(完整版)材料分析方法期末考试总结
化工材料分析期末总结
化工材料分析期末总结一、导言化工材料是化工工程的基础之一，对于化工工程师来说，掌握材料分析的方法和技巧是至关重要的。
本次期末总结将对我在化工材料分析方面的学习成果进行总结和反思，主要从以下三个方面展开：理论知识的掌握、实验操作的技巧和数据分析的能力。
通过对这三方面的总结，我希望能够找到自己在学习中的不足之处，并为以后的学习提供参考和指导。
二、理论知识的掌握在本学期的学习中，我通过课堂听讲、课后复习和参考书籍等方法，学习了化工材料分析的相关理论知识。
我在理论掌握方面存在的主要问题有：对一些概念的理解不够深入、应用知识的能力较弱等。
在学习过程中，我尝试了多种方法进行理论知识的学习，比如多看相关的参考书籍以及与同学进行讨论和交流。
通过这些方法，我逐渐提高了对理论知识的理解和掌握程度。
三、实验操作的技巧化工材料分析涉及到很多实验操作，这对于我们化工工程专业的学生来说是必不可少的一项能力。
在本学期的实验操作中，我基本掌握了各种操作技巧，并能独立进行实验操作。
但是，我在实验操作中存在的问题是：在实验前的准备工作上花费时间较多、实验中的操作步骤和顺序掌握不够熟练等。
为了提高实验操作的技巧，我在实验前会提前预习相关实验方法和步骤，同时也会参考同学的实验报告和经验，以便更好地完成实验。
四、数据分析的能力化工材料分析的一个重要环节就是对实验数据的分析。
在本学期的学习中，我通过实际操作和数据分析的课堂练习，提高了对数据分析的能力。
但是，我在数据分析方面还存在以下问题：对数据结果的解读和应用能力较弱、数据处理和统计方法的掌握不够熟练。
为了提高数据分析的能力，我会多进行数据处理和统计的练习，并多阅读相关的论文和专业书籍，以便更好地理解和应用数据结果。
五、结语通过本次期末总结，我对自己在化工材料分析方面的学习成果进行了总结和反思，并找到了自己在学习中的不足之处。
在以后的学习中，我将更加注重理论知识的掌握、实验操作的技巧和数据分析的能力。
期末考试分析总结(6篇)
期末考试分析总结（通用6篇）总结是指社会团体、企业单位和个人对某一阶段的学习、工作或其完成情况加以回顾和分析，得出教训和一些规律性认识的一种书面材料，它是增长才干的一种好办法，让我们一起来学习写总结吧。
总结怎么写才不会千篇一律呢？下面是小编帮大家整理的期末考试分析总结（通用6篇），欢迎大家借鉴与参考，希望对大家有所帮助。
期末考试分析总结1本学期我们班共有人数41人其中男生26人女生15人，本次参加考试实到人数40人，测试的总分为3563.5分，平均分为89.1分，及格率为100%。
对于本次考试的成绩，我基本上感到满意，从总体情况来看，大部分学生都发挥了正常水平，另一小部分同学通过半个月的强化复习，有了很大的进步。
下面，我对考试中出现的具体情况作如下细致的分析：一、音识字欢乐谷1.填一填这一题是把拼音补充完整，除了几名成绩较差的同学，全班基本上全对，那几名成绩较差的同学错误的根源在于对拼音没有掌握好，由于这项较弱，2~3名学生这一题全部失分。
2.涂一涂此题是考中国姓氏，是把相对应的拼音与汉字画上相同的颜色，如果这一题是纯粹的连线，学生会做的很好，可是涂相同的颜色，又涉及到颜色不能重复的问题，很多学生在这个颜色问题上出了差错、由此可见平时此类题目训练不够。
3.变一变象这种类型的题，我平时训练得比较多，如果这一题出差错，可能有两种原因：a.题意理解不够，例如：给“包”字加个偏旁，要求把组合好的字直接写在方框里，然而有的学生只填了个“氵”或“扌”。
b.平时在此训练中，有的学生基础较差，无法完全掌握此类习题。
二、书写展示厅本题第1小题：看拼音写词语，这一小题所写的4个词语也是我经常训练抄写的，学生如果写得不对，可能是由于笔误也可能是因为里面měi hǎo的“美”与“每”同音字区分不清楚。
第2小题是写爸爸或妈妈、写写同桌的名字，这一题基本上没有什么问题。
第3小题是写本册语文书中一篇课文的题目，这一题也没有多大问题。
材料分析测试方法期末总结
材料分析测试方法期末总结一、测试方法的基础概念在深入讨论测试方法之前，我们首先需要了解一些基本概念。
1. 测试目标：测试目标是测试活动的核心，它描述了测试所要达到的目标和结果。
常见的测试目标包括验证软件是否符合需求、发现软件中的缺陷以及评估软件的质量等。
2. 测试策略：测试策略是指定测试方法和测试过程的一组决策。
它描述了如何选择测试用例、测试技术和测试环境等，并确定了测试的优先级和风险。
3. 测试技术：测试技术是指用于执行测试活动的方法和工具。
常见的测试技术包括白盒测试、黑盒测试、灰盒测试等。
4. 测试用例：测试用例是一组输入、执行条件和预期结果的组合。
它描述了在特定条件下执行软件的步骤和结果，并用于评估软件功能的正确性和完整性。
5. 缺陷：缺陷是指软件中的错误或问题。
它可能导致软件无法正确执行预期功能，或者引发不可预料的行为。
二、常见的测试方法在软件开发过程中，有多种不同类型的测试方法被广泛应用。
下面是几种常见的测试方法：1. 单元测试：单元测试是对软件中最小可测试单元进行测试的方法。
它通常由开发人员在编写代码时进行，以确保代码的正确性和可靠性。
2. 集成测试：集成测试是将模块或子系统集成在一起进行测试的方法。
它的目标是验证这些模块或子系统在集成时是否可以正确地协同工作，并且预期功能是否得以实现。
3. 系统测试：系统测试是对整个系统进行全面测试的方法。
它的目标是验证软件是否符合需求规格说明书的规定，以及在实际使用环境中是否可靠、稳定和安全。
4. 验收测试：验收测试是在软件开发完成后，由用户或客户进行的最终测试。
它的目标是验证软件是否满足用户需求，并根据预定的验收标准来判断软件是否可以交付使用。
5. 故障注入测试：故障注入是一种测试方法，通过向软件中引入人为设计的故障来评估软件的可靠性和稳定性。
它可以帮助发现并修复软件中的潜在缺陷。
三、测试方法的重要性和应用测试方法在软件开发过程中起着非常重要的作用。
材料分析方法复习总结
1. 已知某原子的光谱项，能够用能级示意图表示出其光谱支项与塞曼能级。
原子能级由符号n M L J 表示，其中n表示主量子数，即原子层数。
M是J可能存在的个数，一般为2S+1或2L+1；L一般用大写字母S、P、D、F、G等表示，分别表示L的值是0，1，2，3，4…；例如：某原子的一个光谱项为23P J，即有n=2，L=1，设S=1，（故M=2S+1=3），则J=2，1，0。
当J＝2时，M J=0，±1，±2；J=1时，M J=0，±1；J=0时，M J＝0。
23P J光谱项及其分裂所示。
2. 掌握满带、禁带、价带、导带以及费米能的概念。
满带：能带中的所有能级（能态）都被电子填满；禁带：原子不同能级分裂的能带之间存在间隙；价带：与原子基态价电子能级相应的能带称为价带；导带：与原子激发态能级相应的能带成为导带。
