对与角的关系
对于前反射区(2<90)衍射弧对, 有
6. 样品的制备
1、制备样品的方法
与照相法的粉末试样制备一样,试样中晶体微粒 的线性大小以在10-3mm数量级为宜,对无机非金属 样品,可以将它们放在玛瑙研钵中研细至用手指搓 摸无颗粒感时即可。金属或合金试样用锉刀挫成粉 末。所需的样品量比照相法要多,大约在0.5-1克 左右。
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
6. 样品的制备
被测试样制备良好,才能获得正确良好的衍射信息。 对于粉末样品,通常要求其颗粒平均粒径控制在5μm左右,
3)X射线的波长越长,分辨本领越高。所以为了提高相机的 分辨本领,在条件允许的情况下,应尽量采用波长较长的X射 线源。
材料分析方法 第五章(2)
式中:f—原子散射因子, 显然 f ≦ Z
S0 •A•
f 的物理意义:
•C
f=
一个原子散射波的振幅 一个电子散射波的振幅
•
S
D
•
• 2q B• •
➢如何得到f值? ➢(1) 由sinq/λ值, ➢ 从右图可查到f 值。
➢(2)由sinq/λ值, ➢查本书附录6, ➢可得到f 值。
总结: 一个原子的散射
➢其坐标为(0, 0, 0),原子散射因子为f,
➢代入结构因子表达式:
FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得 FHKL = f e2i( 0+0+0) = f
则 |FHKL|2 =f2
结论:在简单点阵情况下,FHKL不受HKL 的影响,即HKL为任意整数时,都能产生 衍射。
FHKL = f e2i(0) + f ei(H+K) + f ei(H+L) + f
ei(K+L)
= f [1 + (-1)(H+K) + (-1)(H+L) + (1)(K+L)]
➢可见:
①当H、K、L全为奇数或偶数时,则 (H+K)、(H+L)、(K+L)均为偶数,这时: FHKL = 4f, ∴ |FHKL|2 = 16f2; ②当H、K、L中有2个奇数一个偶数或2个 偶 数 1 个 奇 数 时 , 则 ( H+K) 、 ( H+L) 、
= f [e2i0 + ei(H+K)] = f [1 + (-1)(H+K)]
➢由FHKL = f [1 + (-1)(H+K)] ➢可见:对于底心C点阵:
材料分析测试 第五章 X射线衍射原理分析
7
3.布拉格方程的讨论
2dsin=n
(1)描述了“选择反射”的规律:产生“选择反射”的 方向是各原子面反射线干涉一致加强的方向,即满足布拉 格方程的方向。
(2)表达了反射线空间方位()、入射线方位()与 反射晶面间距(d)和波长()的相互关系。
它们与晶体内原子分布规律(晶体结构)密切相关。
2
第一节 衍射方向
一、布拉格方程 二、衍射矢量方程 三、厄瓦尔德图解 四、劳埃方程
3
1912年劳埃(M. Van. Laue)用X射线照射五水硫酸铜 (CuSO4·5H2O)获得世界上第一张X射线衍射照片,并由光 的干涉条件出发导出描述衍射线空间方位与晶体结构关系 的公式(称劳埃方程)。
如:以Cu K射线照射 NaCl表面,当=15和 =32时记录到反射线。
设入射线与反射面之夹角为,称掠射角或布拉格角,则按反射定律, 反射线与反射面之夹角也应为。
5
2.布拉格方程的导出
考虑到: ①晶体结构的周期性,可将晶体视为由许多相互平行且晶面
间距(d)相等的原子面组成; ②X射线具有穿透性,可照射到晶体的各个原子面上; ③光源及记录装置至样品的距离比 d 数量级大得多,故入射
反射面(HKL)法线(N)
入射线方向单位矢量s0
反射线方向单位矢量s
衍射矢量 s-s0
反射定律的数学表达式:s-s0//N, s-s0=2sin 故布拉格方程可写为:s-s0=/d
12
“反射定律+布拉格方程”可用衍射矢量(s-s0)表示为
s-s0//N
s s0
d HKL
由倒易矢量性质可知,(HKL)晶面对应的倒易矢量 r*HKL//N且r*HKL=1/dHKL,引入r*HKL,则上式可写为
材料分析方法 第五章(2)
I
简单立方P格子
o
40o 2q
60o
(2) 计算体心点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 每个晶胞中有2个同类原子,其坐标为 (0, 0, 0), (1/2, 1/2, 1/2)。这两个原子散射 因子均为 f ,代入结构因子表达式: FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i( H/2+K/2+L/2) = f [e2i0 + ei(H+K+L)] = f [1 + (-1)(H+K+L)]
