南京大学-矢网分析实验报告

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矢网分析仪工作原理

矢网分析仪工作原理

网络分析仪工作原理及使用要点本文简要介绍41所生产的AV362O矢量网络分析的测量基本工作原理以及正确使用矢量网络分析测量电缆传输及反射性能的注意事项。

1.DUT对射频信号的响应矢量网络分析仪信号源产生一测试信号,当测试信号通过待测件时,一部分信号被反射,另一部分则被传输。

图1说明了测试信号通过被测器件(DUT)后的响应。

图1 DUT 对信号的响应2.整机原理:矢量网络分析仪用于测量器件和网络的反射特性和传输特性,主要包括合成信号源、S 参数测试装置、幅相接收机和显示部分。

合成信号源产生30k~6GHz的信号,此信号与幅相接收机中心频率实现同步扫描;S参数测试装置用于分离被测件的入射信号R、反射信号A 和传输信号B;幅相接收机将射频信号转换成频率固定的中频信号,为了真实测量出被测网络的幅度特性、相位特性,要求在频率变换过程中,被测信号幅度信息和相位信息都不能丢失,因此必须采用系统锁相技术;显示部分将测量结果以各种形式显示出来。

其原理框图如图2所示:图2 矢量网络分析仪整机原理框图矢量网络分析内置合成信号源产生30k~6GHz的信号,经过S参数测试装置分成两路,一路作为参考信号R,另一路作为激励信号,激励信号经过被测件后产生反射信号A和传输信号B,由S参数测试装置进行分离,R、A、B三路射频信号在幅相接收机中进行下变频,产生4kHz的中频信号,由于采用系统锁相技术,合成扫频信号源和幅相接收机同在一个锁相环路中,共用同一时基,因此被测网络的幅度信息和相位信息包含在4kHz的中频信号中,此中频信号经过A/D模拟数字变换器转换为数字信号,嵌入式计算机和数字信号处理器(DSP)从数字信号中提取被测网络的幅度信息和相位信息,通过比值运算求出被测网络的S参数,最后把测试结果以图形或数据的形式显示在液晶屏幕上。

◆ 合成信号源:由3~6GHz YIG振荡器、3.8GHz介质振荡器、源模块组件、时钟参考和小数环组成。

网络分析和设施网络实验报告

网络分析和设施网络实验报告

实验七网络分析和设施网络网络分析一、实验目的:掌握常用的矢量数据网络分析方法,理解网络分析的原理,并能进行最佳路径分析。

二、实验内容:根据城市路网数据、学校数据、车站数据,为两地之间选择最佳路径,并制作最佳路径图。

三、实验原理与方法:实验原理:网络分析是通过研究网络的状态,模拟分析资源在网络上的流动和分配,以实现网络上资源的优化配置。

实验方法:对城市路网建立几何网络,改变网络的状态,进行网络跟踪,进行网络跟踪,寻找最佳路径。

四、实验设备与数据:(1)实验设备:计算机(2)主要软件:Arcgis(3)实验数据:采用“实验14”文件夹下的相关数据。

五、实验步骤:(1)建立几何网络,在ArcCatalog中打开建立几何网络的对话框。

进行如下设定:(2)打开ArcMap,先加载上一步新建的几何网络,按街道类型确定显示时所用的线型,将街道分为五类。

再加载学校和车站数据,对其进行符号化。

(3)打开Utility Network Analyst工具,在节点和通道上设置一些障碍。

(4)设置路径起始点和终止点,产生最佳路径。

(5)打开道路数据的属性表,分别增加Speed和Passtime两个字段。

开始编辑,分别筛选出1、3、5、7、9类道路,然后利用字段计算器对其行车速度进行编辑,分别设为80、70、60、50、40。

并根据路线长度采用字段计算器计算行车时间。

络,重新生成几何网络,需要作出以下不同。

(7)在Utility Network Analyst工具条上点击Analysis--Options,选择Weights标签,先设置time为权重,再设置障碍和起始路径,产生最快路径。

再设置length作为权重,产生最短路径。

(8)寻求某学校至某车站的一条最佳路径结果。

网络分析2(设施网络)一、实验目的:(1) 加深对设施网络分析基本原理、方法的认识;(2) 熟练掌握ARCGIS 下进行设施网络分析的技术方法;(3) 结合实际、掌握利用网络分析方法解决地学空间分析问题的能力。

矢网分析仪原理解析资料

矢网分析仪原理解析资料

网络分析的基本原理一种独特的仪器网络分析仪是一种功能强大的仪器,正确使用时,可以达到极高的精度。

它的应用也十分广泛,在很多行业都不可或缺,尤其在测量无线射频(RF)元件和设备的线性特性方面非常有用。

现代网络分析仪还可以应用于更具体的场合,例如,信号完整性和材料的测量。

随着业界第一款PXI网络分析仪—NI PXIe - 5630的推出,你完全可以摆脱传统网络分析仪的高成本和大占地面积的束缚,轻松地将网络分析仪应用于设计验证和产线测试。

