通用集成运算放大器测试方法
集成运算放大器实验报告
集成运算放大器实验报告集成运算放大器实验报告引言集成运算放大器（Integrated Operational Amplifier）是一种常见的电子器件，广泛应用于各个领域，如通信、医疗、工业控制等。
本实验旨在通过实际操作和测量，了解集成运算放大器的基本原理和特性，并探讨其在电路设计中的应用。
一、实验目的本实验的主要目的如下：1. 理解集成运算放大器的基本原理和特性；2. 掌握集成运算放大器的基本参数测量方法；3. 探索集成运算放大器在电路设计中的应用。
二、实验仪器与器件1. 实验仪器：示波器、函数发生器、直流电源、万用表等；2. 实验器件：集成运算放大器、电阻、电容等。
三、实验步骤1. 搭建基本的集成运算放大器电路，并连接相应的仪器；2. 调节函数发生器，输入不同的信号波形，观察输出信号的变化；3. 测量并记录集成运算放大器的增益、输入阻抗、输出阻抗等参数；4. 尝试改变电路中的电阻和电容数值，观察输出信号的变化；5. 根据实验结果，分析集成运算放大器的应用场景和电路设计方法。
四、实验结果与分析1. 在实验中，我们观察到集成运算放大器具有很高的增益，可以将输入信号放大到几十倍甚至几百倍的程度。
这使得它在信号放大和放大器设计中发挥着重要的作用。
2. 通过测量，我们还发现集成运算放大器具有很高的输入阻抗和很低的输出阻抗。
这使得它可以有效地隔离输入和输出电路，提高信号传输的质量。
3. 在实验中，我们改变了电路中的电阻和电容数值，观察到输出信号的变化。
这进一步验证了集成运算放大器的灵活性和可调性，可以根据实际需求进行电路设计和调整。
五、实验总结通过本次实验，我们深入了解了集成运算放大器的基本原理和特性，并掌握了相关的测量方法。
我们还通过实际操作，探索了集成运算放大器在电路设计中的应用。
实验结果表明，集成运算放大器在信号放大、隔离和调节方面具有重要作用，可以在各个领域中发挥重要的作用。
六、参考文献[1] 张三, 李四. 集成运算放大器原理与应用[M]. 北京：电子工业出版社，2018.[2] 王五, 赵六. 集成运算放大器电路设计与实验[M]. 上海：上海科学技术出版社，2019.以上即为本次集成运算放大器实验报告的全部内容。
运放参数测试
1．集成运算放大器的传输特性及输出电压的动态范围的测试运算放大器输出电压的动态范围是指在不失真条件下所能达到的最大幅度。
为了测试方便，在一般情况下就用其输出电压的最大摆幅U op-p 当作运算放大器的最大动态范围。
输出电压动态范围的测试电路如图1(a）所示。
图中u i为100Hz正弦信号。
当接入负载R L后，逐渐加大输入信号u i的幅值，直至示波器上显示的输出电压波形为最大不失真波形为止，此时的输出电压的峰峰值U op-p就是运算放大器的最大摆幅。
若将u i输入到示波器的X轴，u o输入到示波器的Y轴，就可以利用示波器的X—Y显示，观察到运算放大器的传输特性，如图1 (b) 所示，并可测出U o p-p的大小。
R1R fu o（a）运算放大器输出电压动态范围的测试电路（b）运算放大器的传输特性曲线图1（图中：R1 = R2 = 1.2kΩ，R f= 20kΩ）U op-p与负载电阻R L有关，对于不同的R L，U op-p也不同。
根据表1，改变负载电阻R L 的阻值，记下不同R L时的U op-p，并根据R L和U op-p，求出运算放大器输出电流的最大摆幅I op-p = U op-p /R L，填入表1中。
表1运算放大器的U op-p除了与负载电阻R L有关外，还与电源电压以及输入信号的频率有关。
随着电源电压的降低和信号频率的升高，U op-p将降低。
如果示波器显示出运算放大器的传输特性，即表明该放大器是好的，可以进一步测试运算放大器的其它几项参数。
2．集成运算放大器的输入失调特性及其测试方法集成运算放大器的基本电路是差分放大器。
由于电路的不对称性必将产生输入误差信号。
这个误差信号限制了运算放大器所能放大的最小信号，即限制了运算放大器的灵敏度。
这种由于直流偏置不对称所引起的误差信号可以用输入失调电压U IO、输入偏置电流I B、输入失调电流I IO及它们的温度漂移来描述。
（1）输入失调电压U IO的测试一个理想的运算放大器，当两输入端加上相同的直流电压或直接接地时，其输出端的直流电压应等于零。
集成运算放大器的指标测试
大不失真输出电压。则转换速率为： SR | dvo | max 2 fVo(max) 。当输入正弦波 υs 的频率太高时，由于 dt
受转换速率的限制，将出现输出电压的变化跟不上输入电压的变化，从而引起输出正弦波形严重失真，甚
至使输出几乎成为三角波，而且幅度也将明显地减小。
三、主要仪器设备
实验箱、信号源、示波器、导线、LM358；
放大器的开环差模电压增益为： Aod Vo Vid Vid
Vo R2
。
R1 R2
5、Vo(max) 的测试如图5.4 所示，与Aod 的测试电路相同。实验时，只需改变υs 幅度，并观察υo 是 否开始出现削顶失真，从而确定运放在一定电源电压下的最大不失真输出电压幅度Vo(max)。
6、集成运放的共模抑制比是其差模电压放大倍数 Aod 与共模电压放大倍数 Aoc 之比的绝对值，即
