2-GHz+CMOS射频低噪声放大器的设计与测试

LNA 的低噪声要求 . 如图 3 所示，这种结构在输入 MOS 管的
栅极和源极引入两个电感，通过选择适当的栅极电感值，使得
输入回路在电路的工作频率附近产生谐振，从而抵消掉输入
阻抗的虚部，再通过选择适当的偏置条件和源极电感值，使得
输入阻抗得到一个 50 欧姆的实部，这个实部并不是真正的电
阻，因而它没有噪声 . 输入级的设计方程如下：
Abstract： Design and test of a 2-GHZ RF iow noise ampiifie（r LNA）impiemented with CMOS technoiogy is presented here. Measurement resuits show this ampiifier works weii centered at 2 . 04GHZ freguency，with a 22dB forward power gai（n S21）and a noise figur（e NF）iess than 3.3dB. It has a fairiy wide 3-dB bandwidth which is 110MHZ，suitabie for most portabie wireiess appiications.
2 MOS 管噪声模型和噪声优化方程
MOS 晶体管的噪声主要来源于沟道热噪声和感应栅噪 声［3］，MOS 管的横截面如图 1 所示 . 沟道热噪声是由于沟道载
流子的不规则热运动形成的 . 它可以用一个噪声电流源表示：
i2d = 4 IT gd0!f
（1）
表示沟道热噪声系数，gd0表示漏极偏置为 0 时的漏源 电导 . 由于 MOS 管的栅极是容性的，沟道载流子电荷的扰动
图 10 测量所得 S12 曲线
损耗约为 0.5dB 左右，也就是说，LNA 之前的总 插入损耗为 1.5dB. 根据电路损耗和噪声的折算关系，用 PCB 板测得的噪 声系数应该减去 LNA 之前的插入损耗的 dB 数，才是 LNA 真 正的 噪 声 系 数 . 由 图 6 可 得，在 2Ghz，PCB 测 得 的 NF 为 4.88dB，减去插入损耗，LNA 实际的 NF 约为 3.3dB，比仿真结 果 2.4dB 高了约 0.9dB［8］. 进一步的分析表明，测试结果与仿 真结果的差异原因在于：一方面，TSMC 的 RF CMOS 工艺采用 子电路来代替感应栅噪声建模的方法并不十分精确；另一方
在 3.5 ~ 5.5 之间 .
级与输入放大级堆叠（stack）的电路结构 . 电路结构如图 4 所 示［5］. 此外，输出级的设计还可以采用跨阻输出级的设计方 法［6］.
版图设计在 RFIC 的设计中是十分重要的［4］. LNA 的版图 设计中，需要注意以下问题：Cascode 结构虽然提高了增益和 稳定度，但是，为了使 Cascode 器件引起的噪声最小，Cgs 必须 最小化：可以将输入器件的漏区与 Cascode 器件的源区合并来 实现；用于输入匹配的电感 Ls 一定要足够大，满足匹配要求， 匹配不足会导致噪声特性的显著下降；输入器件的栅极最好
试 . 测试结果表明，该放大器工作在 2 . 04-GHZ 的中心频率上，3dB 带宽约为 110MHZ，功率增益为 22dB，NF 小于 3.3dB.
测试结果与仿真结果能够很好地吻合 .
关键词： CMOS 射频集成电路；低噪声放大器；噪声
中图分类号： TN4
文献标识码： A
文章编号： 0372-2112（2002）09-1278-04
的噪声电压源 . 由此等效电路，可以得出电路噪声系数的表达
式：
( ) F
=
1+
Rl Rs
+
Rg Rs
+
0s
0 T
（5）
收稿日期：2002-03-20；修回日期：2002-06-29 基金项目：国家重点基础研究专项基金（No. G2000036508）
第9期
林 敏：2-GHZ CMOS 射频低噪声放大器的设计与测试
面，是由于 PCB 板和压焊线引入的一些寄生电阻带来的噪声 在电路仿真时没有能够充分考虑在内所造成的 .