• Z+ • 1s • • 2s • 2p •
•
S0
一般情况下,若O点放一个原子,内有Z个电 子,由于各电子散射在同一方向的位相不同, 将会发生干涉, 而使P点散射强度有所减弱, Ia < Z 2 Ie 比照式Ia = Z2 Ie,引入因子f, 将原子散射强度表达为:Ia = f2 Ie • S 式中:f—原子散射因子, D • S0 •A• 显然 f ≦ Z 2q • f 的物理意义: B• •C f= 一个原子散射波的振幅 一个电子散射波的振幅
由FHKL = f [1 + (-1)(H+K+L)] 可见: ① 当H + K + L =奇数时, FHKL = 0, ∴ |FHKL|2 = 0。 ② 当H + K + L = 偶数时, FHKL = 2f ∴ |FHKL|2 = 4f2。
结论: 在体心点阵中,只有当H+K+L为偶数时才 能产生衍射
体心点阵中,只有当H+K+L=偶数时, 才 能产生衍射, 例: 存在110, 200, 211, 220, 310, 222…等 反射, 其指数平方和(H2+K2+L2)之比: 2:4:6:8:10:12…
x射线衍射工作原理
x射线衍射工作原理X射线衍射是一种广泛应用于材料结构分析和晶体学研究的技术。
其工作原理基于X射线穿过晶体后的散射现象。
X射线通过晶体时,会与晶体内的原子发生作用,导致X射线的散射方向和强度发生改变。
通过测量和分析散射X射线的特性,我们可以得到关于晶体的结构信息。
X射线衍射的工作原理可以用布拉格定律来解释。
根据布拉格定律,当入射X射线的波长和晶体的晶格常数满足特定条件时,散射的X射线波面会叠加形成衍射图样。
这些衍射图样呈现出明亮的衍射斑点,每个斑点对应着晶体中特定的晶面。
为了进行X射线衍射实验,首先需要一台X射线发生器。
X射线发生器会产生高能的X射线束,该束通过使用称为X射线管的装置产生。
X射线管由阴极和阳极组成,当阴极发射电子时,经过加速和碰撞作用,产生X射线。
产生的X射线束通过调节的光学元件来聚焦,并进一步通过样品。
样品是一个晶体,在X射线束的作用下,产生散射。
散射的X射线被称为衍射光,其角度和强度可以通过衍射图样来确定。
接下来,衍射光会被收集并聚焦到一个光学探测器上,比如一个镜子或一个光电二极管。
探测器会记录下衍射光的特性,并通过电信号转换为可见的图像或者其他数据。
最后,通过分析衍射图样和探测器记录的数据,我们可以推断出晶体的结构信息,比如晶胞参数、晶面排列等。
这些结构信息对于研究材料性质和开发新材料具有重要意义。
总之,X射线衍射通过测量和分析散射的X射线来研究晶体结构。
它的工作原理基于X射线的穿透和散射现象,通过衍射图样和探测器记录的数据可以获得晶体的结构信息。
这种技术在材料科学和晶体学研究中发挥着重要作用。
《X射线衍射原理》 (2)幻灯片
我们将布拉格方程中的n隐含在d中得到简化的布拉格方程:
2d hk Sl
n
i n,令 d HK d L n hk
l
2dHK SL i n
把〔hkl〕晶面的n级反射看成为与〔hkl〕晶面平行、面间
距为dhkl/n的晶面(nh,nk,nl)的一级反射。面间距为dHKL
的晶面并不一定是晶体中的原子面,而是为了简化布拉格方
n
AbAe
fj eij
j1
引入构造参数 : FHKLA A b ejn 1 fjeij
可知晶胞中〔H K L〕衍射面的衍射强度
Ib FHKL 2Ie
构造因子FHKL 的讨论
关于构造因子 产生衍射的充分条件及系统消光 构造因子与倒易点阵的权重 构造消光
如图3-1,设晶胞中有两个阵点O、A,取O为坐标原 点,A点的位置矢量r=xa+yb+zc,即空间坐标为 〔x,y,z〕,S0和S分别为入射线和散射线的单位矢量, 散射波之间的光程差为:
反 射 面 法 线
2
2. 布拉格方程的讨论
选择反射 产生衍射的极限条件 干预面和干预指数 衍射把戏和晶体构造的关系
选择反射 X射线在晶体中的衍射实质上是晶体中各原子散射波 之间的干预结果。只是由于衍射线的方向恰好相当于 原子面对入射线的反射,所以借用镜面反射规律来描 述衍射几何。
但是X射线的原子面反射和可见光的镜面反射不同。一 束可见光以任意角度投射到镜面上都可以产生反射, 而原子面对X射线的反射并不是任意的,只有当 、 、 d三者之间满足布拉格方程时才能发生反射,所以把X 射线这种反射称为选择反射。
衍射晶面。根据倒易矢量的两个根本性质,可以得到
S0
布拉格方程的矢量式---
第五章 X射线衍射原理
生的相互平行的反射线间的干涉作用导致了“选择反 射”的结果.