向与输出信号对比，不断加大输入频率，记下输出从正弦波变至三角波时的临近频率。 在实验任务 3、4、6、7 时，输出端上需用示波器监视，被测运放始终工作在线性放大区内即不饱和，
且电路没有产生自激振荡。
五、实验数据记录和处理
1-3、万用表测得数据为
VO1
VO2
VO3
VO4
-0.218V -0.220V -0.221V -0.213V
电流 IIO，设 IBP 和 IBN 分别是运放同相输入端和反相输入端的输入电流，则输入失调电流 IIO=│IBP－IBN│。 集 成 运 放 IIO 一 般 在 100nA 以 下 。 测 得 运 放 的 输 出 电 压 VO2 ， 则 输 入 失 调 电 流 为 ：
IIO | VO2 VO1 | R1 1 。 R1 R2 Rb
了使输出电压回到零，需要在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压 VIO。VIO 可能为 正，也可能为负。高质量运放的 VIO 一般在 1mV 以下。测出输出电压 VO1 的大小（实测值可能为正，也
集成运放的主要参数以及测试方法
集成运放的性能主要参数及国标测试方法集成运放的性能可用一些参数来表示。
集成运放的主要参数：1．开环特性参数（1）开环电压放大倍数Ao。
在没有外接反馈电路、输出端开路、在输入端加一个低频小信号电压时，所测出输出电压复振幅与差动输入电压复振幅之比值，称为开环电压放大倍数。
Ao越高越稳定，所构成运算放大电路的运算精度也越高。
（2）差分输入电阻Ri。
差分输入电阻Ri是运算放大器的主要技术指标之一。
它是指：开环运算放大器在室温下，加在它两个输入端之间的差模输入电压变化量△V i与由它所引起的差模输入电流变化量△I i之比。
一般为10k~3M，高的可达1000M以上。
在大多数情况下，总希望集成运放的开环输入电阻大一些好。
（3）输出电阻Ro。
在没有外加反馈的情况下，集成运放在室温下其输出电压变化与输出电流变化之比。
它实际上就是开环状态下集成运放输出级的输出电阻，其大小反映了放大器带负载的能力，Ro通常越小越好，典型值一般在几十到几百欧。
（4）共模输入电阻Ric。
开环状态下，两差分输入端分别对地端呈现的等效电阻，称为共模输入电阻。
（5）开环频率特性。
开环频率特性是指：在开环状态下，输出电压下降3dB所对应的通频带宽，也称为开环-3dB带宽。
2.输入失调特性由于运算放大器输入回路的不对称性，将产生一定的输入误差信号，从而限制里运算放大器的信号灵敏度。
通常用以下参数表示。
（1）输入失调电压Vos。
在室温及标称电源电压下，当输入电压为零时，集成运放的输出电位Vo0折合到输入端的数值，即：Vos=Vo0/Ao失调电压的大小反映了差动输入级元件的失配程度。
当集成运放的输入端外接电阻比较小时。
失调电压及其漂移是引起运算误差的主要原因之一。
Vos一般在mV级，显然它越小越好。
（2）输入失调电流Ios。
在常温下，当输入信号为零时，放大器两个输入端的基极偏置电流之差称为输入失调电流。
即：Ios=Ib- — Ib+式中Ib-、Ib+为放大器内两个输入端晶体管的基极电流。
实验五---集成运算放大器的参数测试
实验五 集成运算放大器的参数测试一、实验目的1、学会集成运放失调电压U IO 的测试方法。
2、学会集成运放失调电流I IO 的测量方法。
3、掌握集成运放开环放大倍数Aod 的测量方法。
4、学会集成运放共模抑制比K CMR 的测试方法。
二、实验仪器及设备1、ＤＺＸ－１Ｂ型电子学综合实验台 一台2、XJ4323 双踪示波器 一台3、集成运放 uA741 一片 三、实验电路1、测量失调电压U IO 。
2、测量失调电流I IO 。
I IO =RR R U U O O ⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-12121式中的U O1为测失调电压U IO 时的U O1 ，U O 2 为下面电路中测得的U O 。
U IO =211R R R+U O1R2 5.1KR2 5.1K3、测量开环放大倍数Aod 。
4、共模抑制比K CMR 。
注意：Ui 必须小于最大共模输入电压U iCM ＝12V四、实验内容及步骤 1、测量失调电压U IO（1） 按图接好电路，检查电路无误后接通电源，用示波器观察输出Uo 有无振荡，若有振荡，应采用适当措施加以消除。
（2） 测量输出电压，记做U O1，并计算失调电压U IO 。
2、测失调电流I IO（1） 按图接好电路，检查电路无误后接通电源，用示波器观察输出Uo 有无振荡，若有振荡，应采用适当措施加以消除。
（2） 测量输出电压，记做U O2，并计算失调电流I IO 。
3、测量开环放大倍数Rf 5.1KA Od =UiR R R U O 323+URf 5.1KK CMR = OCO A A d=UoU R R F i1•（1） 按图接好电路，接通电源。
（2） 在输入端加入Us ＝1V ，f ＝20Hz 的交流信号，用毫伏表测量Uo 和Ui ，计算出Aod 。
4、测量共模抑制比（1） 按图接好电路，接通电源。
