CPK-培训教材详细讲解
《CPK基础知识》课件
控制图
通过绘制过程数据的控制图， 我们可以监控过程的稳定性 和识别特殊因素。
散点图
通过散点图分析，我们可以 了解不同因素之间的相互关 系和对过程的影响。
解释 过程不稳定，无法满足规格要求 过程稍显稳定，存在一些不合格品 过程稳定，有一定合格率 过程良好，质量较高 过程优秀，质量极高
数据的采集和整理
为了计算CPK值，我们需要收集过程的数据并进行整理。数据的采集应该遵循科学的方法，确保数据的 准确性和完整性。
数据的分析方法
直方图
通过绘制过程数据的直方图， 我们可以了解数据的分布情 况和过程的稳定性。
CPK基础知识
掌握CPK的基础知识对于质量管理至关重要。本课程将深入介绍CPK的意义、 计算公式、数据分析方法以及实际应用案例。
什么是CPK？
CPK是一个用于度量过程能力的指标，表示过程的稳定性和一致性。它可以帮助我们确定一个过程是否 能够稳定地生产出合格产品。
CPK的意义和作用
1 质量保证
CPK可以帮助我们确保产品的质量符合标准，提升客户满意度。
2 过程改进
通过分析CPK值，我们可以找出导致过程不稳定的因素并进行改进，提高生产效率。
3 竞争优势
具备高CPK值的企业往往能够提供更稳定可靠的产品，从而在市场中获得竞争优势。
CPK与质量管理的关系
总质量管理
CPK是质量管理体系中的重要 工具，帮助我们实现产品质量 的持续改进。
过程改进
CPK可以用来评估过程的稳定 性和一致性，从而指导问题的 解决和持续改进Байду номын сангаас作。
客户满意度
通过提高CPK值，可以减少产 品质量问题和客户投诉，提升 客户满意度。
CPK的计算公式及含义
CPK-培训教材
CPK 培训教材一.Cpk 的定义某一制程在一定因素与正常管制状态下的质量作业能力. 二.Cpk 的影响因素制程要因---原料,机器设备,人员能力,测量仪器. 制程条件---常态分配,统计管制状态. 三.Cpk 的计算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:测量数据的平均值σ:标准偏差,其公式为: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)σ:其大小表示测量数据的离散程度, σ越小表示数据的离散程度越小,反之则数据的离散程度越大.Cpu:其值表示测量数据偏离上限的程度, Cpu 越大表示测量数据偏离上限较远; 反之则数据靠近上限.Cpl: 其值表示测量数据偏离下限的程度, Cpl 越大表示测量数据偏离下限较远; 反之则数据靠近下限. 四.Cpk 的等级 A: 1.33≦CpkA 级,制程能力满足图纸要求,生产中几乎没有不良品产生. B: 1.00≦Cpk<1.33B 级, 制程能力基本满足图纸要求,生产中约有0.27%不良品产生,必须加以注意,并设法维持不使其变坏.C: Cpk<1.00C级, 制程能力不能满足图纸要求, 生产中可能有较多不良品产生, 应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产.五.Cpk 管制抽样的基本原则管制方法取样频率管制图查检表高 1--2小时 15--30分钟中 4--8小时每小时低每班次 2小时六.CPK数据分析.1.数据均分布于中值两旁, Cpk值一般大于1.33,见附图１.2.数据离散地分布中值两旁,Cpk值一般小于1.33,见附图２.3.数据分布离散度小,但偏中值不远,Cpk值大于1.33,见附图３.4.数据分布离散度小,但偏中值较远,Cpk值小于1.33. 见附图４.5.数据绝大多数虽均分布于中值两旁,但个别超差,将大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,见附图５.七,Cpk的提高.1.减小σ,即增强设备的稳定性,增加夹具夹紧定位的可靠性,提高刀具切削的稳定性2.精心调整,使数据均布于中值两旁.3.加强监控,当数据偏离中值较远时,要及时调机,不必等到超差时再调机.八.CP制程精确度.CP=Ｔ/6σ.T:尺寸公差值CP:其值表示制程的精确程度, CP 越大制程精确程度越高,反之则制程精确程度越低. CP 的分级: A : 1.33≦CP B : 1.00≦CP<1.33 C : 0.83≦CP<1.00 D : CP<0.83 CP 等级的处置Ａ级:此一工程甚为稳定,可以将规格容许差缩小或胜任更精密的工作.Ｂ级:有发生不良品之危险,必须加以注意,并设法维持不要使其变坏及迅速追查. Ｃ级:检讨规格及作业标准,可能本工程不能胜任这么精密的工作. Ｄ级:应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产.九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的关系当数据对称分布于中值两边时,良品率的分布如下:制程精密度(CP 值)与不良率的关系如下:-４δ -３δ -２δ -１δ ０ +１δ +２ +３ +４ +５ +６ -５δ -６δ ０68.26%95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%十. C P与制程能力的判断。
CPK-培训教材详细讲解
CPK 培訓教材一。
Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力。
