材料分析方法 第五章(2)

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智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案绪论1、材料研究方法分为()A:组织形貌分析B:物相分析C:成分价键分析D:分子结构分析正确答案:组织形貌分析,物相分析,成分价键分析,分子结构分析2、材料科学的主要研究内容包括()A:材料的成分结构B:材料的制备与加工C:材料的性能D:材料应用正确答案:材料的成分结构,材料的制备与加工,材料的性能3、下列哪些内容不属于材料表面与界面分析()A:晶界组成、厚度B:晶粒大小、形态C:气体的吸附D:表面结构正确答案:晶粒大小、形态4、下列哪些内容属于材料微区分析()A:晶格畸变B:位错C:晶粒取向D:裂纹大小正确答案:晶格畸变,位错,晶粒取向,裂纹大小5、下列哪些内容不属于材料成分结构分析()A:物相组成B:晶界组成、厚度C:杂质含量D:晶粒大小、形态正确答案:晶界组成、厚度,晶粒大小、形态第一章1、扫描电子显微镜的分辨率已经达到了()A:0.1 nmB:1.0 nmC:10 nmD:100 nm正确答案: 1.0 nm2、利用量子隧穿效应进行分析的仪器是A:原子力显微镜B:扫描隧道显微镜C:扫描探针显微镜D:扫描电子显微镜正确答案:扫描隧道显微镜3、能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。

A:对B:错正确答案:对4、扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。

A:对B:错正确答案:对5、图像的衬度是()A:任意两点存在的明暗程度差异B:任意两点探测到的光强差异C:任意两点探测到的信号强度差异D:任意两点探测到的电子信号强度差异正确答案:任意两点存在的明暗程度差异,任意两点探测到的信号强度差异6、对材料进行组织形貌分析包含哪些内容()A:材料的外观形貌B:晶粒的大小C:材料的表面、界面结构信息D:位错、点缺陷正确答案:材料的外观形貌,晶粒的大小,材料的表面、界面结构信息,位错、点缺陷7、光学显微镜的最高分辨率为()A:1 μmB:0.5 μmC:0.2 μmD:0.1 μm正确答案: 0.2 μm8、下列说法错误的是()A:可见光波长为450~750 nm,比可见光波长短的光源有紫外线、X射线和γ射线B:可供照明的紫外线波长为200~250 nm,可以作为显微镜的照明源C:X射线波长为0.05~10 nm,可以作为显微镜的照明源D:X射线不能直接被聚焦,不可以作为显微镜的照明源正确答案: X射线波长为0.05~10 nm,可以作为显微镜的照明源9、 1924年,()提出运动的电子、质子、中子等实物粒子都具有波动性质A:布施B:狄拉克C:薛定谔D:德布罗意正确答案:德布罗意10、电子束入射到样品表面后,会产生下列哪些信号()A:二次电子B:背散射电子C:特征X射线D:俄歇电子正确答案:二次电子,背散射电子,特征X射线,俄歇电子第二章1、第一台光学显微镜是由哪位科学家发明的()A:胡克B:詹森父子C:伽利略D:惠更斯正确答案:詹森父子2、德国科学家恩斯特·阿贝有哪些贡献()A:阐明了光学显微镜的成像原理B:解释了数值孔径等问题C:阐明了放大理论D:发明了油浸物镜正确答案:阐明了光学显微镜的成像原理,解释了数值孔径等问题,阐明了放大理论,发明了油浸物镜3、光学显微镜包括()A:目镜B:物镜C:反光镜D:聚光镜正确答案:目镜,物镜,反光镜,聚光镜4、下列关于光波的衍射,错误的描述是()A:光是电磁波,具有波动性质B:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将沿直线传播C:障碍物线度越小,衍射现象越明显D:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将偏离直线传播正确答案:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将沿直线传播5、下列说法正确的是()A:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释B:由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑C:两个埃利斑靠得越近,越容易被分辨D:埃利斑半径与光源波长成反比,与透镜数值孔径成正比正确答案:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释,由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑6、在狭缝衍射实验中,下列说法错误的是()A:狭缝中间每一点可以看成一个点光源,发射子波B:子波之间相互干涉,在屏幕上形成衍射花样C:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长,形成中央亮斑D:在第一级衍射极大值处,狭缝上下边缘发出的光波波程差为1波长正确答案:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长,形成中央亮斑7、下列关于阿贝成像原理的描述,正确的是()A:不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉,形成衍射谱B:同一物点的各级衍射波在像面的干涉,形成物像C:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成D:参与成像的衍射斑点越多,物像与物体的相似性越好。