费米能：绝对零度时固体中电子占据的最高能级称为费米能级，其能量称为费米能E F 3．能够在给定晶体结构（如简单立方晶胞、面心立方晶胞），在其中画出(001), (002), (003) 等晶面，根据干涉指数的定义，回答由干涉指数表示的晶面上是否一定有原子的分布，为什么？画晶面（注意：晶面指数是截距的倒数。
）干涉指数定义为可带有公约数n的晶面指数[n(hkl)],即为广义的晶面指数。
干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，也就是说干涉指数表示的晶面并不一定有原子分布。
因为若将干涉指数按比例约分后，最后干涉指数还是还原为晶面指数，所以只用晶面空间方位来标识晶面。
4. 掌握由倒易矢量性质，倒易点阵与正点阵关系推导出立方晶系晶面间距公式的推导过程。
根据(r*HKL)=1/d2HKL，按照矢量点积的公式，可确定1/d2HKL=（Ha*+Kb*+Lc*）(Ha*+Kb*+Lc*)=H2(a*)2+K2(b*)2+L2(c*)2+2HK(a*∙b*)+2HL(a*∙c*)+2KL(b*∙c*) 又有，(a*)2=(b*)2=(c*)2=1/a2,cosα*=cosβ*=cosγ*=01/d2HKL=H2+K2+L2ad HKL=√H2+K2+L25. 掌握晶带定理及晶带轴计算方法。
材料分析方法复习总结
1. 已知某原子的光谱项，能够用能级示意图表示出其光谱支项与塞曼能级。
原子能级由符号n M L J 表示，其中n表示主量子数，即原子层数。
M是J可能存在的个数，一般为2S+1或2L+1；L一般用大写字母S、P、D、F、G等表示，分别表示L的值是0，1，2，3，4…；例如：某原子的一个光谱项为23P J，即有n=2，L=1，设S=1，（故M=2S+1=3），则J=2，1，0。
当J＝2时，M J=0，±1，±2；J=1时，M J=0，±1；J=0时，M J＝0。
23P J光谱项及其分裂所示。
2. 掌握满带、禁带、价带、导带以及费米能的概念。
满带：能带中的所有能级（能态）都被电子填满；禁带：原子不同能级分裂的能带之间存在间隙；价带：与原子基态价电子能级相应的能带称为价带；导带：与原子激发态能级相应的能带成为导带。
费米能：绝对零度时固体中电子占据的最高能级称为费米能级，其能量称为费米能E F 3．能够在给定晶体结构（如简单立方晶胞、面心立方晶胞），在其中画出(001), (002), (003) 等晶面，根据干涉指数的定义，回答由干涉指数表示的晶面上是否一定有原子的分布，为什么？画晶面（注意：晶面指数是截距的倒数。
）干涉指数定义为可带有公约数n的晶面指数[n(hkl)],即为广义的晶面指数。
干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，也就是说干涉指数表示的晶面并不一定有原子分布。
因为若将干涉指数按比例约分后，最后干涉指数还是还原为晶面指数，所以只用晶面空间方位来标识晶面。
4. 掌握由倒易矢量性质，倒易点阵与正点阵关系推导出立方晶系晶面间距公式的推导过程。
根据(r*HKL)=1/d2HKL，按照矢量点积的公式，可确定1/d2HKL=（Ha*+Kb*+Lc*）(Ha*+Kb*+Lc*)=H2(a*)2+K2(b*)2+L2(c*)2+2HK(a*∙b*)+2HL(a*∙c*)+2KL(b*∙c*) 又有，(a*)2=(b*)2=(c*)2=1/a2,cosα*=cosβ*=cosγ*=01/d2HKL=H2+K2+L2a2d HKL=√H2+K2+L25. 掌握晶带定理及晶带轴计算方法。
材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳
材料分析测试技术复习参考资料（注：所有的标题都是按老师所给的“重点”的标题，）第一章x射线的性质1.X射线的本质：X射线属电磁波或电磁辐射，同时具有波动性和粒子性特征，波长较为可见光短，约与晶体的晶格常数为同一数量级，在10-8cm左右。
其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播；粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。
2，X射线的产生条件：a产生自由电子；b使电子做定向高速运动；c在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
3，对X射线管施加不同的电压，再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度，便会得到X射线强度与波长的关系曲线，称为X射线谱。
在管电压很低，小于某一值（Mo阳极X射线管小于20KV）时，曲线变化时连续变化的，称为连续谱。
在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λo，称为短波限，在高速电子打到阳极靶上时，某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这个光量子便具有最高的能量和最短的波长，这波长即为λo。
λo=1.24/V。
4，特征X射线谱：概念：在连续X射线谱上，当电压继续升高，大于某个临界值时，突然在连续谱的某个波长处出现强度峰，峰窄而尖锐，改变管电流、管电压，这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变，即波长只与靶的原子序数有关，与电压无关。
因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征x射线，由特征X射线构成的x射线谱叫特征x射线谱，而产生特征X射线的最低电压叫激发电压。
产生：当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，或击到原于系统之外，或使这个电子填到未满的高能级上。
于是在原来位置出现空位，原子的系统能量因此而升高，处于激发态。
这种激发态是不稳定的，势必自发地向低能态转化，使原子系统能量重新降低而趋于稳定。
这一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的，电子由高能级向低能级跃迁的过程中，有能量降低，降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量，对于原子序数为Z的确定的物质来说，各原子能级的能量是固有的，所以．光子能量是固有的，λ也是固有的。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析方法是指一套用于对材料进行结构、成分、性能等方面的分析与测试的手段和技术。
材料分析方法的选择和应用能够帮助科研人员、工程师等从不同的角度了解材料的实际情况，进一步改进材料的性能，提高材料的应用价值。