二.Cpk 的影響因素製程要因-——原料，机器設備，人員能力，測量儀器。
製程條件-—-常態分配,統計管制狀態. 三。
Cpk 的計算 USL ：上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:測量數据的平均值σ：標準差，其公式為： σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL —Average ）/3σ Cpl=(Average —LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu ，Cpl ）σ：其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小，反之則數据的離散程度越大.Cpu ：其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu 越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限.Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度， Cpl 越大表示測量數据偏離下限較遠； 反之則數据靠近下限。
四。
Cpk 的等級 A: 1。
33≦CpkA 級,製程能力滿足圖紙要求，生產中几乎沒有不良品產生。
B： 1.00≦Cpk<1。
33B級, 製程能力基本滿足圖紙要求，生產中約有0.27％不良品產生，必須加以注意，並設法維持不使其變坏。
C: Cpk<1.00C級, 製程能力不能滿足圖紙要求，生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素，必要時得停止生產。
五。
Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1-—2小時 15——30分鐘中 4--8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖１。
2.數据离散地分布中值兩旁，Cpk值一般小于1.33,見附圖２。
3。
數据分布离散度小，但偏中值不遠，Cpk值大于1。
33,見附圖３.4。
數据分布离散度小,但偏中值較遠，Cpk值小于1。
33。
見附圖４.5。
數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差，將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1。
《CPK培训讲义》课件
通过一个详细的计算示例，了解如何使用正态分布法和Box-Cox变换法计算CPK指 数。
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实例2：使用Excel进行CPK计算
教您如何使用Excel中的CPK公式，进行快捷方便地CPK计算。
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实例3：应用机器学习进行CPK预测
让您了解机器学习CPK预测的基本概念和实现流程，为您的工作提供更多思路和 创新点。
服务业中的CPK应用
在服务业领域，CPK指数协助我 们检验服务过程中的质量，提高 服务效率和满意度，降低客户投 诉率。
医疗行业中的CPK应用
在医疗行业，CPK可以帮助我们 确定患者治疗质量是否符合标准， 从而改善治疗质量，提高医疗保 障水平。
第三章：CPK计算实例
1
实例1：CPK计算方法的详细步骤
第五章：结语
CPK的未来发展趋势
CPK正在逐渐实现数字化，向着 更加精确和智能化发展。
CPK的应用前景
CPK可以在各行各业中得到应用， 将持续引领质量体系的发展。
如何进一步学习和研 究CPK
定期参加培训和研讨会，加强 理论知识和实践经验的积累， 不断提升专业能力。
《CPK培训讲义》PPT课 件
本课件将带您深入了解CPK的各个方面，包括计算方法、应用场景、常见错误 和注意事项等。无论您是从事制造业、服务业还是医疗行业，都会受益于这 次学习。让我们来开始吧！
第一章：CPK介绍
什么是CPK
CPK是一种用于评估过程稳定性和能力的统计工具。它可以指导我们如何改进生产流程、降 低不合格率并提高产品质量。
第四章：CPK常见错误和注意事项
1 常见误区
CPK计算容易把经验误判 为合格过程，还容易将实 际合格错误判为不合格。
2 注意事项
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Cpk = (1 – | Ca | ) Cp
x u Ca =
T /2
规格容许差 Cp = 或
3σ
规格公差T 6σ
单边规格:
单边规格时，CP值即为CPK值， 有精密度无准确度.
如耐磨规格>1250cycles.(下限规格)
单边规格时(上限规格)
Cpk(U) =
USL X
3
单边规格时(下限规格)
Cpk(L) =
三、Ca值:制程准确度
Ca值:制程准确度:各工程之规格 中心值的目的就是希望各工程制造 出来的各个产品之实际值,能以规格 中心为中心,成左右对称的常态分配, 而制造时,也应以规格中心值为目标, 从而生产过程中所获得的资料,其实 际平均值(X)与规格中心值(u)之间偏 差的程度,称为制程准确度.