材料分析方法主要内容

材料分析方法主要内容

数字索引也称Hanawalt 索引,它采用组合法,将最强线 按照面间距的大小进行分组。当检索者完全没有待测样 品的物相或元素信息时,可以使用这种索引。
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第五章 物相分析及点阵参数精确测定
物相定性分析方法?
通过X射线衍仪获得待测试样各衍射峰的晶面间距d和衍 射峰相对强度I/I1后,物相鉴定可按以下步骤进行: 1. 从前反射区(2<90)中选取强度最大的三根衍射线, 并使其d值按强度递减的次序排列,再将其余线条按强度 递减顺序列于三强线之后。 2. 从Hanawalt索引中找到对应的d1(最强线面间距)组。 3. 按次强线的面间距d2找到接近的几行。在同一组中,各
替的过程称为俄歇效应,跃出的L层电子称俄歇电子,
其能量EKLL也具有吸收元素的特征能量。
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第一章 X射线物理学基础
由光电效应所造成的入射能量的消耗即为X射线的真吸
收。真吸收中除荧光辐射和俄歇效应外,还包括X射线
穿过物质时引起的热效应。 荧光X射线和俄歇电子都是物质化学成分的信号。荧光
效应通常用于重元素(Z>20)的成分分析,而俄歇效
7. 若待测样第三个d值在索引中找不到对应,说明该衍射花样 的最强线与次强线不属于同一物相,必须从待测花样中选取 下一根线作为次强线,并重复3~5的检索程序。 8. 当找到第一物相之后,可将其线条剔除,并将残留线条的强 度归一化,再按程序1~5检索其它物相。 26
第五章 物相分析及点阵参数精确测定
应则主要用于表层轻元素的成分分析。 单色X射线光源的获得方法:选择原子序比靶元素小 1~2的元素制成滤波片放置在光路上, 可吸收不需要 的辐射而得到基本单色的光源。
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第一章 X射线物理学基础
X射线在穿过物质后,有一部分偏离了原来的方向,发

第五章物相分析及点阵参数精确测定

第五章物相分析及点阵参数精确测定
d值序列
三、 PDF卡片的索引
• 卡片索引手册:欲快速地从几万张卡片中找到所需 的一张,须建立一套科学的、简洁的索引工具书。
• 卡片索引:有多种,可分为两类: 1. 以物质名称为索引(即字母索引)
如:化学名索引、矿物名索引。
2. 以d值数列为索引(数值索引)。 如:哈纳瓦特索引(哈氏索引)、芬克(Fink)索 引;
• 当不知所测物质为何物时,用该索引较为方便。
一、数值索引(1)
• ① 哈氏索引:将每一种物质的数据在索引中 占一行,依次为:8条强线的晶面间距及其相 对强度(用数字表示)、化学式、卡片序号、 显微检索序号。如下:
8条强线的晶面间距和相对强度
化学式 卡片序号
哈氏索引样式
一、数值索引(2)
• 哈氏索引:以三强线 d 值来区分各物质,列出 8 强线d 值, 并以三强线 d 值序列排序。
• 1969年,从第14组始,由新成立的国际粉末衍射标准联合委 员会 (Joint Committee on Powder Diffraction Standards 即 JCPDS)主持编辑和出版PDF卡片及其索引。
• 1978年,从第27组始,又由JCPDS的国际衍射数据中心 (International Centre for Diffraction Data,即ICDD)主持出 版。
• PDF-4/矿物2003:共有17535个矿物物相。其中7647个有参 考强度比 I/I1,这有利于做物相定量分析。
• PDF-4/有机物2003:共有218194个有机物相和金属有机物相。 其中24385个是实验谱,191468个由剑桥晶体学数据中心 (CCDC)的单晶数据计算得的粉末谱;其中大于124900个 具有参考强度比I/I1,有利于做定量物相分析。

材料失效分析(第五章-疲劳)

材料失效分析(第五章-疲劳)
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§2
疲劳裂纹萌生与扩展机理(模型)
一、疲劳裂纹萌生机理 1、挤出挤入模型—Wood模型
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金属表面形成的挤出脊与挤入沟
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2、位错销毁模型—藤田模型
两列平行的异号刃位错,在相距几个原子间隔 (约10埃)的两平行滑移面上互相对峙塞积;
由于这种位错排列所产生的高拉应力引起原子 面分离,形成孔洞
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锯齿形断口或棘轮花样
轴类零件在交变扭转应力作用下产生的 有应力集中(轴颈)+扭矩作用
多源裂纹
裂纹以螺旋状方式向前扩展,最后汇合于轴的中央 若为单向交变扭转应力——棘轮花样 若为双向交变扭转应力——锯齿状断口
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锯齿形断口
棘轮花样
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3、瞬断区
形貌:具有断口三要素(放射区、剪切唇)的特征
对于塑性材料,断口为纤维状、暗灰色 对于脆性材料,断口为结晶状 位置:自由表面 断面中心
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4、疲劳断裂过程
疲劳裂纹的萌生: 表面(次表面、内部) 疲劳裂纹的扩展(两个阶段)
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第一阶段:裂纹起源于材料表面,向内部扩展
范围较小,约2—5个晶粒之内 显微形貌不好分辨 与拉伸轴约成45°角,裂纹扩展主要是由于τ 的作用
扩展速度很慢,每一应力循环只有埃数量级
第二阶段:断面与拉伸轴垂直,凹凸不平 裂纹扩展路径是穿晶的 扩展速度快,每一应力循环微米数量级 显微特征:疲劳辉纹
3、空穴模型—Mott模型
由于螺位错围绕着环形通道,进行连续交叉滑移运动, 结果从表面上挤出了材料的一个舌片,并相应地形成 了一个空穴,这个空穴就是疲劳裂纹源
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4、位错交叉滑移模型—Cottrell和Hull模型
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二、疲劳裂纹扩展模型