网络分析仪的发展你可以使用图1所示的NI PXIe-5630矢量网络分析仪测量设备的幅度,相位和阻抗。

由于网络分析仪是一种封闭的激励-响应系统,你可以在测量RF特性时实现绝佳的精度。

当然,充分理解网络分析仪的基本原理,对于你最大限度的受益于网络分析仪非常重要。

在过去的十年中,矢量网络分析仪由于其较低的成本和高效的制造技术,流行度超过了标量网络分析仪。

虽然网络分析理论已经存在了数十年,但是直到20世纪80年代早期第一台现代独立台式分析仪才诞生。

在此之前,网络分析仪身形庞大复杂,由众多仪器和外部器件组合而成,且功能受限。

NI PXIe-5630的推出标志着网络分析仪发展的又一个里程碑,它将矢量网络分析功能成功地赋予了灵活,软件定义的PXI模块化仪器平台。

通常我们需要大量的测量实践,才能实现精确的幅值和相位参数测量,避免重大错误。

由于射频仪器测量的不确定性,小的错误很可能会被忽略不计。

而网络分析仪作为一种精密的仪器能够测量出极小的错误。

网络分析理论网络是一个被高频率使用的术语,有很多种现代的定义。

就网络分析而言,网络指一组内部相互关联的电子元器件。

网络分析仪的功能之一就是量化两个射频元件间的阻抗不匹配,最大限度地提高功率效率和信号的完整性。

每当射频信号由一个元件进入另一个时,总会有一部分信号被反射,而另一部分被传输,类似于图2所示。

这就好比光源发出的光射向某种光学器件,例如透镜。

微波矢量网络分析仪 报告样本

微波矢量网络分析仪 报告样本

微波实验五
用矢量网络分析仪测滤波器
一.实验目的:
掌握滤波器的基本原理及常用参数。

掌握矢量网络分析仪的原理及使用方法。

二.实验原理:
矢量网络分析仪本身是一套网络参数测试系统,内部集成了信号源,信号分离装置,接收机,处理显示模块。

三.实验步骤:
1.校准:
系统误差随机误差漂移误差
原理及设备噪声,开关,连接器温度变化
可校准不可校准定期消除
依次在1,2端口接入“开路OPEN”“短路SHORT”“负载
LOAD”“直通Through”4个负载,然后用鼠标点击相应的按钮,全部校准完后点击Apply键生效并保存。

2.接入测试件(滤波器)
3.点选需要测量的参数:频带设置,刻度显示,测量的参数,光标。

4.记录结果。

四.实验结果:
测试人员:
测试时间:。

南京大学-X射线荧光光谱分析报告实验报告材料

南京大学-X射线荧光光谱分析报告实验报告材料

X 荧光分析一.实验目的1.了解能量色散X 荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法。

2.验证莫塞莱定律,并从实验推出屏蔽常数。

3.研究对多道分析器的定标,以及利用X 荧光分析测量位未知样品成分及相对含量的方法。

二.实验原理以一定能量的光子、电子、原子、α粒子或其它离子轰击样品,将物质原子中的内壳层电子击出,产生电子空位,原子处于激发态。

外壳层电子向内壳层跃迁,填补内壳层电子空位,同时释放出跃迁能量,原子回到基态。

跃迁能量以特征X 射线形式释放,或能量转移给另一个轨道电子,使该电子发射出来,即俄歇电子发射。

测出特征X 射线能谱,即可确定所测样品中元素种类和含量。

特征曲线X 射线根据跃迁后电子所处能级可以分为,,K L M 系等;根据电子跃迁前所在能级又可分为βαγβαL L K K K ,,,,等不同谱线。

特征X 谱线的的能量为两壳层电子结合能之差。

因此,所有元素的,K L 系特征X 射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。

X 荧光分析中激发X 射线的方式一般有三种:(1)用质子、α粒子等离子激发 (2)用电子激发;(3)用X 射线或低能γ射线激发。

我们实验室采用X 射线激发(XIX 技术),用放射性同位素作为激发源的X 光管。

XIX 技术中,入射光子除与样品中原子发生光电作用产生内壳层空位外,还可以发生相干散射和非相干散射(康普顿散射),这些散射光子进入探测器,形成XIX 分析中的散射本底。

另外,样品中激发出的光电子又会产生轫致辐射,但这产生的本底比散射光子本底小得多,且能量也较低,一般在3keV 以下。

所以XIX 能谱特征是:特征X 射线峰叠加在散射光子峰之间的平坦的连续本底谱上。

如图1能谱示意图所示。

图一:能谱示意图测量特征X 射线常用()Si Li 探测器,它的能量分辨率高,适用于多元素同时分析,也可选用()Ge Li 或高纯Ge 探测器,但均价格昂贵。

在X 荧光分析中,对于轻元素(一般指45Z <的元素)通常测其KX 射线,对于重元素(45Z >的元素),因其KX 射线能量较高且比LX 射线强度弱,常测其LX 射线,这样测量的特征X 射线能量一般在20keV 以下。

矢量网络分析仪的使用——实验报告

矢量网络分析仪的使用——实验报告

矢量网络分析仪的使用——实验报告矢量网络分析仪实验报告一、实验内容单端口:测量Open,Short,Load校准件的三组参数,分别进行单端口的校准。

a.设置测量参数1)预设:preset OK2)选择测试参数S11:Meas->S11;3)设置数据显示格式为对数幅度格式:Format->LogMag;4)设置频率范围:Start->1.5GHz,Stop->2.5GHz(面板键盘上“ G”代表GHz,“ M”代表MHz,“ k”代表kHz;5)设置扫描点数:Sweep Setup->Points->101->x1(或”Enter”键或按下大按钮);6)设置信号源扫描功率:Sweep Setup->Power->Foc->-10->x1->Entry Off(隐藏设置窗)。

b.单端口校准与测量1)设置校准件型号:Cal->Cal Kit->85032F(或自定义/user)(F指femal母头校准件,M指male公头校准件);2)Modify Cal Kit->Specify CLSs->Open->Set All->Open(m/f),返回到Specify CLSs->Short->Set ALL->Short(m/f);3)选择单端口校准并选择校准端口:Cal-Calibrate->1-Port Cal->SelectPort->1(端口1 的校准,端口2也可如此操作);4)把Open校准件连接到端口(或与校准端口相连的同轴电缆另一连接端),点击Open,校准提示(嘀的响声)后完成Open校准件的测量;得到的结果如Fig 1:单口Open校准件测量5)把Short校准件连接到端口(或与校准端口相连的同轴电缆另一连接端),点击Short,校准提示(嘀的响声)后完成Short校准件的测量;得到的结果如Fig 2:单口Short校准件测量6)把Load校准件连接到端口(或与校准端口相连的同轴电缆另一连接端),点7)8)Fig 2:单口Short校准件测量Fig 3:单口Load校准件测量Fig4:双端口校准测量分析:由图可以发现,测量扫宽为500MHz,Open标准件测量的输出幅度为-0.7233dB (2GHz)和-0.6182dB(1.5GHz),频率越高,最大值越小。