Ca：衡量制程平均值与目标值之一致性，或称K
Cpk等级判定后的处置原则—
A级: 制程能力非常良好,应继续保持。当Cpk>2.0时,我们 可考虑缩小 规格,以提升更高质量的形象或是寻求其他可以降 低成本的方法。
CPK培训教材讲课文档
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常態分佈
X值在μ+kσ與μ-kσ之間之或然率
(Probability)或稱機率如右圖.以圖中斜線
部分表示,其公式為:
σ
群體 平均值=μ 標準差= σ
圖1
μ -kσ μ μ+kσ
x 圖2
第13页，共34页。
群體(製程)與樣本間之關係
X n
x 樣本平均值之分佈
群體平均值之分佈
μ
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Accuracy & Precision
第15页，共34页。
Ca (制程準確度 Capability of accuracy)
從生產過程中所獲得的資料其實
際 之平間均偏值差(的)程與度規X格中心值(µ)
T
x- u
Ca
Ca
實績中心 規格中心 規格容許差
CpK值愈大,品性愈佳.依CpK值
大小分為五級
CpK (1Ca)Cp
等級
B. 單邊規格
A+
時:
A
CpK值 1.67 ≦ CpK 1.33 ≦ CpK<1.67
CpK M i(S nU 3 ˆX),(X3 ˆSL)
B C
D
1.00 ≦ CpK<1.33
0.67 ≦ CpK<1.00 CpK<0.67
（存在特殊原因）
受控 （消除了特殊原因） 时间
第8页，共34页。
如果仅存在变差的普通原因， 随着时间的推移，过程的输 出形成一个稳定的分布并可 预测。
范围
如果存在变差的特殊 原因，随着时间的推 移，过程的输出不 稳定。
CPK-培训课程
总体指南
PPK的概念 Performance Index of Process，初始过程能力指数。
➢ PPAP中提交的是PPK，而非CPK ➢ 在过程尚未稳定时，使用PPK，数值需>1.67 ➢ 对于小批试生产的评价，至少连续取样30pcs ➢ 当过程稳定，有超过100组数据以绘制控制图时，使用CPK，数值需>1.33 ➢ 批量生产中，保证与试生产有同样的控制能力，至少间隔抽样25pcs ➢ CPK需要借助PPK的控制图/控制界限，来执行量产中的控制 ➢ 如果二者相差很大，说明特殊原因造成异常波动较大
➢ 对于双边规格，
实际平均值-规格中心值
即
规格公差/2
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总体指南
CPK/Cp/Ca 的关系
代
号
定义
计算公式
等
双边规格
单边规格
级
制程准确度：
A
Ca
在衡量“实际平均值“ 与“规格中心值”之一
Ca X C T/2
无
B C
致性
D
制程精密度:
Cp
Cp衡量的是“规格公 差宽度”与“制程变异
宽度”之比例
Cp USL LSL 6
➢ Ca，制程准确度， Capability of Accuracy， 衡量实际平均值与规格中心值的一致性。
➢ CPK 就是Cp+Ca的综合表现。
Ca好 Cp差
Ca差 Cp好
Ca好 Cp好
6
总体指南
CPK的精密度 ➢ Cp ，制程精密度， Capability of Precision ➢ 表示数据之间的离散趋势，衡量制程变异范围和规格公差范围的比例。 ➢ Cp值越大，规格公差T大于估计实际标准差σ越多，代表了制程变异范围越小 于规格公差范围。 ➢ 对于只有规格上限和中心的规格：
CPK知识培训教材
1.37 1.42 1.42 1.44 1.36 1.38 1.31 1.38 1.46 1.41
1.4 1.42 1.3 1.45 1.48 1.43 1.41 1.35 1.36 1.41
1.32 1.45 1.34 1.32 1.4 1.41 1.44 1.42 1.37 1.44
1.42 1.35 1.42 1.48 1.39 1.48 1.44 1.43 1.27 1.48
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五.CPK的分析与改进