本文将从几个主要的材料分析方法进行总结。
1.光学分析方法光学分析方法是利用光学原理对材料进行观测、测量和分析的方法。
常见的光学分析方法包括光学显微镜观察、扫描电子显微镜(SEM)观察、透射电子显微镜(TEM)观察等。
这些方法可以用来观察材料的表面形貌、内部结构、晶体缺陷等，对材料的性能和结构进行分析。
2.物理分析方法物理分析方法是通过对物理性质的测量与测试来分析材料的方法。
常见的物理分析方法包括热分析、电学测试、磁学测试等。
热分析方法可以通过对材料在不同温度下的热行为进行测试，了解材料的热稳定性、热膨胀性等；电学测试可以通过测量材料的导电、绝缘性能等来了解材料的电学特性；磁学测试可以测量材料的磁性，包括磁化率、磁导率等。
这些方法可以用来分析材料的物理性质以及材料与外界的相互作用。
3.化学分析方法化学分析方法是通过对材料进行化学性质的测量与测试来分析材料的方法。
常见的化学分析方法包括光谱分析、质谱分析、电化学分析等。
光谱分析可以通过测量材料对光的吸收、发射等来推断其成分，可以用来分析材料的种类、含量等；质谱分析可以通过测量材料中的分子或原子的质谱图谱来分析其化学成分；电化学分析可以通过测量材料在电场或电流的作用下的化学反应来分析其化学性质。
这些方法可以用来分析材料的成分、结构和化学性质等。
4.结构分析方法结构分析方法是通过对材料的晶体结构、分子结构等进行表征和分析来了解材料的性质和性能。
常见的结构分析方法包括X射线衍射分析、核磁共振分析、电子衍射分析等。
X射线衍射分析可以通过测量材料对X射线的散射来推断其晶体结构；核磁共振分析可以通过测量材料中原子核的共振频率来了解其分子结构。
这些方法可以用来研究材料的晶体结构、分子结构、晶格缺陷等。
现代材料分析方法 期末考试 要点总结
1.X 射线与物质的相互作用？光电效应？莫塞莱定律？作用：（1）宏观效应----X 射线强度衰减 （2）微观机制----X 射线被散射,吸收.1散射---相干散射,康谱顿散射2吸收---产生光电子,二次荧光,俄歇电子光电效应：原子中的电子处在不同的能级上，当入射光子的能量超过内层电子的轨道结合能，就可以发生光电离过程，产生光电子2.X 射线衍射的充分必要条件？极限条件？简单点阵的消光规律必要条件：满足布拉格方程充分条件：满足消光规律极限条件：能够被晶体衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面中最大面间距的二倍 λ <2d3.X 射线衍射的方法及其特点？SAXS ？如果试样具有不同电子密度的非周期性结构（晶区和非晶区），则X 射线不被相干散射，有波长的改变，并在小角度上测定，称为小角X 射线散射（SAXS ） 4.XRD 的应用？晶粒度的测定公式？1、固体结构分析2、物相定性分析3、物相定量分析4、晶粒大小分析5、非晶态结构分析，结晶度分析6、宏观应力与微观应力分析7、择优取向分析5 XRD 定性分析的原理？1各种物质都有自己特定的结构参数（点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等），结构参数不同则X 射线衍射花样也就各不相同。
2当多种物质同时衍射时，其衍射花样也是各种物质自身衍射花样的机械叠加。
它们互不干扰，相互独立，逐一比较就可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的衍射花样，分析标定后即可鉴别出各自物相。
6 电磁透镜？TEM 成像原理？TEM 分辨率及其影响因素？景深及其影响因素？衍射方法 λ θ 适用试样劳埃法 变 不变 单晶 转晶法 不变 变 单晶 德拜-谢乐法 不变 变 多晶 粉末法 不变 变 多晶电磁透镜：在电子显微镜中由电磁线圈产生的磁场所构成的透镜，用以将电子枪的束斑缩小TEM成像原理：透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。
材料分析测试方法考点总结
材料分析测试方法考点总结1.化学成分分析化学成分分析是材料分析测试的基础内容之一、它可以通过测定材料中的元素含量来确定材料的化学成分。
常用的化学成分分析方法包括：火花光谱分析、光谱分析、质谱分析、原子光谱分析等。
2.物理性能测试物理性能测试是评估材料力学性质的重要手段。
包括材料的硬度、强度、韧性、弹性模量等。
常用的物理性能测试方法有：拉伸试验、硬度测试、冲击试验、压缩试验、剪切试验等。
3.微观结构分析微观结构分析是检测材料内部组织和晶体结构的重要方法。
常用的微观结构分析方法包括：显微镜观察、扫描电子显微镜(SEM)观察、透射电子显微镜(TEM)观察、X射线衍射(XRD)分析等。
4.表面分析表面分析是研究材料表面化学组成、结构和形貌的重要手段。
主要包括表面形貌观察和分析、表面成分分析、表面组织分析等。
常用的表面分析方法有：扫描电子显微镜(SEM)观察、能谱分析(EDS)、X射线光电子能谱(XPS)分析、原子力显微镜(AFM)观察等。
5.热分析热分析是通过对材料在不同温度下的热响应进行测定和分析，来研究材料热性能的一种方法。
典型的热分析方法包括：热重分析(TGA)、差热分析(DTA)、差示扫描量热分析(DSC)等。
6.包装材料测试包装材料测试是对包装材料的物理性能、化学性能、机械性能、耐久性能等进行测试评估的一种方法。
常用的包装材料测试方法有：抗拉强度测试、撕裂强度测试、温湿度测试、冲击测试、水汽透过性测试等。
7.表征技术表征技术是通过测定和分析材料的性质和性能，来获得材料的各种特征和参数的方法。
常用的表征技术包括：拉曼光谱、红外光谱、紫外-可见分光光度计、液相色谱-质谱分析等。
总结而言，材料分析测试方法主要涵盖了化学成分分析、物理性能测试、微观结构分析、表面分析、热分析、包装材料测试和表征技术。
掌握这些测试方法，可以有效评估和控制材料的质量、性能和性质，为材料科学和工程提供有力支持。
材料研究与测试方法期末完整总结
材料研究与测试方法期末完整总结材料是生产活动中的主要要素之一，对材料的研究与测试方法的掌握，对于工程师和科研人员来说至关重要。
本文将对材料研究与测试方法进行全面总结，包括材料的基本性质研究、材料结构与组织分析、材料性能测试以及材料表征方法等方面。
一、材料基本性质研究材料的基本性质包括物理性质、化学性质、力学性质等。
对于材料的基本性质研究主要依靠实验方法和理论模型。
在实验方法上，可以通过温度、压力、湿度等参数的控制，对材料的基本性质进行研究和测试。
在理论模型方面，可以借助计算机仿真和模拟的方法，通过对材料的结构和组成进行建模，从而推导出其基本性质。
二、材料结构与组织分析材料的结构和组织对其性能具有重要影响。
材料结构与组织分析是研究材料的微观结构和宏观组织的方法。
其中，常见的方法包括金相显微镜观察、扫描电子显微镜分析、透射电子显微镜分析等。
金相显微镜可以观察材料内部的显微组织，对材料的晶粒结构、相分布等进行研究。