《材料科学基础》课件——第五章相平衡与相图第一节第二节第三节第四节

《材料科学基础》课件——第五章相平衡与相图第一节第二节第三节第四节

相和相平衡
Байду номын сангаас四、自由度与相律
1、自由度:平衡系统中独立可变的因素
自由度数:独立可变的强度变量的最大数目
(强度变量与广度变量的区别)
2、相律:自然规律
在平衡系统中由于受平衡条件的制约,系统内
存在的相数有一定限制。 组元数 相数P≥1
吉布斯相律:不可为负数
f=c-p+n
外界影 响因素
通常外界影响因素只考虑T、P,所以f=c-p+2
• 掌握匀晶,包晶,共晶相图的特点,进而了解二元合金的一些平衡凝固,固 相转变的规律。
• 重点难点: • 二元系相图的建立,杠杆定律 • 包晶相图,共晶相图,共晶合金 • 相图分析,各种液固,固相转变的判断
材料的性能决定于内部的组织结构,而组织结构
又由基本的相所组成。
相:均匀而具有物理特性的部分,并和体系的其他 部分有明显界面。
晶型转变过程都是在恒温下进行,并伴随有体 积、密度的变化。 2、SiO2系统相图 α-石英与β-石英相变相当慢, β-石英常因冷却过快而被保留 到室温,在常压下,低于573℃
单元系相图
β-石英很稳定,所以自然界或低温时最常见的是 β-石英。晶型转变时,体积效应特别显著。 Al2O3、ZrO2也具有多晶型转变。 3、聚合物相图 (1)状态由分子间作用力决定,分子间约束力弱
共晶相图,平衡凝固,共晶合金,包晶相图,形成化合物的相图,含有双液 共存区的相图,熔晶相图等 ,二元相图的几何规律 ,单相,双相及三相共 存区,相图特征 ,二元系相图的分析,分析的方法与步骤,分析举例。
• 教学目的: • 学习相平衡与相图的基本知识,了解相图在材料科学学习中的重要性,学会
相图的使用。

材料分析方法 第五章(2)

材料分析方法 第五章(2)
(HKL)
I
简单立方P格子
o
40o 2q
60o
(2) 计算体心点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 每个晶胞中有2个同类原子,其坐标为 (0, 0, 0), (1/2, 1/2, 1/2)。这两个原子散射 因子均为 f ,代入结构因子表达式: FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i( H/2+K/2+L/2) = f [e2i0 + ei(H+K+L)] = f [1 + (-1)(H+K+L)]
• Z+ • 1s • • 2s • 2p •

S0
一般情况下,若O点放一个原子,内有Z个电 子,由于各电子散射在同一方向的位相不同, 将会发生干涉, 而使P点散射强度有所减弱, Ia < Z 2 Ie 比照式Ia = Z2 Ie,引入因子f, 将原子散射强度表达为:Ia = f2 Ie • S 式中:f—原子散射因子, D • S0 •A• 显然 f ≦ Z 2q • f 的物理意义: B• •C f= 一个原子散射波的振幅 一个电子散射波的振幅
由FHKL = f [1 + (-1)(H+K+L)] 可见: ① 当H + K + L =奇数时, FHKL = 0, ∴ |FHKL|2 = 0。 ② 当H + K + L = 偶数时, FHKL = 2f ∴ |FHKL|2 = 4f2。
结论: 在体心点阵中,只有当H+K+L为偶数时才 能产生衍射
体心点阵中,只有当H+K+L=偶数时, 才 能产生衍射, 例: 存在110, 200, 211, 220, 310, 222…等 反射, 其指数平方和(H2+K2+L2)之比: 2:4:6:8:10:12…

材料分析方法教学课件第五章 X射线衍射分析

材料分析方法教学课件第五章 X射线衍射分析
二、单相定性分析 1、标准物质的粉末衍射卡片
1992年后的卡片统由国际衍射资料中心(ICDD)出版, 1997年,有卡片47组,包括有机、无机物相67000个。2003 出版,有157048个物相,其中无机物为133370个,有机物为 25609个,92011个实验谱,56614个为计算谱。
JCPDS卡片或ICDD是国际上通用且最为完备的X射线粉 末衍射数据。
第五章 X射线物相分析
一、X射线物相分析的基本原理与思路
我们知道每一种结 晶物质都有自己独特 的晶体结构,即特定 点阵类型、晶胞大小、 原子的类型、数目和 原子在晶胞中的排列 等。
这决定了,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自 己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个“反射”晶面 的晶面间距值d和“反射”线的强度来表征。
实验数据较吻合,所 列卡片号为5-586,该 物质为方解石。找出 卡片,将卡片上所有 数据与实验数据一一 比较列表,可以确定 衍射图的物质为方解 石。
表5—1 方解石实验数据与JCPDS卡片中数据比较
实 验 卡 片5-586 实 验 卡 片5-586
d I/I0 d
3.842 9.6 3.86
I/I0 d I/I0 d I/I0
第五章 x射线衍射分析
第五章 X射线物相分析 (P55)
一、X射线物相分析的基本原理与思路
材料分析: 化学成分分析: 如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或 SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% FeO 4%等。 物相分析: 如一材料C,是由金刚石还是由石墨组成。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。 X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。
D.矿物名称索引:按矿物英文名称的字母顺序排列。