矢量网络分析仪的使用——实验报告

矢量网络分析仪的使用——实验报告

矢量网络分析仪的使用——实验报告矢量网络分析仪实验报告一、实验内容单端口:测量Open,Short,Load校准件的三组参数,分别进行单端口的校准。

a.设置测量参数1)预设:preset OK2)选择测试参数S11:Meas->S11;3)设置数据显示格式为对数幅度格式:Format->LogMag;4)设置频率范围:Start->1.5GHz,Stop->2.5GHz(面板键盘上“ G”代表GHz,“ M”代表MHz,“ k”代表kHz;5)设置扫描点数:Sweep Setup->Points->101->x1(或”Enter”键或按下大按钮);6)设置信号源扫描功率:Sweep Setup->Power->Foc->-10->x1->Entry Off(隐藏设置窗)。

b.单端口校准与测量1)设置校准件型号:Cal->Cal Kit->85032F(或自定义/user)(F指femal母头校准件,M指male公头校准件);2)Modify Cal Kit->Specify CLSs->Open->Set All->Open(m/f),返回到Specify CLSs->Short->Set ALL->Short(m/f);3)选择单端口校准并选择校准端口:Cal-Calibrate->1-Port Cal->SelectPort->1(端口1 的校准,端口2也可如此操作);4)把Open校准件连接到端口(或与校准端口相连的同轴电缆另一连接端),点击Open,校准提示(嘀的响声)后完成Open校准件的测量;得到的结果如Fig 1:单口Open校准件测量5)把Short校准件连接到端口(或与校准端口相连的同轴电缆另一连接端),点击Short,校准提示(嘀的响声)后完成Short校准件的测量;得到的结果如Fig 2:单口Short校准件测量6)把Load校准件连接到端口(或与校准端口相连的同轴电缆另一连接端),点击Load,校准提示(嘀的响声)后完成Load校准件的测量;得到的结果如Fig 3:单口Load校准件测量c.双端口校准与测量1)在单端口校准完成后,直接进行双端口的校准,不能按Preset按钮,否则要重新选择校准件进行校准;2)选择二端口校准:Cal->Calibrate->2-Port Cal;3)点击Reflect,进入界面后,在1端口和2端口分别接入Open,Short,Load三种校准件,每接入一个校准件后,点击相应选项完成校准。

微波测量实验报告三

微波测量实验报告三

近代微波测量实验报告三姓名:学号:学院:时间:年月一实验名称多端口网络参数测量二实验目的熟悉矢量网络分析仪的原理及使用,掌握矢网的TOSM校准方法,掌握多端口器件的参数测试方法。

三实验内容(二选一)1、功分器测量测试功率分配器的插损(S21)、带宽(插损-0.4dB)及带宽内的隔离度(S32)、带内回波损耗(S11)。

2、定向耦合器测量测试定向耦合器的耦合度(S31)、带宽(耦合度-1dB)及带宽内的隔离度(S41)、方向性(S31-S41)和带内回波损耗(S11)。

四实验器材矢量网络分析仪、定向耦合器、微波同轴电缆五实验原理及实验步骤1)校准2)连接矢量网络分析仪和定向耦合器,测试定向耦合器相应参数六实验结果数据及图片1、定向耦合器测试结果七讨论矢网测试时为什么要校准,除了TOSM,再举一种校准方法并简要说明。

答:测量校准是指利用网络分析仪测量已知器件,存储测量结果和真实结果的矢量差,并用其结果来消除接下来的对未知器件测量中的系统误差过程。

校准的目的是提供被测器件和测量系统终端纯电阻连接,提供给测量端口零幅度、零相位、纯特性阻抗的信号。

SOLT校准方法使用12项误差修正模型,其中被测件的正向有6项,反向有6项。

下显示了正向误差项:ED(方向)、ES(源匹配)、EL(负载匹配)、ERF(反射跟踪)、ETF (发射跟踪)和EX(串扰)。

操作正确的话,SOLT可以测量百分之一分贝数量级的功率和毫度级相位。

常用的校准套件中都包含SOLT标准校准件。

SOLT校准能够提供优异的精度和可重复性。

这种校准方法要求使用短路、开路和负载标准校准件。

如果被测件上有雌雄连接器,还需要分别为雌雄连接提供对应的标准件,连接两个测量平面,形成直通连接。

矢量网络分析仪的使用——实验报告

矢量网络分析仪的使用——实验报告

⽮量⽹络分析仪的使⽤——实验报告⽮量⽹络分析仪实验报告⼀、实验内容单端⼝:测量Open,Short,Load校准件的三组参数,分别进⾏单端⼝的校准。

a.设置测量参数1)预设:preset OK2)选择测试参数S11:Meas->S11;3)设置数据显⽰格式为对数幅度格式:Format->LogMag;4)设置频率范围:Start->1.5GHz,Stop->2.5GHz(⾯板键盘上“G”代表GHz,“M”代表MHz,“k”代表kHz;5)设置扫描点数:Sweep Setup->Points->101->x1(或”Enter”键或按下⼤按钮);6)设置信号源扫描功率:Sweep Setup->Power->Foc->-10->x1->Entry Off(隐藏设置窗)。

b.单端⼝校准与测量1)设置校准件型号:Cal->Cal Kit->85032F(或⾃定义/user)(F指femal母头校准件,M指male公头校准件);2)Modify Cal Kit->Specify CLSs->Open->Set All->Open(m/f),返回到Specify CLSs->Short->SetALL->Short(m/f);3)选择单端⼝校准并选择校准端⼝:Cal-Calibrate->1-Port Cal->SelectPort->1(端⼝1 的校准,端⼝2也可如此操作);4)把Open校准件连接到端⼝(或与校准端⼝相连的同轴电缆另⼀连接端),点击Open,校准提⽰(嘀的响声)后完成Open校准件的测量;得到的结果如Fig 1:单⼝Open校准件测量5)把Short校准件连接到端⼝(或与校准端⼝相连的同轴电缆另⼀连接端),点击Short,校准提⽰(嘀的响声)后完成Short校准件的测量;得到的结果如Fig 2:单⼝Short校准件测量6)把Load校准件连接到端⼝(或与校准端⼝相连的同轴电缆另⼀连接端),点击Load,校准提⽰(嘀的响声)后完成Load校准件的测量;得到的结果如Fig 3:单⼝Load校准件测量c.双端⼝校准与测量1)在单端⼝校准完成后,直接进⾏双端⼝的校准,不能按Preset按钮,否则要重新选择校准件进⾏校准;2)选择⼆端⼝校准:Cal->Calibrate->2-Port Cal;3)点击Reflect,进⼊界⾯后,在1端⼝和2端⼝分别接⼊Open,Short,Load三种校准件,每接⼊⼀个校准件后,点击相应选项完成校准。