影响因素： 5M1E (1)人——与工序直接有关的操作人员、辅助人员的质 量意识和操作技术水平； (2)机——包括设备的精度、工装的精度及其合理性、 刀具参数的合理性等； (3)料——包括原材料、半成品、外协件的质量及其 适用性； (4)法——包括工艺方法及规范、操作规程的合理性； (5)环——生产环境及劳动条件的适应性。 (6)测——测量方法及测量精度的适应性；
应的是位置关系（集中趋势） 标准公式：
Ca= 实际平均值 - 规格中心值 = 2(X-μ)/T
（规格公差）/2
规格公差 = T = 规格上限 - 规格下限 = USL-LSL 规格中心值 = u =(规格上限 ＋ 规格下限)/2=（USL+LSL）/2 单边规格因沒有规格中心值故不能算Ca
当Ca ＝ 0 时，代表量测制程之实绩平均值与规格中心值 相同，无偏移；
1.36 1.41 1.44 1.37 1.39 1.36 1.37 1.35 1.42 1.42
1.49 1.36 1.42 1.34 1.46 1.45 1.37 1.36 1.4 1.34
1.43 1.4 1.39 1.37 1.39 1.5 1.39 1.39 1.41 1.43
1.41 1.34 1.42 1.37 1.53 1.43 1.45 1.4 1.37 1.42
CPk 培训
制程能力评价二.制程精密度Cp
Cp精密度(capability of precision)
各工程规格上下限之设定目的乃是希望制造出来之各个产品之品质水准都 能在规格上下限之许容范围内 ,从制造过程中全数抽样或随机抽样 ( 一般样本 n须在 30个以上)所计算出来之样本标准差(σx)再乘以( 1/(n-1))1/2以推定
判断原则
提高工装的精度. (5) Cpk ＜0.67的处置
立即停止工序生产,分析Cpk不足的原因,通过PDCA循环,制定改
进措施. 立即全检,剔除不合格.
The End
Thanks!
m= £
Ô ¡
n
U ( Xi - X )2 1/(n-1) £
i=1
实绩体之标准差(√σ)用3σ与规格许容差比较或是以6σ与规格公差比较. 许容差/3σ=规格公差/6σ
Cp=规格
从Cp值可知若T>6σ时若大得愈多Cp值也愈大，也就是说在这种生产条件 (人 机械 材料 管理等)，本制程非常适合于生产此种精密度之产品。反之若T<6σ时 则Cp值也愈小,说明了此制程在目前此种状态下,不能适应此种精密度之产,Cp与Ca 之不同点是Ca值愈小愈好 Cp则是愈大愈好
实例
下面以C尺寸(6.50± 0.05)为例计算Cpk. ΣX i2=1272.5765 n(X) 2 = 1272.5750 Cp=T / 6σ=(TU-TL) / 6σ =2.4 K=ε/ T= 2 × ∣Tm - X ∣/ T =0.26
¡ï
m= £
¡Ô
£ Xi2 - n ( X )2] =0.07022 1/(n-1) [U
∴ Cpk= (1-K)Cp = 1.8
以此类推:
尺寸A (17.10± 0.1)的Cp为2.8; Cpk为2.4. 尺寸B(12.50± 0.1)的Cp为3.5; Cpk为2.3.
Cpk过程能力分析 ---培训教案
“提高过程能力 ”的方法
C.减少工序加工的中心偏移量的措施如下： 减少工序加工的中心偏移量的措施如下： 减少工序加工的中心偏移量的措施如下
工序能力指數与优率統計表
CPK 0.73 0.74 0.75 0.76 0.77 0.78 0.79 0.80 0.81 0.82 0.83 0.84 0.85 0.86 0.87 0.88 YIELD(%) 98.61% 98.93% 98.93% 98.93% 99.18% 99.18% 99.18% 99.18% 99.39% 99.39% 99.39% 99.53% 99.53% 99.53% 99.65% 99.65% CPK 0.89 0.90 0.91 0.92 0.93 0.94 0.95 0.96 0.97 0.98 0.99 1.00 1.01 1.02 1.03 1.04 YIELD(%) 99.65% 99.65% 99.74% 99.74% 99.74% 99.81% 99.81% 99.81% 99.81% 99.87% 99.87% 99.87% 99.90% 99.90% 99.90% 99.93% CPK 1.05 1.06 1.07 1.08 1.09 1.10 1.11 1.12 1.13 >1.14 >1.15 >1.16 >1.17 >1.18 >1.19 >1.2 YIELD(%) 99.93% 99.93% 99.95% 99.95% 99.95% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97% 99.97%