扫描电子显微镜和透射电子显微镜分析可以进一步观察和分析材料的微观结构，了解材料的结晶度、晶格缺陷等信息。
三、材料性能测试材料性能测试是对材料的各种性能指标进行量化和评估的方法。
常见的材料性能测试包括力学性能测试、热学性能测试、电学性能测试等。
力学性能测试可以通过拉力试验、硬度测试等方法，获得材料的强度、韧性等力学性能参数。
热学性能测试可以通过热膨胀实验、热导率实验等方法，研究材料的热膨胀系数、热导率等特性。
电学性能测试可以通过电导率实验、电容测试等方法，评估材料的导电性能、绝缘性能等。
四、材料表征方法材料表征是对材料进行全面评估和描述的方法。
常用的材料表征方法包括X射线衍射分析、拉曼光谱分析、傅里叶变换红外光谱分析等。
X射线衍射分析可以通过测量材料的衍射图谱，确定材料的晶面结构，进而推断材料的晶体结构。
拉曼光谱分析可以通过测量材料的拉曼光谱，获取材料的分子振动信息，了解材料的结构和组成。
傅里叶变换红外光谱分析可以通过检测材料在红外区的吸收峰，推断材料的官能团和分子结构。
材料现代分析方法期末总结
材料分析方法习题1、晶带定律：凡是属于[uvw]晶带的晶面，它的晶面指数(hkl)都必须符合hu+kv+lw=0，通常把这种关系式称为晶带定律。
2、暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。
3、中心暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。
如果物镜光阑处于光轴位置，所得图象为中心暗场像。
4、衍射衬度：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映。
衍射衬度主要是由于晶体试样满足布拉格反射条件程度差异以及结构振幅不同而形成电子图象反差。
5、背散射电子：入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。
6、吸收电子：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。
吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
7、特征X射线：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。
利用特征X射线可以进行成分分析。
8、二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。
二次电子来自表面50-100 Å的区域，能量为0-50 eV。
它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。
9、俄歇电子：如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。
俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。
简答题1. 什么叫“相干散射”？答：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。
这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。
材料分析方法复习总结
Ｘ射线：波长很短的电磁X射线的本质是什么？答：X射线是一种电磁波，有明显的波粒二象性。
特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。
连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。
荧光Ｘ射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生X射线是一种波长很短的电磁波X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。
呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。
对动物有机体能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。
连续X射线根据经典物理学的理论，一个带负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或至少一个电磁脉冲。
由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。
特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。
原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。
因物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。
4 简述材料研究X射线试验方法在材料研究中的主要应用精确测定晶体的点阵常数物相分析宏观应力测定测定单晶体位相测定多晶的织够问题．X 射线衍射分析，在无机非金属材料研究中有哪些应用？（8分）答：1. 物相分析：定性、定量2. 结构分析：a、b、c、α、β、γ、d3. 单晶分析：对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工4. 测定相图、固溶度5. 测定晶粒大小、应力、应变等情况X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式？写出数学表达式，并说明d、θ、λ的意义。
（5分）答：. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。
现代材料分析技术期末总结
现代材料分析技术期末总结一、引言现代材料分析技术是指应用各种先进的科学和技术手段来对材料进行分析和研究的过程。
随着科学技术的不断发展，材料分析技术也取得了巨大的进展，涵盖了物理、化学、生物等多个领域。
本文将对现代材料分析技术进行总结，从光学显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射、质谱仪、红外光谱仪、核磁共振仪和热分析等技术进行详细介绍。
二、光学显微镜光学显微镜是一种常用的材料分析技术，通过可见光对材料进行观察和测量。
使用透射光和反射光来照射样品，通过目镜和物镜将图像放大到人眼可以识别的范围。
该技术可以观察材料的形貌、颗粒分布和晶粒结构等。
光学显微镜广泛应用于金属材料、生物材料和无机材料等研究领域。
三、扫描电子显微镜扫描电子显微镜是一种可以高分辨率地观察样品表面形貌和组织结构的技术。
通过束缚电子的扫描和检测，得到样品的二维和三维图像。