据此,导出布拉格方程
如图5-2所示,设一束平行的X射线(波长λ)以θ角照射到
晶体中晶面指数为(hkl)的各原子面上,各原子面产生反射.
任选两相邻面(A1与A2),反射线光程差 δ=ML+LN=2dsinθ;
有机化学家豪普物曼和卡尔勒在50年代后建立了应用X射线 分析的以直接法测定晶体结构的纯数学理论,特别对研究大分 子生物物质结构方面起了重要推进作用,他们因此获1985年诺 贝尔化学奖
第一节 衍射方向
一.Braag方程
1.布拉格实验(现代X射线衍射仪的原型) •在满足反射定律的方向设置反射线接收(记录)装 置 •记录装置与样品台以2∶1的角速度同步转动 得到了“选择反射”的结果.即当X射线以某些角度入射时,记录到 反射线(以CuKα射线照射NaCl表面,当θ=15°和θ=32°时记录到反 射线);其它角度入射,则无反射
每一个可能产生反射的(HKL)晶面均有各自的衍射矢量三
角形.各衍射矢量三角形的关系如图5-6所示.
s0为各三角形之公共边;若以s0矢量起点(O)为圆心,|s0|为半 径作球面(此球称为反射球或厄瓦尔德球),则各三角形之另一
腰即s的终点在此球面上;因s的终点为R*HKL之终点,即反射晶 面(HKL)之倒易点也落在此球面上
. X射线发展史:
•1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现了X射线 (1901年获得首届诺贝尔奖)
•1912年,德国的Laue第一次成功地进行X射线通过晶体发生衍 射的实验,验证了晶体的点阵结构理论。并确定了著名的晶体 衍射劳埃方程式。从而形成了一门新的学科—X射线衍射晶体 学。 (1914年获得诺贝尔奖)
第5章 X射线衍射原理
§5.2 X射线衍射强度
强度小结:
• • 电子的散射强度与偏振/极化因子相关: (1+cos22θ)/2 一个只取决于散射角的量. 原子的散射强度与散射因子相关: f = Ea/Ee 以一个电子散射波振幅为单位所表征 的原子散射波振幅:一个与散射角和入射波长都 有关的量。 • 晶胞的散射强度与结构因子相关: F :(│F│=Eb/Ee )以一个电子散射波振幅为 单位所表征的晶胞散射波振幅:一个与晶体结构 有关的量。
09:12 材料现代分析方法 15
§5.1.4 布拉格方程的应用
sinθ=nλ 2 d sin θ=nλ 2 dHKL HKLsinθ=λ
布拉格方程把晶体周期性的特点d、X射线的 本质λ与衍射规律θ结合起来,利用之知其二 得其一的两种实验用途: ① 已知特征X射线的λ,实验测定θ,计算 晶面间距d,用之确定晶体的周期结构,即晶体 结构(晶格常数)分析。 ② 已知晶面间距d,实验测定θ,计算出未 知X射线的波长λ,用之研究产生X射线特征波 长,从而确定物质的元素组成及含量。此即X射 线波谱分析。
09:12 材料现代分析方法 11
§5.1.2 布拉格方程的导出
• • • • • • • • • • •
布拉格方程的导出 布拉格方程的导出
任选两相邻面,反射线光程差 δ=ML+LN= 2dsinθ; 干涉一致加强的条件为: δ=nλ 即 2dsinθ=nλ —布拉格方程Bragg’slaw 式中:n——任意正整数,称反射级数。
09:12 材料现代分析方法 12
∟
如图所示,设一束波长 为λ的平行X射线以角 度θ照射到晶体中晶面 指 数 为 ( hkl ) 的 各 原 子面上,各原子面产生 反射。
05-X射线衍射分析原理
布拉格方程是X射线在晶体中衍射必须满
足的基本条件。它反映了衍射线的方向(用θ表 示)与晶体结构(用d代表)之间的关系。可通 过θ的测定,在λ已知的情况下,解出d。或者d已 )选择反射 X射线从原子面的反射与可见光的镜面反射 不同,前者是有选择的反射,其选择条件为布拉格 定律;而一束可见光以任意角度投射到镜面上时都 可以产生反射,即反射不受条件限制。 因此,X射线的晶面反射称为选择反射。
衍射方向决定于:
晶胞大小、形状及位向等因素。 衍射强度决定于: 晶胞中的原子种类、数量及其具体分布排列。 X射线的衍射方向描述方法:
劳埃方程、布拉格方程和衍射矢量方程。
