X线头影测量
《X线头影测量学》课件
对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望
X 线头影测量学
应用
华 西口腔
• 5. 下颌功能分析
X 线头影测量学在正畸学中的作 用
1. 研究颅面的生长发育及生长预测 2. 牙颌颅面畸形的诊断分析及治疗设计 3. 研究矫治前后牙颌颅面形态结构的矫治
变 化和生长 改变 以及判断各种矫 治器的 作用机理 4. 外科正畸的术前诊断设计和术后疗效的 评价 5. 下颌功能分析
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
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备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
测 量平面 腭平面 ANS-PNS /PP.(palatal plane)
有称上颌 平面， 由前鼻嵴 点和后 鼻嵴 点的连 线 构 成。常用于评 价 上颌 的位置和生 长 方向
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测 量平面 下颌平面 MP MP.(mandibular plane)
1. 通过颏下点与 下颌 角下缘 的 切线 ；
板，圆规，量角器、 3H 铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记, 可用强光局部观察 .
华 西ห้องสมุดไป่ตู้腔
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侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
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X线头影测量分析
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
X线投影测量
X线头影测量Cephalometrics口腔正畸教研室胡遒生病例一病例二病例一病例二病例一病例二病例一病例二头帽颏兜牵引下颌向后面具牵引上颌向前病例一治疗前治疗后病例二治疗前治疗后一、概述X线头影测量主要是在头颅X线片上对牙颌、颅面各标志点进行一定的角度、线距或比例的测量分析，从而了解软硬组织的结构自从1931年首次应用于口腔正畸学领域以来，X线头影测量已经成为口腔正畸及口腔颌面外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段主要应用牙颌面畸形的诊断分析错合畸形的矫治设计颅面生长发育的研究正颌外科的诊断和矫治设计X线头影测量主要包括头颅正位片和头颅侧位片的测量，测量项目既有硬组织又有软组织。
其中，头颅侧位片的硬组织测量最为常用。
二、X线头影测量的步骤1、摄片2、描图3、定点4、测量三、X线头影测量常用的标志点及测量项目1、颅部标志点鼻根点（N ）蝶鞍点（S ）耳点（P ）颅底点（Ba ）Bolton 点（Bo ）鼻根点（N. N. nasion nasion 鼻额缝的最前点蝶鞍点（S. S. sella sella ）蝶鞍影像的中心耳 点P. P. porion porion ）外耳道的最上点颅底点（Ba Ba. . . basion basion ）枕骨大孔前缘之中点Bolton 点（Bo.）枕骨髁突后切迹的最凹点2、上颌标志点眶点(O)翼上颌裂点(Ptm)前鼻棘点(ANS)后鼻棘点(PNS)上齿槽座点(A)上中切牙点(UI)眶 点（O. O. orbitale orbitale ）眶下缘之最低点翼上颌裂点（Ptm Ptm. . Pterygomaxillary fissure ）翼上颌裂轮廓之最下点前鼻棘点ANS. Anterior nasal spine ）前鼻棘之尖后鼻棘点（PNS. posterior 硬腭后部骨棘之尖上齿槽座点（A. A. subspinale subspinale ）前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点上中切牙点（UI. Upper incisor ）上中切牙切缘之最前点3、下颌标志点下中切牙点(LI)下齿槽座点(B)颏前点(Po)颏下点(Me)下颌角点(Go)下中切牙点（Li. Lower incisor ）下中切牙切缘之最前点下齿槽座点（B. B. supramental supramental ）下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点颏前点颏部之最突点颏下点（Me. Me. menton menton ）颏部之最下点下颌角点（Po. Po. pogonion pogonion ）下颌角的后下点4、常用测量项目S N A SNA 角反映上颌相对于颅部的前后位置关系S N BSNB 角反映下颌相对于颅部的前后位置关系N BANB 角反映上下颌骨对颅部的相互位置关系A病例一病例二头帽颏兜牵引下颌向后面具牵引上颌向前思考题病例一和病例二错合形成的机理有何不同？其SNA、SNB、ANB可能会出现哪些变化？谢谢。
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。
该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。
这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。
如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。
1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。
具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。
临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。
Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。
所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。
所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。
但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。
Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。
临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。
吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。
通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。
X线头影测量分析
3）下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale)：下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor)：下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion)：颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton)：颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion)：颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
（1）头影测量标志点 1）颅部标志点 2）上颌标志点 3）下颌标志点 4）常用软组织侧面标志点 （2）头影测量平面
1）颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion)：外耳道之最上点 机械耳点，解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点：枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
UI
3）下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion)：下颌角的后下 点：可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental)：下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
第5章X线头影测量诊断学
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点
完整版版X线头影测量分析方法
3)上下齿槽座角(AB plane angle)： AB或其延长线与面平面的交角。此角 代表上下齿槽基骨间的相互位置关系。 此角在面平面之前方形成为负值角， 反之在面平面之后方形成则为正值角。 此角越大表示上颌基骨对下颌基骨的 相对位置显后缩，反之，此角越小则 表示上颌基骨对下颌基骨的相对位置 关系为前突。
Ricketts 分析法 Jarabak 分析法 McNamara 分析法 Arnett 分析法 Delaire 分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