数据挖掘实验报告

数据挖掘实验报告
以下是最后一轮的属性筛选.
1. public static void candidate() throws Exception {
2. String[] candi = {"15,4,5,6,9,13", "15,4,5,6,9,11,13"};
3. double cur;
4. Instances data;
11. int j = 0, tmp = i;
12. flags[j] = tmp % 2;
13. while(flags[j] != oldflags[j] && j != 15) {
14. oldflags[j] = flags[j];
15. j++;
16. tmp /= 2;
9. eval.setPriors(train);
10. test = data.testCV(10,i);
11. aode.buildClassifier(train);
12. eval.evaluateModel(aode, test);
13. }
14. return eval.correct();
co-training etc. In order to moderate the lopsided prior of the two classes and improve the accuracy, a resample
method called support vector boosting and error-driven grading boosting is taken into account, which can be seen as

【原创】南京邮电大学微波与天线测量实验报告

【原创】南京邮电大学微波与天线测量实验报告

实验报告实验名称微波与天线测量实验课程名称微波与天线测量 __ 班级学号姓名开课时间 2012/2013学年第一学期实验一:8720ET矢量网络分析仪基本操作和校准一、实验目的:熟悉安捷伦8720ET矢量网络分析仪面板常用按键作用,学会网络分析仪的SOLT校准方法。

二、实验设备:8720ET矢量网络分析仪,标准校准件三、实验步骤:1.开机预置状态:由于下一个实验设置中心频率4.5GHz,扫频宽度2GHz,故起始频率(Start)设为2GHz,终止频率(Stop)设为9GHz。

2.校准仪器:a)选择校准按键,按照屏幕提示分别选用短路器(Short)、开路器(Open)、匹配负载(Load)连接到端口1(Port1)电缆处校准反射项(Reflection)。

b)校准直通项(Transmission),将两端口直通(将Port1、2相连接)。

c)校准隔离端(Isolated),直接忽略即可3.完成校准,存储状态:设施完毕后按存储(Save/Recall)存储状态,以便下次调用实验二:二端口元件(腔体滤波器)测量一、实验目的:学会使用8720ET矢量网络分析仪对常用二端口器件进行测量。

二、实验设备:8720ET矢量网络分析仪,标准校准件。

腔体滤波器三、实验步骤:1.开机预置状态,中心频率4.5GHz,扫频宽度2GHz。

2.进行SOLT校准,保存状态。

3.将待测器件正向连接,测量网络参数S11和S21。

读取滤波器带内插损、3dB带宽。

保存测量数据。

由图中可以得出:中心频点(4.5GHz)传输系数(S21)-1.41dB中心频点(4.5GHz)反射系数(S11)-15.94dB滤波器带内插损为-1.41dB3dB带宽为3.94-4.83Ghz(0.883GHz)4.将待测器件反向连接,测量网络参数S22和S12。

读取滤波器带内插损、3dB带宽。

保存测量数据。

由图中可以得出:中心频点(4.5GHz)传输系数(S12)-0.72dB中心频点(4.5GHz)反射系数(S22)-17.05dB滤波器带内插损为-0.72dB3dB带宽为3.93-5.06Ghz(1.13GHz)实验三:三端口元件(一端接匹配负载分支线电桥)测量一、实验目的:学会使用8720ET矢量网络分析仪对常用三端口器件进行测量。

微波技术与天线实验报告

微波技术与天线实验报告

微波技术与天线实验报告一、实验名称:测量微波通信系统各模块的特性参数二、实验目的与要求◆了解矢量网络分析仪的工作原理◆理解模块的频率特性、驻波比、反射系数、插损、S参数等概念◆测量并分析微波通信系统各模块的S参数三、实验设备:矢量网络分析仪、PNA 天线实验测量仪四、实验原理(共同部分)1.矢量网络分析仪的工作原理矢量网络分析仪器是一种电磁波能量的测试设备。

矢量网络分析仪的原理与使用力直接取决于系统的动态范围指标。

相位波动参数的测试是利用矢量网络分析仪的电子延迟(Electrical Delay)功能来实现的。

直接观察插入相移通常不是很有用,这是因为器件的电长度相移相对于频率呈现负斜率(器件越长,斜率越大)。

由于只有偏离线性相移才会引起失真,因此希望移去相位响应的线性部分。

利用网络分析仪的电子延迟功能,能够抵消被测器件的电长度,结果得到与线性相移的偏差,即相位波动(失真)。

矢量网络分析仪既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值,又能测相位,矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。

2.几个重要的概念频率特性:系统频率响应与输入信号的复数比称为频率特性,频率特性表征了系统输入输出之间的关系,故可由频率特性来分析系统性能。

驻波比:驻波比全称为电压驻波比,又名VSWR和SWR,为英文Voltage Standing Wave Ratio的简写。

在入射波和反射波相位相同的地方,电压振幅相加为最大电压振幅Vmax ,形成波腹;在入射波和反射波相位相反的地方电压振幅相减为最小电压振幅Vmin ,形成波节。

其它各点的振幅值则介于波腹与波节之间。

这种合成波称为行驻波。

驻波比是驻波波腹处的电压幅值Vmax与波节处的电压幅值Vmin之比。

驻波比就是一个数值,用来表示天线和电波发射台是否匹配。

如果 SWR 的值等于1,则表示发射传输给天线的电波没有任何反射,全部发射出去,这是最理想的情况。

如果SWR 值大于1,则表示有一部分电波被反射回来,最终变成热量,使得馈线升温。

南京大学-矢网分析实验报告

南京大学-矢网分析实验报告

矢量网络分析仪测量微波材料的介电常数和磁导率摘要:矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量,它既可测量网络的幅频特性,又可测量网络的相频特性和群延迟特性。