扫描电子显微镜可以观察到样品微观结构的细节，如晶体缺陷、晶界和纳米颗粒等。
该技术对金属材料、半导体材料和生物材料等的分析具有重要意义。
四、透射电子显微镜透射电子显微镜是一种可以观察材料内部的高分辨率分析技术。
通过将电子束通过样品，利用电子的衍射和透射来观察材料的晶体结构和原子成分。
透射电子显微镜可以观察到样品的晶体结构、晶界和位错等，可以分析材料的化学成分和晶态状态。
透射电子显微镜在材料科学、纳米材料和生物材料等研究领域具有重要的应用价值。
五、X射线衍射X射线衍射是一种分析材料晶体结构的技术。
通过用X射线照射样品，利用X射线与样品的晶胞相互作用来得到样品的衍射图像。
可以通过衍射图像来确定材料的晶胞参数、晶体结构和晶面取向等。
X射线衍射技术广泛应用于材料科学、金属材料和矿物材料等领域。
六、质谱仪质谱仪是一种通过分析样品中的离子和分子来测定其化学成分和结构的技术。
通过将样品中的分子或原子离子化并加速到一个高速运动状态，利用它们在磁场和电场中的行为，来分析它们的质量和相对丰度。
材料分析方法期末总结
材料分析方法期末总结一、材料分析方法的基本步骤（一）收集材料：材料分析的第一步是收集与研究对象相关的材料。
这些材料可以通过文献研究、场地调查、访谈、问卷调查等方式获得。
（二）整理归类：将收集到的材料进行整理和归类，以便于后续的分析和解读。
可以根据材料的性质、内容、时间顺序等进行分类，使用标签、索引或数据库等工具进行管理。
（三）提取关键信息：在整理归类的基础上，将材料中的关键信息提取出来。
可以使用摘要、注释、标记等方式进行标记和记录，以便于后续的分析和比较。
（四）分析解读：根据研究的目的和问题，选择适当的分析方法进行材料的解读。
常见的分析方法包括：内容分析、比较分析、语境分析、符号分析等。
通过对材料中的信息进行分析和解读，可以发现其中的规律、关系和意义。
（五）总结归纳：在分析解读的基础上，对材料分析的结果进行总结和归纳。
可以从多个角度和维度出发，提炼出材料中的共性、差异和趋势。
确保总结归纳的结果能够回答研究问题，并对研究对象提出相应的结论。
二、材料分析方法的技巧和注意事项（一）注重材料的质量和可信度：在进行材料分析时，需要注重材料的质量和可信度。
应该选择权威的、可靠的和有代表性的材料进行分析，避免不合理偏见和无根据的推测。
（二）注重材料的多样性和综合性：材料分析应该尽量采用多种来源、多种类型、多个角度的材料进行分析。
通过综合分析不同类型的材料，可以获得更全面、准确和全面的研究结果。
（三）注重材料的背景和语境：在进行材料分析时，需要考虑材料的背景和语境。
包括作者的身份、时代背景、社会环境等因素，这些因素会对材料的解读和理解产生重要影响。
（四）注重材料的内外联系：对于同一研究对象的不同材料，应该注重它们之间的内在联系和外在联系。
内在联系指的是不同材料之间的关联和互动，而外在联系指的是材料与研究对象之间的关系。
通过分析内外联系，可以深入理解研究对象的本质和特点。
（五）注重材料的深度和广度：材料分析应该注重深度和广度的平衡。
期末考试的总结(精选5篇)
期末考试的总结（精选5篇）总结是把一定阶段内的有关情况分析研究，做出有指导性的经验方法以及结论的书面材料，写总结有利于我们学习和工作能力的提高，快快来写一份总结吧。
总结你想好怎么写了吗？以下是小编为大家整理的期末考试的总结（精选5篇），希望对大家有所帮助。
期末考试的总结1从9月炎炎夏日到今天的1月寒冬，近四个月的时间，初一上学期过去了。
在此，我对于这个学期进行总结。
语文是116，数学是129，英语是130。
这三门主科成绩每一门的总分都是150，而我的任何一门都没打到140以上，且政史地生四门加起来近扣了13分，我总结了主要的原因：1、语文的整体素质较差，对于探究类题目，阅读理解，材料题，说话题等题目老师都有做过详细的讲解，给过我们答题公式，但是我没有好好的运用这些答题公式，反而是心不在焉。
2、语文的作文首先字迹不工整，有些许的涂改，且立意不深刻，语言不生动，且都没有将平时的积累运用到作文当中。
3、在数学上，在一些填空题、选择题上拖延的时间较多，最后一题老师讲过，却因为时间分配不合理，导致没有细心的思考，且在答题卡上多有涂改，且没有检查。
4、在英语上，播放听力的时候没有认真仔细的听，且做选择题的时候也是囫囵吞枣，对于平时屡次犯的错误，依旧是没有改掉。
5、政史地生没有好好检查，考前没有认真复习，老师说过，政史地生不应该是拉分项，而是为三门主科补缺陷。
以上是我的期末考试总结，老师在给我的评语中说过：加强数学学习，自习课不随意讲话，静心学习，不断进步。
期末考试的总结2花开花落，云卷云舒，时间从指缝间溜走，一晃七年级的上半学期已经结束，其中我总结了一些经验和教训。
对于这次考试，我的语文发挥的还可以，在考试中按分答点，有一定的踩分意识，但是仍然有许多不足，有“提笔忘字”这一现象的出现，同时有遗漏的知识点没有掌握，在写作的过程中有卡壳的时候，也有涂改，这都是非常棘手的问题。
数学在考试之前有找到一些漏洞并改正，在检查的过程中也有发现错误并改正，但还有许多不足。
化工材料分析期末总结题
化工材料分析期末总结题在本学期的化工材料分析课程学习中，我对不同类型的化工材料有了更深入的了解。
通过学习课程中的理论知识，我掌握了分析化学的基本原理和方法，学会了运用这些原理和方法来分析、评估和改进化工材料的性能和质量。
以下是我所学到的一些重要知识和经验总结。
首先，我了解了化工材料的分类和特性。
根据化工材料的化学成分和用途，我们将其分为无机材料、有机材料和复合材料等。
无机材料，如金属及其合金、陶瓷材料和玻璃等，具有良好的导电性和机械性能；有机材料，如聚合物及其复合材料，具有较好的可塑性和耐候性；复合材料，如纤维增强复合材料和层间复合材料，具有良好的强度和韧性。
了解材料的特性有助于我们选择合适的仪器和方法来进行分析。
其次，我学会了常见的分析方法和仪器。
在化工材料分析中，我们常用的方法包括光谱分析、质谱分析、热分析、电化学分析等。
光谱分析可以通过材料的吸收、散射或发射光来确定其成分和结构；质谱分析可以通过测量材料中离子和分子的质量来确定其组成和分子量；热分析可以通过测量材料在不同温度下吸热或放热的情况来确定其热稳定性和热降解行为；电化学分析可以通过测量材料中的电流、电势和电荷来评估其电化学性能。
在实验中，我们常用的仪器包括红外光谱仪、质谱仪、差热分析仪、扫描电子显微镜等。
熟练掌握这些方法和仪器的使用对于正确进行材料分析至关重要。
第三，我了解了材料分析的质量控制和质量评估。
在材料分析中，我们常常需要进行质量控制来确保分析结果的准确性和可靠性。
质量控制包括样品制备、操作规程、仪器校准和实验步骤等方面的控制。
我们需要选择适当的样品制备方法，保证样品的均匀性和纯度；在进行实验操作时，要按照规定的步骤和条件进行，尽量减小误差的产生；仪器需要定期进行校准和维护，以确保测量结果的准确性。
另外，我们还要学会如何评估分析结果的质量。