二、布拉格方程式(Bragg) 晶体对X射线的衍射在形式上可看成是在 特定条件下晶体的面网对X射线的“反射”。 将衍射成反射,是导出布拉格方程的基 础。1912年,由英国物理学家布拉格提出。
C
O
1/λ
O*
可将上述描述拓宽至三维空间,假设存在 一个半径为1/λ的球面,令X射线沿球面的直径 方向入射,则球面上所有点均满足布拉格条件, 该球被命名为反射球。
该法由厄瓦尔德提出,故称为厄瓦尔德球, 该作图方法被称为厄瓦尔德图解。
四、劳埃方程式(Laue)
1、一维原子列对X射线的衍射 一维原子列的衍射线可看成一个行列对 X射线的衍射。如下图,点阵周期为a0
满足劳埃第一方程式,即可产生衍射, 衍射线与行列成αh角,即与行列夹角为αh的 方向都可产生衍射,因此衍射线的分布是 以原子列为轴、以αh为半径角的圆锥母线。
h每等于一个整数值(0,1, 2……),即形成一 个圆锥状衍射面。 因此一维原子列对X射线的的衍射为一套 圆锥。
如果用单色X射线垂直照射原子列 (α0=90)时: a0 cosα h = h, cosα h = h / a0
X射线衍射原理
H3K3L3
H1K1L1
反射球or厄 瓦尔德球
同一晶体各晶面衍射矢量三角形关系 29
厄瓦尔德图解步骤:
• 1、入射线沿OO*方向入射,作 OO* =S0/λ。
• 2、以O为球心,以1/λ为半径 画一球(即反射球或厄瓦尔德 球)。
• 3、以O*为倒易原点,作晶体 的倒易点阵。
• 4、当x射线沿OO*方向入射的 情况下,所有能发生反射的晶 面,其倒易点都应落在反射球 上,从球心O指向倒易点的方 向是相应晶面反射线的方向。
布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解和 劳埃方程均表达了衍射方向与晶体结构和入射 线波长及方位的关系。
布拉格方程+反射定律、衍射矢量方程、劳埃 方程+协调性方程及厄瓦尔德图解之间是等效 的,都是衍射的必要条件。
X射线衍射必要条件的各种表达式,也适用于
电子衍射分析。
42
布拉格定律反应了晶胞的形状和大小, 但不能反映晶体中原子的种类、分布和 它们在晶胞中的位置,只是衍射产生的 必要条件 。
足两个方程,才可能产生衍射。
39
3. 三维劳埃方程
a(cos-cos0)=H b(cos-cos0)=K c(cos-cos0)=L
0、0及0——s0与a、b及c的夹角 、及——s与a、b及c的夹角
或
a(s s0) H
b(s s0) K
c (s s0 ) L
25
二、衍射矢量方程
由“反射定律+布拉格方程”表达的衍射必要条件,可 用衍射矢量方程表达。
反射面(HKL)法线(N)
入射线方向单位矢量s0
反射线方向单位矢量s
衍射矢量 s s0
反射定律的数学表达式: s s0 / / N s s0 2sin
第5章X射线物相分析-2
四、定性分析过程
物相定性分析一般步骤: (1)获得衍射花样:德拜照相法,或衍射仪法 (2)计算晶面间距d值和测定相对强度I/I1值( I1为最强线的强
度) (3)按强度递减顺序排列d值,并选出三强线; (4)查数值索引,找出最强线的晶面间距d1对应的组
(5)按照三强线d1、d2、d3找出符合较好的卡号及物相 (6)若无符合的物相,说明为复相物质,这时去掉不符的d值,另选
1.定性分析时晶面间距d值比相对强度重要 在利用PDF卡片进行衍射数据比较时,至少d值须相当符合,一般只 能在小数点后第二位有分歧。
2.造成强度异常的原因: 较期的PDF卡片的实验数据有许多是用照相法测得的,照相法对强
度的测量精度低,与衍射仪法样品也不相同。 样品有择优取向时,会使某根衍射线的强度异常强或弱。 衍射峰重叠 (三强线之一) 3.多相试样中某相含量很少,或该相各晶面反射能力很弱时,可能难 以显示该相的衍射线条,因而不能断言某相绝对不存在。
d/Å I/I1
1.50 20 1.29 9 1.28 18 1.22 5 1.08 20
d/Å I/I1
1.04 3 0.98 5 0.91 4 0.83 8 0.81 10
表4 剩余线条与Cu2O的衍射数据
