DAC静态参数测试
dac 静态参数
dac 静态参数DAC静态参数是指分布式账本技术中的一项重要参数，它是用来衡量一个DAC（Decentralized Autonomous Corporation，分布式自治组织）的性能和可靠性的指标。
在分布式账本技术中，DAC是一种以区块链为基础的组织形式，通过智能合约和共识算法来实现去中心化的决策和管理。
在设计和实施DAC的过程中，静态参数的选择和调整对于系统的性能和可靠性具有重要的影响。
DAC静态参数中的一个重要指标是区块大小。
区块大小决定了每个区块中可以包含的交易数量和数据量。
较大的区块大小可以提高系统的吞吐量和处理能力，但也会增加区块链的存储和传输成本。
因此，在选择区块大小时需要综合考虑系统的需求和资源限制，以实现最佳的性能和可靠性。
DAC静态参数还包括区块生成时间间隔。
区块生成时间间隔决定了区块链的延迟和响应速度。
较短的区块生成时间间隔可以提高系统的实时性和响应能力，但也会增加节点之间的通信和同步开销。
因此，在确定区块生成时间间隔时需要综合考虑系统的实时性需求和网络的稳定性，以实现最佳的性能和可靠性。
DAC静态参数中还包括共识算法的选择和配置。
共识算法是用来实现节点间一致性的重要机制。
不同的共识算法具有不同的性能和可靠性特点。
例如，PoW（Proof of Work）算法具有较高的安全性和可靠性，但也会导致较高的能源消耗和延迟；而PoS（Proof ofStake）算法则具有较低的能源消耗和延迟，但可能存在安全性方面的隐患。
因此，在选择和配置共识算法时需要综合考虑系统的需求和资源限制，以实现最佳的性能和可靠性。
DAC静态参数还包括网络拓扑结构的设计和优化。
网络拓扑结构是指节点之间的连接方式和通信方式。
不同的网络拓扑结构具有不同的传输效率和容错能力。
例如，星型网络拓扑结构具有较高的传输效率和容错能力，但可能存在单点故障的风险；而网状网络拓扑结构则具有较低的传输效率和容错能力，但可以提高系统的灵活性和可扩展性。
DAC静态参数测试
第四章 DAC 静态电参数测试本文要点：DAC 电参数义的定DAC 规静态电参数测试计常方法及算公式DAC 测试统系的典型硬件配置DAC 数规据范（Data Sheet）样例选择输码减如何入代以少DAC 测试时间的如何提高DAC 电参数测试的精度及稳定性关键词释解调误失差Eo（Offset Error）转换线实际值与值值：特性曲的起始理想起始（零）的偏差。
误增益差E G （Gain Error）转换线实际与资：特性曲的斜率理想斜率的偏差。
（在有些料误称为满误上增益差又刻度差）线误性差Er（Linearity Error）转换线与拟线间：特性曲最佳合直的最大偏差。
（NS 公司义定）或者用：准确度E A （Accuracy 转换线与转换线）：特性曲理想特性曲的最大偏差（AD 义公司定）。
线误微分性差E DL （Differential Linearity Error）值满值围内邻输：在起始到刻度的范相入数码对应拟输电压实际值与的模出之差的1LS 值简单说个理想得最大偏差。
的，就是在整转换围内范每一步距（1LSB）的最大偏差。
满围刻度范（FSR）：DAC 输电压围的出范。
最小有效位（LSB）：DAC 输变时输电压变入化一位，出的化量。
单调性（Monotonic）：DAC 输号个变时输个变的入信朝一方向化，出也向一方向化或保持常量分辨率（Resolution）：DAC 总的输数义为入位，定2n 一、 DAC 静态电参数义测试简定及介在图4.1中，Summing Junction 和 I out 连没电过电端接在一起，如果有流流阻R∑输，电压出Vout 为电压当零刻度；DAC 电过电的最大流流阻R∑输电压，出Vout 为满电压刻度。
来自DAC 运输电或算放大器入端的漏流以及放大器输调电压电压的入失使得零刻度偏值输电离典型。
出流（Iout 输）以及入基准（Vref 满电压误别）的偏差引起刻度的差。
特要注意的是DAC 输满电压时运调电压它误出刻度，算放大器的失以及其的零点差也在起着作样误用（同零点差（offset error 响间码输电压值说满输）也影着中代出）。
DAC基础知识：静态技术规格
DAC基础知识：静态技术规格所有DAC之间的共性就是技术规格的定义以及说明。
这篇文章将会论述静态DAC技术规格。
静态DAC技术规格包括对DAC在DC域中所具有的特性的描述。
在DC域中时，DAC的数字与模拟定时现象不属于这一组技术规格。
图1虽然这3个DAC拓扑互不相同，但它们的技术规格与电气描述非常类似。
一个主要的静态DAC技术规格就是理想转换函数（图2）。
在对这个普通转换函数的图示中，可以轻松地体会和理解零代码、偏移、满量程以及增益的定义。
一旦你理解了上述概念，差分非线性（DNL），积分非线性（INL）以及单调性技术规格也就再次成为理想转换函数的另一个导函数。
图2理想DAC转换函数图2显示了一个DAC是如何为数字输入代码的一个离散数值生成单个模拟输出值的方式。
图中数字输入代码的顺序是单极的，其中代码以标准二进制的方式增加。
图2中DAC转换函数的模拟范围是从零至模拟输出满量程（FS）值。
DAC电压基准（VREF）建立了转换器的最低有效位（LSB）或代码宽度，并且设定了满量程范围（FSR）。
LSB的大小等于VREF/ 2N。