值得注意的是，网络分析仪是在输出 0dBm 无衰减的情 况下校准的，而 S21 的测试是在网络分析仪的输出衰减量为 40dB 的情况下测得的，因此，测得的 S21 曲线要加上 40dB 的 衰减量，才是 LNA 真正的 S21 曲线［7］. 如 图 7 可 知，测 得 的 S21 在 2.04Ghz 为 - 18dB，加上衰减量，实际为 22dB，与仿真 的 25dB 能够较好地吻合 . S11，S22，S12 三个 S 参数在测量时 网络分析仪没有加衰减，因此，测得的曲线就是 LNA 的实际
Design and Test of 2-Ghz CMOS RF Low Noise Amplifier
LIN Min，WANG Hai-yong，LI Yong-ming，CHEN Hong-yi
（ Institute of Microelectronics，Tsinghua Uniuersity，Beijing 100084）
图 6 噪声系数测量结果
图 9 测量所得 S22 曲线
图 7 测量所得 S21 曲线
图 8 测量所得 S11 曲线
hP8970B 噪声系数分析仪 . 图 5 为测试 LNA 的压焊图 . 为了测 试 LNA，制作了 PCB 板 . 因为所设计的 LNA 是差分输入差分 输出结构，而测试仪器和信号源都是单端的，因此，PCB 板上
第9期 2002 年 9 月
电子学报 ACTA ELECTRONICA SINICA
Voi . 30 No. 9 Sep. 2002
2-GHZ CMOS 射频低噪声放大器的设计与测试
林 敏，王海永，李永明，陈弘毅
（清华大学微电子学研究所，北京 100084）
摘 要： 本文采用 CMOS 工艺，针对无线通信系统前端（Front-end）的低噪声放大器进行了分析、设计、仿真和测
MiIIer 效应的影响，也为了
（10）
提高 LNA 的 增 益 和 隔 离
度，电 路 的 输 入 放 大 级 采
用了 Cascode 结 构 . 同 时，
为了 减 小 LNA 的 直 流 功
耗和 实 现 输 出 级 的 匹 配， 输出级采 用 了 输 出 缓 冲
图 3 输入匹配电路
图 4 LNA 的电路结构
热噪 声 完 全 不 相 关，表
图 1 MOS 管截面图
示如下：
i2g !f
=
4 IT
g（g 1 -
\
c \ 2）+
4 IT
gg \
c \2
c! j0.395 （4）
表示感应栅噪声系数，c 为两种噪声源的相关系数 . 如
果采用第三部分将要讨论的 L-degeneration 输入级电路结构，
该电路的等效电路如图 2 所示 . V2L 和 V2rg分别表示电感 Lg 的寄生电阻 RL 和栅极电阻 Rg
1279
图 2 L-degeneration 的等效电路
Os
=
c（0
Ls + Rs
Lg
） =
c0
1 RsCgs
（6）
! ) = 1 + 2 I c I
8c2 5Y
+85cY（2 1
+
O2s ）
（7）
显然，存在一个最佳的 Os，使得噪声系数 F 取得最小值，
这个最佳的 Os 决定了 MOS 管器件的尺寸 . 一般地，Os 的取值
（mW）
1.5 2.1 150 25 - 16 - 15 - 45 2.4 - 8.5 18
图 5 LNA 芯片图
本 文 测 试 所 用 仪 器 为：HP8510C 矢 量 网 络 分 析 仪，
1280
电子学报
2002 年
除了一些匹配元件之外，还必须在 LNA 的输入和输出端各添 加一个 Bahhm，用以完成平衡和非平衡之间的转换 . 单个 Bahhm 的插入损耗至少为 1dB，而 LNA 之前的 PCB 板和板上元件的
［ 2 ］ Behzad Razavi . RF MicroeIectronics［M］. Prentice HaII PTR：Upper SaddIe River NJ 07458，1998 .
［ 3 ］ AIdert van der ZieI . Noise in SoIid State Devices and Circuits［M］. New York：John WiIey&Sons，1986 .
会耦合到栅上，在栅上产生一个噪声电流，称为感应栅噪声，
它也可以用一个噪声电流源来表示：
i2g = 4 IT gg!f
gg =
2 C2gs 5 gd0
由于感应栅噪声和
（2） （3）
沟道热噪声有一定的相
关性，因 此，可 以 将 感 应
栅噪 声 分 成 两 部 分，一
部分与沟道热噪声完全
相关，另 一 部 分 与 沟 道
( ) Zin
=
（s Ls
+
Lg）+
1 sCgs
+
gm1 Cgs
Ls "cTLs
（谐振频率处）
（8）
谐振频率为：
c0
=
!（ Ls
1 +
Lg ）Cgs
（9）
考虑到 Cgd 对 Zin和 cT 的影响，输入阻抗表达式可修正
为：
Zin
=
cTLs
1
+
2
Cgd Cgs
= cT，effLs
为了减小 Cgd 带来的
Key words： CMOS RFIC；iow noise ampiifier；noise