本实验用矢量网络分析仪测量装有微波材料样品的二端口网络散射系数( s 参量),反推出待测样品的介电常数和磁导率。

关键词:矢量网络分析仪;s 参量;介电常数;磁导率一、实验目的1.了解矢量网络分析仪额操作和使用。

2.掌握矢量网络分析仪测量s参量的原理和方法。

3.掌握由 s 参量计算介电常数的计算过程和方法。

二、实验原理矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量,它既可测量网络的幅频特性,又可测量网络的相频特性和群延迟特性。

可广泛应用于天线和雷达散射截面RCS 测量,发射/接收( T/R )模块测量,介质材料特性测量,微波脉冲特性测量,光电特性测量和低温电子测量等领域,是相控阵雷达、精密制导、电子对抗、隐身和反隐身技术、微波通信和卫星等电子系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。

矢量网络分析仪的工作原理:矢量网络分析仪的信号源产生测试信号输入到被测件,当测试信号通过被测件时,一部分信号被反射,另一部分信号则被传输,那么反射和传输信号就携带了被测件的一些特性。

矢量网络分析仪AV3629 用于测量器件和网络的反射和传输特性。

整机主要包括 45MHz — 40GHz 合成信号源、 53MHz — 24GHz 本振源、s参数测试装置模块、幅相接收模块、数字信号处理与嵌入式计算机模块和液晶显示模块。

合成信号源产生45MHz — 40GHz 的测试激励信号,此信号通过整机锁相电路与本振源同步扫描。

s参数测试装置模块用于分离被测件的入射信号、反射信号和传输信号。

当源在端口1时,产生入射信号R1、反射信号A和传输信号B;当源在端口2时,产生入射信号R2、反射信号B和传输信号A。

幅相接收模块将射频信号转换成固定频率的中频信号,由于采用系统锁相技术,本振源和信号源锁相在同一个参考时基上,保证在频率变换过程中,被测件的幅度和相位信息不丢失。

南京大学-X射线荧光光谱分析实验报告

南京大学-X射线荧光光谱分析实验报告

X 荧光分析一.实验目的1.了解能量色散X 荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法。

2.验证莫塞莱定律,并从实验推出屏蔽常数。

3.研究对多道分析器的定标,以及利用X 荧光分析测量位未知样品成分及相对含量的方法。

二.实验原理以一定能量的光子、电子、原子、α粒子或其它离子轰击样品,将物质原子中的内壳层电子击出,产生电子空位,原子处于激发态。

外壳层电子向内壳层跃迁,填补内壳层电子空位,同时释放出跃迁能量,原子回到基态。

跃迁能量以特征X 射线形式释放,或能量转移给另一个轨道电子,使该电子发射出来,即俄歇电子发射。

测出特征X 射线能谱,即可确定所测样品中元素种类和含量。

特征曲线X 射线根据跃迁后电子所处能级可以分为,,K L M 系等;根据电子跃迁前所在能级又可分为βαγβαL L K K K ,,,,等不同谱线。

特征X 谱线的的能量为两壳层电子结合能之差。

因此,所有元素的,K L 系特征X 射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。

X 荧光分析中激发X 射线的方式一般有三种:(1)用质子、α粒子等离子激发 (2)用电子激发;(3)用X 射线或低能γ射线激发。

我们实验室采用X 射线激发(XIX 技术),用放射性同位素作为激发源的X 光管。

XIX 技术中,入射光子除与样品中原子发生光电作用产生内壳层空位外,还可以发生相干散射和非相干散射(康普顿散射),这些散射光子进入探测器,形成XIX 分析中的散射本底。

另外,样品中激发出的光电子又会产生轫致辐射,但这产生的本底比散射光子本底小得多,且能量也较低,一般在3keV 以下。

所以XIX 能谱特征是:特征X 射线峰叠加在散射光子峰之间的平坦的连续本底谱上。

如图1能谱示意图所示。

图一:能谱示意图测量特征X 射线常用()Si Li 探测器,它的能量分辨率高,适用于多元素同时分析,也可选用()Ge Li 或高纯Ge 探测器,但均价格昂贵。

在X 荧光分析中,对于轻元素(一般指45Z <的元素)通常测其KX 射线,对于重元素(45Z >的元素),因其KX 射线能量较高且比LX 射线强度弱,常测其LX 射线,这样测量的特征X 射线能量一般在20keV 以下。

近代微波测量实验报告2

近代微波测量实验报告2

近代微波测量实验报告一、实验名称:功分器散射参数的测量:功分器散射参数的测量 二、实验目的1、了解:微波矢量网络分析仪的组成、构造和工作原理、了解:微波矢量网络分析仪的组成、构造和工作原理2、掌握:、掌握:• 微波矢量网络分析仪的正确使用方法微波矢量网络分析仪的正确使用方法• 利用微波矢量网络分析仪测试微波网利用微波矢量网络分析仪测试微波网 络散射参数的方法络散射参数的方法 三、实验器材矢量网络分析仪矢量网络分析仪1台 频谱仪频谱仪1台 功分器功分器1个 四、实验原理实验使用矢量网测试微波网络散射参数,其原理为:实验使用矢量网测试微波网络散射参数,其原理为:图1 两端口网络两端口网络两端口网络的四个散射参量测量两端口网络的四个散射参量测量: 两端口网络的电参数,一般用上述的插损与回损已足,回损已足,但对考究的场合会用到散射参量。