1、一般原因（Common Causes)，(85%)
在制程中的自然或天 生的变异，通常这些变异是由一些 小干扰造成，不容易控制，即使再好的制造，我们必须承 认，必定有此等变异存在，所以我们认定当制程只有一般 原因时，仍属管制状态。
CPK培训资料
关键参数监控
重点监控影响产品质量和过程能力 的关键参数，如设备精度、原材料 质量、工艺参数等。
实时监测与记录
采用实时监测技术，对生产过程中 的各项数据进行实时采集、记录和 分析，确保数据的准确性和完整性 。
CPK持续改进
01
02
03
识别改进机会
通过对CPK数据的分析， 识别生产过程中存在的问 题和改进机会，制定相应 的改进措施。
通过改进生产过程，降低产品 不合格率，提高产品质量。
优化生产流程
识别生产过程中的瓶颈和问题 ，优化流程，提高生产效率。
降低成本
通过减少浪费和优化资源利用 ，降低生产成本。
提高员工技能
培训员工掌握CPK分析方法， 提高员工解决问题的能力。
CPK改进方法
CPK数据分析
收集生产过程中的数据，进行CPK计算和分 析，识别问题点。
CPK培训资料
汇报人： 2023-12-23
目录
• CPK基础介绍 • CPK分析 • CPK改进 • CPK监控与持续改进 • 总结与展望
01
CPK基础介绍
CPK定义
CPK定义
CPK是过程能力指数，用于评估生产过程中产品质量的一致性和波动性。它反 映了生产过程中产品质量满足规格要求的程度。
CPK计算方法
Excel
使用Excel的统计函数和 图表功能进行CPK计算
和可视化展示。
Minitab
专业的统计软件，可以 进行CPK计算、绘图和
数据分析。
JMP
用于统计分析、数据可 视化和过程控制的软件
。
其他定制工具
根据特定行业和企业的 需求，可以开发定制的
CPK分析工具。
CPK培训教材
σ=Rs/1.128
当n=2时，d2=1.128； 当n=3时，d2=1.693； x-R控制图计算标准差案例
当n=4时，d2=2.059；
当n=5时，d2=2.326；
内部资料 2014-3-25
x-Rs控制图计算标准差案例
5
一 过程能力研究概念
4、过程总变差：由普通原因和特殊原因所产生的变 差，用长期过程标准差表示，可用所有样本的标准
内部资料 2014-3-25 3
一 过程能力研究概念
２、变差：变异的程度，用标准差σ表示。
３、过程固有变差：仅由普通原因产生的那部分过
程变差，用短期过程标准差表示，可从控制图上通
过Ｒ/d2来估计。
内部资料
2014-3-25
4
一 过程能力研究概念
控制图类型 x-R图 x-Rs图
过程标准差σ
其中：
σ=Ｒ/d2
能满足顾客要求，经顾客批准可 开始生产，并按控制计划进行
1.33≤ CP ≤ 1.67(计量) 可被接受，但顾客可能会要求改 233≤ PPM ≤577 （记数） 进，批量前无改进应更改控制计 划
CP ＜1.33(计量) PPM ＞ 577（记数）
不能接受，与顾客代表取得联 系，对结果进行评审
内部资料
要求程度的量值。指过程结果满足要求的程度。
◆计算过程能力指数时在过程质量特性值服从正态分
布，过程受控状态下进行的。
◆当测数据≥50时，可近似用样本均值x代替总体均
值μ，用样本标准差s代替总体标准差σ。
内部资料 2014-3-25 9
一 过程能力研究概念
T Cp 6
过程能力是指品质上所能达到的程度 生产能力是指数量上所能达到的程度
CPK培训教材(6sigma基础知识培训)
製程能力靶心圖
. . . . .
.
. ..
... .
Cp好﹐Ca差
. . ... . . . .