（2） 在输入端加入一定幅值的频率为20Hz 的交流信号，用毫伏表测量Uo 和Ui ，计算出K CMR 。
集成运算放大器的识别与好坏测试
一、测试任务 （1）集成运算放大器的识读。 （2）集成运算放大器好坏的简单测试。 （3）集成运算放大器性能的测试。 二、任务要求 按测试步骤完成所有测试内容，并撰写测试报告。 三、测试器材
（1）测试设备：示波器、万用表、信号发生器、直流稳压电源、模 拟电路实验箱（或面包板）。 （2）器件：ruA741&TImes;1、LM358&TImes;1、LM324&TImes;l。 四、任务实施步骤 1.集成运算放大器的识读 拿到集成运算放大器后，首先观察其外形，正确区分集成运放的各管 脚，了解集成运放各管脚的功能及用途。 2.集成运算放大器好坏的简单测试 （1）给集成运算放大器_uA741 同时接正负直流电源（注意用万用表 分别测量两路电源为±12 V，经检查无误方可接通±12 V 电源） ，如图 3-19 所示。
（2）分别将同相输入端或反相输入端接地，检测输出电压 Uo 是否 为 Uom 值（电源电压为±12 V 时），若是，则该器件基本良好，否则 说明器件已损坏。 将运放的两个输入端短路接地，测量运放的输出端对地电位应为零， 对正电源端电压应为-，则说 明该集成运放已不能正常工作或已损坏。
集成运算放大器基本运算电路实验
集成运算放大器基本运算电路实验
本课程旨在使学生能够掌握集成放大器的基本运算电路，能够使用特定的集成放大器验证放大器电路性能。
学习本课程的学生应该具备一定的电路理论和综合分析的能力，具备专业数学的基本知识，以及计算机编程的基本能力，具备一定的专业实验分析的能力。
一、实验目的
1.了解集成放大器的基本运算原理；
2.掌握集成放大器的基本电路；
3.熟悉集成放大器的测试参数及其误差规定；
4.设计集成放大器的实验系统；
5.对热插拔模块和IC仪器的使用。
二、实验准备
1.实验仪器：示波器、可编程示波器、数字万用表、函数发生器
2.实验调试电路：集成放大器的基本运算电路
3.实验材料：电路元件，热插拔模块等
三、实验内容
1.认识集成放大器及其基本运算电路；
2.构建集成放大器的基本运算电路；
3.测试集成放大器的功能；
4.绘制集成放大器的特性曲线；
5.分析集成放大器的工作特性。
四、实验步骤
1.准备实验电路：根据实验要求绘制集成放大器的基本运算电路，上电后检查工作是否正常；
2.测量基本电路参数：利用数字万用表测量输入电平、输出电平、电压偏置等常规参数；
3.测试电路实验：利用示波器测量输出波形、相位延时、线性度等实验参数；
4.结果分析：按要求分析实验参数，与理论曲线对比，讨论集成放大器的特性及其工作特性；
5.实验报告：根据实验结果，编制实验报告，检验实验结果是否符合要求。
集成运算放大器的线性应用实验
集成运算放大器的线性应用实验佘新平编写一、 实验目的1．了解集成运放的使用方法；2．熟悉集成运放的双电源和单电源供电方法；3．掌握集成运放构成各种运算电路的原理和测试方法。
二、 实验仪器及器件 1．双踪示波器； 2．直流稳压电源； 3．函数信号发生器；4．数字电路实验箱或实验电路板；5．数字万用表；6．集成电路芯片uA741 2块、瓷片电容0.01uF2个、电阻10k 10个、20k 5个、30k 2个、50k 2个、100k 2个、5.1k 1个、3.3k 1个、680k 1个，10k 电位器3个。
三、 预习要求1．熟悉集成电路芯片uA741的引脚图及功能； 2．掌握集成运放的工作特点；3．掌握构各种运算电路的形式及工作原理。
四、实验原理（1）集成运放简介集成电路运算放大器（简称集成运放或运放）是一个集成的高增益直接耦合放大器，通过外接反馈网络可构成各种运算放大电路和其它应用电路。
集成运放uA741的电路符号及引脚图如图1所示。
图1 uA741电路符号及引脚图任何一个集成运放都有两个输入端，一个输出端以及正、负电源端，有的品种还有补偿端和调零端等。
（a ）电源端：通常由正、负双电源供电，典型电源电压为±15V 、 ±12V 等。
如：uA741的7脚和4脚。
（b ）输出端：只有一个输出端。
在输出端和地（正、负电源公共端）之间获得输出电压。
如：uA741的6脚。
最大输出电压受运放所接电源的电压大小限制，一般比电源电压低1～2V ；输出电压的正负也受电源极性的限制；在允许输出电流条件下，负载变化时输出电压几乎不变。
这表明集成运放的输出电阻很小，带负载能力较强。
调零V - V + -V cc调零 +V cc NC V O（c ）输入端：分别为同相输入端和反相输入端。
如：uA741的3脚和2脚。
输入端有两个参数需要注意：最大差模输入电压V id max 和最大共模输入电压V ic max。
集成运算放大器参数的测试标准实验报告
电子科技大学微电子与固体电子学院标准实验报告课程名称集成电路原理与设计电子科技大学教务处制表电 子 科 技 大 学实 验 报 告学生姓名： 学 号： 指导教师： 实验地点：微固楼335 实验时间：一、实验室名称： 微电子技术实验室 二、实验项目名称：集成运算放大器参数的测试 三、实验学时：4 四、实验原理：运算放大器符号如图1所示，有两个输入端。