但对考究的场合会用到散射参量。

但对考究的场合会用到散射参量。

两端口网络的散射参量有两端口网络的散射参量有4个,个,即即S 11、S 21、S 12、S 22。

S 11与网络输出端接上匹配负载后的输入反射系数Г相当。

相当。

注意:注意:注意:它是网络的它是网络的失配,不是负载的失配。

负载不好测出的Γ,要经过修正才能得到S 11 。

S 21与网络输出端匹配时的电压和输入端电压比值相当,对于无源网络即传输系数T 或插损,对放大器即增益。

或插损,对放大器即增益。

S S 1111、、S 21两项是最常用的。

两项是最常用的。

S 12即网络输出端对输入端的影响,对不可逆器件常称隔离度。

即网络输出端对输入端的影响,对不可逆器件常称隔离度。

S 22即由输出端向网络看的网络本身引入的反射系数。

即由输出端向网络看的网络本身引入的反射系数。

实验所用的矢网可以交替或同时显示经过全端口校正的四个参数。

实验所用的矢网可以交替或同时显示经过全端口校正的四个参数。

图2是失网测试微波网络散射参数的原理框图:是失网测试微波网络散射参数的原理框图:图2 矢网系统的原理框图矢网系统的原理框图五、实验内容实验使用矢量网络分析仪测试功分器的散射参数。

矢网分析实验报告

矢网分析实验报告

矢网分析实验报告实验报告:矢网分析摘要:矢网分析是一种用于测量和分析高频电路的工具。

本实验旨在通过使用矢网对特定电路进行分析,掌握矢网分析的基本原理和操作方法。

在实验中,我们选取了一个简单的低通滤波器电路进行了分析,并对分析结果进行了讨论和总结。

1.引言矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer,简称VNA)是一种用于测量和分析高频电路(尤其是微波电路)的工具。

它能够测量S参数(散射参数),并根据S参数的数据分析出电路的特性。

2.实验目的通过矢网分析实验,我们的目标是掌握以下内容:-熟悉矢网分析的基本原理和操作方法;-了解S参数的测量和分析;-分析和理解电路的传输特性。

3.实验仪器和材料本实验使用的设备和材料如下:-矢量网络分析仪(VNA);-射频信号源;-被测电路;-各种射频电缆和连接器。

4.实验步骤(1)搭建实验电路:根据实验要求,搭建低通滤波器电路,并将其与矢网分析仪连接。

(2)设定实验参数:设置矢网分析仪的相关参数,如扫描范围、功率和步进频率等。

(3)启动矢网分析仪:打开矢网分析仪,并让其进行自检和校准。

(4)开始测量:按下“开始测量”按钮,让矢网分析仪对电路进行测量,并显示出S参数的结果。

(5)数据分析:根据测量数据,利用矢网分析仪提供的分析工具,对电路的传输特性进行分析和研究。

5.实验结果与讨论通过实验测量和数据分析,我们得到了低通滤波器电路的S参数数据,并对其进行了讨论与分析。

(1)幅频特性分析:根据测量结果,我们绘制了低通滤波器的幅频特性曲线,并观察到其滤波效果。

通过分析曲线上的截止频率,我们可以得知该低通滤波器的截止频率。

(2)相频特性分析:根据测量结果,我们绘制了低通滤波器的相频特性曲线,并观察到其相位延迟特性。

通过分析曲线上的相位延迟,我们可以得知该低通滤波器在不同频率下的相位响应。

(3)稳定性分析:通过测量反射系数和驻波比等参数,我们对电路的稳定性进行了分析。

矢网测量实验报告

矢网测量实验报告

一、实验目的1. 掌握矢网测量的基本原理和方法。

2. 熟悉矢网测量的仪器操作及数据处理。

3. 提高对地形测量的实际操作能力。

二、实验仪器和工具1. 全站仪一台2. 矢网板一块3. 粉笔若干4. 计算器一台5. 图纸一张三、实验原理矢网测量是一种地形测量方法,通过在实地中布设一系列相互连接的测量点,利用全站仪等仪器,测量出这些点之间的距离、角度和高差,从而绘制出地形图。

实验中主要利用全站仪进行距离和角度的测量,通过三角测量原理计算高差。

四、实验步骤1. 现场布置:在实验场地选择一个合适的位置,用粉笔做好标记,作为实验的起点。

2. 仪器安置:将全站仪安置在起点上,调整仪器水平,确保其稳定。

3. 矢网板布设:在起点处放置矢网板,确保其水平,并用粉笔做好标记。

4. 角度测量:利用全站仪,测量矢网板上的各个角度,记录数据。

5. 距离测量:利用全站仪,测量矢网板上的各个距离,记录数据。

6. 数据处理:将测得的角度和距离数据输入计算器,根据三角测量原理计算高差。

7. 绘图:根据计算出的高差,在图纸上绘制出地形图。

五、实验结果与分析1. 角度测量结果:通过实验,我们得到了矢网板上的各个角度,数据如下:- 角α1 = 35°20′- 角α2 = 45°30′- 角α3 = 60°15′- 角α4 = 70°25′2. 距离测量结果:通过实验,我们得到了矢网板上的各个距离,数据如下:- 距离d1 = 50.0m- 距离d2 = 80.0m- 距离d3 = 60.0m- 距离d4 = 90.0m3. 高差计算结果:根据测得的角度和距离,利用三角测量原理计算高差,数据如下:- 高差h1 = 3.5m- 高差h2 = 5.5m- 高差h3 = 4.5m- 高差h4 = 6.5m4. 绘图结果:根据计算出的高差,我们在图纸上绘制出了地形图,图中包含了各个测量点、距离、角度和高差等信息。

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矢量网络分析仪测量微波材料的介电常数和磁导率摘要:矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量,它既可测量网络的幅频特性,又可测量网络的相频特性和群延迟特性。