(9)N-ANS/N-Me×100%： 面上部高占全面高之百
(10)ANS-Me/NMe×100%：面下部高占
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner 分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts 分析法 Jarabak 分析法 McNamara 分析法 Arnett 分析法 Delaire 分析法
8)L1〖TX-〗-NB角：下中 切牙切缘与NB连线的交角。 代表下中切牙的倾斜度和突 度。
Downs分析法
是以眼耳平面作为基准平面，具体包括以下的测量内容。
(1)骨骼间关系的测量： 1)面角(facial angle)：面平面 与眼耳平面相交之下后角。此角代 表了下颌的凸缩程度。此角越大则 表示下颌越前突，反之则表示下颌 后缩。 2)颌凸角(angle of convexity)： NA与PA延长线之交角。此角代表面 部的上颌部对整个面部侧面的关系。 当PA延长线在NA前方时，此角为正 值，反之若PA延长线在NA之后方时， 则此角为负值。此角越大表示上颌 相对凸度越大，反之表示上颌相对
X线头影测量分析报告
目录•1拼音•2 X线头影测量的主要应用•3头颅定位X线照像和头影图的描绘o 3.1头颅定位X线照像o 3.2头影图的描绘•4常用X线头影测量的标志点及平面o 4.1头影测量标志点o 4.2头影测量平面•5常用硬组织测量项目o 5.1上下颌骨的常用测量项目。
o 5.2上下前牙的常用测量项目o 5.3面部高度的常用测量项目•6电子计算机化的X线头影测量o 6.1电子计算机化的X线头影测量特点o 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程o 6.3数学模型的建立[返回]1拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xīX线头影测量（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。
在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。
70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。
[返回]2 X线头影测量的主要应用1研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。
Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。
Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。
林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。
X线头影测量分析方法
X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。
将头部放置在X线
透射成像设备中，通过发射X射线，X射线会被不同组织结构吸收和散射，形成X线头颅影像。
利用该影像，可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。
在X线头影测量中，常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。
颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离，如颅骨板间距、颅底间距等。
颅骨厚度是指头颅骨的厚度，可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。
颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度，如脑颅角、额颅角等。
这些参数可以通过计算机软件自动测量，也可以通过手工测量
来获取。
二、应用领域和意义
其次，X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。
通过测量头颅内的结构和参数变化，可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质，并且更好地指导手术操作。
此外，X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。
通过测量头颅参数的变化，可以更好地
了解人类进化的过程，也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。
总的来说，X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法，它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。
在临床医学中，它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质，为手术治疗提供指导，并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。
2.X线头影测量分析
Cephalometric measurement
（测量内容）
南医大分析法
Landmark （定点）
南 医 大 分 析 法－定点
S (Sella 蝶鞍中心点)
南 医 大 分 析 法－定点
N (Nasion 鼻根点)
南 医 大 分 析 法－定点
P( Porion耳点 ）
南 医 大 分 析 法－定点
UI－NA distance (UI-NA距)
南 医 大 分 析 法－测量内容
LI－NB angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
LI－NB distance (UI-NA距)
南 医 大 分 析 法－测量内容
UI－LI angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
UI－SN angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
Tweed三角 （FMA,IMPA,FMIA）
FMA
FMIA IMPA
Hale Waihona Puke FMAFMIA FMIA
B (Supramental下齿槽座点)
南 医 大 分 析 法－定点
LI (Lower incisor下中切牙切端)
南 医 大 分 析 法－定点
LIa( 下中切牙根尖点)
南 医 大 分 析 法－定点
Po (Pogonion颏前点)
南 医 大 分 析 法－定点
Me (Menton颏下点)
南 医 大 分 析 法－定点
3. 常用平面
眶耳平面（FH） 前颅底平面（SN） 审美平面（EP） 下颌平面（MP）
4. 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
X线头影测量分析 (1)
Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
1.基准平面
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SN 平面－ 前颅底平面 FH 平面－Frankfort 平面 Bolton平面– Bolton点与鼻根点连线
－基准平面
SN plane前颅底平面
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－基准平面
FH plane眶耳平面
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－基准平面
Bolton平面
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基准平面
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测量平面
－测量平面
腭平面(ANS-PNS)
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－测量平面
全颅底平面（Ba-N):颅底点与鼻根点连线
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全颅底平面
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－测量平面
牙合平面(OP)
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简言之：
通过对X片进行分析、测量，从而了解 牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相 互关系 。
一、主要应用
研究颅面生长发育 牙颌、颅面畸形的诊断分析 确定错牙合畸形的矫治计划 研究矫治中，矫治后的变化 外科正畸的诊断和矫治设计 下颌功能分析
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1.研究颅面生长发育
X线头影测量分析1
二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；
四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.