待测试样中的剩余线条
d/Å
I/I1
观测值 归一值
3.01
5
7
2.47
70 100
2.13
d/Å I/I1
1.50 20 1.29 9 1.28 18 1.22 5 1.08 20
d/Å I/I1
1.04 3 0.98 5 0.91 4 0.83 8 0.81 10
表1 待测相的衍射数据
d/Å I/I1
(完整word版)第五章X射线衍射实验方法
第五章 X射线衍射实验方法常用的实验方法1.按成相原理分:单晶劳埃法、多晶粉末法、周转晶体法2.按记录方式分:照相法:用照相底片记录衍射花样衍射仪法:用各种辐射探测器和电子仪表记录。
、第一节粉末照相法1.粉末照相法是用单色X射线照射转动(或固定)多晶体试样,并用照相底片记录衍射花样的一种实验方法。
试样可为块、板、丝等形状,但最常用粉末,故称粉末法。
2.粉末法成相原理:粉末试样是由数目极多的小晶粒组成,且晶粒取向完全无规则,各晶粒中d值相同的晶面取向随机分布于空间任意方向,这些晶面对应的倒易矢量也分布于整个倒易空间的各个方向,它们的倒易阵点则布满在以倒易矢量的长度为半径的倒易球面上.由于等同晶面族{HKL}的面间距相等,所以,等同晶面族的倒易阵点都分布在同一个倒易球面上,各等同晶面族的倒易阵点分别分布图5-1 粉末法成相原理图在以倒易点阵原点为中心的同心倒易球面上.在满足衍射条件时,根据厄瓦尔德原理,反射球与倒易球相交,其交线为一毓垂直于入射线的圆,从反射球中心向这些圆周连线级成数个以入射线为公共轴的共顶圆锥,圆锥的母线就是衍射线的方向,锥顶角等于4θ.这样的圆锥称为衍射圆锥。
1。
1 德拜照相法(1)德拜照相法(2)圆筒底片摄照示意图1。
2 聚焦照相法o是利用发散度较大的入射线,照射到试样的较大区域,由这个区域发射的衍射线又能重新聚焦,这种衍射方法称为聚焦法.聚焦相机的基本特征是狭缝光阑、试样和条状底片三者位于同一个聚焦圆上。
它所依据的几何原理是同一圆周上的同弧圆周角相等,并等于同弧圆心角的一半。
按照这样的几何原理,让狭缝光阑、试样和条状底片三者采取不同的布置,便可设计出各种不同类型的聚焦相机。
塞曼—波林相机的内壁圆周为聚焦圆,狭缝光阑s、试样表面AB和条状底片MN三者准确地安置在同一个聚焦圆上。
狭缝光阑相当X射线的虚光源,实际光源为x射线管的焦点。
图5—2 塞曼—波林相机的衍射几何1。
3 平面底片照相法2.利用单色(标识)X射线、多晶体试样、平面底片和针孔光阑,故也称之为针孔法。
第五章 X射线衍射分析原理
由图亦可知s-s0=2sin,故布拉格方程可写为s-s0=/d。综上所述, “反射定律+布拉格方程”可用衍射矢量(s-s0)表示为 s-s0//N
s s0
d HKL
由倒易矢量性质可知,(HKL)晶面对应的倒易矢量r*HKL//N且 r*HKL=1/dHKL,引入r*HKL,则上式可写为
散射线干涉一致加强的条件为=H,即 a(cos-cos0)=H
式中:H——任意整数。 此式表达了单一原子列衍射线方向()与入射线 波长()及方向(0)和点阵常数的相互关系, 称为一维劳埃方程。 亦可写为 a· 0)=H (s-s
2. 二维劳埃方程
a(cos-cos0)=H b(cos-cos0)=K
3.布拉格方程的讨论 (1)布拉格方程描述了“选择反射”的规律。产 生“选择反射”的方向是各原子面反射线干涉一 致加强的方向,即满足布拉格方程的方向。 (2)布拉格方程表达了反射线空间方位()与 反射晶面面间距(d)及入射线方位()和波长 ()的相互关系。 (3)入射线照射各原子面产生的反射线实质是各 原子面产生的反射方向上的相干散射线,而被接 收记录的样品反射线实质是各原子面反射方向上 散射线干涉一致加强的结果,即衍射线。 因此,在材料的衍射分析工作中,“反射”与 “衍射”作为同义词使用。
第五章 X射线衍射原理(03级)
• 物质的性质、材料的性能决定于它们的组成 和微观结构。 • 如果你有一双X射线的眼睛,就能把物质的 微观结构看个清清楚楚明明白白! • X射线衍射将会有助于你探究为何成份相同 的材料,其性能有时会差异极大. • X射线衍射将会有助于你找到获得预想性能 的途径。