Cpk好﹔
Ca好﹐Cp差
如何通过CPK看制程能力
了解了CPK的涵义和计算公式，那么我们在生产过程中，多大的CPK是 好的，怎样的CPK是需改善，一般来说，下面的表格可作为参考：
10.016 10.004 10.006 9.991 9.984 9.976 10.003 10.003 9.982 9.994
CP/CA/CPK应用举例2
X=10.036;
=0.027;
Ca=(X-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36; Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239;
CP/CA/CPK应用举例1
某物件產品規格為18+-0.5m/m.抽測值如下:求Cp,Ca,Cpk各值? 18.4,17.6,17.9,18.3,18.2,17.7,18.5,18.0,18.1,18.3
1.平均數X=(18.4+17.6+…….18.3)/10=18.1
2.規格公差T=18.5-17.5=1 3.標準差 = (18.4-18.1)² +(17.6-18.1)² +...(18.3-18.1)² 10 = 0.08=0.282844 Ca=(18.1-18.0)/0.5=0.2
CPK培训教材
龍元 2014/01/15
CPK(Process Capability index)
一般我们讲CPK时是指“制程能力指数研究” 英文是：Process Capability Analysis
CPK-培训教材详细讲解
CPK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力. 二.Cpk 的影響因素製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件---常態分配,統計管制狀態. 三.Cpk 的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:測量數据的平均值σ:標準差,其公式為: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限.Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限.四.Cpk的等級A: 1.33≦CpkA級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生.B: 1.00≦Cpk<1.33B級, 製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏.C: Cpk<1.00C級, 製程能力不能滿足圖紙要求, 生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1--2小時 15--30分鐘中 4--8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖１.2.數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖２.3.數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖３.4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖４.5.數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,見附圖５.七,Cpk的提高.1.減小σ,即增強設備的穩定性,增加夾具夾緊定位的可靠性,提高刀具切削的穩定性2.精心調整,使數据均布于中值兩旁.3.加強監控,當數据偏离中值較遠時,要及時調机,不必等到超差時再調机.八.CP制程精确度.CP=Ｔ/6σ.T:尺寸公差值CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之則制程精确程度越低.CP的分級:A : 1.33≦CPB : 1.00≦CP<1.33C : 0.83≦CP<1.00D : CP<0.83CP 等級的處置Ａ級:此一工程甚為穩定,可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作. Ｂ級:有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變坏及迅速追查.Ｃ級:檢討規格及作業標準,可能本工程不能胜任這么精密的工作. Ｄ級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的關系當數据對稱分布于中值兩邊時,良品率的分布如下:制程精密度(CP 值)与不良率的關系如下:-４δ -３δ -２δ-１δ０+１δ +２+３+４+５ +６ -５δ -６δ ０68.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%十. C P与制程能力的判斷3 1.33＞CP ≧1.00警告使制程保持于管理制狀態,否則產品隨時有發生不良品的危險,需注意4 1.00＞CP ≧1.67不足產品有不良品產生,需作全數選別,制程有妥善管理理及改善之必要.5 0.67＞CP 非常不足應采取緊急措施改善品質并追究原因,必要時規格再作檢討.SUδSLSUδSLCp与Cpk的计算公式1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Cpk，Ca，Cp三者的关系：Cpk = Cp ＊（ 1 －┃Ca┃），Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca 反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的是散布关系（离散趋势）4。
CPK应用培训资料
分析过程能力
根据计算出的CPK值，评 估过程能力是否满足要求。
CPK分析结果解读
结果解读
根据CPK值的大小，判断过程能力是 否充足。一般来说，CPK值大于1.33 表示过程能力良好，而CPK值小于 1.33则表示过程能力不足。
集成化
CPK应用将与企业的其他管理系统进行集成，实现数据共享和协同 工作，提高企业的整体运营效率。
定制化
针对不同行业和企业的需求，CPK应用将更加定制化，提供更加贴 合企业实际需求的解决方案。
提高CPK应用效果的建议
加强培训和意识提升
01
通过培训和宣传，提高员工对CPK应用的认知和重视程度，促
进其在日常工作中的积极应用。
改进措施
针对CPK值偏低的情况，分析原因并 采取相应的改进措施，如调整工艺参 数、优化设备配置等，以提高过程能 力。
03 CPK应用实例
案例一：生产过程控制
总结词
通过实时监测和数据分析，优化生产过程，提高产品质量和 生产效率。
详细描述
CPK在生产过程控制中的应用，主要是通过实时监测生产过 程中的各种参数，如温度、压力、流量等，收集数据并进行 分析，找出生产过程中的瓶颈和问题，优化生产流程，提高 产品质量和生产效率。
案例二：质量控制计划
总结词
制定和实施质量控制计划，确保产品符合质量标准和客户要求。
详细描述
在质量控制计划中，CPK可以用于确定关键控制点、设定控制限和行动水平，以 及监控和评估质量数据的分布情况。通过这些措施，可以确保产品在整个生产过 程中都符合质量标准和客户要求，减少不合格品的产生。
CPk知识培训
对于任何生产过程，产品质量总是分散地存在着。工序能力越高， 则产品质量特性值的分散就会越小；工序能力越低，则产品质量特性值 的分散就会越大。那么，应当用一个什么样的量，来描述生产过程所造 成的总分散呢?通常用标准偏差 σ 的6倍来表示工序能力的大小。
σ 是处于稳定状态下的工序的 标准偏差.