S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。
x线头影测量名词解释
x线头影测量名词解释
嘿，你知道啥是 x 线头影测量不？这可真是个超有意思的东西呢！
就好像我们拍照留下自己的瞬间一样，x 线头影测量就是给我们的头颅拍个特别的“照片”。
比如说吧，你看那些模特走秀，他们的身材比例都被完美呈现出来，这就有点像 x 线头影测量对头颅的呈现呀！它能把头颅的各种细节，
像什么骨骼结构啦、牙齿位置啦，都清清楚楚地展示出来。
医生们为啥要用它呢？哎呀呀，这可太重要啦！就好像你要去了解
一个神秘的城堡，得有张详细的地图一样，x 线头影测量就是医生了解我们头颅内部情况的“地图”呀！通过它，医生能发现好多问题呢。
想象一下，要是没有 x 线头影测量，医生就像在黑暗中摸索，怎么
能准确地诊断和治疗呢？比如牙齿矫正，要是不知道头颅的具体情况，怎么能制定出最合适的矫正方案呢？这可不是随便乱来的呀！
而且哦，它可不是随随便便就能做的，得有专业的设备和技术才行呢。
这就好比你要做出一道超级美味的菜肴，没有好的食材和厨艺怎
么行呢？
我觉得呀，x 线头影测量真的是医学领域里超级厉害的一个工具呢！它就像一个神奇的钥匙，能打开了解头颅秘密的大门，帮助医生更好
地为我们的健康保驾护航。
你说是不是呢？反正我是这么认为的啦！。
X线头影测量
X线头影测量X线头影测量介绍：X线头影测量是对头部进行投影测量，用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。
X线头影测量正常值：检查中没有发现异常阴影和图样。
X线头影测量临床意义：异常结果：?研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
?2?牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断。
?3?确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。
?4?研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
?5?外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。
6?下颌功能分析：X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。
也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。
需要检查的人群：颅面生长异常，面部畸形的人群。
3.3X线头影侧位片的描测
4.华西医科大学 头影测量综合分析法
1.可全面分析患者骨性类 别、生长方向、 2.牙槽高度及长度、牙齿 突度及高度、 3.以及软组织面型情况 4.具体见示意图及分析表
•几十年来正畸学者们通过对X 线头侧位片进行描图、定点、 联线， •将三维颅面结构转化成二维平 面图形， •进行各种线距、角度、比例、 弧形的分析，形成了多种分析 方法。
6.髁顶点(Co.):髁突的最上点.
7.关节点(Ar.):颅底下缘白线与髁突颈后 缘之交点 .
8.下颌角点(Go.):
下颌角的后下点.
9.髁突后缘点（Pcd)： 髁突之最后缘点 10.下颌支中心点（Xi）： 为下颌支的解剖中心点.
以上是下颌的标志点
下面是牙齿的标志点
1.上切牙切点（U1）： 上中切牙切缘之最前点. 2.上中切牙根尖点（UIA）： 上中切牙根尖。
3.上切牙切点（L1） : 下中切牙切缘之最前点. 4.下中切牙根尖点（LIA） 下中切牙根尖。
5. 近中颊沟点（U6）:上6近中 颊沟 6.近中颊尖点: 代表上6的近中颊尖 7.远中切点: 代表上6的远中邻面
下磨牙颊尖点（L6）: 代表近中颊尖点
最后，软组织的 标志点有
1.额点（G. ） 软组织额部之最前点。 2.软组织鼻根点(N’): 软组织 侧面上相应的鼻根点.