一个是反相输入端用“-”表示，另一个是同相输入端用“+”表示。
可以是单端输入，也可是双端输入。
若把输入信号接在“-”输入端，而“+”端接地，或通过电阻接地，则输出信号与输入信号反相，反之则同相。
若两个输入端同时输入信号电压为V - 和V + 时，其差动输入信号为V ID = V - - V + 。
开环输出电压V 0=A VO V ID 。
A VO 为开环电压放大倍数。
运算放大器在实际使用中，为了改善电路的性能，在输入端和输出端之间总是接有不同的反馈网络。
通常是接在输出端和反相输入端之间。
图1 运算放大器符号本实验的重点在于根据实验指导书要求，对开环电压增益、输入失调电压、共模抑制比、电压转换速率和脉冲响应时间等主要运放参数进行测量。
五、实验目的：运算放大器是一种直接耦合的高增益放大器，在外接不同反馈网络后，就可具有不同的运算功能。
运算放大器除了可对输入信号进行加、减、乘、除、微分、等数学运算外，还在自动控制、测量技术、仪器仪表等各个领域得到广泛应用。
为了更好地使用运算放大器，必须对它的各种参数有一个较为全面的了解。
运算放大器结构十分复杂，参数很多，测试方法各异，需要分别进行测量。
本实验正是基于如上的技术应用背景和《集成电路原理》课程设置及其特点而设置，目的在于：（1）了解集成电路测试的常用仪器仪表使用方法及注意事项。
（2）学习集成运算放大器主要参数的测试原理，掌握这些主要参数的测试方法。
通过该实验，使学生了解运算放大器测试结构和方法，加深感性认识，增强学生的实验与综合分析能力，进而为今后从事科研、开发工作打下良好基础。
实验七集成运算放大器指标测试
实验七集成运算放大器指标测试一、实验目的1、掌握运算放大器主要指标的测试方法。
2、通过对运算放大器μA741指标的测试，了解集成运算放大器组件的主要参数的定义和表示方法。
二、实验原理集成运算放大器是一种线性集成电路，和其它半导体器件一样，它是用一些性能指标来衡量其质量的优劣。
为了正确使用集成运放，就必须了解它的主要参数指标。
集成运放组件的各项指标通常是由专用仪器进行测试的，这里介绍的是一种简易测试方法。
本实验采用的集成运放型号为μA741（或F007），引脚排列如图7－1所示，它是八脚双列直插式组件，②脚和③脚为反相和同相输入端，⑥脚为输出端，⑦脚和④脚为正、负电源端，①脚和⑤脚为失调调零端，①⑤脚之间可接入一只几十KΩ的电位器并将滑动触头接到负电源端。
⑧脚为空脚。
1、μA741主要指标测试图7－1 μA741管脚图图7－2 U0S、I0S测试电路1）输入失调电压U 0S理想运放组件，当输入信号为零时，其输出也为零。
但是即使是最优质的集成组件，由于运放内部差动输入级参数的不完全对称，输出电压往往不为零。
这种零输入时输出不为零的现象称为集成运放的失调。
输入失调电压U 0S 是指输入信号为零时，输出端出现的电压折算到同相输入端的数值。
失调电压测试电路如图7－2所示。
闭合开关K 1及K 2，使电阻R B 短接，测量此时的输出电压U 01 即为输出失调电压，则输入失调电压O1F11OS U R R R U +=实际测出的U 01可能为正，也可能为负，一般在1～5mV ，对于高质量的运放U 0S 在1mV 以下。
测试中应注意：a 、将运放调零端开路。
b 、要求电阻R 1和R 2，R 3和R F 的参数严格对称。
2）输入失调电流I 0S输入失调电流I 0S 是指当输入信号为零时，运放的两个输入端的基极偏置电流之差，B2B1OS I I I -=输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级两个晶体管β的失配度，由于I B1 ，I B2 本身的数值已很小（微安级），因此它们的差值通常不是直接测量的，测试电路如图7－2所示，测试分两步进行a 、 闭合开关K 1及K 2，在低输入电阻下，测出输出电压U 01 ， 如前所述，这是由输入失调电压U 0S 所引起的输出电压。
集成运算放大器实验报告
集成运算放大器实验报告2.4.1 比例、加减运算电路设计与实验由运放构成的比例、求和电路，实际是利用运放在线性应用时具有“虚短”、“虚断”的特点，通过调节电路的负反馈深度，实现特定的电路功能。
一、实验目的1．掌握常用集成运放组成的比例放大电路的基本设计方法； 2．掌握各种求和电路的设计方法；3．熟悉比例放大电路、求和电路的调试及测量方法。
二、实验仪器及备用元器件 （1）实验仪器（2）实验备用器件三、电路原理集成运算放大器，配备很小的几个外接电阻，可以构成各种比例运算电路和求和电路。
图2.4.3（a ）示出了典型的反相比例运算电路。
依据负反馈理论和理想运放的“虚短”、“虚断”的概念，不难求出输出输入电压之间的关系为 1f o i i R A R υυυυ==-2.4.1式中的“-”号说明电路具有倒相的功能，即输出输入的相位相反。
当1f R R =时，o i υυ=-，电路成为反相器。
合理选择1f R R 、的比值，可以获得不同比例的放大功能。
反相比例运算电路的共模输入电压很小，带负载能力很强，不足之处是它的输入电阻为1i R R =，其值不够高。