3、工序能力指数 工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。但是这个参数能
这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因 素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。产品质量就是工序中的各个质量因素所起 作用的综合表现。
从定量的角度看,工序能力就是工序的一种可以量度的特性。也就是说，在诸因素处于 控制状态下，工序所加工产品的质量特性值的波动幅度（分散性）。
(一)正态分布 1.正态分布 若X的密度函数（频率曲线）为正态函数（曲线）
f ( X ) 1 e ( X )2 (2 2 )
2
X
则称X服从正态分布，记号 X ～N(, 2 ) 。其中 、 是两个
不确定常数，是正态分布的参数，不同的 、不同的σ
工序能力指数(Cpk)基础知识
1.工序能力的定量表征 2.统计特征数 3.工序能力指数Cp的计算 4.工序质量水平的判断和处置 5、提高工序能力指数的途径
1、工序能力的定量表征
CPk是英文Process Capability index缩写，汉语译作工序能力指数，也有译作艺能力 指数，过程能力指数。
对应不同的正态分布。
正态曲线呈钟型，两头低，中间高，左右对称，曲线与横轴 间的面积总等于1。
2．正态分布的特征
服从正态分布的变量的频数分布由 完全决定。
(1)μ是正态分布的位置参数，描述正态分布的集中趋势位置。
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CPK培訓教材一.Cpk的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力•二.Cpk的影響因素製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器.製程條件---常態分配,統計管制狀態.三.Cpk的計算USL: 上限尺寸LSL:下限尺寸Average: 測量數据的平均值X2( x)2/nC :標準差,其公式為：C = ' n 1Cpu=(USL-Average)/3 cCpl=(Average-LSL)/3 cCpk=Mi n(Cpu,Cpl)c :其大小表示測量數据的離散程度，c越小表示數据的離散程度越小，反之則數据的離散程度越大.Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度,Cpu越大表示測量數据偏離上限較遠；反之則數据靠近上限.Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度,Cpl越大表示測量數据偏離下限較遠；反之則數据靠近下限.四.Cpk的等級A: 1.33 三CpkA 級,製程能力滿足圖紙要求，生產中几乎沒有不良品產生. B: 1.00 三Cpk<1.33B 級,製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加 以注意,並設法維持不使其變坏C:Cpk<1.00C 級，製程能力不能滿足圖紙要求，生產中可能有較多不良品產生，應採 取緊急措施，全面檢討所有可能影響的因素，必要時得停止生產五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法1. 數据均分布于中值兩旁,Cpk 值一般大于1.33,見附圖1 .2. 數据离散地分布中值兩旁,Cpk 值一般小于1.33,見附圖2 .3. 數据分布离散度小，但偏中值不遠,Cpk 值大于1.33,見附圖3 .4. 數据分布离散度小，但偏中值較遠,Cpk 值小于1.33.見附圖4 .5. 數据絕大多數雖均分布于中值兩旁，但個別超差，將大大降低Cpk 值，甚至 Cpk 值小于1.33,見附圖5 . 七, Cpk 的提高.取樣頻率管制圖咼 1--2 小時 中 4--8小時 低每班次六.CPK 數据分析.15--30查檢表分鐘每小時 小時1. 減小c ,即增強設備的穩定性，增加夾具夾緊定位的可靠性，提高刀具切削的穩定性2. 精心調整, 使數据均布于中值兩旁.3. 加強監控, 當數据偏离中值較遠時, 要及時調机, 不必等到超差時再調机.八.CP制程精确度.CP= T/6 c .T: 尺寸公差值CP: 其值表示制程的精确程度, CP 越大制程精确程度越高, 反之則制程精确程度越低.CP 的分級:A : 1.33 三CPB : 1.00 三CPvl.33C : 0.83 三CPV1.00D : CP<0.83CP等級的處置A級：此一工程甚為穩定，可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作.E級：有發生不良品之危險，必須加以注意，並設法維持不要使其變坏及迅速追查.C級：檢討規格及作業標準，可能本工程不能胜任這么精密的工作.D級：應採取緊急措施，全面檢討所有可能影響的因素，必要時得停止生產九.制程精密（CP 值）与不良率的關系當數据對稱分布于中值兩邊時，良品率的分布如下68.26% ___ I .95.46% ___________ .99.73% ________________ .99.9937% __ _________________ 99.999943 _ _______________________ 99.9999998% ________________________制程精密度CP值）与不良率的關系如下十.C P与制程能力的判斷X平均數附圖i ： •• 數据均勻分布于中値兩側,Cpk 値一般大于l .33Vanable: Bl DESIZE Mean 14.8110 Sigma. 003823Specifications: LSL=14 7900 Nominal=14.8100 USL=14 8350Nonnai: Cp=1.962 Cpk»1.832 CpM 832 Cpu-2.092Variable: Bl DESIZE Mean: 7.41335 Sigma: .000736..Specifications: LSL=7.38900 Nominal=7.41400 USL=7 43900Normal: Cp=11.33 Cpk=11.03 Cpl=11.03 Cpu=11.62..LSL -3 s NOMINAL +3.sU$L240 ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- n• 3 s NOMINAL *3 SUSL14.79514 800 - 14.805 14.810 14 815 14 820 14 825 14 830 14 835WJ IWI3 ：_ —"_數据分布离散度小•但偏中値不遠.Cpk 値一般大于1.33Variable: GENDER Mean: 3.29040 Sigma: 006482Specifications: LSL=3.26000 Nominal=3 31000 USL=3 36000Normal: Cp«2 571 Cpk«1 563 Cpl«1 563 Cpu=3.579110 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 硏圖2：.