在图2中，“N”等于转换器的分辨率，而2N等于转换器单个位的数量。
DAC所具有的代码的数量等于2N。
对于3位转换器来说，代码数量等于23或8。
这个理想转换函数的转换公式为VOUT = VREF x （CODE/2N），并且满量程输出电压等于VREF – 1LSB。
零代码误差图3中，DAC的零代码误差是最易理解的静态技术规格。
我们假定这个值是针对一个单极、单电源DAC而言的，这个DAC的完全理想最小输出电压为0伏。
当将数字0值载入到DAC寄存器中时，零量程误差出现在DAC的模拟输出引脚上。
这个误差是由内部输出放大器的输出摆动性能导致的。
对于单电源DAC来说，零量程误差始终为正值，而这个技术规格的单位为毫伏或微伏。
图3DAC的内部输出放大器因不能达到负电源轨而导致的零误差运行状态。
偏移误差然而，偏移误差是不同的。
基于Catalyst-200的串行DAC静态参数测试研究
北 京 １ ０ ５ ） ０ ８ ４ （ 国航 天 科 工 集 团第 二研 究 院 二 。 一 所 中
摘
要
文章基于大规模数模混 合测试设备 Ｃ ｔｌｓ ２０ 采用 最佳 拟合直线法 ， ａａｙｔ ０ ， 一 对串行数模转换器 的测试方法进行研
究， 并以 ＡＤ ３ ７为例 ， ５１ 进行其静态参 数差 分非线性和积分非 线性 的测试 ， 过合理设 计数字 ｐ ｔ ｒ 控 制 串行模数 转换器 通 ａｔ ｎ ｅ 的控制字 和数 据输 入 ， 同时对 转换 控制信号进行 时序 分析 ， 最终得 到相应 的测试 曲线和测试值 ， 明 了测试 方法 的正确性 。 证 文章 的研究成 果为开展其它 串行数模 混合信号集成 电路 的测试 研究奠定 了基础 。 关键 词 Ｃ ｔｌｓ ２ ０ ａａ ｔ ０ ；最佳 拟合直线 ；串行 ； ｙ－ 数模 转换器
— — —
ｏ ａ ａｙ ｔ ２ ０ ｎ Ｃ ｔ ｌ ｓ一 ０ ．Ｄｉ ｅ ｅ ｃ ｏ ｌ ｅ ｒ ａ ｄ ｉ ｔ ｇ ａ ｎ ｎ ｉ ｅ ｒ ｙ ｏ ｆ ｒ ｎ ｅ ｎ ｎ ｉ ａ ｎ ｎ ｅ ｒ ｌ ｏ ｌ ａ ｉ ｆ ＡＤ５ １ ｓ ｔ ｓ ｅ ｙ ｃ ｎ ｒ ｌ ｎ ｈ ａ ａ ｉ ｐ ｔ ｏ ｅ ｉｌ ｆ ｎ ｎ ｔ ３ ７ ｉ ｅ ｔ ｄ ｂ ｏ ｔｏ ｌ ｇ ｔ ｅ ｄ ｔ ｎ ｕ ｆ ｓ ｒ ｉ ａ ＤＡＣ ｓｎ ｅ ｉｎ ｎ ｉ ｉ ｌ ａ ｔ ｒ ｅ ｓ ｎ ｂ ｙ ｕ ｉ ｇ ｄ ｓｇ ｉ ｇ ｄ ｇ ｔ ｔｅ ｎ ｒ ａ ｏ ａ ｌ ．ＡＴ ｈ ａ ｉ ，ｔ ｓ ｉ ｇ ｃ ｒ ｅ ｎ ａ ｕ ｓ ａ ｅ ｇ ｔｂ ｅ ｕ ｎ ｅ ａ ａ ｙ ｉ ， ａｐ ｔ ｅ ｓ ｍｅ ｔｍｅ ｅ ｔｎ ｕ ｖ ｓ ａ ｄ ｖ ｌ ｅ ｒ ｏ ｙ ｓ ｑ ｅ ｃ ｎ ｌ ｓ ｓ
dac测试方法
dac测试方法
DAC测试方法可以分为以下步骤：
1. 准备设备：准备好一台可靠的DAC设备、电脑和音频文件。
同时，将DAC设备与电脑连接并安装好相应的驱动程序。
2. 打开音频播放器：打开音频播放器，选择要播放的音频文件。
为了保证测试结果的准确性，可以选择高音质的音频文件。
3. 连接DAC设备：将音频播放器的输出连接到DAC设备的
输入，并将DAC设备的输出连接到外部音箱或耳机。
4. 打开测试工具：打开相应的DAC测试工具，例如Audio Precision等。
一般的DAC测试工具可以用来测量DAC电路
的参数，例如频率响应、失真程度等。
5. 开始测试：在测试工具中设置所需的测试参数，例如频率范围、采样率等，然后点击“开始测试”按钮。
6. 分析结果：测试完成后，测试工具会输出测试结果。
根据测试数据分析测试是否符合标准要求，并对DAC设备进行优化
或调整。
7. 维护记录：将测试结果和相关数据记录下来，以便后续维护和改进。
以上是DAC测试方法的基本步骤，不同的测试工具和DAC
设备可能需要不同的操作步骤，具体操作还需要参考相应的说明书和技术指导。
dac测试方法
dac测试方法DAC（Digital-to-Analog Converter，数字到模拟转换器）是一种电子设备，将数字信号转换为模拟信号。
在音频设备中，DAC负责将数字音频信号转换为模拟音频信号，以便于扬声器或耳机等模拟设备进行播放。
进行DAC测试的目的是确保DAC的性能和准确度，以保证音频信号的高质量转换。
以下是一些常见的DAC测试方法：1. 信噪比测试：信噪比是衡量DAC性能的重要指标之一。
测试过程中，将输入一个固定的音频信号，然后测量输出信号中的噪声水平。
较高的信噪比表示DAC能够更准确地转换数字信号并减少噪声。
2. 频率响应测试：频率响应测量评估DAC在不同频率下的输出准确度。
测试中，输入一系列频率的音频信号，然后测量输出的幅度和相位。
通过比较输入和输出信号之间的差异，可以确定DAC在不同频率下的性能。
3. 线性度测试：线性度测试用于评估DAC的线性转换能力。
在测试中，输入一个连续的音频信号，然后测量输出信号的失真水平。
较低的失真表示DAC能够更准确地转换输入信号。
4. 动态范围测试：动态范围测试用于衡量DAC的动态范围，即DAC 能够处理的最大和最小信号的幅度差异。
测试中，输入一个具有不同幅度的音频信号，然后测量输出信号的幅度范围。
较大的动态范围表示DAC能够处理更广泛的信号幅度。
5. 抖动测试：抖动是指由于时钟不稳定性而引起的时序误差。
抖动测试用于评估DAC的抖动性能。