材料分析方法思考题解答

材料分析方法思考题解答

复 习 的 重 点 及 思 考 题第一章 X 射线的性质X 射线产生的基本原理。

● X 射线的本质―――电磁波 、 高能粒子 、 物质● X 射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等● 高能电子与物质相互作用可产生哪两种X 射线?产生的机理?连续X 射线:当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X 射线波长是连续的,故称之为~特征(标识)X 射线:由原子内层电子跃迁所产生的X 射线叫做特征X 射线。

X 射线与物质的相互作用● 两类散射的性质● 吸收与吸收系数意义及基本计算● 二次特征辐射(X 射线荧光)、饿歇效应产生的机理与条件二次特征辐射(X 射线荧光):由X 射线所激发出的二次特征X 射线叫X 射线荧光。

俄歇电子:俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后,处于激发态的电子将产生跃迁,多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子,并将它激发出来。

这种效应称为俄歇效应。

● 选靶的意义与作用第二章 X 射线的方向晶体几何学基础● 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型 在自然界中,其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体● 晶向指数、晶面指数(密勒指数)定义、表示方法,在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律,立方晶系的晶面间距表达式● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质● 厄瓦尔德作图法及其表述,它与布拉格方程的等同性证明(a) 以λ1= 为半径作一球; (b) 将球心置于衍射晶面与入射线的交点。

(c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。

(d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。

(e) 由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。

布拉格方程● 布拉格方程的导出、各项参数的意义,作为产生衍射的必要条件的含义。

布拉格方程只是确定了衍射的方向,在复杂点阵晶脆中不同位置原子的相同方向衍射线,因彼此间有确定的位相关系而相互干涉,使得某些晶面的布拉格反射消失即出现结构消光,因此产生衍射的充要条件是满足布拉格方程的同时结构因子不为零● 干涉指数引入的意义,与晶面指数(密勒指数)的关系干涉指数 HKL 与 Miller 指数 hkl 之间的关系有 :H= nh , K = nk , L = nl 不同点:(1)密勒指数是实际晶面的指数,而干涉晶面指数不一定;(2)干涉指数HKL 与晶面指数( Miller 指数) hkl 之间的明显差别是:干涉指数中有公约数,而晶面指数只能是互质的整数。

材料微观结构第五章位错和层错的电子衍射衬度分析2

材料微观结构第五章位错和层错的电子衍射衬度分析2
根据应变场计算出来的衬度分布曲线指出,在适当的g
下,存在一根零衬度线。应当注意沉淀相的零衬度线,
和位错环衬度中断的机理是不同的。沉淀相g总垂直于 零衬度线。对位错环,只要环上的某些部位的b与g正交,
g •b=0,即出现衬度中断。利用这个现象可以区别衍衬
照片上的弥散共格细小沉淀相和小尺寸位错环。在位错 环尺寸非常小时,看起来像一个小黑点。和时效初期的 小尺寸沉淀质点是难以区别的。
结论:
取相同的g和相同的sg,当视场中同时有间隙环和 位错环,若对间隙环满足(g•b)sg<0,对空位环则 满足(g•b)sg>0;前者表现为像在真实位置的环内, 后者与此相反,像比真实位错环直径大.
相同g条件,如果改变sg符号,则衬像反过来,即: 前者像在真实位错环外,后者像比真实位错环直 径小.
注意:
当g•b=0时,不全位错和它们中间夹着的层 错有可能均不可见.
而g•b=±1/3,层错条纹可见,其端部的不全 位错却常常是不可见的.
有经验的工作者,依靠熟练的运用倾斜台的技 巧和恰当的选择g,运用这个规律,可以区别 g•b=±1/3和g•b=0这两种不全位错.
5.2.4 位错环分析
分析位错环性质的常用方法:判定位错像在其 真实位错的哪一侧?
空位环
R矢
H量
方的
法确


间隙环



位错环柏氏矢量的确定
先在含不全位错的P区周围选定一个始点S (Start),顺时针方向按右手准则旋转,围绕不 全位错运行若干步,使成封闭环路,其重点为 F(Finished),F,S相重.
然后在不含位错的完整晶体部分,严格按照完 成上述环路的走向,运行同样步数,F,S不 重合,F指向S的矢量为此位错环的b.