衍射分析技术的发展
布拉格定律的讨论-----干涉面和干涉指数
我们将布拉格方程中的n隐含在d中得到简化的布拉 格方程:
d hkl d hkl 2 Sin , 令d HKL n n 则有: HKL Sin 2d
这样由(hkl)晶面的n级反射,可以看成由面间距 为的(HKL)晶面的1级反射,(hkl)与(HKL)面 互相平行。面间距为dHKL的晶面并不一定是晶体中的 原子面,而是为了简化布拉格方程所引入的反射面, 我们把这样的反射面称为干涉面。干涉面的面指数称 为干涉指数 (nh,nk,nl) 。
布拉格定律的讨论
• • • • • • 选择反射 衍射级数 产生衍射的极限条件 干涉面和干涉指数 衍射产生的必要条件 衍射花样和晶体结构的关系
布拉格定律的讨论---------选择反射
X射线在晶体中的衍射实质上是晶体中各原子散 射波之间的干涉结果。只是由于衍射线的方向恰好 相当于原子面对入射线的反射,所以借用镜面反射 规律来描述衍射几何。 但是X射线的原子面反射和可见光的镜面反射不 同。一束可见光以任意角度投射到镜面上都可以产 生反射,而原子面对X射线的反射并不是任意的, 只有当、、d三者之间满足布拉格方程时才能发 生反射,所以把X射线这种反射称为选择反射。
布拉格方程
当一束Ⅹ射线照射到晶体上时,电子将产生相干散 射和非相干散射,成为晶体内的散射波源。 在原子系统中,所有电子的散射波都可近似看成由 原子中心发出,故原子是散射波的中心。 因晶体中原子的排列具有周期性,周期排列的散射 波中心发出的相干散射波将互相干涉,结果某些方向 加强,出现衍射线;另一些方向抵消,没有衍射线产 生。 所以,x射线通过晶体时的衍射现象,实质上是大 量原子散射波干涉的结果。
x射线衍射原理
第二篇 衍射分析 - X射线衍射原理
第二节 X射线衍射强度
2、结构因子与系统消光
i.当H+2K=3n,L=2m+1时:F2HKL=4f2cos2(n+m+1/2)=0, | FHKL|=0
ii. 当H+2K=3n,L=2m时: F2HKL = 4f2cos2 (n+m )=4f2, |FHKL|=2f iii. 当H+2K=3n1,L= 2m+1时:
一个原子散射的相干散 射振幅 E a f = 一个电个电子散射的相 射振幅 E e
材料现代分析方法 北京工业大学
第二篇 衍射分析 - X射线衍射原理
第二节 X射线衍射强度
原子散射因子
原子散射因子f的大小与和有关, f 是sin/的函数,如图所示, f 随sin/值增加而变小。当sin/ = 0时,f=Z。由sin/值,查表可得到 其它f值。 原子的反常散射:当入射X射线波 长接近原子的某一吸收限时,f值,此 时需对f进行修正: f′= f – Δ f Δ f称为原子散射因子修正值,亦可查 表得到。
密堆六方结构:晶胞中有2个同类原子,其坐标为:(0,0,0)和(1/3,2/3, 1/2),设原子散射因子为f。结构因子计算如下:
FHKL f [1 e
1 2 1 2 i ( H K L ) 3 3 2
]
因为只能观察到衍射强度,即实验只能给出结构因子的平方值, 所以重要的是计算|FHKL|的值,一般称之为结构振幅。
1、晶胞散射波合成与结构因子
若晶胞内各原子散射因子分别为:f1,f2,…,fj,…,fn,各原子的散射波与入 射波(或O原子散射波)的相位差分别为:1, 2,…, j,…, n,则晶胞 内所有原子相干散射的复合波振幅为:
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f [1 e
i( h k )
]
(h+k)一定是整数,分两种情况:
(1)如果h和k均为偶数或均为奇数,则和为偶数
F = 2f F2 = 4f2 (2)如果h和k一奇一偶,则和为奇数, F = 0 F2 = 0 不论哪种情况,l值对F均无影响。111,112,113或021,022,023的F 值均为2f。011,012,013或101,102,103的F值均为0。
F2=0的现象。
实际晶体中,位于阵点上的结构基元若非由一个
原子组成,则结构基元内各原子散射波间相互干