测试中，输入一个稳定的音频信号，并测量输出信号的时序误差。
较低的抖动表示DAC能够更准确地转换输入信号。
以上是一些常见的DAC测试方法，通过对DAC进行全面的测试和评估，可以确保音频设备提供高质量的模拟音频输出。
这些测试方法可以帮助制造商和工程师在开发和生产过程中，确保DAC的性能和准确度达到预期水平。
实验一 单级放大电路静态参数的测试
实验一 单级放大电路静态参数的测试（验证性实验）一、实验目的1. 熟悉模拟电子技术实验箱的结构，学习电子线路的搭接方法。
2. 学习测量和调整放大电路的静态工作点，观察静态工作点设置对输出波形的影响。
二、实验仪器1. 低频信号发生器 SG1026 1台2. 双踪示波器 SS7802或COS5020BF 1台3. 万用表 VC9802A 1块 三、实验说明图1为电阻分压式工作点稳定单管放大器实验电路图。
它的偏置电路采用RB1和RB2组成的分压电路，并在发射极中接有电阻RE ，以稳定放大器的静态工作点。
当在放大器的输入端加入输入信号ui 后，在放大器的输出端便可得到一个与ui 相位相反，幅值被放大了的输出信号u0，从而实现了电压放大。
图1 共射极单管放大器实验电路在图1电路中，旁路电容CE 是使RE 对交流短路，而不致于影响放大倍数，耦合电容C1和 C2 起隔直和传递交流的作用。
当流过偏置电阻RB1和RB2 的电流远大于晶体管T 的基极电流IB 时（一般5～10倍），则它的静态工作点可用下式估算 CC B2B1B1B U R R R U +≈U CE ＝U CC －I C （R C ＋R E ）CEBEB E I R U U I ≈-≈电压放大倍数 beLC V r R R βA // -= 输入电阻 R i ＝R B1 / R B2 / r be 输出电阻 R O ≈R C由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时，离不开测量和调试技术。
在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标。
一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。
因此，除了学习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。
放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰与自激振荡及放大器各项动态参数的测量与调试等。
高速ADC DAC测试原理及测试方法
高速ADC/DAC测试原理及测试方法随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。
比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。
因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。
ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。
一、ADC的主要参数ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。
静态指标主要有：•Differential Non-Linearity (DNL)•Integral Non-Linearity (INL)•Offset Error•Full Scale Gain Error动态指标主要有：•Total harmonic distortion (THD)•Signal-to-noise plus distortion (SINAD)•Effective Number of Bits (ENOB)•Signal-to-noise ratio (SNR)•Spurious free dynamic range (SFDR)二、ADC的测试方案要进行ADC这些众多指标的验证，基本的方法是给ADC的输入端输入一个理想的信号，然后对ADC转换以后的数据进行采集和分析，因此，ADC的性能测试需要多台仪器的配合并用软件对测试结果进行分析。
下图是一个典型的ADC测试方案：如图所示，由Agilent 的ESG 或PSG 做为信号源产生高精度、高纯净度的正弦波信号送给被测的ADC 做为基准信号，ADC 会在采样时钟的控制下对这个正弦波进行采样，变换后的结果用逻辑分析仪采集下来。
经典：ADC与DAC-动态性能测试
食品安全管理制度清单及其操作流程食品安全管理制度清单：一、从业人员健康管理制度1.食品生产经营者应建立并执行从业人员健康管理制度。
2.从事接触直接入口食品工作的食品生产经营人员应每年进行健康检查，取得健康证明后方可上岗工作。
3.患有国务院卫生行政部门规定的有碍食品安全疾病的人员，不得从事接触直接入口食品的工作。
二、食品安全自查制度1.食品生产经营者应建立食品安全自查制度，定期对食品安全状况进行检查评价。
2.生产经营条件发生变化，不再符合食品安全要求的，食品生产经营者应立即采取整改措施。
3.有发生食品安全事故潜在风险的，应立即停止食品生产经营活动，并向所在地县级人民政府食品药品监督管理部门报告。
三、食品原料、食品添加剂、食品相关产品进货查验制度1.食品生产经营者应建立食品原料、食品添加剂、食品相关产品进货查验制度。
2.对采购的食品原料、食品添加剂、食品相关产品的名称、规格、数量、生产批号、保质期、供货者名称及联系方式、进货日期等内容进行登记，建立台帐。
四、食品出厂检验记录制度1.食品生产经营者应建立食品出厂检验记录制度。
2.对出厂的食品的名称、规格、数量、生产批号、保质期、检验日期等内容进行记录。
五、食品添加剂出厂检验记录制度1.食品生产经营者应建立食品添加剂出厂检验记录制度。
2.对出厂的食品添加剂的名称、规格、数量、生产批号、保质期、检验日期等内容进行记录。
六、食品安全追溯体系1.食品生产经营者应建立食品安全追溯体系，保证食品可追溯。
2.对食品的生产、流通、消费等环节进行记录，确保食品来源可查、去向可追。
七、不合格食品处置制度1.食品生产经营者应建立不合格食品处置制度。
2.对检测不合格的食品进行标记、隔离，并及时采取整改、召回等措施。
八、食品安全突发事件应急处置方案1.食品生产经营者应制定食品安全突发事件应急处置方案。
2.在发生食品安全突发事件时，立即启动应急预案，采取控制、处理措施，并及时报告。
DAC测试原理介绍V93000
Title of Presentation 2020/3/4
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DAC FS Gain Error Calculations
Title of Presentation 2020/3/4 Page 11
DAC LSB Gain Error
The DeviceLSB is calculated as for the DNL measurement.
End point method:
INL is the deviation of the analog output from a straight line. The straight line can be drawn as a best-fit line or between the end points as shown.
Title of Presentation 2020/3/4
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Intepretating DC Transfer Characteristics
Discrete Analog Output Voltage
Digital Input code Discrete Analog Output Voltage
DAC Output Ramp Signal from zero scale to full scale Create Digital Vector for Output Signal
Capturing the DAC Output Signal
Setup Digitizer Sampling Frequency Fs Send the waveform data to the DSP to perform DNL/INL
DAC静态电参数测试
DAC静态电参数测试DAC（数字与模拟转换器）是一种将数字信号转换为模拟信号的设备，广泛应用于音频设备、通信系统和工业控制等领域。
在设计和生产DAC时，静态电参数测试是非常重要的一项工作，用于评估和验证DAC的性能以及其是否符合设计要求。
本文将详细介绍DAC静态电参数测试的目的、测试方法和测试项。
静态电参数测试的目的是评估DAC的精度和稳定性，并确定其性能是否满足设计要求。
通过对DAC的静态电参数进行测试，可以评估DAC的分辨率、非线性、偏移、增益误差、静态功耗等关键指标，并进行性能优化。
DAC的静态电参数测试通常包括以下几个方面：1.分辨率：分辨率是DAC输出的模拟信号精度的衡量指标。
通过将DAC输出数字信号的最小可分辨的变化进行测量，可以确定DAC的分辨率。
通常使用最小有效位数（LSB）来表示分辨率，LSB是指DAC输出的最小可区分的变化量。
2.非线性误差：非线性误差是指DAC输出与理想输出之间的差异，通常用百分数或LSB来表示。
通过输入不同的数字信号，并测量DAC输出与理想输出之间的偏差，可以评估DAC的非线性误差。
3.偏移误差：偏移误差是指DAC输出在零输入时的输出的偏移量。
通过输入零值信号，并测量DAC输出与零输出之间的偏移量，可以评估DAC的偏移误差。
4.增益误差：增益误差是指DAC输出信号的增益与理想增益之间的差异。
通过输入已知的模拟输入信号，并测量DAC输出与理想输出之间的差异，可以评估DAC的增益误差。
5.静态功耗：静态功耗是指DAC在无输入信号时的消耗功率。
通过测量DAC在静态状态下的电流消耗，可以评估DAC的静态功耗。
进行DAC静态电参数测试时，通常采用专业测试设备，如多用途测试仪、数字示波器和信号发生器等。
测试方法可以分为基于数字测量的方法和基于模拟测量的方法两种。
基于数字测量的方法通常采用模拟到数字转换器（ADC）和数字信号处理器（DSP）来测量DAC输出信号。
ADC将DAC输出信号转换为数字信号，然后通过DSP对数字信号进行处理和分析，从而得到DAC的静态电参数。
DA参数——精选推荐
DAC和ADC芯片必须满足一些特定的静态和动态参数规格，下一面一一介绍这些规格。
■DAC静态参数规格◇最小刻度（Resolution）是指DAC输出端所能变化的最小值。
◇满幅范围（FSR），是指DAC输出信号幅度的最大范围，不同的DAC有不同的FSR。
该范围可以是正或负的电流，电压等模拟量。
◇LSB大小是指输入代码变化最小数值时输出端模拟量的变化。
◇差分非线性度（DNL）用于测量小信号非线性误差。
计算方法：本输入代码和其前一输入代码之间模拟量的变化减去1LSB。
◇单调性是指如果增加输入代码其输出模拟量也会保持相应的增加或不变的特性。
该特性对使用在反馈环电路之中的DAC非常重要，它能保证反馈环不会被死锁在两个输入代码之间。
◇积分非线性度（INL）是指对一个输入代码所有非线性度的累计。
这一参数可以通过测量该代码相应的输出模拟量与传输函数直线之间的偏差来完成。
◇偏置（offset）是指DAC的输入代码为0 时DAC输出模拟量与理想输出的偏差。
◇增益误差（gain error）是指DAC的输入代码为最大时DAC实际输出模拟量与理想输出的偏差。
◇精度（accuracy）是指DAC的输出与理想情况的偏差，包括了所有以上的这些错误，有时用百分比来表示。
■ADC静态参数规格◇满幅范围（FSR）的定义与DAC的一样。
◇偏置（offset error）是指保证输出代码为0时的理想输入模拟量与实际输入模拟量的偏差。
计算方法：输出第一个代码时ADC的实际输入模拟值减去1/2个LSB大小再减去理想的0代码输入模拟值。
◇ADC的增益误差（gain error）是指满幅输入时输出代码的误差。
计算方法：实际的满幅输出代码值加上1/2 LSB值，再加上偏置（offset error）。
◇LSB值是通过测量最小的和最大的转换点后计算得到的。
理想情况下，模拟输入变化一个LSB值，将引起输出端变化一个代码。
◇差分非线性度（DNL）用于测量小信号非线性误差。
DAC静态参数测试
DAC静态参数测试DAC（动态随机存取存储器）是一种存储设备，它通过电流控制存储电荷来存储数据。
与传统的存储器相比，DAC具有许多优点，如更高的速度、更低的功耗和更高的密度。
在DAC中，有许多静态参数可以影响其性能。
本文将重点介绍DAC的静态参数以及它们对DAC性能的影响。
首先，我们将讨论DAC的静态电流。
静态电流是指在DAC处于静止状态时通过其的电流。
静态电流的大小直接影响DAC的功耗。
较高的静态电流会导致较高的功耗，而较低的静态电流则会降低功耗。
因此，在设计DAC时需要权衡功耗和性能。
另一个重要的静态参数是DAC的电荷储存能力。
电荷储存能力指的是DAC能够存储的最大电荷量。
较高的电荷储存能力可以提供更大的动态范围，从而提高DAC的性能。
为了增加电荷储存能力，可以增加DAC的电容量或改善电容器中的电荷保持能力。
静态线性度是衡量DAC性能的另一个重要指标。
静态线性度指的是DAC输出电压与输入信号之间的线性关系。
较高的静态线性度意味着DAC 能够提供更准确和精确的输出。
静态线性度通常受到非线性电荷注入和漏电流的影响。
为了改善静态线性度，可以采用校准技术或采用低漏电流的技术。
静态漂移是指DAC输出电压随时间的变化。
较小的静态漂移意味着DAC输出电压更稳定，从而提高了DAC的性能和可靠性。
静态漂移通常由温度变化和器件老化等因素引起。
为了减小静态漂移，可以采用温度补偿技术或采用高品质的材料和制造工艺。
此外，静态功耗也是一个需要考虑的静态参数。
静态功耗是指当DAC处于静止状态时消耗的功率。
较高的静态功耗会导致额外的热量产生，从而影响DAC的性能和寿命。
为了降低静态功耗，可以采用低功耗电流源和自适应电源管理技术等。
综上所述，DAC的静态参数对其性能有着重要的影响。
在设计DAC时，需要权衡各种静态参数，以满足特定应用的需求。
通过优化静态参数，可以提高DAC的性能、功耗和可靠性。
未来，随着技术的进步，DAC的静态参数将继续得到优化，以满足不断发展的电子设备的需求。
差分输出、电流模式DAC的参数和测量方法(精)
差分输出、电流模式DAC勺参数和测量方法摘要：实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器，讨论分析了跨导放大器-电容(OTAC)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现，使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制，并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。
仿真结果表明，该滤波器带宽的可调范围为1〜26 MHz阻带抑制率大于35 dB，带内波纹小于0. 5 dB，采用1. 8 V电源，TSMC 0 18卩m CMO工艺库仿真，功耗小于21 mV，频响曲线接近理想状态。
关键词：Butte本文中，将以MAX5891作为测量和规格说明的特例。
但所介绍的参数和测量方法可以用于其他的差分输出、电流模式DAC线性参数说明定义数据转换器线性精度主要有两个参数：积分(INL)和差分(DNL)非线性。
INL 是输出传输函数和理想直线之间的偏差；DNL是转换器输出步长相对于理想步长的误差可以采用两种方法之一对INL进行定义：(1)端点INL或(2)最佳拟合INL。
端点INL是采用DAC传输函数端点测得的实际值计算转换器的线性度；最佳拟合INL则是计算传输函数的斜率获得INL的峰值。
图1a.端点积分非线性误差图1b.最佳拟合积分非线性误差图1a和图1b以图形的形式显示了两种测试方法与给定传输函数之间的关系。
注意，两种情况中，DAC专输函数曲线的数值和形状都一样。
还要注意，图1a 的端点线性度有较大的正INL，而没有负误差。
采用图1b所示的最佳拟合方法，将部分正误差转移到直线的负侧，以降低报告的最大INL。
注意，线性度误差总量和直线计算结果相同。
DNL定义理解起来要难一些，确定最低有效位(LSB)的权值会影响DNL DAC中需要考虑DNL没有小于-1 LSB的编码。
小于这一电平的DNL误差表明器件是非单调的。
当输出不随输入码增大而减小时，或者输出不随输入码减小而增大时，DAC是单调的。
图2解释了正、负DNL误差，澄清了单调的概念。
静态参数测试波形发生组件标准
静态参数测试波形发生组件标准一、概述静态参数测试波形发生组件是用于产生静态参数测试所需波形的器件。
它可以用于测试各种电子器件的静态参数，如电压、电流、电阻、电容、电感等。
二、标准静态参数测试波形发生组件的标准主要包括以下几个方面：1．输出波形类型：静态参数测试波形发生组件应能够产生各种类型的波形，如正弦波、方波、三角波、脉冲波等。
2．输出波形幅度：静态参数测试波形发生组件的输出波形幅度应可调，以满足不同测试需求。
3．输出波形频率：静态参数测试波形发生组件的输出波形频率应可调，以满足不同测试需求。
4．输出波形精度：静态参数测试波形发生组件的输出波形精度应满足测试要求。
三、常见标准目前，静态参数测试波形发生组件常用的标准包括以下几个：1．IEC60601-1：医疗电气设备-第1部分：通用要求2．IEC61010-1：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求-第1部分：通用要求3．ANSI/IEEE C37.110：继电保护测试用的标准波形4．GB/T18268：电磁兼容性试验方法-射频骚扰测量四、选用指南选用静态参数测试波形发生组件时，应考虑以下因素：1．测试需求：根据测试需求选择合适的波形类型、幅度、频率和精度。
2．技术指标：比较不同产品的技术指标，选择性价比高的产品。
3．品牌：选择知名品牌的產品，质量更有保障。
五、应用静态参数测试波形发生组件广泛应用于以下领域：1．电子元器件测试：用于测试各种电子元器件的静态参数，如电压、电流、电阻、电容、电感等。
2．电路调试：用于调试电路，观察电路的动态特性。
3．教学科研：用于教学科研，演示波形理论知识。
六、总结静态参数测试波形发生组件是电子测试领域的重要工具。
选用合适的静态参数测试波形发生组件，可以提高测试效率和精度。
DAC参数谈
沈阳单片机开发网——帮您精确掌握电子器件的使用细节 DAC参数谈DAC比较重要的参数有DNL,INL和SNR等，这里先谈这三个参数的测量方法：DNL测量：由计算机的并口引出数据，经过一个转接板（这个得自己做），送出16bits 的DATA,数据经过待测的DAC，会得到一系列的输出电压，16bits应该输出2的16次方个电压，电压为纵轴，数字CODE为横轴，得到的线代表了DAC的线性度（linearity).DNL是每个电压的实际步长与理想步长的差对LSB(最低有效位）的归一，每个代码会对应一个DNL值，做出DNL-CODE 图，很容易看出待测DAC的DNL（所有2的6次方个DNL值中的最打者）有了DNL数据，INL可以轻易得计算出来，不用做更多的测试。
计算方法：同样每个代码都对应一个INL,对第N个代码来说，它的INL就是其前面所有代码DNL的代数和。
同样，做出CODE-INL图，可以很容易的看出待测DAC的INL（所有INL中的最大者，和DNL一样，这个值约在零点几个LSB）SNR测量原理很简单：输入一个SIN形式的代码进待测DAC，经DAC转换后，也会输出一个SIN形式的电压波形，将此波形利用数字示波器进行FFT （快速傅立叶变换），得到输出信号的频谱，基频代表料信号的强度，依次还有2次，3次……谐波，我想记录下前5次谐波强度就够了（再高次的可以忽略），还有要记下噪声的谱强度，有了这些数据，计算SNR很容易，还能计算SNDR等参数。
更详细的内容，可以在MAXIM的网站上找到。
DNL: Differential non-linearity 微分非线性INL: Integral nonlinearity 积分非线性DNL 和INL是静态线性测试的指标。
说明了器件把数字信号转换成静止的模拟信号时，产生的误差。
在静态线性测试时，我们一般还测Full scale range, offset gain errors。
ADC,DAC静态特性测量标准
ADC,DAC静态特性测量标准
童光球;何强
【期刊名称】《现代计量测试》
【年(卷),期】1998(006)002
【摘要】本文介绍了我国ＡＤＣ、ＤＡＣ静态特性国家测量标准装置和它的测量技术。
该标准装置通过多个ＣＰＵ和计算机，可以实现全自动测量并具有很小的微分线性误差，积分线性误差，零点误差和增益误差，实际测量速度为４０Ｈｚ￣２５ｋＨｚ，在文章的最后给出了所达到的技术指标。
【总页数】4页(P11-14)
【作者】童光球;何强
【作者单位】中国计量科学研究院;中国计量科学研究院
【正文语种】中文
【中图分类】TP335.062
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第四章 DAC 静态电参数测试本文要点：DAC 电参数义的定DAC 规静态电参数测试计常方法及算公式DAC 测试统系的典型硬件配置DAC 数规据范（Data Sheet）样例选择输码减如何入代以少DAC 测试时间的如何提高DAC 电参数测试的精度及稳定性关键词释解调误失差Eo（Offset Error）转换线实际值与值值：特性曲的起始理想起始（零）的偏差。
误增益差E G （Gain Error）转换线实际与资：特性曲的斜率理想斜率的偏差。
（在有些料误称为满误上增益差又刻度差）线误性差Er（Linearity Error）转换线与拟线间：特性曲最佳合直的最大偏差。
（NS 公司义定）或者用：准确度E A （Accuracy 转换线与转换线）：特性曲理想特性曲的最大偏差（AD 义公司定）。
线误微分性差E DL （Differential Linearity Error）值满值围内邻输：在起始到刻度的范相入数码对应拟输电压实际值与的模出之差的1LS 值简单说个理想得最大偏差。
的，就是在整转换围内范每一步距（1LSB）的最大偏差。
满围刻度范（FSR）：DAC 输电压围的出范。
最小有效位（LSB）：DAC 输变时输电压变入化一位，出的化量。
单调性（Monotonic）：DAC 输号个变时输个变的入信朝一方向化，出也向一方向化或保持常量分辨率（Resolution）：DAC 总的输数义为入位，定2n 一、 DAC 静态电参数义测试简定及介在图4.1中，Summing Junction 和 I out 连没电过电端接在一起，如果有流流阻R∑输，电压出Vout 为电压当零刻度；DAC 电过电的最大流流阻R∑输电压，出Vout 为满电压刻度。
来自DAC 运输电或算放大器入端的漏流以及放大器输调电压电压的入失使得零刻度偏值输电离典型。
出流（Iout 输）以及入基准（Vref 满电压误别）的偏差引起刻度的差。
特要注意的是DAC 输满电压时运调电压它误出刻度，算放大器的失以及其的零点差也在起着作样误用（同零点差（offset error 响间码输电压值说满输）也影着中代出）。
也就是，刻度电压误误两出包含了零点差和增益差部分。
1．DAC 静态电参数规范DAC 静态电参数的一般在很低的输号频进测试号输数入信率下行（直流信）。
通常是入码测输电压图字代，然后量出。
如 4.2数况所示，大多情下DAC 转的化线特性是性的，模拟输电压进输码为出和二制入代1:1尽许它传输的映射。
管有多其特性的DAC 对数（如：DAC 仅讨论线），但本文性DAC。
1） 分辨率（Resolution）Resolution是DAC 总输码数的入代，N位DAC的为分辨率2N 输码数计。
入代是用于算LSB（最小有效 位）个数的一系。
不同的DAC 个产厂器件（即使是同一生家）产册对单的品手上分辨率的表示位不户应该个单转这样选较同，用了解各位的化方法，在型上便于比不同DAC 器件的性能。
如表所示，LSB 应在不同的用中可以用VOLTAGE、ppmFS、%FS、dB FS 单等位表示。
表4.1给出了N 为2—24满电压围为位，刻度范10V 的DAC 的分辨率（Resolution）与LSB 值（最小有效 位）间关之的系。
Table4.1: Quantization: The Size of a Least Significant Bit (LSB) TRANSFER FUNCTIONS OF IDEAL DATA CONVERTERS2） 满围刻度范（FSR）DAC 与输电压区间为满围输电压围称为的最小最大出即刻度范。
出范不穿越零点单极性(unipolar)输电压围称为双极，出范穿越零点的性（bipolar）。
仅讨论单极本文性。
论无是DAC 还是ADC，数满当拟满减字刻度相于模刻度去1LSB 。
这一点，在第五章ADC 静态电参数测试会中详细讲解。
Figure 4.2中的FS 数满表示的是字刻度，Figure 4.3中的FS 为拟满别说模刻度。
除非特明，本文中的FSR 为数满围均字刻度范。
Figure 4.3: Transfer Functions for Ideal 3-Bit DAC and ADC测试要DAC 满电压围的刻度范（FSR 须测试输电压），必零刻度出（V ZS 满）和刻度输电压出（V FS ）。
如Figure 4.1所示，DAC 数输的所有字入端（Digital Input）为0时输电压为出V ZS 输为，所有入端1时输电压为出V FS 。
FSR = V FS - V ZS （4.1） 这里V FS 测试满输电压是所得的刻度出，V ZS 测输电压是所的零刻度出3） Offset Error Voltage 调误电压误（失差或零点差）Offset Error 参数测试过测输电压实现的可以通量零刻度出。
Offset Error 是DAC 转换线实际值与值值特性曲的起始理想起始（零）的偏差。
说可以Offset Error 是DAC 静态电参数测试这为它电参数测试须它值来进计所有的起始点，是因其的必依托的行个算。
一完美的DAC 输码时输电压为在入零刻度代，出0V。
计下面的公式用于算Offset Error VoltageV OFFSET = V ZS（measured）- V ZS（ideal） (4.2)Offset Error Voltage 规为它单规见单通常格化其的位。
器件范中常的位有%FS，ppm，LSB。
表4.2说明了调误失差电压转换为它单如何由其位。
Table4.2: Normalizing Offset Error Voltage Measurements4） Gain Error Voltage 误电压误（增益差或增益差）误增益差是指DAC 实测满围器件的刻度范（FSR 与产规满）器件品范中理想的刻度围图误范之差。
用表示，增益差是指DAC 实测线两为器件端点直（端点V FS 测试：所得满输电压的刻度出和V ZS ：测输电压所的零刻度出与）斜率理想斜率的偏差。
Figure 4.4:Gain error for an ADC and a DAC.图如 4.4所示，误当补偿满增益差相于了零点偏差后的刻度输出误差。
说当也就是做出DAC 实际线时调误动的端点直，失差就被自消除了。
见误电压满输电压减调误电压减满电可增益差等于刻度出去失差，再去理想的刻度压。
Gain Error Voltage =（V FS - V ZS ）- V FSR（ideal） （4.3） 误电压调误电压样规为单增益差同失差一，可以被格化其他位换（算公式同表4.2）。
误时规为另外增益差有被格化端点线与直斜率斜率1的偏差，如公式4.4所示：Gain Error = （（V FS -V ZS ）/V FSR（ideal））-1 （4.4）5） LSB SIZE图如 4.2所示，DAC 输码输电压会的入代每增加一位，出就增加1LSB，因此LSB 计可由下面公式算：LSB = FSR measured /（2bits -1） （4.5） 公式中FSR 为实测满围器件的刻度范。
DAC 的1个LSB 输够变是指器件出能改的值尽最小。
管理想的LSB 产规规值计来是由器件品范中的定算出的当测试时，然而，LSB 是实际满围个值基于器件刻度范的一平均换话说。
句，每个一DAC 器件的LSB 值该误响是受器件的增益差影的。
6） 线差分非性（DNL 或 DLE）线误义为性差被定转换线与线特性曲端点直（end- point）线间直的偏差。
差分非线则测试号性可被看作小信或邻转进线误相化步的性差。
因此DAC 线的差分非性的定义为值满值围内邻输数码对应拟输电压实际值与：在起始到刻度的范相入的模出之差的1LS 值理想得最大偏差。
DNL 计图的算公式及示意如下所示：DNL code[i]=（V code[ i ]-V code[ i-1 ]）-1LSB （4.6）Figure 4.5:DNL for an ADC and a DAC.线电参数差分非性是DAC 器件的关键静态参数。
测试DNL 时测该，首先要定器件实际的LSB 值个输号。
一入信位i 的DNL 测试两需要步测计量算。
第一步，在DAC 器输输码件的入端施加入代i-1并测试输电压出V[i-1]紧输码，接着入代i 并测试输电出压V[i ]计邻输码输电压输电压减该，算出相入代的出差。
第二步，用出差去器件的平均LSB 值（由公式4.5计结算所得），果输号即位入信i 的DNL 对。
DAC 器件的所有输码进测试计输入代均行以上算，得出每一入位的DNL。
找出其中最大的DNL 值并与产规进较该值产规器件品范行比，如果超出了品范要则该求，器件失效剔出。
7） 积线误分性差（INL 或 ILE）DAC 积线误义为实际转线与线的分性差可定：化特性曲理想特性直的最大偏差。
这说线里所的理想特性直拟线可以是最佳合直（best-fit straight line）也可以是端点直线（end-point straight line）关这两种线对该项参数测试值响将。
于直得影，在第五章（ADC 静态电参数测试详细绍况转换产厂的）中介。
一般情下，器生家大都采用端点线测试直法INL 严测试（格）线，本文中的理想直也采用端线点直。
INL 参数产册称对在很多品手中也被作相精度（relative accuracy）。
INL 是DAC 项关键静态电参数它号绝对线误的另一，可被看作是大信或的性差。
Figure 4.6:INL for an ADC and a DAC测试在了DAC 个输码对应器件每入代的DNL 后，所有用于INL 测试数经的据就已备测试师仅仅进计值较具了，工程所需要做的是行算以及比。
INL 线误是所有差分性差积数它过测的累代和，是通量DAC 输电压线器件的每一步出偏离端点直的偏差得到的（如Figure4.6线远码值所示），其中偏离直最的代偏差就是最大INL 值。
通常可采用两种来计方法算INL 值。
（1） 计使用等效公式算INL 线（基于端点直）线采用直等式y=（mx+b）,计可以算DAC 个输电压值每出点的。
式中斜率m 为输出变输变数化量除以入化量，常b 为调电压测试值失的（V OFFSET ），x 为输入码代，y 为输电压预计输电压出。
因此的出可由公式4.7计算得到：Output =（（V FS -V ZS ）/（2bits -1））∙ InputCode+V OFFSET （4.7） 注意：（V FS -V ZS ）/（2bits -1）测等效于被DAC 实际器件的1LSB 值。
公式（4.7转换为输码与）可以下式（入代2bits 值这样减计误的比），可以少算差。