材料分析方法

材料分析方法

第一章材料的电子结构与物理性能1. 1.主量子数n (n =1、2、3、4……)主量子数确定核外电子离原子核的远近和能级的高低。

2.次量子数l (l = 0、1、2、3……)次量子数反映的是电子轨道的形状。

在由主量子数n确定的同一主壳层上的电子的能量有差异,可分成若干个能量水平不同的亚壳层,其数目随主量子数而定,习惯上以s、p、d、f 表示。

3.磁量子数m (m = 0、±1、±2、±3……)磁量子数表示电子云在空间的伸展方向,它确定轨道的空间取向。

4.自旋量子数ms (ms = +1/2、-1/2)自旋量子数表示在每个状态下可以存在自旋方向相反的两个电子。

2. 三个基本原理:泡利不相容原理在一个原子中不可能存在四个量子数完全相同(即运动状态完全相同)的两个电子。

或者,在同一个原子中,最多只能有两个电子处在同样能量状态的轨道中,而且这两个电子的自旋方向必定相反。

最低能量原理电子总是优先占据能量低的轨道,使系统处于最低的能量状态。

最多轨道规则(洪特规则)相同能量的轨道(也称等价轨道)上分布的电子将尽可能分占不同的轨道,而且自旋方向相同。

作为洪特规则的特例,对于角量子数相同的轨道,当电子层结构为全充满、半充满或全空的状态是比较稳定的。

即:全充满: p 6或d 10或f 14 ;半充满: p 3或d 5或f 7 ;全空: p 0或d 0或f 0 。

3.能带的形成p10:各个原子的能级因电子云的重叠产生分裂现象。

能级分裂后,其最高和最低能级之间的能量差只有几十个eV。

电子的能量或能级几乎就是连续变化的,于是形成了能带。

能带之间也存在着一些无电子能级的能量区域,称为禁带或能隙。

4.金属的能带结构重要概念:满带:被电子填满的能带。

空带:没有被电子填充的能带。

价带:被价电子占据的能量最高的能带。

导带:价带以上的空带。

5.6. 金属的电阻率与温度的关系一般而言,金属的电阻率与温度的关系是线性的,且具有正的温度系数,即随着温度上升,电阻率增加。

现代材料分析方法原子力显微镜

现代材料分析方法原子力显微镜

2. 针尖因素
AFM成像实际上是针尖形状与表面形貌作用的结果,针 尖的形状是影响侧向分辨率的关键因素。针尖影响AFM成像 主要表现在两个方面:针尖的曲率半径和针尖侧面角,曲率 半径决定最高侧向分辨率,而探针的侧面角决定最高表面比 率特征的探测能力.如图3.4所示,曲率半径越小,越能分辨 精细结构.
端的针尖组成.随着精细加工技术的发展,人们已经能制
造出各种形状和特殊要求的探针。悬臂是由Si或Si3N4经光 刻技术加工而成的.悬臂的背面镀有一层金属以达到镜面
反射。在接触式AFM中V形悬臂是常见的一种类型(如图3.2
所示).
它的优点是具有低的垂直反射 机械力阻和高的侧向扭曲机械 力阻.悬臂的弹性系数一般低 于固体原于的弹性系数, 悬臂 的弹性常数与形状、大小和材 料有关.厚而短的悬臂具有硬 度大和振动频率高的特点.
电子线路系统起到计算机与扫描系统相连接的作用,电 子线路为压电陶瓷管提供电压、接收位置敏感器件传来的信 号,并构成控制针尖和样品之间距离的反馈系统。
二、原子力显微镜的分辨率
原子力显微镜分辨率包括侧向分辨率和垂直分
辨率.图像的侧向分辨率决定于两种因素:采集 团像的步宽(Step size)和针尖形状.
第15章 其他显微分析方法
一、原子力显微镜原理
AFM的原理较为简单,它是用微小探针“摸索”
样品表面来获得信息.如图3.1所示,当针尖接近样
品时,针尖受到力的作用使悬臂发生偏转或振幅改
变.悬臂的这种变化经检测系统检测后转变成电信
号传递给反馈系统和成像系统,记录扫描过程中一 系列探针变化就可以获得样品表面信息图像.下面 分别介绍检测系统、扫描系统和反馈控制系统。
(4)电化学环境:正如超高真空系统一样,电化学系统为

第5章X射线物相分析-2

第5章X射线物相分析-2

四、定性分析过程
物相定性分析一般步骤: (1)获得衍射花样:德拜照相法,或衍射仪法 (2)计算晶面间距d值和测定相对强度I/I1值( I1为最强线的强
度) (3)按强度递减顺序排列d值,并选出三强线; (4)查数值索引,找出最强线的晶面间距d1对应的组
(5)按照三强线d1、d2、d3找出符合较好的卡号及物相 (6)若无符合的物相,说明为复相物质,这时去掉不符的d值,另选
1.定性分析时晶面间距d值比相对强度重要 在利用PDF卡片进行衍射数据比较时,至少d值须相当符合,一般只 能在小数点后第二位有分歧。
2.造成强度异常的原因: 较期的PDF卡片的实验数据有许多是用照相法测得的,照相法对强
度的测量精度低,与衍射仪法样品也不相同。 样品有择优取向时,会使某根衍射线的强度异常强或弱。 衍射峰重叠 (三强线之一) 3.多相试样中某相含量很少,或该相各晶面反射能力很弱时,可能难 以显示该相的衍射线条,因而不能断言某相绝对不存在。
d/Å I/I1
1.50 20 1.29 9 1.28 18 1.22 5 1.08 20
d/Å I/I1
1.04 3 0.98 5 0.91 4 0.83 8 0.81 10
表4 剩余线条与Cu2O的衍射数据
待测试样中的剩余线条
d/Å
I/I1
观测值 归一值
3.01

5
7
2.47
70 100
2.13
d/Å I/I1
1.50 20 1.29 9 1.28 18 1.22 5 1.08 20
d/Å I/I1
1.04 3 0.98 5 0.91 4 0.83 8 0.81 10
表1 待测相的衍射数据
d/Å I/I1