通过比对已知标准和对照样品，我们可以判断分析结果的准确性和误差范围。
如果结果符合要求，我们可以进行材料的进一步评估和改进。
材料现代分析方法期末总结
材料现代分析方法期末总结一、引言现代分析方法是化学分析领域的一门重要学科，通过对样品进行原理分析、方法选择、仪器选择和实验操作以及结果评价等步骤的综合研究，来解决实际问题。
本学期的现代分析方法课程，深入学习了现代分析方法的基本理论和应用方法，通过实验操作和文献研究，对各种分析方法的原理、优缺点、应用范围和示例进行了深入的学习和研究。
通过此门课程的学习，对现代分析方法有了更为全面的认识和了解。
二、常见分析方法在学习期间，我了解了许多常见的分析方法，如光谱分析、电化学分析、色谱分析、质谱分析、核磁共振分析等。
这些方法在实际应用中具有广泛的应用，可以用于分析各种样品中的成分和结构信息。
通过对这些方法的学习和了解，我不仅了解了它们的基本原理和工作原理，还了解了它们在不同领域的应用。
例如，光谱分析广泛应用于实验室的质量控制、环境监测和食品安全等方面；电化学分析常用于药物分析和生物分析等领域；色谱分析广泛应用于药物分析、环境分析和食品安全检测等方面；质谱分析则广泛应用于生物医学研究、环境监测和新材料的研究等。
三、实验操作与操作技巧在课程中，我还学习了现代分析方法的实验操作和操作技巧。
例如，在进行溶剂萃取操作时，我学会了选择适当的溶剂，控制好溶剂的用量和溶液的酸碱度，避免产生杂质和误差。
在进行色谱分析时，我学会了调整流速和流量，选择适合的检测器和柱，控制好温度和压力等因素，以获得准确和可靠的分析结果。
此外，我还学会了使用电化学分析仪器，如电位计和pH计进行测量，以及使用光谱仪器，如红外光谱仪和紫外光谱仪进行分析。
通过这些实验操作和操作技巧的学习，我提高了实验操作的能力和技巧，并且能够熟练地操作各种仪器设备，运用不同的操作方法进行分析。
四、文献研究与报告撰写在课程学习中，我还进行了文献研究和报告撰写。
通过查阅相关文献和研究资料，我了解了各种分析方法的研究进展和应用领域。
在报告撰写过程中，我按照科学论文的写作格式，系统地阐述了所选分析方法的原理和应用，并对其优缺点进行了分析和评价。
(完整版)材料分析办法期末考试总结
(完整版)材料分析办法期末考试总结材料分析办法1．x射线是一种波长非常短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。
X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。
2．相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。
如此每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。
新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。
3．别相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力别大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。
4．汲取限：物质原子序数越大，对X射线的汲取能力越强；对一定的汲取体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为汲取系数的下落，但随着波长的的落低，质量汲取系数并非呈延续的变化，而是在某些波长位置上忽然升高，浮现了汲取限。
5．荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。
6．俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。
原子中一具K层电子被入射光量子击出后，L层一具电子跃入K层填补空位，此刻多余的能量别以辐射X光量子放出，而是以另一具L层电子活的能量跃出汲取体，如此的一具K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。
7．光电子：当入射光量子的能量等于或大于汲取体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就非常容易被电子汲取，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。
原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。
8．滤波片的作用：滤波片是利用汲取限两侧汲取系数差非常大的现象制成的，用以汲取别需要的辐射而得到基本单XXX的光源。
9．布拉格方程不过获得衍射的必要条件而非充分条件。
10．晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。
材料分析方法 考前复习总结(一)
一X射线基础1 X射线：是一种波长很短的电磁波(0.05-0.25nm,可见光390-760nm)。
X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。
呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。
产生条件：产生自由电子；使电子做定向高速运动；在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
产生方式：利用类似热阴极二极管装置，用一定材料制作的板状阳极（靶）和阴极（灯丝）密封在一个玻璃-金属管壳内，阴极通电加热，在两极间加直流高压U，则阴极产生的热电子将在高压电场作用下飞向阳极，在碰撞的瞬间产生X射线。
连续X射线：强度随波长连续变化的谱线，波长从一最小值（短波限）向长波伸展，并在一波长处有强度最大值。
受管电压U、管电流I和阳极靶材原子序数Z的作用。
U提高，强度提高，短波限和强度最大值对应的波长减小；I提高，强度提高；Z越高，强度越大。
根据量子力学，在管电压作用下电子动能为eU，若电子碰撞时把全部能量给予一个光子，则使其获得最大能量，，此光量子的波长即为短波限。
绝大多数到达阳极靶面的电子经多次碰撞消耗能量，每次碰撞产生一个光量子，并以均大于短波限的波长辐射，产生连续谱。
特征X射线：管电压增高到一定值时，在连续谱的某些特定的波长位置会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，其波长只取决于阳极靶材元素的原子序数，可作为阳极靶材的标志或特征。
莫塞莱定律：（Z越大，特征谱波长越短）。
经典原子模型，电子分布在一系列量子化壳层上，内层电子被激出后原子将处于激发状态，必然自发向稳态过渡，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。