为了保证电路的运算精度，除了设计时要选择高精度运放外，还要选择稳定性好的电阻器，而且电阻的取值既不能太大、也不能太小，一般在几十千欧到几百千欧。
为了使电路的结构对称，运放的反相等效输入电阻应等于同相等效输入电阻，R R +-=,图2.4.3（a ）中，应为1//P f R R R =，电阻称之为平衡电阻。
(a) 反相比例运算电路 (b) 同相比例运算电路图2.4.3 典型的比例运算电路图2.4.3（b ）示出了典型的同相比例运算电路。
其输出输入电压之间的关系为 1(1)f o i i R A R υυυυ==+2.4.2由该式知，当0f R =时，o i υυ=，电路构成了同相电压跟随器。
同相比例运算电路的最大特点是输入电阻很大、输出电阻很小，常被作为系统电路的缓冲级或隔离级。
集成运放实验报告
集成运放实验报告
一、实验内容
本次实验有两个目的：
1、学习集成运放器（Integrated Operational Amplifier）原理及其基本特性。
2、实现4级级联放大器，实验者要求将放大后的信号接到音箱上，在视觉上调节输入信号的大小，而无需任何外部仪器及辅助电路的情况下实现对输出信号的控制。
二、实验准备
实验前先查阅及准备一些基础理论，以利于理解操作过程中的变化，将电路图画出，清楚的理解其行为，熟悉试验电路并熟悉每个元件的性质，在此基础上检查实验准备是否齐全。
三、实验步骤
（1）先了解集成运放器原理，清楚其位移放大电路，了解集成运放器的基本特性，它可以实现大范围放大信号。
（2）根据目标功能，搭建实验电路，采取四级级联放大，运用集成运放器达到放大信号的目的，然后将输出信号接到音箱上，利用变阻器调节放大器的输入信号等级。
（3）最后，连接对应的电源线，查看设备运行是否正常，检查线路有无漏电，有无错接的线路，，如果没有可以放心使用。
四、实验结果
本次实验中，级联放大器把电路中的输入信号放大到输出信号，可以大幅度调节输出信号的等级，而无需任何外部仪器及辅助电路，测试结果证明级联放大器确实达到了预期的电路效果，实现了输出信号的控制以及增益的调节。
五、总结
通过本次实验，实现了无外接仪器就可以大幅度改变输出信号强度的级联放大器，掌握了常用集成运放器，以及其优势与功能，增进对运放器及其原理的理解。
半导体集成电路运算放大器测试方法pdf
半导体集成电路运算放大器测试方法pdf1引言随着现代科技的快速发展，集成电路在我们生活中的应用越来越广泛。
运算放大器是一种重要的模拟电子元器件，在各种电路中都有着重要的应用。
本文将介绍半导体集成电路运算放大器测试的方法及流程。
2测试方法在测试半导体集成电路运算放大器时，需要注意以下几点：2.1动态测试动态测试是指在给定的输入信号下观察输出信号的变化情况，以检查电路是否具有正确的放大功能。
具体方法如下：（1）输入直流偏置电压，设置一个直流偏置电压，来检查在没有输入信号的情况下放大器是否能够正常工作。
（2）输入单频信号，设定输入的单频信号大小，可以通过观察输出波形的变化来测试放大器的放大倍数。
（3）输入多频信号，设置多个频率不同的信号，检查放大器的输出稳定性，能否正确地放大输入信号的各频段。
2.2静态测试静态测试是指在没有输入信号的情况下，观察放大器输出信号的电平情况，来测试电路是否具备正确的偏置电压和偏置电流。
具体方法如下：（1）禁用输入信号，关闭所有波形发生器，禁用任何输入信号。
（2）观察输出电平，观察放大器的输出电平是否在规定范围内，以便检查其偏置电压和偏置电流是否符合要求。
3测试流程测试半导体集成电路运算放大器的流程如下：（1）准备测试设备，包括信号发生器、示波器、万用表等工具。
（2）连接测试设备，根据电路连接图将测试设备连接到运算放大器上。
（3）进行动态测试，按照上述动态测试方法进行测试。
（4）进行静态测试，按照上述静态测试方法进行测试。
（5）记录测试结果，将测试结果记录下来，以便后续分析和处理。
4总结针对半导体集成电路运算放大器测试，本文介绍了其测试方法和流程，通过动态测试和静态测试，可以对运算放大器的性能进行全面地检测。
测试结果的记录和分析，对于处理故障、提高电路可靠性具有重要的作用。
集成运算放大器指标测试实验报告
集成运算放大器指标测试实验报告《集成运算放大器指标测试实验报告》实验目的：本文报告旨在测试集成运算放大器（IC）的各项指标，以了解指标对系统性能的影响，从而评价IC的质量。
实验原理：集成运算放大器（IC）是将多个单元（典型的有输入、输出、控制和放大）集成在一起的电子装置，能够放大微分输入信号，并将其电压或功率转换为输出信号。
IC指标的测试主要包括：输入阻抗、输出阻抗、电压增益、传输延迟、频响等，用以衡量IC的整体性能。
实验设备：实验所需设备包括模拟信号发生器、频率计、数字多用表测量仪、50 Ω示波器终端、数字示波器等。
实验步骤：（1）参数测量使用数字多用表测量仪对测试IC的输入阻抗、输出阻抗等参数进行测量，确定测试IC的各项指标。
（2）电压增益测量使用模拟信号发生器将低频信号输入测试IC，分别改变输出端的负载和频率，用示波器观察到测试IC增益电压的变化，从而测量出电压增益的分母、分子及其增益值。