材料分析测试-第五章-X射线衍射原理

材料分析测试-第五章-X射线衍射原理
它们与晶体内原子分布规律(晶体结构)密切相关。
2
第一节 衍射方向
一、布拉格方程 二、衍射矢量方程 三、厄瓦尔德图解 四、劳埃方程
3
1912年劳埃(M. Van. Laue)用X射线照射五水硫酸铜 (CuSO4·5H2O)获得世界上第一张X射线衍射照片,并由光 的干涉条件出发导出描述衍射线空间方位与晶体结构关系 的公式(称劳埃方程)。
子散射波振幅之比,即
f E0 Ee
f sin
f曲线——f与sin/的关系,sin=0时,f=Z
30
当入射线波长接近原子的某一吸收限(如K吸收
限K)时,f值将明显下降,此现象称为原子的反 常散射,此时,需对f值进行校正:即f =f-f,f
称原子散射因子校正值。
31
三、晶胞衍射强度
一个晶胞对入射X射线的散射是晶胞内各原子散射波合成 的结果 。
=QR-PS=PQcos-PQcos=0
单一原子面的反射
(5)干涉指数表达的布拉格方程
2dsin=n
2 d hkl sin
n
2d HKL sin
通常简写为: 2d sin
(5-2) (5-3)
9
反射级数n
A1A2… 2dhklsin1=
A1A2… 2dhklsin2=2
A1B1… 2d2h2k2lsin2=
式中:n——任意整数,称反射级数,d为(hkl)晶面间距,即dhkl。
7
3.布拉格方程的讨论
2dsin=n
(1)描述了“选择反射”的规律:产生“选择反射”的 方向是各原子面反射线干涉一致加强的方向,即满足布拉 格方程的方向。
(2)表达了反射线空间方位()、入射线方位()与 反射晶面间距(d)和波长()的相互关系。

第五章 钢铁分析

第五章  钢铁分析

公式
W(C)=A×x×20×f/ m×100%
总碳的其他测定方法
• 燃烧库仑法: 在氧气炉中将试样燃烧(高频炉或电阻炉),将生成
的二氧化碳混合气体导入已调好固定PH的(A态)高氯酸 钡吸收液中,由于二氧化碳的反应,使溶液PH改变(A 态)。然后用电解的办法电解生成的H+,使溶液PH回复 到A态。根据法拉第电解定律,通过电路设计,使每个电 解脉冲具有恒定电量,相当于0.5×10-6g碳,从而实现了 数显浓度直接、自动定碳的目的。
钢铁试样主要采用酸分解法,常用的有盐酸、硫酸和 硝酸。三种酸可单独或混合使用,分解钢铁样品时,若 单独使用时一种酸,往往分解不够彻底,混合使用时, 可以取长补短,且能产生新的溶解能力。
此外可用来分解钢铁样品的还有的测定
概述
燃烧-气体 容量法
一、概述
1、钢铁中的C来源 碳是钢铁的主要成分之一,它直接影响着钢铁
工作中,均应燃烧标准样品,判定 工作过程中仪器的准 确性。
13、吸收前后观察刻度的时间应一致。吸收后观 察刻度时, 量气管及水准瓶内液面与视线应处在同一水平线上。
14、吸收器中氢氧化钾溶液使用久后也应进行更换。
分析结果的计算
当标尺刻度单位是毫升时 公式 W(C)=A×V×f/m×100%
当标尺刻度是碳含量时
四、成品分析取样
成品分析用的试样样屑,应按下列方法之一采取。不能
按下列方法采取时,由供需双方协议。
大断面钢材
(1)大断面的初轧坯、方坯、扁坯、圆钢、方钢、锻钢件 等,样屑应从钢材的整个横断面或半个横断面上刨取; 或从钢材横断面中心至边缘的中间部位(或对角线 1/4处)平行于轴线钻取;或从钢材侧面垂直于轴中 心线钻取,此时钻孔深度应达钢材或钢坯轴心处。

05物质流分析 (2)

05物质流分析 (2)
业、食品业、饲料生产业、畜牧业、玻璃制造业、皮革业、 以分为生物圈、大气圈和水圈。下表为研究重金属镉、铬的 铬 水泥业、运输业、石油化工业、家政服务、废物处理、废物 案例中需要考虑的经济活动。 焚烧、废水处理、废料回收、纺织业、电镀业、TiO2相关产业、 堆肥
物质流分析-SFA
经济子系统
输入
分析的概念及发展
20世纪90年代,德国Wuppertal研究所提出生态包袱 (ecological rucksacks)的概念,后来也称其为隐藏流 (hidden flows)。此后形成了较为完善的物质流分析框架, 物质流分析研究因其强烈的政策导向和对 并广泛应用于各国研究中。 政策的指导意义而受到国际上的关注,通过物 1996年,欧盟委员会组建了“ ConAccount”平台,该平 台的成立可认为是物质流分析国际合作的里程碑。 质流分析,可以控制有毒有害物质的投入和流 从1997年开始,世界资源研究所对美国、日本、奥地利、 德国、荷兰经济系统的物质流动状况进行了全面的分析。 向,分析物质流的使用总量和使用强度,为环 2001年,欧盟统计局出版了第一部经济系统物质流分析研 境政策提供了新的方法和视角。 究方法手册。 2004年,Practical Handbook of Material Flow Analysis系 统介绍了物质流分析的概念、历程、应用范围及目标。
类的经济系统是自然生态系统的子系统。
物质流分析的概念及发展
经济系统中的物质与能量流动与生态系统中 的物质和能量流动相类似,但具有以下特性: 1. 经济系统与生态系统之间的物质交换量大 而迅速;
2. 经济子系统内部物质流动迅速;
3. 经济子系统内物质利用率低。
物质流分析的概念及发展
物质流分析是指在一定时空范围内关于特定系 统的物质流动和贮存的系统性分析。主要涉及 的是物质流动的源、路径及汇

