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仪器设备台帐
序号设备名
称
设
备
编
号
型号规格
数量
(台)
出厂时
间
生
产厂名
技术资料
1 原子荧光
光度计
(AFS
JC-
01
AFS-3100 1
2008-4-
18
北京科创
海光仪器
有限公司
精密度≤2%,
检出限≤0.09ug/L。
2 原子吸收
分光光度
计(AAS
JC-
02
WFX-310 1
2006-10-
25
北京瑞利
分析仪器
公司
190nm—900nm,不确定度
RSD≤1%。
3 原子吸收
分光光度
计(AAS
JC-
03
WFX--320 1
2006-3-
25
北京瑞利
分析仪器
公司
测量波长范围:190nm—
900nm,不确定度
RSD≤1%。
4 电感等离
子发射光
谱仪
(ICP-OES
JC-
04
ICP Optimal
2100DV
1
2008-7-
18
美国铂金
埃尔默公
司
测量波长范围:190nm—
900nm;分辨率:200nm处
0.003nm。
5 电感耦合
等离子体
质谱仪
(ICP-MS
JC-
05
Nexion300Q 1
2011-9-
10
美国铂金
埃尔默公
司
1.质量数范围:3-
280amu。 2.灵敏度:低质
量数59Co:> 50 M
cps/ppm;中质量数 115
In:>80M cps/ppm;高质量
数 238U:> 80 Mcps/ppm。
3.检测限:低质量数元素
Co(59):<5ppt;中质量
数元素In (115:< 0.5
ppt。4.不确定度
RSD≤3%。
6 平面光栅
摄谱仪
(ES)
JC-
06
WSP—1型 1
1978-12-
14
北京光学
仪器厂
测定波长范围:200nm—
400nm,光谱定量、半定量
分析
7 平面光栅
摄谱仪
(ES
JC-
07
WP1型 1 1979-2-3
北京第二
光学
仪器厂
测定波长范围:200nm—
400nm 批准:时间: