电子产品可靠性试验国家实用标准应用清单
5.可靠性GB标准清单(全)
电子产品可靠性与维修性国家标准(共39项)序号国家标准号1GB/T 1772-1979标准名称电子元器件失效率试验方法2GB/T2689.1-1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则（用于威布尔分布）3GB/T2689.2-1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布）4GB/T2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计（用于威布尔分布）5GB/T2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计（用于威布尔分布）6GB/T 3187-19948GB/T 4885-19859GB/T 4888-1985可靠性、维修性术语正态分布完全样本可靠度单侧置信下限故障树名词术语和符号7GB/T4087.3-1985数据的统计处理和解释—二项分布可靠度单侧置信下限10GB/T5080.1-1986设备可靠性试验总要求11GB/T5080.2-1986设备可靠性试验周期设计导则13GB/T5080.4-1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)14GB/T5080.5-1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案15GB/T5080.6-1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验16GB/T5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案17GB/T 5081-198518GB/T 6990-198619GB/T 6991-198620电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南电子元器件可靠性数据表示方法GB/T6992.1-1995可信性管理第1部分:可信性大纲管理指南GB/T19000.4-1995质量管理和质量保证第4部分:可信性大纲管理指南系统和设备研制生产中的可靠性程序21GB/T6992.2-1997可信性管理第2部分:可信性大纲要素和工作项目22GB/T 6993-198623GB/T7288.1-1987设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟24GB/T7288.2-1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟25GB/T 7289-198726GB/T 7826-198727GB/T 7827-198728GB/T 7828-198729GB/T 7829-1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南系统可靠性分析技术-失效模式和效应分析(FMEA)程序可靠性预计程序可靠性设计评审故障树分析程序30GB/T9414.1-1988设备维修性导则第一部分:xx导言31GB/T9414.2-1988设备维修性导则第二部分:规范与合同中的xx要求32GB/T9414.3-1988设备维修性导则第三部分:xx大纲33GB/T9414.4-1988设备维修性导则第五部分:设计阶段的xx研究34GB/T9414.5-1988设备维修性导则第六部分:xx检验35GB/T9414.6-1988设备维修性导则第七部分:xx数据的收集、分析与表示36GB/T9414.7-2000设备维修性导则第四部分:诊断测试37GB/T9414.8-2001设备维修性导则第九部分:xx评价的统计方法38GB/T 15174-1994可靠性增长大纲39GB/T 15647-1995稳态可用性验证试验方法。
电子厂电子产品品保部可靠性试验作业指导书-经典
毅力電子貿易有限公司電威電子有限公司電科電子有限公司品質系統工作指導書(ISＯ9０01：2000）文件名稱:可靠性試驗工作指導書文件編號﹕NL－QＵＡ－WI—04發行日期:Aug.01。
２００2控制碼﹕NL-MAN-F051.0目的為確保公司所有產品的質量達到國際標準或客戶要求，特制定本文件闡述對有關產品進行可靠性試驗的工作指引,以確保各產品的可靠性試驗項目均能按規定執行, 並使公司產品達到具有高度可靠及安全性能的目的。
2.0适用范圍本文件适用于本公司品管部及對本公司所有開發及生產的產品進行可靠性試驗(包括原材料)。
3.0用語定義3.1可靠性試驗:指對本公司開發的產品在量產前(即試產後)、量產中，或產品的原材料物件進行的各種可靠性試驗，以確保產品能夠滿足客戶的要求,並符合安全性、耐久性、適用於目的地區使用性,在一般環境下操作或運輸過程中不容易被損壞等情況。
產品改良後或原材料試驗需經總管級以上批准。
可靠性試驗項目類別一般分為以下九大類：a.一般動作檢驗：產品在試驗前及試驗後，必須在常溫下進行外觀及性能等檢測,檢測的方法、標準按品管部要求［詳細請參閱《品管部工作指導書（QＣ)》NL-QUA-WI-02］。
b.環境試驗:對產品在高溫高濕、低溫環境流通或使用時的外觀及性能進行檢測,並與常溫檢驗標準作比較.c.運輸模擬試驗:對產品在運輸過程中所受振動及沖擊等破壞程度的測試.d.安全性能試驗：對高壓、絕緣和內部安全性能的測試.e.耐久性試驗:對產品零部件壽命、零部件強度進行測試.f.防腐蝕試驗：對產品外殼絲印、噴油顏色及螺絲、拉杆天線等金屬零部件防腐蝕能力進行測試。
g.老化性試驗：對產品進行加／減電壓、常電壓連績老化測試。
h.靜電試驗：用模擬靜電發生器對產品進行靜電放電破壞測試。
i.cｄ抗震能力測試：對產品cd防震能力進行測試。
3.2室溫：又稱常溫, 通常指在２0℃~2６℃範圍。
4.0權責4.1品管部經理a.負責統籌可靠性試驗室的一切運作, 確保本公司產品質量均能達到安全可靠的目的。
电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值与测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量与允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用与类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频与脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器与电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器与电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095、1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 5095、2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095、3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 5095、4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 5095、5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定荷试验GB/T 5095、8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095、9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器与电阻器名词术语GB/T 11250、1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 11250、2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250、3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 11250、4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/* 4875、1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、3-1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体与非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规范固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用)GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质与多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7、5/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规范多层片状瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 空白详细规范: 多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器第13部分: 分规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用)GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规范: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值与功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规范浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规范浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/* 10196-1988电子元器件详细规范浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子与通信设备用变压器与电感器测试方法与试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器与变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信与电子设备用变压器与电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信与电子设备用变压器与电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器与电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 3389、1-1982 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语GB/T 3389、2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 3389、3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试GB/T 3389、4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 3389、6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式GB/T 3389、7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试GB/T 3389、8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料与压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器与变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 9624-1988 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9625-1988通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9627-1988通信用电感器与变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A与GB/T 9628-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用GB/T 9629-1988通信用电感器与变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器与扼流圈用磁性氧化物磁芯评定GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/* 9631-1988 电子元器件详细规范UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南GB/T 9635-1988 天线棒测量方法GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒与扁天线棒GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A (可供认证用) GB/* 11439-1989 通信用电感器与变压器磁芯第二部分: 性能规范起草导则GB/* 11440-1989 微波铁氧体规范起草导则GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用)GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 8553-1987 晶体盒总规范GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规范(可供认证用)GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范(可供认证用)GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用)GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范(可供认证用)GB/* 5819、1-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS1 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、2-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS2 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、3-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YC型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819、4-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YL型圆形连接器(可供认证用)GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范GB/* 9021、1-1988 SL10型视频连接器GB/* 9021、2-1988 SL12型视频连接器GB/* 9021、3-1988 SL16型视频连接器GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则与制订详细规范的导则GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范DC2型带状电缆连接器GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器GB/* 11317-1989 绕接技术GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验与测试程序屏蔽效率GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范GB/* 11492-1989 FD08 FD12与FD15型间隙放电器技术条件GB/* 11280-1989电子元器件详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南GB/T 11449、1-1989 波导法兰盘第一部分: 一般要求GB/T 11449、2-1989 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、3-1989 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、4-1989 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范GB/T 11449、5-1989 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449、6-1989 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规范GB/T 11450、1-1989 空心金属波导第一部分: 一般要求与测量方法GB/T 11450、2-1989 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范GB/T 11450、3-1989 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规范GB/T 11450、4-1989 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规范GB/T 11450、5-1989 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规范GB/T 11450、6-1989 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规范GB/T 11451-1989 软波导组件性能GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范GB/T 13415-1992 射频混频器总规范GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范GB/T 1360-1978 印制电路网格GB/T 4588、1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 4588、2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件。
电子产品可靠性测试标准
电子产品可靠性测试标准引言在当今科技快速发展的时代，电子产品的可靠性测试变得尤为重要。
可靠性测试是评估产品在规定条件下能够稳定运行的能力。
本文将介绍电子产品可靠性测试的标准和方法。
1. 可靠性测试的定义可靠性测试是通过对电子产品进行一系列测试和分析，评估其在特定环境和使用条件下的可靠性。
这些测试旨在发现潜在的故障点和产品在不同环境和负荷下的表现。
2. 可靠性测试的目标可靠性测试的目标是确保产品能够在正常使用条件下稳定工作，并且具有符合标准的寿命和可靠性指标。
通过可靠性测试，可以提前发现潜在的问题，并采取相应的措施来提高产品的可靠性。
3. 可靠性测试的标准电子产品的可靠性测试通常遵循国际电工委员会（IEC）和国际标准化组织（ISO）的标准。
以下是一些常见的可靠性测试标准：3.1 IEC 60068IEC 60068是电子产品可靠性测试的国际标准。
该标准涵盖了电子产品在不同环境条件下的测试方法，包括温度、湿度、振动、冲击等。
通过遵循IEC 60068标准，可以评估产品在不同环境条件下的可靠性。
3.2 ISO 9000系列ISO 9000系列是质量管理体系的国际标准，其中包括了关于可靠性测试的要求和指南。
ISO 9000系列标准注重质量管理和过程控制，可以帮助企业建立和改进可靠性测试流程。
3.3 MIL-STD-810MIL-STD-810是美国国防部针对军事设备的环境工程测试标准。
虽然主要用于军事设备的可靠性测试，但其中的测试方法和标准对其他电子产品的可靠性测试也有参考价值。
4. 可靠性测试的方法可靠性测试可以使用多种方法来评估产品的可靠性。
以下是一些常见的可靠性测试方法：4.1 退化测试退化测试是通过模拟产品的正常使用条件，在一定时间内加速产品的老化过程，以评估产品在寿命期内的可靠性。
退化测试可以通过加速老化试验设备来实现，例如使用高温、高湿度等条件。
4.2 随机振动测试随机振动测试是通过将产品暴露在随机振动环境中，以模拟产品在运输过程中可能遇到的振动情况。
电子产品的可靠性试验
:电子产品的可靠性试验评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。
试验目的通常有如下几方面：1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况;2. 生产阶段为监控生产过程提供信息；3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收；4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；5．为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。
ﻫ对于不同的产品,为了达到不同的目的，可以选择不同的可靠性试验方法。
可靠性试验有多种分类方法. １．如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验；３. 若按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验； 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。
ﻫ5．但通常惯用的分类法，是把它归纳为五大类: A. 环境试验B. 寿命试验C.筛选试验D. 现场使用试验E. 鉴定试验ﻫ1．环境试验是考核产品在各种环境（振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。
2. 寿命试验是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。
寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一，它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏)随时间变化规律。
通过寿命试验，可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。
如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理，作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行（批量保证)试验条件等的依据。
如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验，这就是加速寿命试验。
通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。
电子产品可靠性测试
电子产品可靠性测试电子产品在现代社会中扮演着重要的角色，它们的可靠性是用户最为关注的问题之一。
因此，为了确保电子产品的质量和性能，各行业都将可靠性测试作为产品生产和开发过程中的重要环节。
本文将探讨电子产品可靠性测试的相关规范、规程和标准。
一、可靠性测试的概述可靠性测试是指通过一系列的实验和分析，评估电子产品在特定环境条件下的长期稳定性和质量可靠性。
它对产品的设计、制造和材料选择提出了高要求，旨在提高产品的性能和使用寿命，减少故障率，保证产品在各种工作环境下的正常运行。
可靠性测试通常包括以下几个方面的内容：1.环境适应性测试：测试产品在各种温度、湿度、振动、电磁辐射等不同环境条件下的性能表现和稳定性。
2.可靠性指标测试：如寿命测试、故障率测试、平均无故障时间测试等，通过对产品的长期运行和故障统计，评估产品的可靠性水平。
3.可靠性设计评估：对产品的设计方案进行可靠性评估和改进，提前发现潜在的问题，提高产品的可靠性。
二、可靠性测试的规范和标准为了统一可靠性测试的方法和标准，各行业都会制定相应的规范和标准。
以下为常见的一些规范和标准：1.国际电工委员会（IEC）：IEC制定了多项关于电子产品可靠性测试的国际标准，如IEC68、IEC60068等。
2.美国国家标准协会（ANSI）：ANSI制定了多项与电子产品可靠性测试相关的标准，如ANSI/IEEE 344、ANSI/ISA S2.27等。
3.制造业标准化协会（MESA）：MESA致力于制定和推广制造业的技术标准，其制定的MES模型可用于电子产品可靠性测试的信息管理和流程控制。
4.国际可靠性工程师协会（IREA）：IREA制定了一系列可靠性工程师的认证考试标准，包括可靠性测试的理论、方法和实践。
5.电子工业标准化协会（EIA）：EIA制定了多项与电子产品可靠性测试相关的标准和指南，如EIA-364、EIA-409等。
三、可靠性测试的方法和技术为了进行有效的可靠性测试，需要采用一系列科学的方法和先进的技术手段。
电子产品可靠性测试标准
电子产品可靠性测试标准引言现代社会中，电子产品已经渗透到我们生活的方方面面。
从手机、电脑到家电、汽车，电子产品已经成为我们日常生活中不可或缺的一部分。
然而，由于科技的迅猛发展和市场的竞争压力，电子产品的可靠性成为了一个关乎安全和用户体验的重要指标。
因此，本文将探讨电子产品可靠性测试标准，并介绍一些相关的规范和规程。
一、可靠性测试的重要性可靠性是衡量一个产品是否能够持续正常运行的能力。
对于电子产品而言，可靠性测试显得尤为重要。
电子产品中的一点小故障可能会引发重大事故，给用户带来巨大的经济和安全损失。
因此，进行可靠性测试成为了确保电子产品安全性和稳定性的必要步骤。
二、电子产品可靠性测试的内容电子产品可靠性测试包括多个方面，下面将从四个层面来介绍。
1.硬件可靠性测试硬件可靠性测试主要关注电子产品的硬件部分。
包括电路板的可靠性测试、电子元件的寿命测试、机械结构的耐用性测试等。
通过这些测试，可以评估硬件部分的稳定性和耐用程度，从而为电子产品的设计和生产提供参考。
2.软件可靠性测试软件可靠性测试关注的是电子产品的软件系统。
电子产品中的软件系统决定了产品的功能性和稳定性。
软件可靠性测试主要包括完整性测试、稳定性测试、异常情况下的响应测试等。
通过软件可靠性测试，可以有效减少软件系统的崩溃和异常情况，提高产品的可靠性。
3.环境可靠性测试环境可靠性测试是指在各种环境条件下对电子产品进行测试。
因为电子产品可能会在不同的环境中使用，如高温、低温、高湿度、振动等。
环境可靠性测试主要包括温度循环测试、振动测试等。
通过环境可靠性测试，可以评估电子产品在各种极端环境下的可靠程度。
4.可靠性生存性测试可靠性生存性测试是指电子产品在正常使用条件下的寿命测试。
通过模拟电子产品在使用过程中的应力与应变，测试其在使用寿命内是否能够正常运行。
可靠性生存性测试主要包括加速寿命测试、可靠性增长测试等。
通过这些测试，可以评估电子产品的使用寿命，并为产品的改进提供依据。
电子产品 可靠性 标准
电子产品可靠性标准电子产品可靠性标准。
电子产品在现代社会中扮演着越来越重要的角色，如手机、电脑、平板等已经成为人们生活中不可或缺的一部分。
然而，随着电子产品的普及和应用，消费者对于电子产品的可靠性要求也越来越高。
因此，制定和遵守电子产品可靠性标准显得尤为重要。
首先，电子产品的可靠性标准应包括产品的设计、制造、测试和运行等方方面面。
在产品设计阶段，应该充分考虑产品的使用环境、寿命预期、功能要求等因素，以确保产品在各种条件下都能正常工作。
在制造过程中，应严格执行标准化的生产流程和质量控制措施，确保产品的质量稳定性。
在产品测试阶段，应该进行全面的可靠性测试，包括环境适应性测试、可靠性寿命测试、可靠性维修性测试等，以保证产品在各种情况下都能可靠运行。
在产品运行阶段，应该建立健全的售后服务体系，及时处理产品出现的问题，提高产品的可靠性和用户满意度。
其次，电子产品的可靠性标准还应考虑产品的安全性和环保性。
安全性是产品可靠性的重要组成部分，包括电气安全、防火防爆、辐射防护等方面。
产品应符合国家和行业的相关安全标准，确保用户在使用过程中不会受到安全威胁。
同时，产品的环保性也是电子产品可靠性标准的重要内容，包括材料的环保性、能源的节约性、产品的可回收性等方面。
制定和遵守环保标准，可以减少产品对环境的污染，保护地球资源，为可持续发展做出贡献。
最后，电子产品的可靠性标准还应考虑产品的性能稳定性和持久性。
产品在使用过程中应该保持稳定的性能，不受外界条件的影响。
同时，产品的寿命应该足够长，能够满足用户的长期使用需求。
制定和遵守性能稳定性和持久性标准，可以提高产品的品质和可靠性，增强用户对产品的信任和满意度。
综上所述，电子产品的可靠性标准是保证产品质量和用户体验的重要保障。
制定和遵守电子产品可靠性标准，不仅有利于企业树立良好的品牌形象，还可以提高产品的市场竞争力，为用户提供更加可靠、安全、环保的产品，推动整个行业的健康发展。
电子产品可靠性试验标准
电子产品可靠性试验标准引言：在现代社会中，电子产品已经渗透到各个行业和人们的日常生活中。
为了确保电子产品的可靠性和安全性，制定一套科学合理的可靠性试验标准是非常必要的。
本文将从电子产品可靠性试验的概念、意义、试验方法和标准等方面进行探讨，旨在为各行业提供参考和指导。
一、电子产品可靠性试验的概念与意义在电子产品设计、生产和使用过程中，为了保证其在预定时间内可靠地完成设计目标和用户需求，需要进行各种可靠性试验。
电子产品可靠性试验是通过对产品进行模拟或实际的环境、物理、电子等条件下的测试，以评估产品的可靠性、寿命和稳定性。
电子产品可靠性试验的意义在于：1. 提高产品的可靠性：通过可靠性试验，可以检测和发现产品在不同环境和使用条件下的潜在问题和缺陷，帮助生产厂家改进产品设计和制造过程，提高产品的可靠性水平。
2. 降低产品故障率和维修成本：通过可靠性试验，可以评估产品的故障率和寿命预测，为用户提供可信的使用寿命信息，降低产品的故障率和维修成本，提高用户满意度。
3. 增强用户信心和品牌形象：通过可靠性试验，可以提高产品的质量和可靠性，增强用户对产品的信心，提高品牌形象和市场竞争力。
4. 保障产品安全和可持续发展：通过可靠性试验，可以评估产品在各种极端情况下的安全性和稳定性，保障人身安全和环境保护，促进产品的可持续发展。
二、电子产品可靠性试验的方法电子产品可靠性试验的方法主要包括环境试验、物理试验和电子试验。
1. 环境试验环境试验主要是模拟或实际地对电子产品在各种自然和人为环境条件下的性能和可靠性进行测试，以评估产品在不同环境下的可靠性和稳定性，其中包括但不限于以下试验方法：- 高温试验：模拟电子产品在高温环境下的工作条件和稳定性，检测产品在高温条件下的性能退化和故障概率。
- 低温试验：模拟电子产品在低温环境下的工作条件和稳定性，检测产品在低温条件下的性能退化和故障概率。
- 湿热试验：模拟电子产品在高温高湿环境下的工作条件和稳定性，检测产品在湿热条件下的性能退化和故障概率。
电子产品可靠性测试标准
电子产品可靠性测试标准引言电子产品的可靠性是指产品在设定的使用条件下，能够保持正常运行的能力。
对于用户来说，可靠性是评判一个产品好坏的重要标准之一。
为了保证电子产品的可靠性，制定一套标准的测试方法是必不可少的。
本文将介绍电子产品可靠性测试的标准和相应的测试方法。
1. 电子产品可靠性测试标准概述电子产品可靠性测试标准是指为了评估产品性能和可靠性而制定的一套规范和准则。
这些标准在制定过程中充分考虑了产品的设计、制造、测试等环节，以确保产品能够在正常使用条件下长期、稳定地工作。
1.1 国际标准国际电工委员会（IEC）是制定国际标准的权威机构之一，其发布的标准被广泛应用于电子产品可靠性测试中。
常见的国际标准有：•IEC 60068：环境试验•IEC 60749：半导体器件可靠性试验方法•IEC 61000：电磁兼容性测试1.2 行业标准除了国际标准，各个行业也会针对不同类型的电子产品制定相应的可靠性测试标准。
例如，汽车行业采用了AEC-Q100等标准，电信行业采用了GR-63-CORE等标准。
这些行业标准主要考虑了产品在特定应用环境下的可靠性需求。
2. 电子产品可靠性测试方法为了确保电子产品的可靠性，需要进行一系列的测试。
常见的可靠性测试方法包括：2.1 温度试验温度试验是通过暴露产品于高温和低温环境中，评估产品在极端温度条件下的可靠性表现。
常用的温度试验方法包括：•热老化试验：将产品置于高温环境下，持续一定时间，观察产品的性能变化情况。
•低温试验：将产品置于低温环境下，观察产品的性能变化情况。
•温度循环试验：将产品在高温和低温之间循环变化，观察产品的性能变化情况。
2.2 振动试验振动试验是通过施加不同频率和振幅的振动载荷，评估产品在振动环境下的可靠性表现。
常用的振动试验方法包括：•正弦振动试验：施加单一频率和振幅的正弦振动载荷，观察产品的性能变化情况。
•随机振动试验：施加随机频率和振幅的振动载荷，模拟实际使用环境中的振动情况。
5.可靠性GB标准清单(全)
GB/T 5080.5-1985
设备可靠性试验成功率的验证试验方案
15
GB/T 5080.6-1996
设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验
16
GB/T 5080.7-1986
设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
17
GB/T 5081-1985
电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南
可靠性增长大纲
39
GB/T 15647-1995
稳态可用性验证试验方法
寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计（用于威布尔分布）
5
GB/T 2689.4-1981
寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计（用于威布尔分布）
6
GB/T 3187-1994
可靠性、维修性术语
7
GB/T 4087.3-1985
数据的统计处理和解释—二项分布可靠度单侧置信下限
8
GB/T 4885-1985
正态分布完全样本可靠度单侧置信下限
9
GB/T 4888-1985
故障树名词术语和符号
10
GB/T 5080.1-1986
设备可靠性试验总要求
11
GB/T 5080.2-1986
设备可靠性试验试验周期设计导则
13
GB/T 5080.4-1985
设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)
设备维修性导则第一部分:维修性导言
31
GB/T 9414.2-1988
设备维修性导则第二部分:规范与合同中的维修性要求
32
GB/T 9414.3-1988
设备维修性导则第三部分:维修性大纲
电子产品可靠性试验
电子产品可靠性试验电子产品可靠性试验是指对电子产品在使用过程中出现的各种异常情况进行测试的过程。
这些测试可以涉及电子产品的各个方面，例如电路板、连接器、线路、元器件、外壳以及软件等方面。
这些测试旨在保证产品在各种客户环境下的可靠性和稳定性，以提高产品的质量和客户的满意度。
电子产品可靠性试验有多种，包括合成振动试验、冲击试验、温度循环试验、高温寿命试验、低温寿命试验、湿热寿命试验、脉冲压力试验、电场强度试验、辐射强度试验等。
这些试验可以单独进行也可以组合进行，以确定产品是否符合各种标准和规范。
合成振动试验是指对电子产品在振动情况下进行测试。
这种测试可以模拟产品在使用过程中的震动和颠簸情况，以确定产品是否能够承受各种应力。
冲击试验是指对电子产品在受到冲击情况下进行测试。
这种测试可以模拟用户将产品摔在地上或设备在运输中受到的冲击情况。
温度循环试验可以模拟电子产品在各种温度变化情况下的使用情况。
在高温寿命试验中，电子产品通常在高温度下长时间运行以确定其可靠性。
在低温寿命试验中，电子产品在极低温度下进行长时间运行。
在湿热寿命试验中，电子产品在高温高湿度条件下运行，以模拟产品在潮湿或高湿度环境下的使用情况。
脉冲压力试验是指测试电子产品在受到瞬间压力情况时的可靠性。
电场强度试验是测试电子产品是否能够承受电场的强度和脉冲。
辐射强度试验是测试电子产品是否可以承受电磁辐射和脉冲的强度。
电子产品可靠性试验的主要目的是检测产品是否符合标准和技术要求。
这些测试还可以确定产品的使用寿命、安全性和性能等方面。
此外，通过进行可靠性测试，可以对设计和生产过程进行改进，以提高产品的质量和可靠性。
总之，电子产品可靠性试验对于保障产品质量和客户满意度非常重要。
只有通过各种测试，才能确定电子产品的可靠性和稳定性是否达到各种标准和要求。
电子产品可靠性测试标准
电子产品可靠性测试标准电子产品如今已经成为人们生活中不可或缺的一部分。
然而，由于制造商之间的竞争日益激烈，产品的可靠性愈发成为消费者关注的焦点。
可靠性测试标准因而应运而生，旨在保证电子产品在各种不同环境条件下的性能稳定性和持久性。
一、可靠性测试标准的重要性电子产品的可靠性是指产品能够在一段时间内，经受预定工作环境和使用条件的考验，仍然保持其预期功能和性能的能力。
可靠性测试标准的制定，既可以确保产品具备合格的可靠性水平，又能够减少产品在使用中可能出现的故障和事故风险。
可靠性测试标准的制定需要考虑诸多因素。
首先，不同类型的电子产品面临的环境和使用条件有所不同，因此测试标准需要根据具体产品的特点进行定制。
其次，合理的可靠性测试标准可以帮助制造商评估和优化产品设计和生产过程，提高产品的质量和可靠性。
最后，可靠性测试标准将为消费者提供更多的选择和保障，增加产品的市场竞争力。
二、常见的可靠性测试标准在电子产品领域，有许多常见的可靠性测试标准，以下将列举几个常见的例子。
1. MIL-STD-810：这是一份由美国军方制定的军用设备环境适应性测试标准。
该标准要求产品要能够在各种恶劣的环境条件下工作，例如高温、低温、湿度、震动、冲击等。
许多制造商也将这一标准作为他们的产品可靠性测试的基准。
2. IEC 60068：这是一套国际电工委员会制定的标准，针对电子设备在不同环境条件下的性能进行测试。
其中包括温度、湿度、振动、震动等测试。
这些测试旨在模拟现实世界中可能出现的各种情况，以评估产品在不同条件下的可用性和寿命。
3. JEDEC JESD47：这是由美国电子元器件制造商联合会制定的半导体器件可靠性测试标准。
该标准主要关注半导体器件的适用性和稳定性，包括温度循环测试、湿热测试、可靠性评估等。
这些测试有助于制造商识别和解决潜在的故障机制和产品弱点。
以上只是一小部分常见的可靠性测试标准，实际上还有许多其他的标准。
每个标准都有其独特的测试方法和要求，以适应不同类型和用途的电子产品。
5.可靠性GB标准清单(全)
电子产品可靠性与维修性国家标准(共39项)序号国家标准号1GB/T 1772-1979标准名称电子元器件失效率试验方法2GB/T2689.1-1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则（用于威布尔分布）3GB/T2689.2-1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布）4GB/T2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计（用于威布尔分布）5GB/T2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计（用于威布尔分布）6GB/T 3187-19948GB/T 4885-19859GB/T 4888-1985可靠性、维修性术语正态分布完全样本可靠度单侧置信下限故障树名词术语和符号7GB/T4087.3-1985数据的统计处理和解释—二项分布可靠度单侧置信下限10GB/T5080.1-1986设备可靠性试验总要求11GB/T5080.2-1986设备可靠性试验周期设计导则13GB/T5080.4-1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)14GB/T5080.5-1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案15GB/T5080.6-1996设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验16GB/T5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案17GB/T 5081-198518GB/T 6990-198619GB/T 6991-198620电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南电子元器件可靠性数据表示方法GB/T6992.1-1995可信性管理第1部分:可信性大纲管理指南GB/T19000.4-1995质量管理和质量保证第4部分:可信性大纲管理指南系统和设备研制生产中的可靠性程序21GB/T6992.2-1997可信性管理第2部分:可信性大纲要素和工作项目22GB/T 6993-198623GB/T7288.1-1987设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟24GB/T7288.2-1987设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟25GB/T 7289-198726GB/T 7826-198727GB/T 7827-198728GB/T 7828-198729GB/T 7829-1987可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南系统可靠性分析技术-失效模式和效应分析(FMEA)程序可靠性预计程序可靠性设计评审故障树分析程序30GB/T9414.1-1988设备维修性导则第一部分:xx导言31GB/T9414.2-1988设备维修性导则第二部分:规范与合同中的xx要求32GB/T9414.3-1988设备维修性导则第三部分:xx大纲33GB/T9414.4-1988设备维修性导则第五部分:设计阶段的xx研究34GB/T9414.5-1988设备维修性导则第六部分:xx检验35GB/T9414.6-1988设备维修性导则第七部分:xx数据的收集、分析与表示36GB/T9414.7-2000设备维修性导则第四部分:诊断测试37GB/T9414.8-2001设备维修性导则第九部分:xx评价的统计方法38GB/T 15174-1994可靠性增长大纲39GB/T 15647-1995稳态可用性验证试验方法。
电子产品的可靠性了解家用电器行业中的电子产品可靠性标准和测试方法
电子产品的可靠性了解家用电器行业中的电子产品可靠性标准和测试方法电子产品的可靠性：了解家用电器行业中的电子产品可靠性标准和测试方法在如今高度数字化和智能化的社会中，电子产品已经成为人们生活中不可或缺的一部分。
然而，电子产品的可靠性问题却时常引发用户的关注。
本文将介绍家用电器行业中的电子产品可靠性标准和测试方法，以帮助人们更好地理解和选择电子产品。
第一部分：电子产品可靠性标准家用电器行业中的电子产品可靠性标准是确保产品达到一定质量要求的重要依据。
下面将介绍一些常见的电子产品可靠性标准。
1. ISO标准ISO（国际标准化组织）标准是全球范围内最具权威性和广泛应用的标准之一。
在电子产品领域，ISO 9000系列标准主要涵盖了质量管理体系的要求，其中ISO 9001是最为常见的可靠性标准之一。
通过合格的ISO认证，企业可以证明其产品具有一定的质量水平。
2. IEEE标准IEEE（电气和电子工程师协会）标准主要针对电子设备和通信技术领域，其中包括了电子产品可靠性方面的标准。
例如，IEEE 29119标准规定了软件和系统测试的标准化过程，而IEEE Std 762标准则关注于可靠性测试的设计和实施。
3. GB国家标准GB（国家标准）是中国国家标准化管理委员会发布的具有法律效应的标准。
在家用电器行业中，GB/T 2423是最常用的电子产品环境试验标准，包括了温度、湿度、振动、冲击等方面的测试。
第二部分：电子产品可靠性测试方法除了标准，一些测试方法也是评估电子产品可靠性的重要手段。
以下将介绍一些常见的电子产品可靠性测试方法。
1. 传统可靠性测试传统可靠性测试是指通过实际使用场景下的长时间运行，来评估电子产品的可靠性。
该方法可以检测产品在实际使用过程中是否存在故障，但其测试周期较长，成本较高。
2. 加速寿命测试加速寿命测试是通过将电子产品置于特殊环境中，如高温、高湿等条件下运行，以缩短测试周期，评估产品在较短时间内的可靠性水平。
电子产品可靠性试验规范
电子产品可靠性试验规范1. 引言电子产品的可靠性试验是评估其长期稳定性和性能可持续性的重要方法。
通过进行严格的可靠性试验，可以验证产品是否满足设计要求，提高产品质量和使用寿命。
本文将介绍电子产品可靠性试验的一般规范、规程和标准。
2. 环境适应性试验2.1 温度试验温度试验是电子产品可靠性试验中的重要环节之一。
试验时，应根据产品的设计要求和使用环境，对其进行高温、低温和温循等试验。
试验过程中应注意监测产品的温度变化，确保产品在不同温度下的性能和功能不受影响。
2.2 湿度试验湿度试验是模拟产品在高湿度环境下的使用情况，检验其防潮和防锈性能。
试验中，应控制试验室内的湿度和温度，并对产品进行恒湿、热湿循环等试验。
试验结束后，应对产品进行可靠性评估，确保其性能不受湿度变化的影响。
3. 机械试验3.1 跌落试验电子产品跌落试验是模拟产品在正常使用过程中可能遭受的跌落情况。
试验中，可以使用跌落台对产品进行自由跌落试验，也可以使用模拟器件对产品进行跌落试验。
试验结束后，应对产品进行功能和性能评估，确保其在跌落后仍能正常工作。
3.2 震动试验震动试验可以评估电子产品在运输过程中可能受到的振动影响。
试验中，应根据产品的设计要求和使用环境，对其进行不同频率和幅度的振动试验。
试验后，应对产品进行性能和可靠性评估，确保其在振动环境下能够正常运行。
4. 电磁兼容性试验电磁兼容性试验用于评估电子产品在电磁环境中的抗干扰性和抗辐射能力。
试验中，应根据产品的设计要求和使用环境，对其进行辐射和传导等试验。
试验过程中应注意监测产品的电磁性能和辐射水平，确保产品在电磁环境中的稳定性和可靠性。
5. 可靠性评估与验证可靠性评估与验证是对电子产品进行可靠性试验后的重要环节。
通过对试验结果的分析和评估，可以得出产品的可靠性参数和指标，评估其性能和寿命。
同时，还应对产品进行可靠性验证，确认产品满足设计要求和使用需求。
6. 结论电子产品可靠性试验的规范、规程和标准对于提高产品质量和使用寿命具有重要意义。
可靠性试验标准目录
可靠性试验标准目录一、能实施的环境试验项目1.气候环境试验(GB2423，GJB150，GB4208，RTCA/Do 160E,Mil-Std-810F)1.1温度试验：高温试验、低温试验、温度变化、温度冲击(热冲击、温度骤变)、温度循环(温度渐变)试验等；1.2湿度试验：防潮试验(湿度试验、恒定湿热、交变湿热)；1.3腐蚀试验：盐雾试验：中性盐雾试验NSS/铜盐加速乙酸盐雾试验CASS/铜盐加速醋酸盐雾试验CASS试验/铜加速醋酸盐雾试验CASS/酸性盐雾试验/醋酸盐雾试验ASS、霉菌试验(防霉试验、长霉试验)、大气腐蚀试验(气体腐蚀试验)：二氧化硫气体腐蚀试验(SO2)、硫化氢气体腐蚀试验(H2S)、丝状腐蚀试验/循环腐蚀试验；1.4其它：防尘防水(IP防护等级、IP等级、IP代码、外壳防护等级)、沙尘试验(扬尘试验、防尘试验)、浸水试验(防水试验)、淋雨试验、砂尘试验、冻雨试验、老化试验、低气压试验(低压试验、高度试验、高空试验、快速减压试验、快速气压变化)、爆炸性减压(快速减压、迅速减压)、高气压试验(过压试验、正压试验)、太阳辐照(太阳辐射、阳光辐射、日照试验、日照辐射、人工加速光老化试验、氙灯光老化试验)、风压试验(风载荷)、热真空试验、爆炸性大气、噪声试验等。
2.机械环境试验(动力学环境试验)(GB2423，GJB150，RTCA/Do160E,Mil-Std-810F)2.1振动试验：正弦振动、随机振动、复合振动、扫描振动、定频振动、飞机炮振试验(炮击振动试验)；2.2其它：冲击试验(高g值冲击如30000g、舰船冲击试验)、地震试验(地震模拟试验)、碰撞试验、跌落试验、包装运输、拉伸试验、倾斜摇摆、离心试验(恒定加速度试验)、颠振试验等。
3.综合环境试验(GB2423，GJB150,Mil-Std-810F)3.1温度高度试验、温度湿度高度试验、湿度高度试验、低温低气压试验；3.2温度湿度试验、温度湿度振动试验、温度振动试验；3.3振动噪声试验(声振联合试验、振声试验)【可靠性试验】：可靠性实验室(可靠性试验室) 老练试验(老炼试验)、环境应力筛选试验、可靠性增长试验、可靠性验收试验可靠性鉴定试验(特定环境下的产品平均无故障时间MTBF)、寿命试验、耐久性试验可靠性强化试验、高加速寿命试验HALT、高加速环境应力筛选试验HASS 综合应力试验：两综合试验(振动－温度、温度－湿度、振动-湿度)、三综合试验(振动－温度－湿度)、四综合试验(低气压－振动－温度－湿度、噪声－振动－温度－湿度) 可靠性试验策划、大纲制定、试验方案设计系统可靠性分析与试验结果综合评估产品可靠性故障分析与诊断产品贮存可靠性分析【包装运输试验】包装试验(GB/T4857，GB6543，GB6544，QB/T1649)：碰撞、跌落、倾斜、翻倒等。
电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120。
1-1994 识别卡记录技术第1部分：凸印GB/T 14598.2—1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482—1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839—1986 电子管和半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259—1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636—1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689。
1—1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689。
2—1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 2689。
4—1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080。
2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T 5080。
5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080.6—1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080.7—1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081—1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件（或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991—1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993—1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288。
中国可靠性国家标准目录
GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号GB/T 5329-1985 试验筛选与筛分试验术语GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987 系统可靠性分析技术可靠性预计程序GB/T 7828-1987 系统可靠性分析技术可靠性设计评审GB/T 7829-1987 系统可靠性分析技术故障树分析程序GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲GB/T 10593.1-1989 电工电子产品环境参数测量方法振动GB/T 10593.2-1990 电工电子产品环境参数测量方法盐雾GB/T 10593.3-1990 电工电子产品环境参数测量方法振动数据处理和归纳GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T 2423.6-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Eb和导则：碰撞GB/T 2423.7-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品）GB/T 2423.8-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ed：自由跌落GB/T 2423.9-1995 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb：设备用恒定湿热试验方法GB/T 2423.10-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fc和导则：振动(正弦)GB/T 2423.11-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fd：宽频带随机振动一般要求GB/T 2423.12-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fda：宽频带随机振动高再现性GB/T 2423.13-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fdb：宽频带随机振动中再现性GB/T 2423.14-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fdc：宽频带随机振动低再现性GB/T 2423.15-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ga和导则：稳态加速度GB/T 2423.16-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验J和导则：长霉试验方法GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka：盐雾试验方法GB/T 2423.18-2000 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc：接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB/T 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd：接触点和连接件的硫化氢试验方法GB/T 2423.21-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GB/T 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB/T 2423.23-1995 电工电子产品基本环境试验试验Q：密封GB/T 2423.24-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热综合试验方法GB/T 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T：锡焊试验方法GB/T 2423.29-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验U：引出端及整体安装强度GB/T 2423.30-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Xa和导则：在清洗剂中浸渍GB/T 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB/T 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB/T 2423.33-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca：高浓度二氧化硫试验方法GB/T 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD：温度/湿度组合试验方法GB/T 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BFc：散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验L：砂尘试验方法GB/T 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R：水试验方法GB/T 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法GB/T 2423.40-1997电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T 2423.42-1995 电工电子产品基本环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T 2423.43-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法元件、设备和其他产品在冲击（Ea）、碰撞（Eb）、振动（Fc和Fb）和稳态加速度（Ca）等动力学试验中的安装要求和导则GB/T 2423.44-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Eg：撞击弹簧锤GB/T 2423.45-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T 2423.46-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T 2423.47-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fg：声振GB/T 2423.48-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ff：振动-时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Fe：振动-正弦拍频法GB/T 2423.50-1999 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.51-2000 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验GB/T 2424.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则GB/T 2424.2-1993 电工电子产品基本环境试验规程湿热试验导则GB/T 2424.10-1993 电工电子产品基本环境试验规程大气腐蚀加速试验的通用导则GB/T 2424.11-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的二氧化硫试验导则GB/T 2424.12-1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的硫化氢试验导则GB/T 2424.13-1981 电工电子产品基本环境试验规程温度变化试验导则GB/T 2424.14-1995 电工电子产品基本环境试验第2部分试验方法太阳辐射试验导则GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验第2部分温度/低气压综合试验导则GB/T 2424.17-1995 电工电子产品基本环境试验锡焊试验导则GB/T 2424.19-1984 电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响的环境试验导则GB/T 2424.20-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验导则GB/T 2424.21-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验导则GB/T 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温/高温）和振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.23-1990 电工电子产品基本环境试验规程水试验导则GB/T 2424.24-1995 电工电子产品基本环境试验规程温度（低温/高温）/低气压/振动（正弦）综合试验导则GB/T 2424.25-2000 电工电子产品环境试验第3部分试验导则地震试验方法GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备GB/T 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦)试验用机械振动台GB/T 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦)试验用电动振动台GB/T 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动(正弦)试验用液压振动台GB/T 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机GB/T 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB/T 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/湿度组合循环试验设备GB/T 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/振动(正弦)综合试验设备GB/T 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备GB/T 5169.1~GB/T 5169.31 电工电子产品着火危险试验（系列标准）。
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电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120.1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印GB/T 14598.2-1993 电气继电器有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室便携设备粗模拟GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则第二部分: 规与合同中的维修性要求GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值和测量方法GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量和允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用和类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频和脉冲设备安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095.1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则GB/T 5095.2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095.3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验GB/T 5095.4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验GB/T 5095.5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定荷试验GB/T 5095.8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095.9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器和电阻器名词术语GB/T 11250.1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法GB/T 11250.2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250.3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法GB/T 11250.4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规GB/* 4875.1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规GB/* 4875.2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规GB/* 4875.3-1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规GB/* 4875.4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规GB/* 4875.5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 5971-1986 电子元器件详细规CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规固体和非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证用GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用)GB/* 6348-1986电子元器件详细规CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987 电子元器件详细规CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规固定电解质和多孔阳极钽电容器评定水平E(可供GB/* 7215-1987 电子元器件详细规CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7.5/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规多层片状瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 空白详细规: 多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9607-1988 电子元器件详细规CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器第13部分: 分规: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规: 3 类瓷介电容器(可供认证用)GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规阻值和功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规阻值和功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用)GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 10196-1988电子元器件详细规浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子和通信设备用变压器和电感器测试方法和试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器和变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信和电子设备用变压器和电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器和电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 3389.1-1982 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语GB/T 3389.2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 3389.3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试GB/T 3389.4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 3389.6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式GB/T 3389.7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试GB/T 3389.8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器和变压器磁芯第一部分: 总规(可供认证用)GB/T 9624-1988 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 分规电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9625-1988通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 空白详细规电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 分规宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)GB/T 9627-1988通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 空白详细规宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A和B GB/T 9628-1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 分规电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用) GB/T 9629-1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 空白详细规电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯评定水GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸GB/* 9631-1988 电子元器件详细规UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规的指南GB/T 9635-1988 天线棒测量方法GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒和扁天线棒GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规(可供认证用)GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规评定水平A (可供认证用) GB/* 11439-1989 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 性能规起草导则GB/* 11440-1989 微波铁氧体规起草导则GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规(可供认证用)GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规(可供认证用)GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 8553-1987 晶体盒总规GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规(可供认证用)GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规(可供认证用)GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规(可供认证用)GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规低频压电陶瓷谐振器GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规(可供认证用)GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规(可供认证用)GB/* 5819.1-1986 音响设备用圆形连接器详细规YS1 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819.2-1986 音响设备用圆形连接器详细规YS2 型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819.3-1986 音响设备用圆形连接器详细规YC型圆形连接器(可供认证用)GB/* 5819.4-1986 音响设备用圆形连接器详细规YL型圆形连接器(可供认证用)GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规GB/* 9021.1-1988 SL10型视频连接器GB/* 9021.2-1988 SL12型视频连接器GB/* 9021.3-1988 SL16型视频连接器GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则和制订详细规的导则GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规GB/* 9539-1988 电子元器件详细规DC2型带状电缆连接器GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器GB/* 11317-1989 绕接技术GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验和测试程序屏蔽效率GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规GB/* 11492-1989 FD08 FD12和FD15型间隙放电器技术条件GB/* 11280-1989电子元器件详细规有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南GB/T 11449.1-1989 波导法兰盘第一部分: 一般要求GB/T 11449.2-1989 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规GB/T 11449.3-1989 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规GB/T 11449.4-1989 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规GB/T 11449.5-1989 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规GB/T 11449.6-1989 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规GB/T 11450.1-1989 空心金属波导第一部分: 一般要求和测量方法GB/T 11450.2-1989 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规GB/T 11450.3-1989 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规GB/T 11450.4-1989 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规GB/T 11450.5-1989 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规GB/T 11450.6-1989 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规GB/T 11451-1989 软波导组件性能GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规GB/T 13415-1992 射频混频器总规GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规GB/T 1360-1978 印制电路网格GB/T 4588.1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 4588.2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件GB/T 4588.3-1988 印制电路板设计和使用GB/T 4588.4-1988 多层印制板技术条件GB/T 4677.1-1984 印制板表层绝缘电阻测试方法GB/T 4677.3-1984 印制板拉脱强度测试方法GB/T 4677.4-1984 印制板抗剥强度测试方法GB/T 4677.5-1984 印制板翘曲度测试方法GB/T 4677.6-1984 金属和氧化覆盖层厚度测试方法截面金相法GB/T 4677.7-1984 印制板镀层附着力试验方法胶带法GB/T 4677.8-1984 印制板镀涂覆层厚度测试方法反向散射法GB/T 4677.9-1984 印制板镀层孔隙率电图象测试方法GB/T 4677.10-1984 印制板可焊性测试方法GB/T 4677.11-1984 印制板耐热冲击试验方法GB/T 4677.12-1988 印制板互连电阻测试方法GB/T 4677.13-1988 印制板金属化孔电阻的变化热循环测试方法GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法GB/T 4677.15-1988 印制板绝缘涂层耐溶剂和耐焊剂试验方法GB/T 4677.16-1988 印制板一般检验方法GB/T 4677.17-1988 多层印制板层绝缘电阻测试方法。