原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。
物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。
特征谱强度随U和I的提高而增大。
2 X-ray与物质的相互作用1）散射：相干散射：当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，光子方向改变但能量无损失，产生波长不变的散射线，可发生干涉，是x射线衍射的基础。
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材料分析方法1．x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。
X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。
2．相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。
这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。
新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。
3．不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。
4．吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
5．荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。
6．俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。
原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。
7．光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。
原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。
8．滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。
9．布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。
10．晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。
11．掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。
12．衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。
13．劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。
14．周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。
15．粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。
16．吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。
17．温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。
为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。
18．物相定性分析的原理：X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。
每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子（离子或分子）的数目及其位置等，而这些参数在X射线衍射花样中均有所反映。
尽管物质的种类有千千万万，但却没有两种衍射花样完全相同的物质。
某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。
19．如果不仅要求鉴别物相的种类，而且要求测量各物相的相对含量，就必须进行定量分析。
物相定量分析的依据：各相的衍射线的强度随该项含量的增加而提高。
由于各物相对X射线的吸收不同，使得“强度”并不正比于“含量”，而需加以修正。
20．非晶态物质最主要的特征是短程有序，长程无序。
非晶态与晶态结构的主要区别为长程无序。
结构均匀，各向同性也可视为非晶态材料的特征。
非晶态结构属于亚稳结构，因其自由能总较晶态为高，故有自发向晶态转化的趋势。
非晶物质的衍射图有少数漫散射峰组成，可利用此特征来鉴别物质属于晶态还是非晶态。
21．物体内应力引起衍射峰如何变化：（1）第一类内应力，宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。
（2）第二类内应力，其衍射效应主要是引起线形的变化。
（3）第三类内应力，此类应力的存在使衍射强度降低。
22．X射线法通过测量弹性应变求得应力值。
23．电子波的有优势：电子波的波长要比可见光小5个数量级，可以明显提高显微镜的分辨率。
24．透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是电磁透镜。
25．像差：分两类，即几何像差和色差。
几何像差是因为透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的。
几何像差主要指球差和像散。
色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。
（1）球差，即球面相差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。
可以矫正。
（2）像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的。
可以用消像散器来校正。
（3）色差是由于入射电子波长（或能量）的非单一性所造成的。
26．衍射效应对分辨率的影响。
若只考虑衍射效应，在照明光源和介质一定的条件下，孔径角α越大，透镜的分辨率越高。
27．像差对分辨率的影响。
因为电磁透镜总是会聚透镜，所以球差便成为限制电磁透镜分辨率的主要因素。
提高电磁透镜分辨率的主要途径是提高加电压（减小电子束波长λ）和减小球差系数Ca。