涉也可能产生F2=0的现象,此种在点阵消光的
基础上,因结构基元内原子位置不同而进一步产
生的附加消光现象,称为结构消光。
例如: 金刚石结构
金刚石虽然是面心点阵结构, 但每个点 阵点代表两个碳原子, 故金刚石结构中, 每个 晶胞中有8个碳原子, 其分数坐标分别为
Ea<ZEe
若原子序数为Z,核外有Z个电子,将其视为点 电荷,其电量为-Z· e
衍射角为0时: I a Z I e 其它情况下: I f 2 I a e
2
一个原子散射波的振幅(Aa) f= 一个自由电子散射波振幅 (Ae) 原子散射因子f-sinθ/λ曲线
三种晶体可能出现衍射的晶面
简单点阵:什么晶面都能产生衍 射
体心点阵:指数和为偶数的晶面
面心点阵:指数为全奇或全偶的 晶面 由上可见满足布拉格方程只是必 要条件,衍射强度不为0是充分条 件,即F不为0
底心晶胞:两个原子,
(0,0,0)(½,½,0)
F fe
2 i (0)
fe
2 i ( h / 2 k / 2)
一个电子的散射波的振幅为 Ee ,若该原子的核
电荷数为 Z ,原子的散射波的振幅为 Ea=ZEe ,原子
的散射强度Ia=Ea2
Ia Z Ie
2
但实际上,所有的电子并非集中在一点。
A 、 B 两个电子产生的 散 射 波 的 波 程 差 为 CB - AD 。 其它 方向上有波程 差,会产生干涉作用。 由于原子半径的尺度比 X 射线的波长的尺度要小, 所以各电子的散射波不产 生整倍数的相位差,即不 会产生相长干涉。最终产 生的合成波振幅的总是有 所抵消损耗,强度减弱。 即
入射X射线方向(2θ=0 或180°)散射线强度最大。 垂直入射X射线方向(2θ=90或270°)时,散射的 强度最弱,为平行方向的1/2。
2.一个原子的散射强度
e4 1 cos 2 2 Ie I0 2 4 2 mcR 2
根据公式,散射强度与散射粒子的质量平方成反
12 : (12 12 ) : (12 12 12 ) : 2 2 : (2 2 12 ) 1 : 2 : 3 : 4 : 5
结构振幅的计算
2、体心点阵
单胞中有两种位置的原子,即顶角原子,其坐标为 (0,0,0)及体心原子,其坐标为 (1/2,1/2,1/2)
FHKL
比。由于原子核的质量比电子要大得多(约大 1838
倍),因此,与电子引起的X射线散射相比,原子核 引起的散射强度要弱得多,可以忽略不计。 一个原子散射波应该是原子中各个电子散射波合成 的结果。
假设:原子中的所有电子都集中在一点上。这时
所有电子散射波的位相都是相同的,整个原子散射
波的强度就是各个电子散射强迭加。
2
H K L 2 [ f1 cos 2 (O) f 2 cos 2 ( )] 2 2 2 H K L [ f 1 sin 2 (O) f 2 sin 2 ( )]2 2 2 2 f 2 [1 cos ( H K L)]2
FHKL
2ห้องสมุดไป่ตู้
1)当H+K+L=奇数时, ,即该晶 面的散射强度为零,这些晶面的衍射线不可能出现, 例如(100)、(111)、(210)、(300)、(311) 2 FHKL 0 使衍射消失的现象称为系统消光 这种因 等。
f 相当于散射X射线的有效电子数,f < Z ,称 为原子的散射因子。f 随波长变化, 波长越短, f 越小;f 随变化, 增大,f 减小 。
3.一个晶胞对X射线的散射强度
与I原子=f 2Ie类似 定义一个结构因子F:I晶胞=|F|2Ie
F=
晶格内全部原子散射波的振幅之和 (Ab)
[ f j sin 2 ( Hx j Ky j Lz j )]2
j 1
n
由此可计算各种晶胞的结构振幅
结构振幅的计算
1、简单点阵
单胞中只有一个原子,基坐标为(0,0,0),原子散射 因数为f,:
FHKL
2
[ f cos 2 (0)] 2 [ f sin 2 (0)] 2 f
用绝对强度值。
相对强度是指同一衍射图中各衍射线强度的比值。
根据测量精度的要求,可采用的方法有:目测法、测 微光度计以及峰值强度法等。但是,积分强度法是表
示衍射强度的精确方法,它表示衍射峰下的累积强度