數据离散地分布于中値兩側,Cpk 値亠般小于1.33Variable: Bl DESIZE Mean: 14.8052 Sigma: .007043Specifications: LSL=14.7900 Nominal=14.8100 USL=14 8350Normal: Cp=1.065 Cpk=7171 Cpl=7171 Cpu=1.4133 243 26•3 s LSLNOMINAL"3・SUSL26 -------------------------------- -------- w ------- ------------ ---------------------------- 7^ ------------------14.780 14 785 14.790 14.795 14.800 14.805 14.810 14.815 14 820 14 825 14 B3U 14 835AouanbalLLSL -3 s +3 s NOMINAL USL3.283.303.323 36附圖4：數拯分布离散度小但偏中値較遠Cpk 値小于133Variable: GENDER Mean: 3.27040 Sigma: 006482Specifications: LSL=3.26000 Nominal=3.31000 USL =3.36000Normal ： Cp=2.571 Cpk= 5348 Cpl= 5348 Cpu=4 608•3・s LSL *3.s NOMINAL USL 110 ---------------------- - ------------- * ---------------- ------------ - - ------------------ ---------------------------------------------附圖5:數据絕人多數雖均分布于中値兩旁，但個別超差將大大降低Cpk 値•菟七Cpk 値小J0 ・• •Variable: Bl DESIZE Mean: 14.8121 Sicma: .006771 Specifications: LSL=14.7900 Nomina 匸 14 8100 USL=14.835ONormal: Cp=1.108 Cpk=1 087 Cpl=1.087 Cpu=1 ・ 129・3.s NOMINAL ・3s USL55 ---------------------------------------------------------------------------------------------- -- ----------- -14.7914 80 14.81 14.82 14 83 14 8414.85)0)0)00000000 03 0987654321 1Cp与Cpk的计算公式1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp （Capability In dies of Process ）:稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Cpk，Ca，Cp三者的关系：Cpk = Cp衣（1 —| Ca | ）, Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的是散布关系（离散趋势）4o当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5 o计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6o计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限（USL,LSL），才可顺利计算其值。
7 o首先可用Excel的“STDEV函数自动计算所取样数据的标准差（o）,再计算出规格公差（T），及规格中心值（u）。
规格公差=规格上限规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2;8 o依据公式：Ca= （X —U）/ （T/2），计算出制程准确度：Ca值9 o依据公式：Cp =T/6Sigma ，计算出制程精密度：Cp值10。
依据公式：Cpk=Cp *（1 —绝对值Ca），计算出制程能力指数：Cpk值11 o Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A ++级Cpk>2o 0特优可考虑成本的降低A +级2 o 0 > Cpk > 1 67优应当保持之A级1o 67 > Cpk > 1 33良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A +级B级1 o 33 > Cpk > 1 0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C级1 o 0 > Cpk > 0 67差制程不良较多，必须提升其能力D级0。
67 > Cpk不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
Pp （Performa nee In dies of Process ）:过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk 一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU :稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL :稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。