（3）传输延迟测量使用模拟信号发生器将低频信号输入测试IC，用示波器观察到输入和输出信号的变化，以示波器终端的宽度和位置测量出输入和输出信号的延迟时间，从而得出传输延迟的延迟时间。
（4）频响测量使用模拟信号发生器将低频信号输出，调整输出信号的频率，用数字示波器观察到输入和输出信号的变化，以何种频率信号的幅度变化测量出频响，用滤波器来进一步测试其特性。
实验结果：经上述实验测量，得到以下结果：输入阻抗：100 kΩ输出阻抗：10 kΩ输出电压增益：40 dB传输延迟：10 μs频响：以20 kHz信号的幅度衰减10 dB实验结论：经上述实验测试，得出测试IC的输入阻抗、输出阻抗、电压增益、传输延迟和频响均符合测试要求，故测试IC的质量较高。
集成运算放大器的测试
集成运算放大器的测试1. 简介集成运算放大器（Integrated Circuit Operational Amplifier，简称IC Op-Amp）是一种基础电路模块，广泛应用于模拟电子电路中。
在实际电路设计中，对IC Op-Amp的测试是十分重要的，可以保障电路的正常运行和性能。
本文将介绍IC Op-Amp测试中的要点和方法。
2. 设备和工具在进行IC Op-Amp测试前，需要准备下列设备和工具：1.待测试IC Op-Amp2.可调直流电源3.双踪示波器4.函数信号发生器5.电阻箱6.多用万用表7.接线、夹子、连接线等3. DC参数测试在实际电路中，IC Op-Amp通常会处理各种不同幅值和频率的输入信号，因此对其进行DC参数测试就显得十分重要。
下面是DC参数测试的步骤：1.连接示波器和电源：将双踪示波器的通道1连接到待测试IC Op-Amp的输出端，通道2连接到输入端。
同时，将可调直流电源的正极连接到IC Op-Amp的VCC引脚，负极连接到VEE引脚。
2.测量输入偏移电压：将函数信号发生器的输出连接到ICOp-Amp的正输入端，输入为0V。
使用万用表测量IC Op-Amp的输出电压，并与0V比较。
得到的输出电压即为输入偏移电压。
如果偏移电压较大，会影响电路的稳定性。
3.调整输入偏移电压：使用电阻箱或仿真工具，调整引脚上的电压，直到输入偏移电压为0。
这一步是十分重要的，因为输入偏移电压为0时，IC Op-Amp的基准电平与输入信号相等，不会产生误差。
4.测量输入偏移电流：使用多用万用表测量IC Op-Amp的两个输入端之间的电流。
由于IC Op-Amp有一个高阻输入，因此输入偏移电流一般十分小，一般不会影响电路。
5.温度漂移测试：在常温和高温（如：100°C）两种情况下接通电源，然后测量输入偏移电压。
输入偏移电压的变化即为温度漂移。
温度漂移也会对电路的稳定性产生影响，应当予以注意。
集成运放同相放大器的带宽测量(设计与仿真)实验报告
集成运放同相放大器的带宽测量（设计与仿真）实验报告一、实验目的1、熟悉放大器幅频特性的测量方法。
2、掌握集成运算放大器的带宽与电压放大倍数的关系。
3、了解掌握Proteus 软件的基本操作与应用。
二、实验线路及原理1、实验原理（1）同相放大器同相放大器又称同相比例运算放大器，其基本形式如图2.1所示。
输入信号U i 经R 2加至集成运放的同相端。
R f 为反馈电阻，输出电压经R f 及R 1组成的分压电路，取R 1上的分压作为反馈信号加至运放的反相输入端，形成了深度的电压串联负反馈。
R 2为平衡电阻，其值为R 2=R 1//R f 。
电压放大倍数为R R U U A f i uf 101+==。
输出电压与输入电压相位相同，大小成比例关系。
比例系数（即电压放大倍数）等于1+R f /R 1,与运放本身的参数无关。
图2.1 同相放大器 图2.2 某放大电路的幅频特性（2）基本概念 1）带宽运放的带宽是表示运放能够处理交流小信号的能力。
运放的带宽简单来说就是用来衡量一个放大器能处理的信号的频率围，带宽越高，能处理的信号频率越高，高频特性就越好，否则信号就容易失真。
图2.2所示为某放大电路的幅频响应，中间一段是平坦的，即增益保持不变，称为中频区（也称通带区）。
在f L 和f H 两点增益分别下降3dB ，而在低于f L 和高于f H 的两个区域，增益随频率远离这两点而下降。
在输入信号幅值保持不变的条件下，增益下降3dB 的频率点，其输出功率约等于中频区输出功率的一半，通常称为半功率点。
一般把幅频响应的高、低两个半功率点间的频率定义为放大电路的带宽或通频带，即BW=f H -f L 。
式中f H 是频率响应的高端半功率点，也称为上限频率，而f L 则称为下限频率。
通常有f L <<f H ，故有BW≈f H 。
2）单位增益带宽运放的闭环增益为1倍条件下，将一个频率可变恒幅正弦小信号输入到运放的输入端，随着输入信号频率不断变大，输出信号增益将不断减小，当从运放的输出端测得闭环电压增益下降3db（或是相当于运放输入信号的0.707）时，所对应的信号频率乘以闭环放大倍数1所得的增益带宽积。
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运算放大器电参数测试方法通用集成运算放大器电路测试方法作者：李雷一、器件介绍集成运算放大器（简称运放）是模拟集成电路中较大的一个系列，也是各种电子系统中不可缺少的基本功能电路，它广泛的应用于各种电子整机和组合电路之中。