(积分面积)。它主要取决于晶体中原子的种类和它们
在晶胞中的相对位置。
下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个 晶体、粉末多晶循序渐进地介绍它们对 X射线的散射, 讨论散射波的合成振幅与强度。
e cos i sin
i
则 FHKL f j [cos2 ( Hx j Ky j Lz j ) i sin 2 ( Hx j Ky j Lz j )]
FHKL FHKL FHKL [ f j cos 2 ( Hx j Ky j Lz j )]2 2 j 1 N
晶胞对X光的散射为晶胞内每个原子散射的加和。 但并不是简单加和。每个原子的散射强度是其位置 的函数。加和前必须考虑每个相对于原点的相差。
结构振幅
一个电子散射波振幅(Ae)
结构振幅的计算
FHKL f j e
j 1 n i j
可将复数展开成三角函数形式
n j 1
e
i ( h k l ) 2
e
i (3 h 3 k l ) 2
e
i (3 h k 3 l ) 2
e
i ( h 3 k 3 l ) 2
提出后4项公因子ei(h+k+l)/2后剩下的因子与前4项相同. 因此得到
i ( h k ) i ( k l ) i ( h l ) Fhkl f 1 e e e e i ( h k ) i ( k l ) i ( h l ) f 1 e e e i ( h k l ) 2
2
该种点阵其结构因数与HKL无关,即HKL为任意整数时 均能产生衍射,例如(100)、(110)、(111)、 (200)、(210)…。能够出现的衍射面指数平方和之比 是
2 2 2 2 2 2 ( H 12 K12 L1 ) : (H 2 K2 L2 ) : ( H K L 2 3 3 3 )
归纳:在衍射图上出现非零衍射的位置取决于晶胞 参数;衍射强度取决于晶格类型。 晶格类型 消光条件
简单晶胞
体心I
无消光现象
h+k+l=奇数
面心F
底心C
h、k、l奇偶混杂
h+k=奇数
注意:衍射条件与消光条件正好相反。
晶格类型 简单晶胞 衍射条件 无条件
体心I
面心F
h+k+l=偶数
h、k、l全奇或全偶
(0,0,0), (1/2,1/2,0), (0,1/2,1/2), (1/2,0,1/2),
(1/4,1/4,1/4), (3/4,3/4, 1/4), (3/4,1/4,3/4), (1/4,3/4,3/4), 将这些坐标代入(5-26)式得:
i ( h k ) i ( k l ) i ( h l ) Fhkl f 1 e e e
2
[ f1 cos 2 (0) f 2 cos 2 (
1)当H、K、L全为奇数或全为偶数时
FHKL
2
f (1 1 1 1) 16 f
2 2
2
结构振幅的计算
3、面心点阵
2)当H、K、L为奇数混杂时(2个奇数1个偶数或2 个偶数1个奇数)
FHKL
2
f 2 (1 1 1 1) 2 0
f 2 (1 1) 0
结构振幅的计算
2、体心点阵
2
2)当H+K+L=偶数时,FHKL
f 2 (1 1) 2 4 f 2 ,
即体心点阵只有指数之和为偶数的晶面可产生衍 射,例如(110)、(200)、(211)、(220)、 (310)…。这些晶面的指数平方和之比是 (12+12):22:(22+12+12):(32+12)…
1.一个电子的散射强度
O点处有一电子,被强度I0的X射线照射发生受迫振
动,产生散射,相距R处的P点的散射强度Ie为:
e4 1 cos 2 2 Ie I0 2 4 2 mcR 2
Ie: 一个电子散射的X射线的强度 I0 :入射X射线的强度 R: 电场中任一点P到发生散射电子的距离 2θ: 散射线方向与入射X射线方向的夹角 e:电子电荷 m:质量 汤姆逊首先用经典电动力学方法研究得 到的结果,因而被称为汤姆逊散射。 c:光速
底心C
h+k=偶数
对各种点阵型式的消光规律应该理解为:
凡是消光规律排除的衍射一定不出现, 但消光规律未排除的衍射也不一定出现. (因为当一个结构基元由多个原子组成时, 这一点阵代表的各原子间散射的次生X射 线还可能进一步抵消-结构消光.)