材料分析测试方法(05)

材料分析测试方法(05)

第五章 X 射线衍射分析原理一、名词、术语、概念选择反射、掠射角(布拉格角)、散射角、衍射角、结构因子(或叫结构因素)、系统消光、点阵消光、结构消光。

二、填空1、X 射线衍射波的两个基本特征是( )和( )。

2、X 射线照射晶体,设入射线与反射面之夹角为θ,称为( )或( ),则按反射定律,反射线与反射面之夹角也应为θ;入射线延长方向与反射方向之间的夹角2θ叫( )。

3、产生衍射的必要条件是( ),充分条件是( )。

三、判断1、一束X 射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。

2、衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小,而与晶胞中的原子位置无关;衍射线的强度则仅取决于晶胞中原子位置,而与晶胞形状及大小无关。

3、当一束波长为λ的X 射线以一定方向照射晶体时,可能产生反射(衍射)的晶面,其倒易点必定落在反射球(厄瓦尔德球)上。

4、布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解和劳埃方程均表达了衍射方向与晶体结构和入射线波长及方位的关系。

5、作为衍射必要条件,衍射矢量方程、布拉格方程+反射定律及厄瓦尔德图解三者之间是等效的。

6、“劳埃方程+协调性方程”等效于“布拉格方程+反射定律”。

7、只要满足布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解和劳埃方程,就一定可以观察到衍射线(或衍射斑点,衍射花样)。

五、选择题1、面心立方晶体{100}晶面族的多重性因子是( )。

A 、4;B 、6;C 、8;D 、12。

2、面心四方晶体{100}晶面族的多重性因子是( )。

A 、4;B 、6;C 、8;D 、12。

3、面心四方晶体{001}晶面族的多重性因子是( )。

A 、4;B 、6;C 、8;D 、2。

六、简答及思考题1、试述由布拉格方程与反射定律导出衍射矢量方程的思路。

2、辨析概念:X 射线散射、衍射与反射。

3、某斜方晶体晶胞含有两个同类原子,坐标位置分别为:(43,43,1)和(41,41,21),该晶体属何种布拉菲点阵?写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F 2值。

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式中:f—原子散射因子, 显然 f ≦ Z
S0 •A•
f 的物理意义:
•C
f=
一个原子散射波的振幅 一个电子散射波的振幅

S
D

• 2q B• •
➢如何得到f值? ➢(1) 由sinq/λ值, ➢ 从右图可查到f 值。
➢(2)由sinq/λ值, ➢查本书附录6, ➢可得到f 值。
总结: 一个原子的散射
➢其坐标为(0, 0, 0),原子散射因子为f,
➢代入结构因子表达式:
FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得 FHKL = f e2i( 0+0+0) = f
则 |FHKL|2 =f2
结论:在简单点阵情况下,FHKL不受HKL 的影响,即HKL为任意整数时,都能产生 衍射。
FHKL = f e2i(0) + f ei(H+K) + f ei(H+L) + f
ei(K+L)
= f [1 + (-1)(H+K) + (-1)(H+L) + (1)(K+L)]
➢可见:
①当H、K、L全为奇数或偶数时,则 (H+K)、(H+L)、(K+L)均为偶数,这时: FHKL = 4f, ∴ |FHKL|2 = 16f2; ②当H、K、L中有2个奇数一个偶数或2个 偶 数 1 个 奇 数 时 , 则 ( H+K) 、 ( H+L) 、
= f [e2i0 + ei(H+K)] = f [1 + (-1)(H+K)]
➢由FHKL = f [1 + (-1)(H+K)] ➢可见:对于底心C点阵:
①当H+K为偶数时,即H,K全为奇数或
全为偶数时, FHKL = 2f, ∴ |FHKL|2 = 4f2 ;
②当H+K为奇数时,即H、K中有一个奇
4
•1
+ cos 22q
2
P
I0 —入射光强
R
e —电子电荷 I0
2q
m—电子质量
O
Y
c—光速
公式讨论:
Ie
=
I0
e4 •R2m2c
4
•1
+ cos 22q
2
➢可知: 入射X射线是非偏振的; ➢相干散射线的强度随2θ变化,是偏振的;
➢偏振化程度取决于(1+cos22q)/2; ➢∴(1+cos22q)/2称为偏振因子。
体心 I 格子
110 200
211 220
310 222
(3) 计算底心C点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 ➢晶胞中有2个同类原子,其坐标为(0, 0,
0) 和 (½, ½, 0),原子散射因子均为 f,
➢代入结构因子表达式中: FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i( H/2+K/2+0)
数和结一论个:偶数时, FHKL = 0, ∴ |FHKL|2 = 0。 在底心C点阵中,FHKL不受L的影响,只
有当H、K全为奇数或全为偶数时才能 产生衍射.
➢C心点阵:当H、K全为偶数或奇数时, 衍射存在
底心C 格子
002 003
112 204 -114 006
(4) 计算面心F点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 ➢晶胞中有4个同类原子,坐标为(0, 0, 0)
讨论: 质子对X射线的散射可忽略
Ie
=
I0
•R
e4 2m 2c
4
•1
+ cos 22 q
2
➢X射线照射晶体时,也可使原子中荷电的
质子受迫振动从而产生质子散射;
➢但质子的质量为电子的1846倍,相应的散
射强度也只有电子的1/(1846)2,
➢因此一般仅考虑原子核外的电子对X射线
的散射作用。
二、一个原子对X射线的散射强度 (结论)
,(1/2, 1/2, 0),(1/2, 0, 1/2), (0,
1/2, 1/2) 。
➢散射因子均为f, 代入结构因子表达式中
:
FHKL = fj exp[2i(Hxj + Kyj + Lzj)] 得FHKL = f e2i(0+0+0) + f e2i(H/2+K/2+0)
+ f e2i(H/2+0+L/2) + f e2i(0+K/2+L/2)
➢当X射线照射晶体时,晶胞中各原子会发 射与入射线波长相同的散射波。
➢各原子的散射波用复数表示为: f1exp(iΦ1), f2exp(iΦ2), …,
fjexp(iΦj) , …, fnexp(iΦn)
➢整个晶胞的散射波为各原子散射波的叠加 F = f1 exp(iΦ1) + f2 exp(iΦ2) + … + fj exp(iΦj) + … + fn exp(iΦn)
结论: 在面心点阵中,只有当H、K、L全 为奇数或全为偶数时才能产生衍射。
d (Å) Int h k l
如Al的
2.338 100 1 1 1
2.024 47 2 0 0
衍射数据: 1.431 22 2 2 0
1.221 24 3 1 1
1.169 7 2 2 2
1.0124 2 4 0 0
0.9289 8 3 3 1
1、结构因子公式的推导 ❖取单胞的顶点O为坐标原点, 坐标: (0, 0, 0);
❖A为单胞中任一原子j,坐标: (xj, yj, zj )
❖则矢量OA = rj = xja + yjb + zjc 式中,a、b、 c为点阵基矢。
S0 c
S
NA
S0 a
rj S
O
Mb (HKL)
❖A与O原子间散射波的波程差:
一、一个电子对X射线的散射强度
➢实验室X射线源发射出的X射线都是非偏 振的,其光矢量Eo在垂直于传播方向OY的 平面内可取任意方向。
E0
Io
O
Y
➢当一束非偏振的X射线沿OY方向传播,在
O点与电子碰撞发生散射,
➢那么距O点距离OP=R、 OP与OY夹2q角的
P点的散射强度为:
式中:
Ie
=
I0