本实验用矢量网络分析仪测量装有微波材料样品的二端口网络散射系数(s 参量),反推出待测样品的介电常数和磁导率。

关键词:矢量网络分析仪;s 参量;介电常数;磁导率一、实验目的1. 了解矢量网络分析仪额操作和使用。

2. 掌握矢量网络分析仪测量s 参量的原理和方法。

3. 掌握由s 参量计算介电常数的计算过程和方法。

二、实验原理矢量网络分析仪能够对网络参数进行全面测量,它既可测量网络的幅频特性,又可测量网络的相频特性和群延迟特性。

可广泛应用于天线和雷达散射截面RCS 测量,发射/接收(T/R )模块测量,介质材料特性测量,微波脉冲特性测量,光电特性测量和低温电子测量等领域,是相控阵雷达、精密制导、电子对抗、隐身和反隐身技术、微波通信和卫星等电子系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。

矢量网络分析仪的工作原理:矢量网络分析仪的信号源产生测试信号输入到被测件,当测试信号通过被测件时,一部分信号被反射,另一部分信号则被传输,那么反射和传输信号就携带了被测件的一些特性。

矢量网络分析仪A V3629用于测量器件和网络的反射和传输特性。

整机主要包括45MHz —40GHz 合成信号源、53MHz —24GHz 本振源、s参数测试装置模块、幅相接收模块、数字信号处理与嵌入式计算机模块和液晶显示模块。

合成信号源产生45MHz —40GHz 的测试激励信号,此信号通过整机锁相电路与本振源同步扫描。

s参数测试装置模块用于分离被测件的入射信号、反射信号和传输信号。

当源在端口1时,产生入射信号R1、反射信号A和传输信号B;当源在端口2时,产生入射信号R2、反射信号B和传输信号A。

幅相接收模块将射频信号转换成固定频率的中频信号,由于采用系统锁相技术,本振源和信号源锁相在同一个参考时基上,保证在频率变换过程中,被测件的幅度和相位信息不丢失。

在数字信号处理与嵌入式计算机模块中,将模拟中频变成数字信号,通过计算得到被测件的幅相信息,这些信息做各种格式变换处理后,将结果送给显示模块,液晶显示模块将被测件的幅相信息以用户需要的格式显示出来。

对于二端口网络,外向波与内向波之间的关系可表示为:111121221222b s s a b s s a ⎡⎤⎡⎤⎡⎤=⎢⎥⎢⎥⎢⎥⎣⎦⎣⎦⎣⎦(1) 其中,1a 、2a 和1b 、2b 分别是端口1和端口2的内向波和外向波。

21111a b s a ==,11122a b s a ==,22211a b s a ==,12222a b s a ==(2)11s 表示端口1的反射系数,12s 表示端口2到端口1的传输系数,21s 表示端口1到端口2的传输系数,22s 表示端口2的反射系数。

s 参量与微波材料介电常数和磁导率的关系推导:()211222211c l cc lT s s T Γ-==Γ-Γ (3)()212212211l c c lT s s T-Γ==-Γ (4)其中,l T 表示待测样品的传输系数,c Γ表示待测样品的反射系数。

l l T e γ-= (5)c c c Z Z Z Z -Γ=+ (6)00j γβ== (7)j γαβ=+= (8)0Z =(9)c Z =(10)其中,l 为样品厚度,γ为样品区的传播常数,c Z 和0Z 分别为样品区和空气的波阻抗,0λ为空气中的工作波长,0cfλ=,c λ为截止波长,c 为光速。

'''r r r j μμμ=-,'''r r r j εεε=-2221121111122cc s s s +Γ-+=Γ (11) 2211211112s s K s -+= (12)21c K K Γ=±- (13)取1c Γ≤的解。

()112211221cl cs s T s s +-Γ=-+Γ (14)()1ln l T lγ=- (15)0201121c r c c j λγμλπλ⎛⎫+Γ=-⎪-Γ⎝⎭⎛⎫- ⎪⎝⎭(16) 222002c r rλλγπλεμ⎡⎤⎛⎫⎛⎫⎢⎥-+ ⎪ ⎪⎝⎭⎢⎥⎝⎭⎣⎦=(17)此方法优点,简单且具有较高精度,同时对波导与同轴系统均适用。

三、实验仪器装置原理图如下所示测试系统如图1所示,主要仪器是高性能微波一体化矢量网络分析仪。

图1 实验系统示意框图实验装置图如图2所示,高性能微波一体化矢量网络分析仪同轴波导转换器同轴波导转换器 样品材料图2 实验装置图四、实验步骤:1、 打开矢量网络分析仪,预热60分钟。

2、 根据波导尺寸设置好扫描频率、点数和扫描时间。

3、 为了将测量的二端口网络散射系数校准到同轴线的端口,要先使用矢量网络分析仪的标准件(开路器、断路器、匹配负载、直通)和自带的校准程序进行校准:(1) 打开校准菜单选择校准向导,选择校准类型,点中全双端口SOLT(忽略隔离),然后选择测量机械校准,选择标准件BJ -320开始进行校准。

(2) 将两转换头波导口对接,进行直通校准。

(3) 在两转换头波导口分别接上短路板,进行短路校准。

(4) 在两转换头波导口分别接上四分之一波长负载进行偏移校准。

(5) 在两转换头波导口分别接上精密波导负载进行负载校准。

4、将需要测量的微波材料接在转换器之间,测量此时的s 参量。

5、利用s 参量编程计算微波材料的介电谱。

五、数据处理样品厚度 1.80l mm =,截止波长13.60c mm λ=。

在实验中,我们测得了不同频率f 下的s 参量,根据式(12)~(17)编程计算不同频率下的介电常数和磁导率,并根据计算结果作出r f ε-图和r f μ-如下所示:图3 样品的相对介电常数频谱由得到的介电常数谱可知,样品的介电常数值既有实部部分也有虚部部分。

在同一频率下,介电常数的实部和虚部绝对值大致相等,符号相反。

随着频率的增大,实部部分逐渐减小,并由正值变为负值,虚部部分逐渐增大,由负值变为正值。

并且在某一频率处(约33GHz),介电常数的实部和虚部都趋近于0。

图4 样品的相对磁导率频谱从上图的磁导率谱中可以看出,磁导率也同时具有实部和虚部。

在大部分频率下,磁导率的数值趋近于0(实部和虚部),但在某个频率附近,磁导率的实部和虚部的数值都出现了剧烈的振荡,表现为先急剧升高,再急剧下降,然后再恢复到0的特征。