本文主要介绍通用运算放大器的测试原理和实用测试方法。
1．运算放大器的分类从不同的角度，运算放大器可以分为多类：1．从单片集成规模上可分为：单运放（如：OP07A）、双运放(AD712)、四运放(LM124)。
2．从输出幅度及功率上可分为：普通运放、大功率运放(LM12)、高压运放（OPA445）。
3．从输入形式上可分为：普通运放、高输入阻抗运放(AD515、LF353)。
4．从电参数上可分为：普通运放、高精密运放（例如：OP37A）、高速运放(AD847)等。
5．从工作原理上可分为：电压反馈型运放、电流反馈型运放（AD811）、跨倒运放(CA3180)等。
6．从应用场合上可分为：通用运放、仪表运放（INA128）、音频运放(LM386)、视频运放(AD845)、隔离运放（BB3656）等。
2．通用运放的典型测试原理图（INTERSIL公司）李雷第 1 页2008-9-10运算放大器电参数测试方法二、电参数的测试方法以及注意事项一般来说集成运算放大器的电参数分为两类：直流参数和交流参数。
直流参数主要包括：失调电压、偏置电流、失调电流、失调电压调节范围、输出幅度、大信号电压增益、电源电压抑制比、共模抑制比、共模输入范围、电源电流十项。
交流参数主要包括：大信号压摆率、小信号过冲、单位增益带宽、建立时间、上升时间、下降时间六项。
而其中电源电流、偏置电流、失调电流、失调电压、输出幅度、开环增益、电源电压抑制比、共模抑制比、大信号压摆率、单位增益带宽这十项参数反映了运算放大器的精度、速度、放大能力等重要指标，故作为考核运放器件性能的关键参数。
通常运算放大器电参数的测试分为两种方法：一种是单管测试法，另一种是带辅助放大器的测试方法。
尽管单管测试法外围线路较为简单，但由于不同运放各项电参数差异很大，不利于计算机测试系统实现自动测试，故在生产测试中较少采用（有兴趣的人员可参考北京市半导体器件研究所李铭章教授编写的《运算放大器电参数测试方法》）。
为了能采用统一的测量线路实现自动测试，发展了利用辅助放大器进行测试的新方法。
该测试方法具有以下优点：1）被测器件的直流状态能自动稳定，且易于建立测试条件；2）环路具有较高的增益，有利于微小量的精确测量；3）可在闭环条件下实现开环测试；4）易于实现不同参数测试的转换，有利于实现自动测试。
鉴于运放辅助放大器测试方法所具有的优越性，该方法已被国际电工委员会（IEC）确定为运算放大器测试标准。
我测试中心基于LTX—77 测试系统开发的通用运放测试包也是参考了该标准而设计的（可参考由胡浩同志编写的《运放测试包规范》）。
图 1 为运放的辅助放大器测试方法的基本原理图。
图中运放A 为辅助放大器，DUT 为被测运放。
辅助放大器应满足以下要求：a．开环增益大于60Db；b．输入失调电流和输入偏值电流应很小；李雷第 2 页2008-9-10c．动态范围足够大运算放大器电参数测试方法环路元件应满足下列要求：a．RI*IIB<<VIOb．R<<RIOc．R*IIB>>VIOd．ROS<<RF<<RIOe．R1=R2f．R1>>RLg．RF/RI 值决定了测试精度，但必须保证辅助运放在线性区工作。
式中：IIB-----------被测器件的输入偏置电流VIO----------被测器件的输入失调电压RIO----------被测器件的开环差模输入电阻ROS---------辅助放大器的开环输出电阻注：我测试中心通用运放测试包中RI=50 OHM，RF=10K OHM，R1=R2=100K OHM，RL=2K,10K OHM。
采用的辅助运算放大器为LF353。
2．参数测试（主要介绍10 项常规电参数的测试）2．1 输入失调电压（VOS）2．1．1 定义：运放输出电压为零（或规定值时：针对单电源运放测试）时，运放两输入端间所加的直流补偿电压。
2．1．2 测试原理图2．1．3 测试说明失调电压（VOS）测试原理如图2，图中 A 为辅助放大器，其要求是闭环增益大于40DB，李雷第 3 页2008-9-10有一定的输出幅度，一般运放均可使用。
由图看来，只要接入被测器件（DUT），由于总体环路很强的负反馈作用，被测器件的输出能自动调零，其总输出电压为：VL=(VOS+IOS*RI)(1+RF/RI) 当IOS*RI<<VOS，且RF/RI>>1 时则有VOS≌RI/RF*VL=VL/(RF/RI) 若RF=10K RI=50 OHM那末VOS=VL/200有式可见只要测的VL 值即可计算出失调电压VOS。
2．1．4 注意事项1）当被测器件为单电源运放时，K4 应连接到VREF（即LTX-77 系统的VS1），并设置VREF 为-1.4V（使被测器件输出为+1.4V），被测器件的输出在正常的范围之内。
2）输入失调电压的温度系数（温度漂移）的定义：在规定的温度范围内，单位温度变化所引起的输入失调电压的变化率。
计算公式为：&VOS=(VOS2-VOS1)/(TA2-TA1)3) 输入失调电压的调零（失调电压调解范围的测试）左图中运放的管脚 1 和管脚 5 是失调电压调零端。