R
e4 2m 2c
➢一个电子对X射线散射后空间某点强度可
用Ie表示,那么一个原子对X射线散射后该
点的强度:Ia=f2.Ie
➢这里引入了f—原子散射因子
类似地, 一个晶胞对X射线散射后该点的
强度: I晶胞=|F|2 Ie
P
这里引入了F--结构因子 R
I0
2q
O
公式推导:
➢假设一个晶胞中含有3种原子,它们分别占 据单胞的顶角,体心、面心(或其它位置)。 ➢该晶胞的散射波应为晶胞中各原子散射波的 叠加。
第五章 X射线衍射原理
第二节 X射线衍射强度
一、一个电子的散射强度 二、一个原子的散射强度 三、一个晶胞的衍射强度
1、结构因子公式的推导 2、结构因子的计算
❖我们知道,粉末多晶由许多小晶体构成; ❖晶体由晶胞构成; ❖晶胞由原子组成; ❖原子由原子核和电子组成。 ❖因此我们讨论晶体对X射线的衍射强度, 可以从电子、原子、晶胞到整个晶体这样 的顺序进行。
0.9055 8 4 2 0
0.8266 8 4 2 2
例: NaCl为面心立方点阵,只有指数全 为奇数或全为偶数的衍射线存在, 例如, 存 在 1 1 1 , 200, 220, 311, 222, 400… 等衍射, 其指数平方和(H2+K2+L2)之比: 3:4:8:11:12:16…
∵ Eb = |FHKL| Ee , Ee2 ∴ Ib = |FHKL|2 Ie
Ib = Eb2 , Ie =
总结:一个晶胞对X射线的散射
与I原子=f 2Ie类似 I晶胞=|F|2Ie
一个晶胞内全部原子散射波 的振幅 |F| = 一个电子散射波的振幅
F称为结构因子, 由下式计算:
FHKL
=
n
fjexp(i
2(H
xj+K
yj
+
L
zj))
j=1
2. 结构因子的计算
➢ FHKL可按下式计算:
FHKL
=
n
fjexp(i
2(H
xj+K
yj
+
L
zj))
j=1
➢计算时,经常用到关系:eni = (-1)n 式中:n—任意整数。
(1) 计算简单点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 ➢简单点阵,每个阵胞只包含一个原子,
若原子序数为Z,核外有Z个电子,原子散射
强度为Ia
衍射角为0时:Ia = Z 2 • Ie S0 •A•
其它情况下:Ia = f 2 • Ie
•C
f=
一个原子散射波的振幅 一个自由电子散射波的振幅

S
D

• 2q B• •
f 称为原子的散射因子。
利用本书附录6,由sinq/λ值可查f 值
三、一个晶胞对X射线的散射强度 (结论)
➢晶胞衍射波FHKL称为结构因子, ➢FHKL的模|FHKL|称为结构振幅
|FHKL|=Eb/ Ee
式中: Eb —晶胞散射波振幅 Ee —电子散射波振幅
➢|FHKL|物理意义:一个晶胞中全部原子散射 波的振幅/一个电子散射波的振幅
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