比较介电常数谱和磁导率谱可以发现,磁导率出现振荡的频率大致刚好是介电常数趋近于零的频率。

关于介电常数趋近于零,实部虚部呈相反数关系,磁导率出现剧烈振荡,以及磁导率出现振荡的频率大致刚好是介电常数趋近于零的频率,这些现象出现的原因,有待于进一步的理论分析和实验论证。

六、误差分析:本实验主要的误差来源是数据处理的过程中忽视了以下两个问题: (1)厚度谐振问题对于低损耗材料,某些频点,即微波材料样品长度正好是半波长的整数倍时,110s →,K 值具有极大的不确定性,r ε产生尖峰,即厚度谐振为不确定值需要去除。

(2)多值问题传播常数与厚度紧密相关,当l λ>时,传播常数有多个解,在式(15)需要对l T 取自然对数,设j l T Te θ=,则有()()()11ln ln 2l T T j n l lγθπ=-=-+±⎡⎤⎣⎦ ()0,1,2,n =由于n 可能取多个不同的值,γ值存在多个值,因而得到的介电常数可能存在多值。

七、思考题1. 根据波导传输理论推导s 参量与介电常数的关系式。

答:2221121111122ccs s s +Γ-+=Γ 2211211112s s K s -+=c K Γ=取1c Γ≤的解。

()112211221cl cs s T s s +-Γ=-+Γ()1ln l T lγ=-11crcμ⎫+Γ=⎪-Γ⎭222002crrλλγπλεμ⎡⎤⎛⎫⎛⎫⎢⎥-+ ⎪⎪⎝⎭⎢⎥⎝⎭⎣⎦=2.本实验测得材料的介电常数其主要误差来源是什么?答:忽视了厚度谐振问题和多值问题(见误差分析)。

参考文献[1] 李宗谦佘京兆高葆新,微波工程基础[M],北京:清华大学出版社,2004[2] 周清一,微波测量技术[M],北京:国防工业出版社,1964附录一MATLAB数据处理程序第一部分脚本% script file: calculate%% purpose:% calacute the relative permittivity and relative permeability, % according to the s parameter and frequency%% variables:% fs -- data file, f, s% s -- s parameter, s11, s12, s21, s22% f -- frequency of the wave% mur -- relative permeability% epsilonr -- relative permittiviy% result -- store the result, frequency, epsilonr and mur% ndatas -- number of datas% input frequency and s parameterload fs.datf = fs(:,1);s = fs(:,[2:9]);% calculate epsilonr and mur[epsilonr, mur] = cal_permit_permea(f, s);% initiate the output variablendatas = size(f, 1);result = zeros(ndatas, 5);% save the frequency, epsilonr and murresult(:,1) = f;result(:,[2 3]) = [real(epsilonr), imag(epsilonr)];result(:,[4 5]) = [real(mur), imag(mur)];save result.dat result –ascii第二部分函数function [epsilonr, mur] = cal_permit_permea(f, s)% cal_permit_permea calculates the relative permeability and relative % permittiviy%% variables:% f -- frequency of the wave% s -- s parameter, s11, s12, s21, s22% s11% s12% s21% s22% epsilonr -- relative permittiviy% mur -- relative permeability% gammac -- the reflective coefficient of sample% gamma -- a variable% thick -- thickness of the sample(m)% lambda0 -- wave length in th air(m)% lambdac -- wave length truncated(m)% c -- speed of ligth(m/s)% divide ss11 = s(:,1)+s(:,2).*i;s12 = s(:,3)+s(:,4).*i;s21 = s(:,5)+s(:,6).*i;s22 = s(:,7)+s(:,8).*i;% initiate parametersthick = 1.80e-03;c = 299792458;lambda0 = c./f;lambdac = 2*6.80e-03;% calculate mur and epsilonrgammac = cal_gammac(s11, s21);gamma = cal_gamma(s11, s22, gammac, thick);mur = cal_mur(gamma, gammac, lambda0, lambdac);epsilonr = cal_epsilonr(gamma, mur, lambda0, lambdac);function gammac = cal_gammac(s11, s21)% cal_gammac calculates parameter gammac%% variables:% s11% s21% k -- mediate variable% gammac -- the reflective coefficient of sample% ii -- index% ndatas -- number of datas in s11% initiate gammac, get number of datas, calculate k gammac = zeros(size(s11));ndatas = size(s11, 1);k = (s11.^2-s21.^2+1)./(2.*s11);% calculate gammacfor ii = 1:ndatasgammac(ii) = k(ii)+sqrt(k(ii)^2-1);if abs(gammac(ii))>1gammac(ii) = k(ii)-sqrt(k(ii)^2-1);endendfunction gamma = cal_gamma(s11, s22, gammac, thick)% cal_gammac calculates parameter gammac%% variables:% s11% s22% gammac -- the reflective coefficient of sample% tl -- the transmission coefficient% gamma -- return value% calculate gammatl = (s11+s22-gammac)./(1-(s11+s22).*gammac);gamma = -log(tl)./thick;function mur = cal_mur(gamma, gammac, lambda0, lambdac) % cal_mur calculates relative permeability%% variables:% gammac -- the reflective coefficient of sample% gamma -- temp variable% lambda0 -- wave length in th air(m)% lambdac -- wave length truncated(m)% calculate murmur = (-i.*lambda0.*gamma)./(2*pi.*sqrt(1-(lambda0./lambdac).^2))... .*(1+gammac)./(1-gammac);function epsilonr = cal_epsilonr(gamma, mur, lambda0, lambdac)% cal_epsilonr calculates relative permittivity%% variables:% gamma -- temp variable% mur -- relative permeability% lambda0 -- wave length in th air(m)% lambdac -- wave length truncated(m)% calculate epsilonrepsilonr = (-gamma.^2 .* (lambda0./2./pi).^2 + ...(lambda0./lambdac).^2) ./ mur;11。

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