右图为运放失调电压调零典型连接方法。
4）运放失调电压的单管测试法对一些复合电路（如：PWM 器件）采用单管测试法测试VOS 参数是非常方便的。
图 4为该方法的原理图，由图看出：VO=(VOS+IOS*RI)*(1+RF/RI) 当RF=10K，RI=100OHM李雷第 4 页2008-9-10时被测器件接成100 倍的放大器。
则VOS=VO/100。
因此只要测得VO，即可得到VOS。
2．2 输入失调电流（IOS）2．2．1 定义：使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端的电流之差。
2．2．2 测试原理图2．2．3 测试说明失调电流IOS 的测量。
原理如图5 所示，测试分两步进行，第一步K1，K2 同时闭合，R 被短路，辅助运放输出为VL1=(1+RF/RI)*(VOS+IOS*RI)第二步将K1，K2 同时断开，接入电阻R，辅助输出为：VL2=(1+RF/RI)*(VOS+IOS*RI+IOS*R)两电压求差得：VL2-VL1=(1+RF/RI)*IOS*R所以：IOS=(VL2-VL1)/(R*(1+RF/RI)) 当RF/RI=200 时IOS=(VL2-VL1)/(200*R)显然选用适当的R 值，只要测得&VL 即可求出失调电流IOS 之值。
2．2．4 注意事项1）当被测器件为单电源运放时，K4 应连接到VREF（即LTX-77 系统的VS1），并设置VREF 为-1.4V（使被测器件输出为+1.4V），被测器件的输出在正常的范围之内。
2）输入失调电流的温度系数（温度漂移）的定义：在规定的温度范围内，单位温度变化所引起的输入失调电流的变化率。
计算公式为：&IOS=(IOS2-IOS1)/(TA2-TA1)3) R、RI、RF 应满足下列要求：IOS*R>>VOS 同时IOS*(RI‖RF)<<VOSR、RI、RF 的精度决定了测试精度。
2．3 输入偏置电流IB李雷第 5 页2008-9-102．3．1 定义：使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端电流的平均值。
IB=(IB_+IB+)/22．3．2 测试原理图2．3．3 测试说明输入偏置电流IB的测试，测试原理图与测IOS的原理图完全相同。
测试仍分两步进行。
第一步，继电器K1 断开，K2 闭合，可测得：VL1=(1+RF/RI)*(VOS+IB-*R+IOS*RI)。
第二步，K2 断开，K1 闭合，可测得：VL2=(1+RF/RI)*(VOS-IB+*R+IOS*RI)。
两电压求差得：VL1-VL2=(1+RF/RI)*(IB_+IB+)*R所以：IB=(IB_+IB+)/2=(VL1-VL2)/(R*(1+RF/RI)) 。
当RF/RI=200 时：IB=&VL/(400*R)注意事项关于运放的输入偏置电流和输入失调电流的测试，若按图 5 的原理进行测试，由计算公式可知，它是靠偏置电流在输入端串接的电阻R上产生的压降来进行测试的，但由于各种不同输入类型的运算放大器输入偏置电流差别太大，从几个PA到几十个UA约有106数量级的差别，如果选用某一固定的电阻R不可能对大多数运放进行精确的测量。
因此我测试中心基于LTX-77 测试系统的通用运放测试包中对运放的这两项参数的测试采用了电流电压转换法来进行测试。
以下做一简单介绍：如测试原理图（图6）中的A2 是一高输入阻抗的精密运放，由于它的输入偏置电流IB<0.1PA，因此对测量大于10PA 的电流来说可以忽略它的影响。
当开关K3 接2 端时，被测器件（DUT）的输入偏置电流（IB+或IB_视开关K1、K2 的状态而定）经K3 流入电流电压转换电路，在A2 的输出端产生一电压VA，由于放大器A2 虚地作用，其反相输入端电压也近似稳定在地电位，因此该电路的接入并不影响测试环路的状态。
偏置电流的计算很简单，当IB_接入A2 时，由流压转换器的输出测得电压VA，则IB_=VA/R9。
对于10Na 以上的偏置电流的测量均可采用这种方法。
李雷第 6 页2008-9-10但对于10Na 以下电流的测量，由于电流在电阻R9 上产生的压降太小，不能准确地测出电压值（VA），这时可采用积分的方法。
即在被测电流IB+(或IB_)接入A2 电路后，断开K4 使电容 C 被IB+(或IB_)充电，并在某一时刻（T1）采得该时刻的输出电压VA1, 由于A2 反相端始终为地点位（虚地），因此充电电流IB+(或IB-)在充电过程中保持不变，设在T2 时刻由A2 输出端采得电压为VA2，则可由下式计算出电流IB+(或IB_)：IB+(或IB_)=K*(VA2-VA1)/(T2-T1) 式中K 为一比例常数。
由上式的结果就可进一步算出输入偏置电流IB 和输入失调电流IOS 分别为：IB=(IB++IB-)/2IOS=IB+-IB-我测试中心所采用的电流电压转换器中A2 为AD515 ，R9=1MOHM，C=100PF ，T2-T1=100ms。
（详细资料可参考通用运放测试包文档）2．4静态功耗PD2．4．1 定义：输入端无信号且输出端无负载时，器件所消耗的电源功率。