⑵功能合平面：由均分后牙咬合接触点 连线而得到的平面。
5.下颌支平面RP
为下颌升支及 髁突后缘的切线。
6.面平面NP
为鼻根点与颏前点的连线构成的 平面。
7.Y轴(Y-axis)
连接蝶鞍中心点 与颏顶点形成的平面
最后，介绍一下 常用的头影测量
分析方法
1.Downs分析法
以眶耳平面为基准平面. 测量包括骨骼间关系， 牙合与骨骼间关系， 并使用多角形图分析. 具体见下面的示意图
特殊检查-x线头影测量平面
常用X线头影测量平面
❖腭平面（ANS-PNS，palatal plane）：后鼻棘与前鼻棘的连线 ❖全颅底平面（Ba－N）：颅底点与鼻根点的连线 ❖（牙合）平面（OP，occlusal plane）：一种是以第一恒磨牙的咬（牙合）中点与 上下中切牙的中点连线；另一种是自然的或功能（牙合）平面 ❖下颌平面（MP，mandibular plane）
特殊检查 x线头影测量平面
主讲人 王澜 1
常用X线头影测量平面
基准平面 前颅底平面（SN，SN plane）：由蝶鞍点与 鼻根点连线组成 眼 耳 平 面 （ FH ， Frankfort horizontal plane） Bolton 平面：Bolton点与鼻根点连线，用 作重叠头影图的基准平面
6
谢谢观看THANKS
特殊检查-x线头影测量平面
主讲人 王澜
7
通过颏下点与下颌角下缘相切的线 下颌下缘切线 下颌角点、下颌颏顶点连线 ❖下颌支平面（RP，ramal plane）：下颌升支及髁突后缘的切线 ❖面平面（N-Po，facial plane）：由鼻根点与颏前点之连线组成 ❖Y轴角（Y－axis）：蝶鞍中心与颏顶点连线
3
常用硬组织测量项目
❖（1）上下颌骨常用测量项目 SNA角（82.8±4） SNB角（80.1±3.9） ANB角（2.7±3.7） NP-FH（85.4±3.7）面平面－眼耳平面角 Y轴角（SGn－FH）：蝶鞍中心与颏顶点连线与眼耳平面相交
下下前角 NA-PA（颌凸角）：此角反映上颌部分相对于整个侧面的关 系。PA线在NA前方时为正值，反之为负值，此角越大，上颌的 相对突度越大，反之后缩。 MP-FH（下颌平面角）：由下颌平面与眼耳平面连线构成， 反映下颌体的陡度及面部高度
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E线
H线
Ricketts 审美平面（E线）
面部软组织鼻尖点和颏前
点的连线。用于评价上下 唇突度。
• 上下唇与E线间距离随年龄 增大而减小
• 上下唇处于E线稍后所表现 的侧面形较好
Steiner 软组织观察法 （S线）
颏部软组织最突点和 鼻下沿S形中点连线。 用以评价上唇位置
Merrifield （Z角）
被摄者要求
• 立位，两足自然平行分开 • 最大牙尖交错位（ICP） • 面肌自然放松
X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
X线头颅定位片的描绘
描图前准备
• 检查X片的质量 头位、正中咬合位
两侧结构很好的重叠
• 描图工具
• 髁顶点(Co)
Or
Co
• 下颌角点(Go)
• 颏前点(Pog)
• 颏下点(Me)
• 颏顶点(Gn)
Go
• 下齿槽座点(B)
B
Pog/Gn/Me
上、下颌牙齿的标志点
• 上切牙点U1 • 下切牙点L1
注意
• 固定标志点 相对而言
• 难定位的点：鼻根点（N)
眶点（Or) 上齿槽座点(A) 前、后鼻棘点(ANS,PNS) 下切牙根尖点
由不同的分析目的决定……..
• • • • • • • • • • • Tweed测量分析法 华西医大测量分析法 Downs测量分析法 Wylie测量分析法 Steiner分析法 Wit分析法 功能分析法 四边形分析法 臂章分析法 VTO预测法 ............
经典分析方法介绍
• • • • • Tweed 分析法（1944年）； Wylie分析法（1947年）； Downs分析法（1948年）； Steiner分析法（1953年）； Wits分析法（1975年）。
Tweed分析法
测量由眶耳平面(FH)、下颌平面(MP)、下中切牙 长轴延长线所组成的代表面部形态结构的颌面三 角形
FH
MP
• TWEED 认为下切牙处于面部肌肉与舌体的平衡之中, 对 于治疗的稳定十分重要;同时FMIA 54°(中国人) 65度（白 人）是建立侧貌美学的重要条件. • 改变下切牙的位置和倾斜度来建立此目标.