28．景深：把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，用Df表示；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，用Dl表示。
29．透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，分三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。
30．电子衍射的原理和X射线衍射的异同：（1）相同点：都是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件。
两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。
多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环，单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点组成，非晶态物质的衍射花样只是有一个漫散射的中心斑点。
（2）相异点：1）电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角θ很小，约为0.01rad<1°，而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近п/2。
这是两者之间区别的主要原因。
2）在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄晶样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和埃瓦尔德球相交截的机会，结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
3）因为电子波的波长短，采用埃瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角θ较小的范围内反射的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以人为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
4）原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级），故电子衍射束的强度较大，适合于微区分析，且摄取衍射花样时曝光时间仅需要数秒钟。
31．超点阵斑点：当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时，将引起其电子衍射结果的变化，即可以使本来消光的斑点出现，这种额外的斑点称为超点阵斑点。
32．材料在凝固、相变和形变的过程中，晶体内的一部分相对于基体按一定的对称关系生长，即形成了孪晶。
33．晶体中基体和孪晶的对称关系：若以孪晶面为镜面，则基体和孪晶的阵点以孪晶面作镜面反映。
若以孪晶面得法线为轴，把图中下方的基体旋转180度也能得到孪晶的点阵。
34．消光距离：强烈的力学相互作用，使得I。
和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，振荡的深度周期叫做消光距离。
35．衍衬运动学的两个假设：1）双光束近似：假定电子束透过薄晶体试样成像时，除了透射束外只存在一束缴枪得衍射束，而其他衍射束却大大偏离布拉格条件，它们的强度均可视为零。
2）柱体近似：把薄晶体下表面上每点的衬度和晶柱结构对应起来处理的方法称为柱体近似。
36．等倾干涉：同一条纹相对应的样品位置的衍射晶面的取向是相同的（s相同），即相对于入射束的倾角是相同的，所以这种条纹称为等倾干涉。
37．等厚干涉：38．衍衬运动学和动力学的区别在于，动力学理论考虑了透射束与衍射束之间的交互作用。
运动学理论适用于衍射晶面相对于布拉格反射位置有较大的偏离量。
39．电子探针的功能主要是进行微区分析。
40．应用波谱仪（WDS）进行元素分析时，应注意下面几个问题：1）分析点的位置。
在分析时必须使目的物和电子束重合，其位置正好位于光学显微镜目镜标尺的中心交叉点上。
2）分光晶体固定后，衍射晶面的面间距不变。
41．能谱仪（EDS）成分分析的特点：（1）优点，和波谱仪相比，能谱仪有以下优点：1）能谱仪Si（Li）晶体对X射线的检测效率比波谱仪高一个数量级。
2）能谱仪可在同一时间内对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。
3）能谱仪的结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性都很好。
4）能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适于粗糙表面的分析工作。
（2）缺点：1）分辨率比波谱仪低。
2）因为Si（Li）检测器的钛窗口限制了超轻元素X射线的测量。
3）Si（Li）探头必须保持在低温状态，因此必须时时用液氮冷却。
42．样品在电子束的轰击下会产生各种信号：1）背散射电子：是被固体样品中的原子反弹回来的已部分入射电子，其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
背散射电子样品表层几百纳米的深度范围，它不仅能用作形貌分析，还可以用来显示原子序数衬度，定性地用作成分分析。
2）二次电子：在入射电子束作用下被轰击并离开样品表面的样品原子的核外电子。
二次电子的能量较低，一般都是在表层5-10mm深度范围内发射出来的。
能非常有效地显示样品的表面形貌，不能用它来进行成分分析。
3）吸收电子：入射电子进入样品之后，经多次非弹性散射能量损失殆尽，最后被吸收。
吸收电子能产生原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
4）如果被分析的样品很薄，那么就会有一部分入射电子穿过薄样品而成为透射电子。
其是由直径很小的高能电子束照射薄样品而产生的，可以利用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。
5）特征X射线：当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的X射线释放出来。
如果我们用X射线探测器测到了样品微区中存在某一种特征波长，就可以判定这个微区中存在着相应的元素。
6）俄歇电子：在入射电子激发样品的特征X射线过程中，如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以X射线的形式发射出去，而是用这部分能量把空位层内的另一个发射出去或使空位的外层电子发射出去，这个被电离出来的电子就被称为俄歇电子。