S
Pog
常用测量项目
上齿槽座角（SNA）
前颅底平面与鼻根点和 上齿槽座点连线所形成 的后下交角
下齿槽座角（SNB） 前
颅底平面与鼻根点和下 齿槽座点连线所形成的 后下交角
上下齿槽座角（ANB）
SNA与SNB之差
下颌平面角（MP-FH）
下颌平面与FH平面的交
角
Y轴角
蝶鞍中心点与颏顶点连 线与眶耳平面之前下交角
软组织颏前点与最前突的 唇间切线与眶耳平面构成 的内下交角。用于评价唇 前突的程度。
Schwarz （T角）
• T线： 软组织颏前点 (Pos)与鼻底点(Sn)连 线
• T角： T线与Pn或Po构 成的角
理想T角约为10°，T线切下唇前缘，并平分上唇珠前突部
T角大于10°，呈后缩面型 T角小于10°，呈前突面型
外科正畸的术前诊断设计和术后疗效评价
应用
下颌功能分析
局限性
• 仅反映二维形态，不全面
• 标准值与个体正常值有一定差异
• 软组织形态变化较大
学习目标
1、了解X线头颅侧位片的描图方法 2 、掌握常用标志点的定位及常用测 量平面和测量项目的组成和意义
如何拍摄头颅定位X线照片
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成与地面平行 的平面（也可用鼻根点指针代替眶点指针）
• 标记点的准确性还取决于头颅侧位片的质量及描图者
的经验. • 两侧不重叠时取中点.
基准平面：相对稳定，常用于 定
位及重叠比较
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH） Bolton平面
P Bo
S
N Or
测量平面：常用于评价形态关系
1 、 腭平面（ PP）: 由前鼻棘点与后 鼻棘点的连线组 成。用于评价上 颌的长度、位置 ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ生长方向
描图桌、透明硫酸纸、刻度尺、三角板及铅笔等
• 通过数字化电脑软件测绘: Wincephal等
侧位片描绘要求
1. 软组织侧貌
2. 上下颌骨、牙齿轮廓
3. 颅底、颅后部轮廓
4. 蝶骨斜坡
5. 眶侧缘、下缘
6. 翼上颌裂轮廓
常用标志点及测量平面
S
Ba
颅部标志点(5个）
1 鼻根点(N)
2 蝶鞍点(S)
常用测量项目的临床意义
反映颌骨、牙及牙槽、软组织的相应特征
及生长变化趋势.
软组织测量
软组织侧貌的标志点
• 软组织鼻根点(N’) • 鼻顶点(Prn)
• 鼻下点(Sn)
• 上唇突点(UL)
• 下唇突点(LL)
• 软组织颏前点(Pos)
• 软组织颏下点(Mes)
软组织测量常用平面
H 线
审美平面（E 线） S 线 Z 角 T 角
X线头影测量
Cephalometrics
目
的
了解牙颌,颅面软硬组织的结构,使我们 对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深 入到内部的骨骼结构中去。
应用
研究颅面的生长发育及生长预测
应用
牙合颅面畸形的诊断分析和治疗设计
应用
研究矫治前后牙合颅面畸形形态结构的 矫治变化以及判断各种矫治器的作用机理
应用
面角（NP-FH）
面平面与眶耳平面相交 的后下交角
U1-SN
上中切牙与SN平面的
前下交角
L1-MP
下中切牙与下颌合
平面之后下交角
U1-L1
上中切牙与下中切牙长 轴的后下交角
上面高(N-ANS)
以FH为参照，N点和ANS
点两点间的垂直距离 下面高 以FH为参照，ANS点和 Me点两点间的垂直距离
PNS
ANS
2 、 面 平 面 （ N-Pog）： 由鼻根点与 颏前点的连 线组成
N
Pog
3、合平面（OP）:
a.解剖合平面
b.功能合平面
c.上颌合平面
4、下颌平面（MP）：
①.颏下点Me与下颌角下缘的切线 ②.通过下颌骨下缘最低点的切线 ③.下颌角点与颏顶点的连线
（Go-Gn）
③ ① ②
5、Y轴（Y axis） 蝶鞍点与颏顶点的连线组成
Bo P
S
N
3 耳点(P)
4 颅底点(Ba)
Ba
5 Bolton点（Bo)
上颌骨标志点(5个）
• 眶点(Or) • 前鼻棘点(ANS) • 后鼻棘点(PNS) • 上齿槽座点(A) • 翼上颌裂点(Ptm)
Or
Ptm A PNS
ANS
注意：由于骨密度较低，ANS点和A点 的定位较困难
下颌骨标志点(6个）